专利名称：一种使plc耦合对准平行装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光通信产品领域，尤其涉及一种PLC耦合对准平行装置。
背景技术：
在光通信产品PLC(Planar Lightwave Circuit Splitter,平面光波导分路器)的生产过程中，最为关键的工序就为耦合封装，先把输入FA、芯片、输出FA (Fiber Array光纤阵列)放置在六维调整架上，分别进行6个自由度{3个平动(X、Y、Z)和3个转动(α、β、g) }的精确地对准，定位出最佳光功率耦合点以保证光功率输出的最大化和均匀化，然后用特种UV胶水进行粘接固化，使三者成为一体；在耦合封装操作过程中，调整并确保如下 3个面的平行度是非常关键，也是耦合操作中最基本的要求，对产品的质量及后期可靠性起到了决定性的作用。传统的方法为参考图1，在对准区有2个10(Γ300倍连续变倍的电子显微镜，电子显微镜I安装在夹具的正上方，从上向下观察顶面的2个侧边线，如果侧边线平行说明芯片侧面和FA侧面是平行；电子显微镜2安装对准区的正后侧，从后面向前观测侧面的2个侧边线，如果侧边线平行说明芯片顶面和FA顶面平行；在功率耦合过程中，光纤阵列上的所有光纤会连接到一台多通道光功率计，如果所有光纤输出的光功率相同，说明接触面也是平行没有旋转。但实际生产过程中，存在以下问题1. FA和芯片等材质都是比较脆的光学玻璃，部分FA或芯片存有轻微的破损或崩口等状况，导致侧边线不是一条十分完整并规则的直线，此时无法十分直观地确认两侧边线的平行状况。2. FA和芯片的接触面是个斜面(角度为8° )，所以芯片的上下两顶面的侧边线在电子显微镜上就形成2条不同的直线，FA也存在类似的状况，导致几条边的图像互相干涉模糊不清，极大影响对准平行的判定结果。3. FA和芯片的侧边线都要在电子显微镜的焦距内才能得到清晰的图像；但实际FA及芯片的厚度或宽度都不尽相同，导致需要频繁地调整六位调整架，以确保需要观测的两个面同时处在一个平面上，才能都得到清晰的图像以利于平行的调整和判定；此操作需要大量的工时。4.放大倍率不同，焦距也是不同，一般是在小倍率下进行粗平行调整，然后在切换成大倍率进行精细平行调整，导致需要花大量的时间调整电子显微镜的焦距。5.接触面的旋转是要靠功率计读数作为参考进行调整，芯片上每根波导的质量，FA上的每根光纤质量，FA上每根光纤高度及灰尘等都会影响这个读数，即使在填充上UV胶水前，功率已经调均衡了，但填充上UV胶水，这些功率又不尽相同，需要花大量时间重新调整，导致生产效率很慢
实用新型内容
[0010]本实用新型要解决的技术问题是提供一种PLC耦合对准平行装置。为实现以上目的，本实用新型采用的技术方案一种使PLC耦合对准平行装置，它包括电子显微镜I (I)、电脑终端(3)、红外激光器(4)、电子显微镜II (5)、观测天花板(6)、夹具(11)和观测地板(15 )，其特征在于电子显微镜I(I)位于夹具(11)上部，电子显微镜II (5)位于夹具(11) 一侧面，电子显微镜I (I)与电子显微镜II (5)的轴线呈空间垂直分布；电子显微镜I (I)连接电脑终端(3 )，电子显微镜II (5 )连接电脑终端(3 );夹具(11)的一侧面安装有红外激光器(4);夹具(11)上方设置有观测天花板(6)，夹具(11)的一侧面设置有观测地板(15)。所述的红外激光器(4)采用点光源式激光器，此红外激光器(4)被固定在一个可以滑动的导轨上。本实用新型有益效果1.精度很高，芯片和FA轻微不平行，就会被反射光放大几百倍并显示在观测天花板或观测地板15上。2.操作简单，十分直观，操作员只要观测天花板和观测地板上的光点，然后适当调整，使两个光点重合就说明已经平行，操作时间十分短(约3秒左右)，效率很高。3.不仅能检测顶面和侧面的平行情况，而且也检测了接触面平行旋转状况，如果接触面存在旋转或顶面不平行，天花板上的2 (光点I 7、光点II 8)反射光点就无法重合。
图1为传统的PLC耦合对准平行装置示意图。图2为本实用新型示意图。图3为侧面产生的反射光，传播到观测地板15上的示意图。图4为激光入射点示意图。在图中的数字标注表示为1、电子显微镜I ;2、FA ;3、电脑终端；4、红外激光器；5、电子显微镜II ;6、观测天花板；7、光点I ;8、光点II ;9、光点III ;10、芯片；11、夹具；12、光点IV ; 13、光点V ; 14、激光点；15、观测地板。
具体实施方式
结合附图对本实用新型进一步阐释。如图2所示，本实用新型连接关系电子显微镜I I位于夹具11上部，电子显微镜II 5位于夹具11 一侧面，电子显微镜I I与电子显微镜II 5的轴线呈空间垂直分布；电子显微镜I I连接电脑终端3，电子显微镜II 5连接电脑终端3 ;夹具11的一侧面安装有红外激光器4 ;夹具11上方设置有观测天花板6，夹具11的一侧面设置有观测地板15。所述的红外激光器4采用点光源式激光器，红色，波长为630nm 650nm，功率50mff,可调光斑大小，其前端装有准直透镜，此红外激光器4被固定在一个可以滑动的导轨上。主要的功能是提供一束平行的红色激光，光斑大小约O. 5mm ;这个经过准直的激光点14直接入射在芯片I O和FA 2的交界边角上时(如图4所示)，激光点14就分散成5束反射光，其中3束为芯片I O及FA 2顶面及FA2底面产生的反射光，传播到观测天花板6上，最终形成3光点{如图2中的光点I 7、光点II 8、光点III 9} ;2束为芯片I O及FA2侧面产生的反射光，传播到观测地板15上，形成2光点{如图3中的光点IV 12、光点V 13}。具体组装参考图4，操作参考如下1.将FA2及芯片10放入夹具11并夹持好，在电子显微镜I I和电子显微镜II 5下粗调，通过电脑终端3确定FA2与芯片10粗略的平行。2.调节六位调整架，拉近FA2和芯片10的距离到5 IOum之间(关键点)。3.如图4所示，滑动红外激光器4，使其激光点14照射在芯片10和FA2的交界边角。激光点14就分散成5束反射光，其中3束为芯片I O及FA 2顶面及FA2底面产生的反射光，传播到观测天花板6上，最终形成3光点{如图2中的光点I 7、光点II 8、光点III 9} ；2束为芯片I O及FA 2侧面产生的反射光，传播到观测地板15上，形成2光点{如图3中的光点IV 12、光点V 13}。4.观测天花板的3个反射点，调节六位调整架上的顶面扭转钮和接触面旋转钮，使光点I 7、光点II 8完全重合(光点III 9为参考作用)，说明顶平面和旋转面都已经平行；调节六位调整架上的侧面翻转钮，使光点IV 12与光点V 13完全重合，说明侧面平行。以上对本实用新型所提供的一种PLC耦合对准平行装置进行了详细介绍，本文中对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
权利要求1.一种使PLC耦合对准平行装置，它包括电子显微镜I (I)、电脑终端(3)、红外激光器(4)、电子显微镜II (5)、观测天花板(6)、夹具(11)和观测地板(15)，其特征在于电子显微镜I (I)位于夹具(11)上部，电子显微镜II (5)位于夹具(11)一侧面，电子显微镜I (I)与电子显微镜II (5)的轴线呈空间垂直分布；电子显微镜I (I)连接电脑终端(3)，电子显微镜II (5 )连接电脑终端(3 );夹具(11)的一侧面安装有红外激光器(4 );夹具(11)上方设置有观测天花板(6)，夹具(11)的一侧面设置有观测地板(15)。
2.根据权利要求1所述的一种使PLC耦合对准平行装置，其特征在于所述的红外激光器(4)采用点光源式激光器，此红外激光器(4)被固定在一个可以滑动的导轨上。
专利摘要本实用新型公开了一种使PLC耦合对准平行装置，它包括电子显微镜Ⅰ(1)、电脑终端(3)、红外激光器(4)、电子显微镜Ⅱ(5)、观测天花板(6)、夹具(11)和观测地板(15)，其特征在于电子显微镜Ⅰ(1)位于夹具(11)上部，电子显微镜Ⅱ(5)位于夹具(11)一侧面，电子显微镜Ⅰ(1)与电子显微镜Ⅱ(5)的轴线呈空间垂直分布；电子显微镜Ⅰ(1)连接电脑终端(3)，电子显微镜Ⅱ(5)连接电脑终端(3)；夹具(11)的一侧面安装有红外激光器(4)；夹具(11)上方设置有观测天花板(6)，夹具(11)的一侧面设置有观测地板(15)。
文档编号G02B27/30GK202854412SQ20122018873
公开日2013年4月3日 申请日期2012年4月28日 优先权日2012年4月28日
发明者彭延斌, 樊建银, 余朝晃, 唐淋, 吴忠标 申请人:新中合光电科技(保靖)有限公司