一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种阵列基板组件及其检测方法和显示装置，属于显示【技术领域】，其可解决现有技术中的采用双边阵列栅极驱动的阵列基板的栅线信号延迟无法测量的问题。本发明的阵列基板组件包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，其中，第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留为测试点。检测方法包括选取待检测的第一信号线，选取一条第二信号线为第一检测线，第一信号线和第一检测线在第一交叉处相互交叉，并在第一交叉处将第一信号线和第一检测线导通；应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测。显示装置包括上述阵列基板组件。
【专利说明】一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置【技术领域】
[0001]本发明属于显示【技术领域】，具体涉及一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置。
【背景技术】
[0002]在薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,简称TFT-1XD)中，阵列栅极驱动(Gate Driver IC on Array,GOA)是直接将栅极驱动电路制作在阵列基板上的一种技术。该技术将栅极驱动电路直接制作在阵列基板的显示区周围，可进一步减小显示器件的边框尺寸，而且减少了制作程序，从而提高TFT-LCD面板的集成度，能使显示面板更轻薄，进而也降低了产品成本。
[0003]显示面板的双边驱动技术是在阵列基板上制作两组栅极驱动电路。双边驱动技术能够改善单边驱动技术存在的对薄膜晶体管充电不良的问题，从而提升显示面板的显示品质。
[0004]图1是现有技术中采用双边驱动和阵列栅极驱动技术的阵列基板的结构示意图，第一信号线4，也即栅线，其两端同时连接到阵列栅极驱动电路单元I'上。同时，为了配合Dummy GOA (冗余阵列栅极驱动)单元的设计,显示面板的上下左右设计有Dummy Pixel (冗余像素)以及冗余数据线5'和冗余栅线4'。但为了防止其对画面品质造成影响，DrnnmyPixel上不设计TFT。
[0005]发明人发现现有技术中至少存在如下问题:对于采用双边驱动和阵列栅极驱动技术的显示面板，栅线的两端同时与GOA电路连接，其末端无法和测试点连接，从而无法正常测量栅线的信号延迟情况。同时，设计中由于Dummy Pixel中没有设计TFT,从而冗余栅线的末端即便引出测试点，也无法正常测量栅线的信号延迟情况。
【发明内容】
[0006]本发明所要解决的技术问题包括，针对现有技术中的采用双边阵列栅极驱动的阵列基板的栅线信号延迟无法测量的问题，提供一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置，其能够检测上述栅线信号的延迟情况。
[0007]解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板组件的检测方法，所述阵列基板包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，并预留为测试点，所述检测方法包括如下步骤:
[0008]选取待检测的第一信号线，选取一条第二信号线为第一检测线，第一信号线和第一检测线在第一交叉处相互交叉，并在第一交叉处将第一信号线和第一检测线导通；
[0009]应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测。
[0010]优选的是，所述导通是在待检测的第一信号线与第一检测线的第一交叉处用激光焊接导通的。[0011]优选的是，所述检测方法在应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测之前，还包括:
[0012]将待检测的第一信号线在第一驱动单元与第一交叉处之间或在第二驱动单元与第一交叉处之间进行切断。
[0013]优选的是，所述切断为用激光切断。
[0014]优选的是，所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；
[0015]或
[0016]第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种；
[0017]或
[0018]第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。
[0019]本发明的阵列基板组件的测量方法，通过将第一信号线和第第二信号在其交叉处导通，驱动单元给第一信号线输入检测信号，借助第二信号线实现对第一信号线的信号情况的检测。因此，本发明的阵列基板组件的测量方法能够解决上述现有技术中存在的问题，在实现对信号线信号检测的同时，还可以保持阵列基板的正常使用，一定程度上还降低了生产成本。
[0020]解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板组件，包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，其中，第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留为测试点。
[0021]优选的是，
[0022]所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；或
[0023]第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种；
[0024]或
[0025]第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。
[0026]本发明的阵列基板组件的第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留有测试点，因此更容易检测阵列基板上的第一信号线的信号情况，且可以保持阵列基板的完好，一定程度上降低了生产成本。
[0027]解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，包括上述阵列基板组件。
[0028]本发明的显示装置包括上述阵列基板组件，因此，显示装置的生产成本降低。
【专利附图】
【附图说明】
[0029]图1为现有的采用双边驱动的阵列基板的结构示意图；
[0030]图2为本发明的实施例1的采用双边驱动的阵列基板组件的测量示意图。
[0031]其中附图标记为:1、第一驱动单元；1'、阵列栅极驱动电路单元；3、阵列基板；4、第一信号线；4'、冗余栅线；5、第二信号线；5'、冗余数据线；6、测试点；7、印刷电路板；
8、第二驱动单元；9、第一交叉处。【具体实施方式】
[0032]为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和【具体实施方式】对本发明作进一步详细描述。
[0033]实施例1:
[0034]本实施例提供一种阵列基板组件的检测方法，可用于检测设于阵列基板上的信号线的信号延迟情况，也可以用于检测信号线的信号是否导通等情况。如图2所示，所述阵列基板3包括多条相互交叉的第一信号线4和第二信号线5，所述第一信号线4的第一端与第一驱动单元I连接，第二端与第二驱动单元8连接，第二信号线5的一端延伸至印刷电路板7，并预留为测试点6。下面以检测第一信号线4为例进行说明，具体检测方法包括如下步骤:
[0035]选取待检测的第一信号线4，选取一条第二信号线5为第一检测线，第一信号线4和第一检测线在第一交叉处9相互交叉,并在第一交叉处9将第一信号线4和第一检测线导通；应用所述测试点6对待检测的第一信号线4进行检测。
[0036]具体地，通过第一驱动单元I或第二驱动单元8给第一信号线4输入检测信号，检测信号传递到第一交叉处9时与第一检测线导通，信号传递到测试点6，从而形成检测通路，进而能够实现对第一信号线4的信号情况的检测。显然，为了实现对第一信号线4更长长度的检测，第一交叉处9的位置应远离给第一信号线4输入检测信号的驱动单元。比如通过第一驱动单元I给第一信号线4输入检测信号，则作为第一检测线的第二信号线5应尽可能远离第一驱动单元，从而可以对更长长度的第一信号线4的信号情况进行检测。
[0037]优选的，所述检测方法在应用所述测试点6对待检测的第一信号线4进行检测之前，还包括:
[0038]将待检测的第一信号线4在第一驱动单元I与第一交叉处9之间或在第二驱动单元8与第一交叉处9之间进行切断。切断点位置的选择应尽可能使更长长度的第一信号线4的信号情况实现检测。进一步优选的是，所述切断为用激光切断。激光切断信号线的技术是已知的技术，在此不再详述。
[0039]之所以进行上述切断，是为了在检测过程中，避免其他信号对被检测的第一信号线4信号的检测形成干涉。
[0040]可以理解的是，上述切断的步骤是优选的，即使不进行上述切断也都是可以实现检测的，只是一定程度上影响检测结果的准确性。
[0041]优选的，所述导通是在待检测的第一信号线4与第一检测线的第一交叉处9用激光焊接导通。应用激光将信号线通过焊接实现导通是已知的技术，在此不详细描述。
[0042]针对双边驱动的阵列基板3，第一线号线4和第二信号线5可以是下列类型的信号线。
[0043]优选的，所述第一信号线4为栅线，第二信号线5为数据线或冗余数据线；
[0044]或
[0045]第一信号线4为数据线，第二信号线5为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种；
[0046]或[0047]第一信号线4为公共电极线，第二信号线5为数据线或冗余数据线。
[0048]显然，上述针对采用双边驱动电路的阵列基板上的第一信号线4的检测方法，特别适用于采用双边阵列栅极驱动电路的情形。因为，采用双边阵列栅极驱动与采用栅极驱动芯片不同，对第一信号线4，此种情形下也即栅线进行检测时，由于栅线两端均与双边阵列栅极驱动电路相连接，无法弓丨出测试点。
[0049]本实施例的阵列基板组件的测量方法，通过将第一信号线4和第一检测线在两者交叉处导通，驱动单元给第一信号线4输入检测信号，借助第一检测线实现对第一信号线4的信号情况的检测。因此，本实施例的阵列基板组件的测量方法能够解决上述现有技术中存在的问题，在实现对信号线信号检测的同时，还可以保持阵列基板的正常使用，一定程度上还降低了生产成本。
[0050]实施例2:
[0051]本实施例提供一种阵列基板组件，包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，其中，第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留为测试点。
[0052]优选的，所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；
[0053]或
[0054]第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种；
[0055]或
[0056]第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。
[0057]本实施例的阵列基板组件的第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留有测试点，因此更容易检测阵列基板上的第一信号线的信号情况，且可以保持阵列基板的完好，一定程度上降低了生产成本。
[0058]本实施例还提供一种显示装置，其包括上述阵列基板组件，当然还包括如彩膜基板等其他已知的结构，在此不再详述。
[0059]本实施例中的显示装置是液晶显示装置，还可以是电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
[0060]可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种阵列基板组件的检测方法，所述阵列基板包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，并预留为测试点，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤: 选取待检测的第一信号线，选取一条第二信号线为第一检测线，第一信号线和第一检测线在第一交叉处相互交叉，并在第一交叉处将第一信号线和第一检测线导通； 应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测。
2.根据权利要求1所述的阵列基板组件的检测方法，其特征在于，所述导通是在待检测的第一信号线与第一检测线的第一交叉处用激光焊接导通的。
3.根据权利要求1所述的阵列基板组件的检测方法，其特征在于，所述检测方法在应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测之前，还包括: 将待检测的第一信号线在第一驱动单元与第一交叉处之间或在第二驱动单元与第一交叉处之间进行切断。
4.根据权利要求3所述的阵列基板组件的检测方法，其特征在于，所述切断为用激光切断。
5.根据权利要求1所述的阵列基板组件的检测方法，其特征在于， 所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；或 第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种； 或 第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。
6.一种阵列基板组件，包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接，第二端与第二驱动单元连接，第二信号线的一端延伸至印刷电路板，其特征在于，第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留为测试点。
7.根据权利要求6所述的阵列基板组件，其特征在于， 所述第一信号线为栅线，第二信号线为数据线或冗余数据线；或 第一信号线为数据线，第二信号线为栅线、冗余栅线或公共电极线中的任意一种； 或 第一信号线为公共电极线，第二信号线为数据线或冗余数据线。
8.—种显示装置，其特征在于，包括权利要求6或7所述的阵列基板组件。
【文档编号】G02F1/1362GK103676243SQ201310722566
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月24日 优先权日:2013年12月24日
【发明者】闫岩, 马禹, 冯博 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司