ATR晶体固定装置的制作方法

本实用新型涉及显示制造技术领域，尤其涉及一种ATR晶体固定装置。

背景技术：

随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。

通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶体管基板(TFT，Thin Film Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

液晶显示器大多生产制程均在无尘车间里面进行，但制程中人员、设备、物料、方法、环境等方面仍可能产生异物，这些异物会在不同程度上影响产品的性能及级别，因而实验室需要对异物进行分析，目前一般采用傅里叶变化红外光谱仪(FTIR)进行异物分析，测试方式为使用显微衰减全反射 (Attenuated Total Reflection，ATR)晶体接触异物检测得到红外图谱，然后对该红外图谱进行分析。

如图1所示，目前ATR晶体的固定方式为：通过粘结剂20将ATR晶体30粘接到晶体连接柱10上。在实际测试过程中，ATR晶体30易受到横向或斜向的力，从而导致ATR晶体30从晶体连接柱10上脱落，导致ATR晶体30损坏，由于ATR晶体30非常昂贵，ATR晶体30的损坏会造成重大的设备成本损失。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种ATR晶体固定装置，能够防止ATR晶体从晶体连接柱上脱落，避免ATR晶体损坏，降低设备成本损失。

为实现上述目的，本实用新型提供一种ATR晶体固定装置，包括：晶体连接柱、与所述晶体连接柱可拆卸连接的晶体固定件、与所述晶体固定件可拆卸连接的晶体锁定件；

所述晶体固定件中形成有容置空间，所述晶体锁定件上形成有通孔，ATR晶体一端容置于所述容置空间内，另一端从通孔延伸出来，位于所述容置空间内的ATR晶体至少有一部分的轴径大于所述通孔的直径。

所述晶体连接柱与晶体固定件螺纹连接。

所述晶体连接柱的末端设有外螺纹，所述晶体固定件的顶端设有与所述晶体连接柱的末端的外螺纹对应的内螺纹。

所述晶体锁定件与晶体固定件螺纹连接。

所述晶体锁定件的顶端设有内螺纹，所述晶体固定件的末端设有与所述晶体锁定件的顶端的内螺纹对应的外螺纹。

所述晶体连接柱、晶体固定件、以及晶体锁定件的材料均为不锈钢材料。

所述ATR晶体的形状为纺锤形，其轴径从两端往中间逐渐增大。

所述容置空间的形状与尺寸对应所述ATR晶体的形状与尺寸设置。

本实用新型的有益效果：本实用新型提供一种ATR晶体固定装置，包括：晶体连接柱、与所述晶体连接柱可拆卸连接的晶体固定件、与所述晶体固定件可拆卸连接的晶体锁定件，通过晶体固定件容置ATR晶体，通过晶体锁定件将ATR晶体锁定在晶体固定件中，并暴露出ATR晶体的样品接触面，相比于现有技术采用粘结层固定ATR晶体的方式，本实用新型采用的固定方法更加牢固， 且拆装简便，能够防止ATR晶体从晶体连接柱上脱落，避免ATR晶体损坏，降低设备成本损失。

附图说明

为了能更进一步了解本实用新型的特征以及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。

附图中，

图1为现有的ATR晶体固定结构的示意图；

图2为本实用新型的ATR晶体固定装置的结构示意图；

图3为本实用新型的ATR晶体固定装置中晶体固定件与晶体锁定件的剖面图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型所采取的技术手段及其效果，以下结合本实用新型的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图2，本实用新型提供一种ATR晶体固定装置，包括：晶体连接柱1、与所述晶体连接柱1可拆卸固定连接的晶体固定件2、与所述晶体固定件2可拆卸固定连接的晶体锁定件3；

所述晶体固定件2中形成有容置空间21，所述晶体锁定件3上形成有通孔31，ATR晶体一端容置于所述容置空间21内，另一端从通孔31延伸出来，位于所述容置空间21内的ATR晶体至少有一部分的轴径大于所述通孔31的直径。

具体地，所述ATR晶体固定装置的安装步骤为：首先将晶体固定件2连接到晶体连接柱1的末端，然后将ATR晶体的样品接触面朝外，将ATR晶体装入晶体固定件2内的容置空间21内，最后将晶体锁定件3固定在晶体固定件1上，使得ATR晶体的样品接触面穿过晶体锁定件3的通孔31延伸到固定装置的外部以进行测试，而ATR晶体位于容置空间21内的部分将会被通孔31卡住，从而实现将ATR晶体锁定在晶体固定件2上，相比于现有技术采用粘结层固定ATR晶体的方式，本实用新型采用的固定方法更加牢固，且拆装简便，能够防止ATR晶体从晶体连接柱上脱落，避免ATR晶体损坏，降低设备成本损失。

优选地，所述晶体连接柱1与晶体固定件2螺纹连接，其中，所述晶体连接柱1的末端设有外螺纹，所述晶体固定件2的顶端设有与所述晶体连接柱1的末端的外螺纹对应的内螺纹。

优选地，请参阅图3，所述晶体锁定件3与晶体固定件2也采用螺纹连接，所述晶体锁定件3的顶端设有内螺纹，所述晶体固定件2的末端设有与所述晶体锁定件3的顶端的内螺纹对应的外螺纹。

安装时，相应拧紧晶体连接柱1末端与晶体固定件2顶端的内外螺纹、以及晶体锁定件3顶端与晶体固定件2末端的内外螺纹，即可完成安装。

可以理解的是，本实用新型中晶体连接柱1与晶体固定件2、以及晶体锁定件3与晶体固定件2的连接方式并不限于螺纹连接，也可以采用锁扣连接、或销接等其他的可拆卸固定连接，本实用新型对此不做限制。

优选地，所述晶体连接柱1、晶体固定件2、以及晶体锁定件3的材料均为不锈钢材料。

优选地，所述ATR晶体的形状为纺锤形，其轴径从两端往中间逐渐增大，此时，所述通孔31的直径大于所述ATR晶体两端的最小轴径且小于所述ATR晶体中间的最大轴径，从而既能够使得ATR晶体的样品接触面从通孔31内延伸出来，以便于测试的顺利进行，还能够使得ATR晶体被卡合固定在晶体固定件2与晶体锁定件3之间，以防止ATR晶体脱落。

具体地，所述容置空间21的形状与尺寸对应所述ATR晶体的形状与尺寸设置，从而使得ATR晶体更好的固定在晶体固定件2的容置空间21内，防止ATR晶体晃动。

综上所述，本实用新型提供一种ATR晶体固定装置，包括：晶体连接柱、与所述晶体连接柱可拆卸连接的晶体固定件、与所述晶体固定件可拆卸连接的晶体锁定件，通过晶体固定件容置ATR晶体，通过晶体锁定件将ATR晶体锁定在晶体固定件中，并暴露出ATR晶体的样品接触面，相比于现有技术采用粘结层固定ATR晶体的方式，本实用新型采用的固定方法更加牢固，且拆装简便，能够防止ATR晶体从晶体连接柱上脱落，避免ATR晶体损坏，降低设备成本损失。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形 都应属于本实用新型权利要求的保护范围。