样品架及放置样品的方法与流程

本发明涉及液晶显示领域，并且更具体地，涉及液晶面板可靠性测试中的样品架以及放置样品的方法。

背景技术：

可靠性测试是为了保证产品在规定的寿命期限内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输或储存的环境下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。

目前可靠性测试是通过将液晶面板放置于样品架上进行测试的。在可靠性测试设备里面的样品架均是固定的，该样品架通常由多层平行排列的搁物板组成。对于样品架中位于较高层的搁物板，操作人员需要很吃力地将待测试的液晶面板放置上去并进行固定，并且有一些液晶面板样品的重量达到15kg，甚至更重；对于位于较低层的搁物板，操作人员则需要蹲在地上进行人工固定，也不是很方便，时间久了，就会产生疲惫感，劳动强度较大，不利于可靠性测试效率的提高。

鉴于企业生产的所有产品均需要进行可靠性测试(实际上电子行业的所有产品均需要进行该项测试)以保证产品的质量，因此需要一种改进的可靠性测试设备的样品架，以克服上述缺陷。

技术实现要素：

针对上述现有技术中的问题，本申请提出了一种样品架及放置样品的方法，通过将搁物组件调整至合适的位置并将样品放置于搁物组件上，方便了操作人员操作，能够大大减少操作人员的劳动强度。

一方面，本申请提供了一种样品架，该样品架包括：至少一个搁物组件，其中，至少一个搁物组件中的每个搁物组件相互独立地设置，且每个搁物组件的位置能够调整。通过该方面的样品架，能够实现将每个独立的搁物组件调整至合适的位置，方便了操作人员操作，能够大大降低操作人员的工作强度。

根据该方面的一种可能的实现方式，每个搁物组件均包括：搁物单元，用于放置待测试样品；伸缩单元，用于通过伸缩和弯折改变搁物单元的位置；其中，伸缩单元的两端分别与搁物单元和固定杆连接。

根据该方面的一种可能的实现方式，搁物单元包括：搁物板，用于支撑待测试样品的一端；主支撑杆，其沿长度方向与搁物板的侧边相连，用于支撑搁物板；次支撑杆，其与主支撑杆平行并通过第一连接件与主支撑杆相连，用于支撑待测试样品的另一端。

根据该方面的一种可能的实现方式，伸缩单元分别通过第一连接件和第二连接件连接到搁物单元和固定杆。

根据该方面的一种可能的实现方式，伸缩单元由塑料材料制成。

根据该方面的一种可能的实现方式，该样品架还包括：起重装置，用于将待测试样品放置于所述每个搁物组件上。根据该实现方式，能够进一步降低工作强度。

根据该方面的一种可能的实现方式，样品架还包括控制装置，其与每个搁物组件电连接，用于控制每个搁物组件变化位置。通过该实现方式，能够自动控制每个搁物组件的位置变化，进一步降低工作强度。

根据该方面的一种可能的实现方式，控制装置包括处理器和可编程逻辑控制器。

另一方面，本申请还提供一种在上述方面及其可能的实现方式的样品架上放置样品的方法，该方法包括：步骤1、确定用于放置待测试样品的目标搁物组件；步骤2、将目标搁物组件移动至目标位置；步骤3、将待测试样品放置于所述目标搁物组件上；步骤4、将目标搁物组件回复至其初始位置。

根据该方面的一种可能的实现方式，在步骤1之前，该方法还包括：设置目标位置的高度值。

根据该方面的一种可能的实现方式，步骤3包括：利用起重装置将所述待测试样品放置于所述目标搁物组件上。

上述技术特征可以各种适合的方式组合或由等效的技术特征来替代，只要能够达到本发明的目的。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中：

图1为现有技术中样品架的结构示意图。

图2为现有技术中样品放置于样品架上的效果示意图。

图3为根据本发明实施例的样品架的结构示意图。

图4为根据本发明实施例的样品架的搁物单元的结构示意图。

图5为根据本发明实施例的样品架的搁物单元的右视图。

图6为根据本发明另一实施例的样品架的结构示意图。

图7为根据本发明实施例的控制装置的示意性框图。

图8为根据本发明另一实施例的放置样品的方法的示意性流程图。

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

图1为现有技术中进行可靠性测试的样品架10的示意图。图2为将待测试样品放置于样品架10上的效果示意图。在图1和图2中，样品架10包括至少一排相互平行排列的搁物组件，每排均只包括一个搁物组件，在每个搁物组件上可同时放置至少一个待测试样品。在每个搁物组件11中，包括搁物板111、主支撑杆112和次支撑杆113，其中主支撑杆112沿着长度方向与搁物板111连接以支撑搁物板111，可以在搁物板111上放置待测试样品114的一端，次支撑杆113与主支撑杆112平行设置以支撑待测试样品114的另一端。在液晶显示领域中，如图2所示，样品架10还包括信号板及电源115和排线116等测试设备，分别于每个待测试样品连接。主支撑杆112、次支撑杆113以及搁物板111的两端均固定在样品架10的两侧的框架上，因此，在现有技术的样品架10中，每个搁物组件11的位置为固定不动的。在液晶面板行业中使用该样品架20进行对液晶面板可靠性测试时，将液晶面板的一端放置于搁物板2111上，另一端放置于次支撑杆2113上，即液晶面板在搁物单元211上为倾斜放置，如图2所示。操作人员在将待测试样品114放置于每个搁物组件11的过程中，对于处于较高位置的搁物组件来说，需要花费极大的力气将待测试样品114放置于搁物组件11上。同时对于处于较低位置的搁物组件来说，操作人员也需要蹲下身子将待测试样品114放置于搁物组件上。因此，现有技术的样品架10对于操作人员的劳动强度要求较高，不利于提高可靠性测试的效率。

图3为根据本发明的实施例的样品架20的示意图。如图3所示，样品架20包括至少一个搁物组件21，其中每个搁物组件21均相互独立地设置，并且每个搁物组件21均可以变化位置。例如，在样品架20中有至少一排相互平行排列的搁物组件集合，每个搁物组件集合中包括至少一个搁物组件21，每个搁物组件集合中的搁物组件21的数量可以相等也可以不等。

图4为本发明的搁物组件21的具体结构示意图。在图4中，样品架20还包括固定杆23，其固定在样品架20的两端。搁物组件21包括搁物单元211和伸缩单元212，搁物单元211用于放置待测试样品114，伸缩单元212用于通过伸缩和弯折改变搁物组件21的位置。搁物单元211与伸缩单元212通过第一连接件213连接，其中伸缩单元212与第一连接件213之间可以通过多种方式连接，例如一体式铸造、铆接或紧固件连接等，本发明在此不作限定。另一方面，每个搁物组件的伸缩单元211的另一端均与固定杆23连接，由此可以实现将每个搁物组件稳定地保持，固定杆23可以由金属材料或聚合物材料制成，以上均在本发明的保护范围内。

可选地，至少一个搁物组件21的伸缩单元212与不同的固定杆连接，每一排的搁物组件集合中的所有搁物组件连接到同一根固定杆上，不同的固定杆23相互平行地设置。优选地，至少一个搁物组件21的伸缩单元212与唯一设置的固定杆23连接，即所有的伸缩单元212都连接到同一根固定杆上，这可以降低制造成本。

可选地，伸缩单元212可以通过第二连接件214与固定杆23连接，其连接方式可以和其与第一连接件213的连接方式相同，也可以不同，本发明在此不作限定。

在图4中，搁物单元211包括：

搁物板2111，其用于支撑待测试样品114的一端；

主支撑杆2112，其沿长度方向与搁物板2111的侧边连接，用于保持搁物板2111；

次支撑杆2113，其与主支撑杆2112平行且通过第一连接件213连接。

具体地，搁物板2111的形状可以与现有技术中的搁物板的形状相同，其与主支撑杆2112在长度方向上可以以多种不同的方式连接，例如紧固件连接、焊接、粘接以及一体式铸造连接等，其目的是将搁物板2111保持在主支撑杆2112上并与地面保持平行。次支撑杆2113与主支撑杆2112平行，二者通过第一连接件213相连，第一连接件213可以是直杆也可以是曲杆，本发明在此不作限定。

优选地，搁物单元211还可以仅仅包括搁物板2111，伸缩单元212通过第一连接件213与搁物板2111相连，其连接方式与上述第一连接件213的连接方式相同，由此可以简化该样品架20的结构，降低制造成本。

可选地，伸缩单元212也可以直接与主支撑杆2112连接。

图5为样品架20的搁物组件21的右视图。在图5中，伸缩单元212由至少一根首尾相连的伸缩杆组成，其沿着图中箭头所示的方向与主支撑杆2112和次支撑杆2113垂直地设置。伸缩单元212可以沿着图示方向伸缩方向伸展，以将搁物组件从样品架20中突出出去或从目标位置收回至样品架20中，也可以沿着与图示方向垂直的竖直方向弯折以利于后续弯折动作的进行。应理解，伸缩单元212应当由具有一定的强度的材料制成，使得在将待测试样品114(如液晶面板)放置于搁物单元211上时，伸缩单元212能够起到支撑作用，避免待测试样品114掉落。伸缩单元212例如可以为不锈钢材料或聚合物材料。优选地，该伸缩单元212由塑料材料制成。

优选地，本发明的样品架20还包括起重装置(未示出)，在控制装置22将目标搁物组件迁移至目标位置后，该起重装置可以将待测试样品114吊运到目标搁物组件上，由于该起重装置为现有技术，故在此不作赘述。

可选地，对于位于与操作人员高度大致相等的位置的搁物组件集合，其设置方式可以与现有技术相同，即只包括一个搁物组件11且该搁物组件11为固定不动的，如图6所示。这样可以降低样品架的结构复杂性，节省制造成本。

优选地，该样品架20还可以包括控制装置22，控制装置22分别于每个搁物组件21电连接，其用于控制每个搁物组件变换位置，以方便操作人员的操作。

如图7所示，该控制装置22可以包括处理器221和可编程逻辑控制器(programmablelogiccontroller,plc)222。plc222与每个搁物组件21独立地电连接，处理器221与plc222连接并用于接收操作人员指令，将该指令转化为电信号，发送给plc222以指示plc222对目标搁物组件变换位置。

图8为本发明提供的一种在样品架20上放置样品的方法30的流程示意图，如图8所示，该方法30包括：

s31，确定用于放置待测试样品114的目标搁物组件；

s32，将该目标搁物组件移动至目标位置；

s33，将待测试样品114放置于目标搁物组件上；

s34，将目标搁物组件回复至初始位置。

应理解，在s31之前，该方法30还包括：

s35，设置目标位置的高度值。

具体地，操作人员根据实际操作方便的考虑预先在控制装置22上设置每个搁物组件的目标位置的高度值，该高度值通常在1.2～1.5m之间。操作人员在确定需要放置待测试样品114的目标搁物组件后，在控制装置22上通过比如用户界面的形式输入指令(例如选择目标搁物组件对应的序号)，处理器221接收到指令后将该指令转化为电信号并发送给plc222，该电信号包括目标搁物组件的序号、目标搁物组件的初始位置高度值及目标位置的高度值等信息，plc222接收到电信号后向与其相连的目标搁物组件发送执行指令，指示该目标搁物组件进行移动至目标位置。操作人员可以自行将待测试样品114放置于目标搁物组件上，也可以操作起重装置将待测试样品114吊运至目标搁物组件上。最后，控制装置114将该目标搁物组件按照相反的过程回复至其初始位置，以进行下一步的测试。

在s32中，plc222与每个搁物组件的伸缩单元212电连接，伸缩单元212在接收到plc222发送的执行指令后，先沿着图5中箭头所示方向伸展，使目标搁物组件从样品架20中突出来，然后伸缩单元212在竖直方向弯折，使目标搁物组件到达目标位置所在的高度。

具体地，对于处于较高位置的独立的搁物组件，伸缩单元212先沿着图5中箭头所示方向伸展，然后弯折，使目标搁物组件下降至目标位置所在的高度。相反地，对于处于较低位置的独立的搁物组件，伸缩单元212先沿着图5中箭头所示方向伸展，然后弯折，使目标搁物组件升高至目标位置所在的高度。

虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是，这些实施例仅仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。