本发明涉及显示装置领域，特别是涉及显示装置中信号垫(arraytestpad)的设计以及一种采用该信号垫的显示装置。
背景技术：
液晶显示装置(lcd，liquidcrystaldisplay)包括第一基板、第二基板和显示分子材料等。在显示装置的生产过程中，对第一基板的电特性进行检查是较为重要的步骤。现有技术通常是通过阵列测试器(arraytester)利用治具接触测试端子(arraytestpad，atpad)，将测试信号写入第一基板内像素并读取电信号以进行检测分析。该测试端子包括信号垫(ito)和数据端子(m2)，其中信号垫通过信号垫与数据端子之间绝缘层的接触孔(contacthole)电性连接。当第一基板与第二基板贴合后，理论上信号垫会被密封体完全覆盖，但在实际生产中，由于密封体涂布精度常常会大于信号垫到密封体边缘的距离，使部分产品的信号垫没有被完全覆盖而部分裸露在空气中。在产品使用过程中，空气中的水气会与信号垫发生电化学反应导致信号垫的腐蚀，影响成品率。
技术实现要素：
针对上述问题，本发明提出了一种显示装置测试端子的设计以及一种采用该信号垫的显示装置。
具体来说，本发明涉及一种显示装置，包括：
第一基板，包括相邻的显示区和周边区；第二基板，包括多个彩色滤光结构，且该彩色滤光结构对应于该显示区而设置；密封体，设置于该周边区；显示分子层，设置于该第一基板和该第二基板之间；薄膜晶体管，设置于该第一基板；数据端子，设置于该第一基板，且电性连接于该薄膜晶体管；绝缘层，覆盖于数据端子；信号垫，通过接触孔而连接于该数据端子，其中该接触孔形成于该绝缘层，且该密封体覆盖于该信号垫；其中，该信号垫向该显示区方向与该数据端子错开设置。
本发明所述的显示装置，其中该数据端子的外轮廓所围成的形状与该信号垫所围成的形状相同。
本发明所述的显示装置，其中该信号垫向该显示区方向与该数据端子错开50～70μm，具体为70μm。
本发明所述的显示装置，其中该数据端子和该信号垫被该密封体完全覆盖。
本发明所述的显示装置，其中在垂直投影于该第一基板的方向上，该数据端子的部分区域与该密封体有重叠区域。
本发明所述的显示装置，其中在垂直投影于该第一基板的方向上，该密封体的外缘位于该数据端子的外缘与该信号垫的外缘之间。
本发明所述的显示装置，其中该信号垫为透明导电材料，该数据端子为金属材料。
本发明所述的显示装置，其中该信号垫的外缘与该数据端子的外缘之间的最短距离为50～70μm。
本发明所述的显示装置，其中该信号垫的宽度为100μm。
附图说明
图1是现有技术的一种显示装置的俯视示意图。
图2是现有技术出现的密封体未能完全覆盖信号垫的显示装置局部剖面示意图。
图3是本发明第一实施例的信号垫与数据端子错开设置的显示装置局部剖面示意图。
图4是本发明第一实施例信号垫与数据端子错开50～70μm设置的俯视示意图。
图5是本发明第二实施例密封体准确涂布或向外偏移时的显示装置局部剖面示意图。
图6是本发明第二实施例密封体准确涂布或向外偏移时的俯视示意图。
其中，附图标记为：
100：第一基板200：第二基板300：显示分子层
400：密封体500：显示装置101：基板
102：缓冲层103：第一绝缘层104：第一金属层
105：第二绝缘层106：第二金属层107：第三绝缘层
108：第四绝缘层110：测试端子111：数据端子
112：信号垫113：接触孔114：开孔
a1：显示区a2：周边区
wm2：数据端子的宽度wito：信号垫的宽度
p：涂布无偏差时密封体的边缘位置
d：信号垫与数据端子错开的距离
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
图1是现有技术的一种显示装置的俯视示意图，图2是现有技术出现的密封体未能完全覆盖信号垫的显示装置局部剖面示意图。如图1、2所示，一种显示装置500，其结构主要包括第一基板100(如tft基板)、第二基板200(如cf基板)和显示分子层300，其中第一基板100包括基板101、缓冲层102、第一绝缘层103、第一金属层104、第二绝缘层105、第二金属层106、第三绝缘层107和第四绝缘层108。第一基板100还分为显示区a1和周边区a2，第二基板200包括彩色滤光结构与遮光结构，其中彩色滤光结构具有多种颜色的滤光结构，且遮光结构设置于不同颜色的滤光结构之间，但为图示能够清楚表达，将遮光结构、彩色滤光结构而予以省略。
第二基板200的彩色滤光结构是位置对应于第一基板100的显示区a1而设置，且第一基板100和第二基板200通过密封体400组立、贴合。显示分子层300则设置于第一基板100和第二基板200之间，具体来说，显示区a1与周边区a2以密封体400为界，而显示分子层400设置于密封体400内侧而对应于显示区a1。薄膜晶体管(未绘示)设置于第一基板100，且薄膜晶体管由多层结构所形成，包括第一绝缘层103、第一金属层104、第二绝缘层105、第二金属层106等。在第一基板100的周边区a2设置有测试端子110，而测试端子110包括数据端子111和信号垫112，信号垫112通过接触孔113与数据端子111电性连接，其中接触孔113形成于第三绝缘层107和第四绝缘层108。另外，数据端子111也与薄膜晶体管电性连接(未绘示)，当进行电性测试时，通过阵列测试器(arraytester)利用治具接触信号垫112，进而将测试信号写入薄膜晶体管(即显示区的像素)以进行检测分析。当电性测试完成之后，第一基板100与第二基板200会通过密封体400而相互组立，如此一来，密封体400会覆盖信号垫112，进而保护信号垫112不与外界环境接触，避免被水气污染而影响良率。但由于密封体400的涂布精度的限制，现有技术中可能会出现密封体400的涂布偏差，导致密封体400无法完全覆盖信号垫112，使信号垫112与环境接触，导致信号垫112被水气污染，如图2所示。于图2中，虚线p表示为涂布精准界线，亦即当密封体400涂布精度符合预期时，则密封体的外缘会实质地对准于涂布精准界线p。因此，当密封体400涂布偏差时，密封体的外缘并未对准于精布精准界线p而无法覆盖于信号垫112。于本实施例中，信号垫112为透明导电材料，数据端子111为金属材料，但本发明不以此为限。
图3是本发明一实施例的信号垫112与数据端子111错开设置的显示装置局部剖面示意图。如图3所示，本发明第一实施例所涉及的一种显示装置510，其结构主要包括第一基板100(如tft基板)、第二基板200(如cf基板)和显示分子层300，其中第一基板100包括基板101、缓冲层102、第一绝缘层103、第一金属层104、第二绝缘层105、第二金属层106、第三绝缘层107和第四绝缘层108。第一基板100进一步可分为显示区a1和周边区a2，第二基板200包括彩色滤光结构与遮光结构，其中彩色滤光结构具有多种颜色的滤光结构，且遮光结构设置于不同颜色的滤光结构之间，但为图示能够清楚表达，将遮光结构、彩色滤光结构省略。第二基板200的彩色滤光结构是位置对应于第一基板100的显示区a1而设置，且第一基板100和第二基板200通过密封体400组立、贴合。显示分子层300则设置于tft基板100和cf基板200之间，具体来说，显示区a1与周边区a2以密封体400为界，而显示分子层400设置于密封体400内侧而对应于显示区a1。薄膜晶体管(未绘示)设置于第一基板100，且薄膜晶体管由多层结构所形成，包括第一绝缘层103、第一金属层104、第二绝缘层105、第二金属层106等。在第一基板100的周边区a2设置有测试端子110，该测试端子110包括数据端子111和信号垫112，信号垫112通过接触孔113与数据端子111电性连接。另外，数据端子111也与薄膜晶体管电性连接(未绘示)，当进行电性测试时，通过阵列测试器(arraytester)利用治具接触信号垫112，进而将测试信号写入薄膜晶体管(即显示区的像素)以进行检测分析。当电性测试完成之后，第一基板100与第二基板200会通过密封体400而相互组立。
于本实施例中，将信号垫112与数据端子111之间调整为错开设置，使信号垫112到密封体400边缘距离拉长，向显示区a1方向偏移距离d(如以图2相比)，以增加容纳密封体涂布偏差的预留空间，使得信号垫112与数据端子111在垂直投影方向上部分重叠，且部分不重叠。如图3所示的实施例中，当密封体400在涂布精准度有偏差的情况下，即密封体400的外缘没有对准于涂布精准界线p，使得密封体400相对于涂布精准界线而言，往显示区a1靠近。然而，于本实施例中，将信号垫112与数据端子111之间为错开设置，使得信号垫112的外缘相比于数据端子11的外缘更来得靠近显示区a1。因此，一旦密封体400涂布偏差时，依旧可以覆盖于信号垫112，避免发生腐蚀问题。
请同时参阅图4，图4为信号垫112与数据端子111错开设置的俯视示意图。为了能够清楚表达信号垫112、数据端子111与密封体400的相对位置关系，图4仅将部分元件绘示出来，但从上述段落与图2中，可以理解信号垫112、数据端子111与密封体400之外，尚有其他层别。请同时对应图3与图4的实施例，信号垫112与数据端子111为错开设置，使得信号垫112与数据端子在垂直投影方向上，有部分面积重叠、部分面积不重叠。如此一来，密封体400外缘处于信号垫112外缘与数据端子111外缘之间，即在垂直投影方向上，密封体400可以覆盖信号垫112，且没有完全覆盖数据端子111。同时为考虑信号垫112与数据端子111电性连接的可靠，以及产品制程问题，同时兼顾窄边框机型的应用，本实施例采用数据端子111的宽度wm2与信号垫112的宽度wito相等，即信号垫112的面积保持不变，使得在垂直投影方向上，信号垫112外轮廓所围成的面积与数据端子111外轮廓所围成的面积相同和形状相同。
请再次参阅图4，图4是信号垫112与数据端子111错开50～70μm设置的俯视示意图。于本发明的另一实施例中，信号垫112与数据端子111彼此错开的距离为d(即图3中的偏移距离d)，而d落在50μm至70μm之间。详细来说，距离d为信号垫112外缘与数据端子111外缘之间最短的距离。当50μm≤d≤70μm时，如图4所示。信号垫112向显示区a1方向偏移，其边缘到密封体400边缘的距离增加超过50μm，此时信号垫112覆盖接触孔113，使得信号垫112依然可以通过接触孔113与数据端子111保持电性连接，图3中虚线部分表示数据端子的部分外轮廓(被信号垫112覆盖而用虚线来表达)。当密封体400的涂布满足小于50μm的精度要求时，即使密封体400的涂布达到了最大偏移，即密封体400涂布时向显示区a1方向偏移为50μm时，依然可以确保信号垫112被密封体400完全覆盖，或者，信号垫112的部分结构被密封体400覆盖(其剩余部分处于显示区a1内)。如此一来，信号垫112不与外界环境接触，避免了信号垫112被水气污染。
于本发明的又一实施例中，数据端子111的宽度wm2与信号垫112的宽度wito相等且均为100μm。当50μm≤d≤70μm时，如图4所示。信号垫112向显示区a1方向偏移，此时数据端子111与信号垫112保持宽度为30～50μm的重叠区域，使得信号垫112依然可以通过接触孔113与数据端子111保持电性连接。
图5是本发明第二实施例密封体准确涂布或向外偏移时的显示装置局部剖面示意图。如图5所示，本发明第二实施例所涉及的一种显示装置，其中显示装置的架构与上述图3的实施例相同，在此不进赘述。于本实施例中，将信号垫112与数据端子111的间调整为错开设置，使信号垫112到密封体400边缘距离拉长，向显示区a1方向偏移距离d，以增加容纳密封体涂布偏差的预留空间。本实施例与图3的实施例的差异在于：密封体400的涂布精准度为符合设定的情况下，即密封体400的外缘为实质地对准于涂布精准界线p。换句话说，于本发明的实施例中，不论密封体400是涂布精准度为符合设定(如图5的实施例)或是有偏差(如图3的实施例)的情况下，均可确保信号垫112的外缘能够被密封体400所覆盖，也就不会出现信号垫112腐蚀问题。
请同时参阅图6，图6为信号垫112与数据端子111错开设置的俯视示意图。为了能够清楚表达信号垫112、数据端子111与密封体400的相对位置关系，图6仅将部分元件绘示出来，但从上述段落与图5中，可以理解信号垫112、数据端子111与密封体400之外，尚有其他层别。请同时对应图5与图6之实施例，信号垫112与数据端子111为错开设置，使得信号垫112与数据端子在垂直投影方向上，有部分面积重叠、部分面积不重叠。如此一来，密封体400外缘处于信号垫112外缘与数据端子111外缘以外，即在垂直投影方向上，密封体400覆盖信号垫112与数据端子111。换句话说，本实施例中，当密封体400在涂布精准度为符合设定或偏移方向为朝向周边区a2的情况下，信号垫112被密封体400完全覆盖，或者，信号垫112的部分结构被密封体400覆盖(其剩余部分处于显示区a1内)。如此一来，信号垫112不与外界环境接触，避免了信号垫112被水气污染。
请再次参阅图6，图6是本发明第二实施例密封体400准确涂布或向外偏移时的俯视示意示意图。本实施例中，设置信号垫112与数据端子111的形状和面积保持一致，并将信号垫112向显示区a1方向与数据端子111错开50～70μm(即图6中距离d落在50μm至70μm之间)。此时信号垫112通过接触孔113与数据端子111保持电性连接，且信号垫112被密封体400完全覆盖，或信号垫112的部分结构被密封体400覆盖(其剩余部分处于显示区a1内)，以避免了信号垫112被水气污染。
在另一些实施例中，数据端子还设置有开口114，信号垫112与数据端子111错开设置时，从垂直投影方向上，信号垫112与开口114部分重叠或不重叠，如图6所示的开口114显示的虚线部分即为开口114与信号垫112部分重叠的状态，但本发明不以此为限。此外，于图4与图6的实施例中，为了便于说明而将密封体400绘示为矩形结构，但熟知此技术领域的技术人员应可理解密封体400在实际的应用中，通常会以封闭形状(如口字型)环绕显示区a1。同时，图4与图6分别绘示出3个与1个测试端子，仅为方便说明，不为本发明所限制。
虽然本发明已以实施例公开如上，而并非用以限定本发明，任何本技术领域的技术人员，在未脱离本发明的精神与范围内，可对其进行等效修改或变更，均应包含于本发明的权利要求书保护范围中。