本公开至少一个实施例涉及一种检测装置及其检测方法、检测设备。
背景技术：
电子显示产品例如液晶显示面板在生产过程中容易出现不良，例如在对盒工艺中，液晶显示面板中容易出现气泡。上述不良会影响液晶显示面板的显示效果，降低用户的视觉体验，所以，在实际生产工艺中，需要对液晶显示面板进行检测以保证液晶显示面板的良率。
但是，当前用于检测液晶显示面板的良率的装置和检测方法的效率很低，难以对生产的全部液晶显示面板进行检测，从而仍不能保证出厂的液晶显示面板的良率。
技术实现要素：
本公开至少一个实施例提供一种检测装置，包括载台、光检测单元和第一光源，所述载台包括用于承载待检测面板的承载面，所述光检测单元位于所述待检测面板的一侧，所述第一光源位于所述待检测面板的远离所述光检测单元的一侧，所述第一光源发射出的光线至少部分射向所述光检测单元。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，所述光检测单元包括光传感器阵列，包括多个光传感器，其中所述第一光源在所述待检测面板具有第一照亮区域，所述光传感器阵列在所述待检测面板所在面上的正投影与所述第一照亮区域至少部分交叠。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，所述光传感器阵列在所述待检测面板所在面上的正投影与所述第一照亮区域重合；或者所述光传感器阵列在所述待检测面板所在面上的正投影位于所述第一照亮区域之内。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，所述光检测单元还包括：信号检测单元，与所述光传感器阵列信号连接，且配置为检测所述光传感器的电信号。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测装置还包括控制模块，所述控制模块与所述光检测单元信号连接，配置为根据所述信号检测单元的检测结果判断所述待检测面板是否存在不良区域。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，所述载台包括与所述控制模块信号连接的第一驱动单元，所述第一驱动单元配置为驱动所述待检测面板沿平行于所述承载面的第一方向移动。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，在所述光传感器阵列中，多个所述光传感器在第二方向上排布为一行；或者多个所述光传感器阵列排布为第二方向上的多行、所述第一方向上的多列，其中，所述第一方向和所述第二方向平行于所述承载面，所述第一方向和所述第二方向交叉。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，所述第一方向和所述第二方向垂直，以及在所述第二方向上，所述光传感器阵列的尺寸大于或者等于所述待检测面板的尺寸。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测装置还包括图像获取单元和第二光源，所述图像获取单元位于所述待检测面板的一侧，所述第二光源位于所述待检测面板的远离所述图像获取单元的一侧，所述图像获取单元与所述控制模块信号连接，所述第二光源发射出的光线至少部分射向所述图像获取单元。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测装置还包括第二驱动单元，配置为固定所述图像获取单元并与所述控制模块信号连接；其中，所述第二驱动单元配置为在所述控制模块的控制下驱动所述图像获取单元与所述不良区域对准。
本公开至少一个实施例提供一种检测设备，包括前述任一实施例中所述的检测装置。
本公开至少一个实施例提供一种检测装置的检测方法，其中，所述检测装置包括载台、光检测单元和第一光源，所述载台包括用于承载待检测面板的承载面，所述光检测单元位于所述待检测面板的一侧，所述第一光源位于所述待检测面板的远离所述光检测单元的一侧，所述第一光源发射出的光线至少部分射向所述光检测单元；以及所述检测方法包括将所述待检测面板放在所述承载面上；所述第一光源发射的光线射向所述待检测面板；利用所述光检测单元对所述待检测面板出射的光的强度进行检测；根据检测结果确定所述待检测面板中是否存在不良区域。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测方法包括移动所述待检测面板，重复步骤：所述第一光源发射的光线射向所述待检测面板、利用所述光检测单元对所述待检测面板出射的光的强度进行检测、根据检测结果确定所述待检测面板中是否存在不良区域，直到所述待检测面板检测完成。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，所述光检测单元包括光传感器阵列，所述光传感器阵列包括多个光传感器，所述光传感器为光敏电阻，所述利用所述光检测单元对所述待检测面板出射的光的强度进行检测包括：检测多个所述光敏电阻中每个的电阻值；所述根据检测结果确定所述待检测面板中是否存在不良区域包括：根据检测结果判断每个所述光敏电阻的电阻值是否为异常电阻值以确定所述待检测面板中是否存在所述不良区域。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，所述根据检测结果判断每个所述光敏电阻的电阻值是否为异常电阻值以确定所述待检测面板中是否存在所述不良区域，包括：提供第一阈值范围；当电阻值大于所述第一阈值范围或者小于所述第一阈值范围时，确定所述光敏电阻具有异常电阻值，确定所述待检测面板中与具有所述异常电阻值的所述光敏电阻对应的区域为所述不良区域。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，所述根据检测结果判断每个所述光敏电阻的电阻值是否为异常电阻值以确定所述待检测面板中是否存在所述不良区域，包括：当彼此邻近的多个光敏电阻的电阻值与其他光敏电阻的电阻值的差值在某一范围内，且所述彼此邻近的多个光敏电阻的数量小于所述光敏电阻总数量的1/2时，确定所述彼此邻近的多个光敏电阻具有异常电阻值，确定所述待检测面板的对应于所述彼此邻近的多个光敏电阻的区域为所述不良区域。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，所述待检测面板包括显示区域和非显示区域，所述检测所述光敏电阻的电阻值包括：对与所述显示区域对应的所述光敏电阻的电阻值进行检测，并且屏蔽对与所述非显示区域对应的所述光敏电阻的电阻值的检测。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测方法还包括获得所述待检测面板中的所述不良区域的尺寸以及位置。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，所述待检测面板沿平行于所述承载面的第一方向移动，所述光敏电阻沿平行于所述承载面的第二方向排布，所述第一方向和所述第二方向交叉，所述获得所述待检测面板中存在的所述不良区域的尺寸以及位置包括：根据具有所述异常电阻值的所述光敏电阻确定所述待检测面板中的与具有所述异常电阻值的所述光敏电阻对应的不良区域在所述第二方向上的第一坐标；根据所述待检测面板的移动速度和检测到所述待检测面板中的所述对应的不良区域的时间与开始检测时间之差，确定所述对应的不良区域在所述第一方向上的第二坐标；根据所述第一坐标和所述第二坐标确定所述对应的不良区域的位置，根据具有所述异常电阻值的所述光敏电阻在所述待检测面板上的投影面积确定所述对应的不良区域的尺寸；所述检测方法，还包括：在开始检测至检测结束的时间段内，统计所有所述对应的不良区域的尺寸，确定位置。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测方法还包括对具有所述异常电阻值的所述光敏电阻的电阻值以及所述不良区域的尺寸进行分析，判定所述待检测面板的不良的类型。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，所述检测装置还包括分别设置于所述待检测面板的两侧的图像获取单元和第二光源，所述第二光源发射出的光线至少部分射向所述图像获取单元，所述检测方法还包括：所述第二光源发射的光线射向所述待检测面板；移动所述图像获取单元至与所述不良区域相对的位置，利用所述图像获取单元获取所述不良区域的图像。
在本公开至少一个实施例提供的一种检测装置及其检测方法、检测设备中，在第一光源的配合下，光检测单元可以对待检测面板的光透过率的分布进行检测，据此可以检测待检测面板中是否出现不良，提高了检测装置的自动化能力，提高检测效率，降低成本。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。
图1为本公开一个实施例提供的一种检测装置的结构示意图；
图2为图1所示的检测装置的部分结构的示意图；
图3为图1所示的检测装置的部分结构的俯视图；以及
图4为本公开一个实施例提供的检测装置的检测方法的过程图。
附图标记：
10-待检测面板；11-第一照亮区域；100-载台；110-承载面；200-光检测单元；210-光传感器；220-信号检测单元；310-第一光源；320-第二光源；400-控制模块；510-第一驱动单元；520-第二驱动单元；600-图像获取单元；710-第一偏振片；720-第二偏振片；810-气浮孔；820-气管。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
在显示面板的检测过程中，可以采用人工目视检查的方式对显示面板的质量进行检测。该检测方法需要专业人员利用专业设备进行操作，需要专业人员具有良好的判断力，不仅会造成人力成本的上升，而且不可避免会出现漏检的情况，同时长久操作会对人员的眼睛等造成损害；此外，人工检测的效率低，只能进行抽样检测，难以确定生产出的每个显示面板是否存在不良，从而难以提升出厂的显示面板的良率；再者，显示面板的不良的类型有多种，需要人员根据具体情况进行判断，而且检测人员之间的信息难以快速共享，对不良的类型等的分析效率低。
本公开至少一个实施例提供一种检测装置及其检测方法、检测设备。该检测装置包括载台、光检测单元和第一光源，载台包括用于承载待检测面板的承载面，光检测单元位于待检测面板的一侧，第一光源位于待检测面板的远离光检测单元的一侧，第一光源发射出的光线至少部分射向光检测单元。在该检测装置中，第一光源向待检测面板发射光线并且透过待检测面板的光线会被光检测单元接收，如此，光检测单元可以对待检测面板的光透过率的分布进行检测，据此可以检测待检测面板中是否出现不良。该检测装置可以不需要人的干预就能完成对待检测面板是否不良的自动化检测，提高检测效率，降低成本。如此，在实际生产工艺中，可以对每个生产出的产品(例如显示面板)进行检测，提高出厂的产品的良率。
在本公开至少一个实施例中，对待检测面板的类型不做限制。例如，该待检测面板可以为显示面板，例如液晶显示面板、oled显示面板、电子纸显示面板等；该待检测面板也可以为触控面板、封装盖板、承载基板等透明或者半透明的构件。
下面，以待检测面板为液晶显示面板为例，结合附图对根据本公开至少一个实施例中的检测装置及其检测方法、检测设备进行详细的说明。
图1为本公开一个实施例提供的一种检测装置的结构示意图。
在本公开至少一个实施例中，如图1所示，检测装置包括载台100、光检测单元200和第一光源310。载台100包括用于承载待检测面板10的承载面110，光检测单元200位于待检测面板10的一侧，第一光源310位于待检测面板10的远离光检测单元200的一侧，第一光源310发射出的光线至少部分射向光检测单元200。对于待检测面板10的与光检测单元200和第一光源310对应的区域，光检测单元200可以检测该区域的光透过率，进而可以判断该区域的光透过率是否异常，据此可以判断该区域是否出现不良。
在本公开至少一个实施例中，对光检测单元和第一光源的具体位置不做限制，只要光检测单元和第一光源分别位于待检测面板的两侧即可。例如，在本公开一些实施例中，如图1所示，光检测单元200位于待检测面板10的远离载台100的一侧，第一光源310位于待检测面板10的面向载台100的一侧。例如，第一光源310可以设置于载台100中。例如，在本公开另一些实施例中，光检测单元可以位于待检测面板的面向载台的一侧，第一光源可以位于待检测面板的远离载台的一侧。
在本公开至少一个实施例中，以载台的承载面为基准建立空间直角坐标系，以对检测装置中的各个构件的位置进行指向性说明。示例性的，如图1所示，空间直角坐标系的x轴和y轴(参考图3)平行于承载面110，z轴垂直于承载面110。例如，待检测面板10所在面与载台100的承载面110彼此平行。此外，在本公开至少一个实施例中，“对应”可以表示两个部分在z轴方向上重合或者部分重叠。
图2为图1所示的检测装置的部分结构的示意图。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，光检测单元包括光传感器阵列。该光传感器阵列包括多个光传感器，第一光源在待检测面板具有第一照亮区域，光传感器阵列在待检测面板所在面上的正投影与第一照亮区域至少部分交叠。示例性的，如图1和图2所示，光检测单元200包括光传感器阵列，光传感器阵列包括多个光传感器210。每个光传感器210都可以对待检测面板10的相应部分的光透过率进行检测，设置多个光传感器210可以对待检测面板10的多个区域同时检测，提高检测效率。待检测面板10中被第一光源310发射的光线照射的区域为第一照亮区域11，光传感器阵列(光传感器210)在待检测面板10所在面上的正投影与第一照亮区域11至少部分交叠，可以使得光传感器阵列(光传感器210)可以接收第一光源310发射的光，从而可以对待检测面板10的光透过率进行检测。
例如，在本公开至少一个实施例中，光传感器可以为光敏电阻。光敏电阻的电阻值随被照射的光的强度变化，所以，光敏电阻的电阻值可以反映待检测面板的光透过率。例如，光敏电阻的电阻值随着光照强度的增加而减小，随着光照强度的减小而增大。例如，与待检测面板的正常区域相比，不良区域的光透过率会增加或减小，透过不良区域的光的强度也会大于或者小于正常值，相应地，与不良区域对应的光敏电阻的电阻值也会出现异常(大于或者小于正常值)。在本公开至少一个实施例中，对光敏电阻的材料不做限制，只要该材料的电阻率(光敏电阻的电阻值)可以随光照强度的变化而变化即可。例如，光敏电阻的材料可以包括硫化镉、硒、硫化铝、硫化铅、硫化铋或其它类似的材料。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，光传感器阵列在待检测面板所在面上的正投影与第一照亮区域重合；或者光传感器阵列在待检测面板所在面上的正投影位于第一照亮区域之内。示例性的，如图1和图2所示，在z轴方向上，光传感器阵列(光传感器210)在待检测面板10上的正投影位于第一照亮区域11之内，如此，光传感器210的所有部分都可以接收第一光源310发出的光线，可以提高光传感器210的检测精度，进而提高对待检测面板10的检测效果。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，光检测单元还包括信号检测单元，该信号检测单元与光传感器阵列信号连接且配置为检测光传感器的电信号。示例性的，如图1所示，光检测单元200包括信号检测单元220，信号检测单元220与光传感器阵列(光传感器210)信号连接。以光传感器210为光敏电阻为例，信号检测单元220可以将光敏电阻的用于反映待检测面板10的光透过率的电阻值转换为相对应的电信号。如此，对电信号进行分析，可以判定待检测面板10中是否存在不良。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测装置还包括控制模块，控制模块与光检测单元信号连接，配置为根据信号检测单元的检测结果判断待检测面板是否存在不良区域。示例性的，如图1所示，检测装置包括与光检测单元200信号连接控制模块400。控制模块400可以对信号检测单元220发送的反映待检测面板10的光透过率的电信号进行分析，以判定待检测面板10中是否存在不良；而且控制模块400根据对电信号的分析结果确定待检测面板10中的不良区域的位置、尺寸等信息，还可以根据分析结果以对其它的器件(例如下述实施例中的图像获取单元)的运行进行控制。
在本公开至少一个实施例中，对控制模块的类型不做限制，只要控制模块可以接收信号、分析数据并且能够发送指令即可。例如，控制模块可以包括存储器和处理器，存储器中存储有指令，处理器用于受控于存储器存储的指令进行操作，以执行根据信号检测单元的检测结果判断待检测面板是否存在不良区域等。示例性地，控制模块可以包括硬件电路以及可编程硬件设备等。硬件电路可以包括常规的超大规模集成(vlsi)电路或者门阵列以及诸如逻辑芯片、晶体管之类的现有半导体或者其它分立的元件；可编程硬件设备可以包括现场可编程门阵列、可编程阵列逻辑、可编程逻辑设备等。
图3为图1所示的检测装置的部分结构的俯视图。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，载台包括与控制模块信号连接的第一驱动单元，第一驱动单元配置为驱动待检测面板沿平行于承载面的第一方向移动。示例性，如图1和图3所示，载台100包括第一驱动单元510，第一驱动单元510驱动待检测面板10沿着平行于承载面110的第一方向(以v表示的箭头方向)移动。如此，可以不需要移动第一光源310和光检测单元200，就可以使得光检测单元200对待检测面板10进行扫描式的检测，简化了检测装置的结构。例如，第一方向可以与x轴平行。下面，以第一方向为x轴负方向为例，对本公开下述至少一个实施例中的技术方案进行说明。
例如，在本公开至少一个实施例中，第一驱动单元可以包括夹持器件以固定待检测面板，从而驱动待检测面板移动。例如，该夹持器件可以为真空吸附器件，真空吸附器件可以设置在待检测面板的两侧从而固定并驱动待检测面板沿着第一方向移动。夹持器件中可以设置真空吸附孔，真空吸附孔的尺寸(例如直径、宽度、长度等)可以为1～3mm，例如进一步为1.5mm、2mm、2.5mm等；真空吸附的压力可以为-100kpa～-50kpa，例如进一步为-90kpa、-85kpa、-80kpa、-75kpa、-70kpa、-60kpa等。例如，第一驱动单元中可以包括标尺，标尺可以用于对待检测面板的初始位置进行标定，并且用于记录待检测面板的实时位置，可以辅助控制模块确定不良区域在待检测面板中的具体位置。
例如，在本公开至少一个实施例中，载台中可以设置气浮结构。在第一驱动单元驱动待检测面板移动的过程中，气浮结构可以使得待检测面板悬浮，从而降低待检测面板移动时的阻力，降低待检测面板在移动过程中被划伤的风险，增加待检测面板移动速度，增加检测效率。示例性的，如图1所示，气浮结构可以包括彼此连通的气浮孔810和气管820，气浮孔810与承载面110连通，气管820向气浮孔810输入的气体从承载面110喷射出来，从而使得待检测面板10悬浮。
例如，气浮孔的尺寸可以为0.2～0.8mm，例如进一步为0.4mm、0.5mm、0.6mm等；气浮孔间距可以设置为10～30mm，例如进一步为15mm、20mm、30mm等；气浮孔中的气压值可以大于大气压，例如为200kpa～500kpa，例如进一步为250kpa、300kpa、340kpa、400kpa、450kpa等。气浮孔喷射的气体使得待检测面板悬浮，并且使得待检测面板与承载面之间的间隔距离为0.2～0.8mm，例如进一步为0.4mm、0.6mm等。需要说明的是，气浮孔的具体尺寸、气浮孔之间的间距、气浮孔中的气压值可以根据实际需要进行设置，在本公开至少一个实施例中对此不做限制。
在本公开至少一个实施例中，对光传感器阵列中的光传感器的排布不做限制，光传感器的排布可以根据待检测面板的移动方向进行设置。例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，在光传感器阵列中，多个光传感器在第二方向上排布为一行；或者多个光传感器阵列排布为第二方向上的多行、第一方向上的多列，其中，第一方向和第二方向平行于承载面，第一方向和第二方向交叉。如此，在利用多个光传感器对待检测面板进行扫描式检测的过程中，可以增加扫描的宽度，从而提高检测效率。沿着第二方向设置多行光传感器，相当于对待检测面板实现多次扫描，可以提高检测的精度从而减小误差。
例如，在第二方向上位于不同行的光传感器可以交错设置，如此，可以降低因光传感器的尺寸、设置方式等带来的误差，从而进一步提高检测的精度。以第二方向为基准建立直线坐标，光检测单元的检测精度与在第二方向上位于该直线坐标的不同坐标处的光传感器的数量相关，具有不同坐标的光传感器的数量越多，光检测单元的精度越高。因为光传感器具有一定的体积，在第二方向上，每行设置的光传感器的数量是有限的，即不同行的光传感器在未交错设置的情况下，位于该直线坐标的不同坐标处的光传感器的数量较少甚至只等于每一行中设置的光传感器的数量，这限制了光检测单元的检测精度。在不同行的光传感器彼此交错设置的情况下，光检测单元包括的位于不同坐标处的光传感器的数量会增加，相应地，也增加了光检测单元的检测精度。
示例性的，在第二方向上，光检测单元中的光传感器在第二方向上设置为两行，并且第一行和第二行中的光传感器是交错排布的，即第一行中的光传感器与第二行的光传感器在上述直线坐标系中的坐标是交替排布的。因为第一行中的光传感器是间隔排布的且光传感器有一定的尺寸，所以待检测面板的与第一行中的光传感器的间隔区域以及边缘部分对应的区域的光透过率不能被第一行中的光传感器检测，但是该区域的光透过率可以被第二行中的光传感器检测。如此，与光检测单元中只设置一行光传感器或者第一行和第二行中的光传感器没有交错设置的情况相比，在第一行和第二行中的光传感器交错设置的情况下，光检测单元的检测精度可以增加一倍。
例如，在本公开至少一个实施例中，第二方向可以与第一方向垂直。示例性的，在空间直角坐标系中，在第一方向为x轴负方向的情况下，第二方向平行于y轴。如此，可以保持光传感器阵列在第二方向上的扫描宽度的同时，减小光传感器的数量，降低成本。
在本公开至少一个实施例中，对光传感器的尺寸不做限制。例如，以光传感器为光敏电阻为例，光敏电阻的尺寸可以设置为0.5mm～2mm，例如进一步为0.8mm、1mm、1.2mm、1.5mm等。光敏电阻的尺寸越小，可以在第二方向上排布更多的光敏电阻，增加光敏电阻的排布的密度，从而提高检测精度。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，在第二方向上，光传感器阵列的尺寸大于或者等于待检测面板在该方向上的尺寸。如此，光传感器阵列中的光传感器只需要一次扫描即可完成对整个待检测面板的检测，提高检测效率。需要说明的是，如图3所示，待检测面板10中可以设置有显示区域10b和非显示区域10a，显示区域10b用于显示图像，非显示区域10a可以包括虚设区域以及电路区域等，虚设区域可以在后续的切割工艺中切除。在上述情况下，在比较光传感器阵列的尺寸和待检测面板的尺寸的关系时，待检测面板10的尺寸的计算不包括位于待检测面板10的边缘的非显示区域10a，即待检测面板10的用于比较的尺寸可以为区域a在第二方向上的尺寸。
例如，在本公开至少一个实施中，光检测单元中的信号检测单元可以配置为对与显示区域对应的光敏电阻的电阻值进行检测，并且屏蔽对与非显示区域对应的光敏电阻的电阻值的检测。如此，只需要对显示区域的光透过率进行检测，可以消除非显示区域和显示区域的光透过率不同而带来的误差或者数据分析复杂化等问题，降低控制模块对信号检测单元传入的电信号分析和计算的难度，提高控制模块的计算结果(反映不良区域的位置、尺寸等的数据)的准确度。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测装置还包括图像获取单元和第二光源，图像获取单元位于待检测面板的一侧，第二光源位于待检测面板的远离图像获取单元的一侧，图像获取单元与控制模块信号连接，第二光源发射出的光线至少部分射向图像获取单元。例如，图像获取单元可以与光检测单元位于待检测面板的同一侧。示例性的，如图1所示，图像获取单元600位于待检测面板10的一侧，第二光源320位于待检测面板10的远离图像获取单元600的一侧，图像获取单元600与控制模块400信号连接，第二光源320发射出的光线至少部分射向图像获取单元600。图像获取单元600可以获得反映待检测面板10的光透过率分布的图像，并且该图像可以通过控制模块上传，以对图像进行分析和储存。如此，远端操作人员可以对图像进行判断，从而进一步确定待检测面板是否出现不良或者对不良的类型进行判断。例如，图像获取单元600可以为摄像机等可以获取图像或者视频的器件。
例如，在本公开至少一个实施例中，第二光源的发光亮度与第一光源的发光亮度相同。如此，图像获取单元获得的图像数据反映的待检测面板的透过率与光检测单元检测的信号数据反映的待检测面板的透过率是相同的，有利于操作人员对图像数据进一步分析，提高对待检测面板的不良的判断(是否为不良、不良的类型等)的准确度。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测装置还包括第二驱动单元，配置为固定图像获取单元并与控制模块信号连接，第二驱动单元配置为在控制模块的控制下驱动图像获取单元与不良区域对准。示例性的，如图1所示，第二驱动单元520与控制模块400信号连接并且可以驱动图像获取单元600移动。控制模块400在对光检测单元200检测的数据进行分析之后可以确定不良区域在待检测面板10上的位置，如此，控制模块400控制第二驱动单元520移动以将图像获取单元600移动至与该不良区域对应的位置，从而获取不良区域的图像。如此，图像获取单元600可以只获取不良区域的图像，减少向控制模块400输入的数据量，而且减轻了远端操作人员的工作量，不需要对与存在不良的待检测面板相关的全部图像进行分析，提高了检测效率。
例如，在本公开至少一个实施例中，待检测面板可以为液晶显示面板的情况下，可以在待检测面板的两侧设置偏振片，从而可以预判液晶显示面板在安装偏振片后是否仍会存在不良。示例性的，如图1所示，在光检测单元200和待检测面板10之间、图像获取单元600和待检测面板10之间设置第一偏振片710；在第一光源310和待检测面板10之间、第二光源320和待检测面板10之间设置第二偏振片720。第一偏振片710的偏振方向和第二偏振片720的偏振方向可以相同也可以不相同。液晶显示面板中会设置取向层以对液晶层中的液晶分子进行预取向，利用第一偏振片710和第二偏振片720可以对预取向是否均匀分布进行检测，从而确定液晶显示面板在实际应用中是否会存在显示不良。例如，第一偏振片710的偏振方向和第二偏振片720的偏振方向不相同，且夹角可以设置为30度、45度、60度等。
本公开至少一个实施例提供一种检测设备，包括前述任一实施例中的检测装置。例如，该检测设备中可以设置输出单元和输出单元，输入单元和输出单元可以将待检测面板放入检测装置或者将待检测面板从检测装置中取出。例如，输出单元可以与检测装置的控制模块连接，在判定待检测面板中存在不良时，将该待检测面板存放至特定区域(例如存储装置)以待人员进一步核查；在判定待检测面板中没有存在不良时，将该待检测面板输入下游设备中。
本公开至少一个实施例提供一种检测装置的检测方法，其中，检测装置包括载台、光检测单元和第一光源，载台包括用于承载待检测面板的承载面，光检测单元位于待检测面板的一侧，第一光源位于待检测面板的远离光检测单元的一侧，第一光源发射出的光线至少部分射向光检测单元；以及检测方法包括将待检测面板放在承载面上；第一光源发射的光线射向待检测面板；利用光检测单元对待检测面板出射的光的强度进行检测；根据检测结果确定待检测面板中是否存在不良区域。
在该检测方法中，利用光检测单元可以对待检测面板的光透过率进行检测，据此可以检测待检测面板中是否出现不良。在该检测方法中，可以不需要人的干预就能完成对待检测面板是否不良的自动化检测，提高检测效率，降低成本。如此，在实际生产工艺中，可以对每个生产出的产品(例如显示面板)进行检测，提高出厂的产品的良率。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测方法包括移动待检测面板，重复步骤：第一光源发射的光线射向待检测面板、利用光检测单元对待检测面板出射的光的强度进行检测、根据检测结果确定待检测面板中是否存在不良区域，直到待检测面板检测完成。如此，只需要移动待检测面板就可以使得光检测单元对待检测面板进行扫描式的检测，简化了检测装置的结构，相应地，也简化了检测方法的操作过程。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，光检测单元包括光传感器阵列，光传感器阵列包括多个光传感器，光传感器为光敏电阻，利用光检测单元对待检测面板出射的光的强度进行检测包括：检测多个光敏电阻中每个的电阻值；根据检测结果确定待检测面板中是否存在不良区域包括：根据检测结果判断每个光敏电阻的电阻值是否为异常电阻值以确定待检测面板中是否存在不良区域。如此，根据对光敏电阻的电阻值进行分析，如果存在光敏电阻具有异常电阻值，则待检测面板中存在不良区域。
在公开至少一个实施例中，对判定光敏电阻是否具有异常电阻值的具体方法不作限制，可以根据实际工艺进行设计。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，根据检测结果判断每个光敏电阻的电阻值是否为异常电阻值以确定待检测面板中是否存在不良区域，包括：提供第一阈值范围；当电阻值大于第一阈值范围或者小于第一阈值范围时，确定光敏电阻具有异常电阻值，确定待检测面板中与具有异常电阻值的光敏电阻对应的区域为不良区域。例如，第一阈值范围表示待检测面板未存在不良时光敏电阻的电阻值，第一阈值范围可以为一固定电阻值，也可以以一固定电阻值为基准的浮动值。示例性的，第一阈值范围的数值区间为【a，b】，与待检测面板的正常区域(未存在不良)对应的光敏电阻的电阻值在a～b之间，在检测过程中，如果光敏电阻的电阻值小于a或者大于b时，则该光敏电阻具有异常电阻值，据此可以确定待检测面板中是否存在不良区域。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，根据检测结果判断每个光敏电阻的电阻值是否为异常电阻值以确定待检测面板中是否存在不良区域，包括：当彼此邻近的多个光敏电阻的电阻值与其他光敏电阻的电阻值的差值在某一范围内，且彼此邻近的多个光敏电阻的数量小于光敏电阻总数量的1/2时，确定彼此邻近的多个光敏电阻具有异常电阻值，确定待检测面板的对应于该彼此邻近的多个光敏电阻的区域为不良区域。不良区域在待检测面板中所占的面积通常比较小，相应地，在待检测面板中存在不良区域的情况下，具有异常电阻值的光敏电阻的数量在所有光敏电阻中的占比小于1/2。如此，只需要对光敏电阻的电阻值进行比较，具有不同电阻值且数量较小(例如小于光敏电阻的总数的1/2)的光敏电阻判定为具有异常电阻值，据此可以确定待检测面板中是否存在不良区域。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，待检测面板包括显示区域和非显示区域，检测光敏电阻的电阻值包括：对与显示区域对应的光敏电阻的电阻值进行检测，并且屏蔽对与非显示区域对应的光敏电阻的电阻值的检测。如此，只需要对显示区域的光透过率进行检测，可以消除非显示区域和显示区域的光透过率不同而带来的误差或者数据分析复杂化等问题，降低数据分析的难度，提高检测结果的准确度。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测方法还包括获得待检测面板中的不良区域的尺寸以及位置。如此，可以有助于后续工艺中对不良区域进行进一步分析，例如可以利用图像获取单元获取不良区域的图像以使得远端操作人员进行进一步的分析；还可以据此对待检测面板中的不良的类型进行判断。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，待检测面板沿平行于承载面的第一方向移动，光敏电阻沿平行于承载面的第二方向排布，第一方向和第二方向交叉，获得待检测面板中存在的不良区域的尺寸以及位置包括：根据具有异常电阻值的光敏电阻确定待检测面板中的与具有异常电阻值的光敏电阻对应的不良区域在第二方向上的第一坐标；根据待检测面板的移动速度和检测到待检测面板中的对应的不良区域的时间与开始检测时间之差，确定对应的不良区域在第一方向上的第二坐标；根据第一坐标和第二坐标确定对应的不良区域的位置，根据具有异常电阻值的光敏电阻在待检测面板上的投影面积确定对应的不良区域的尺寸。例如，检测方法还包括在开始检测至检测结束的时间段内，统计所有对应的不良区域的尺寸，确定位置。
例如，第一方向为x轴的负方向，第二方向平行于y轴，在开始检测时，确定待检测面板的初始坐标，在检测过程中，待检测面板可以匀速运动。如此，根据检测开始的时间以及待检测面板的运动速度可以确定具有异常电阻值的光敏电阻与待检测面板的相对坐标，据此定位不良区域在待检测面板中的位置。在完成检测之后，统计所有不良区域在待检测面板上的坐标可以确定不良区域在待检测面板上的分布。需要说明的是，每个不良区域的尺寸与光检测单元的精度(例如光敏电阻的尺寸)相关。在不考虑光敏电阻的尺寸的情况下，每个不良区域仅代表一个坐标点，如此，在统计不良区域之后，由坐标点相邻的所有不良区域所限定的面积可以表示待检测面板中的具有不良的部分。
例如，本公开至少一个实施例提供的检测方法还包括对具有异常电阻值的光敏电阻的电阻值以及不良区域的尺寸进行分析，判定待检测面板的不良的类型。以待检测面板为液晶显示面板为例，如果液晶层中掺杂异物(例如颗粒等)，该区域的光透过率会降低，相应地，与该区域对应的光敏电阻的电阻值增加；如果液晶层中混入气泡(例如氮气泡或者真空泡，则该区域的光透过率会增加，相应地，与该区域对应的光敏电阻的电阻值减小。
例如，在本公开至少一个实施例提供的检测方法中，检测装置还包括分别设置于待检测面板的两侧的图像获取单元和第二光源，第二光源发射出的光线至少部分射向图像获取单元，检测方法还包括：第二光源发射的光线射向待检测面板；移动图像获取单元至与不良区域相对的位置，利用图像获取单元获取不良区域的图像。利用图像获取单元可以获得不良区域的图像，远端操作人员可以对图像进行判断，从而进一步确定待检测面板是否出现不良或者对不良的类型进行判断。
需要说明的是，在本公开至少一个实施例提供的检测装置的检测方法中，检测装置的具体结构可以参考前述实施例(例如图1～图3所示的关于检测装置的结构的实施例)中的相关内容，在此不做赘述。
图4为本公开一个实施例提供的检测装置的检测方法的过程图。下面，在本公开至少一个实施例中，结合图1所示的检测装置，如图4所示，检测装置的检测方法可以包括如下过程。
s1：将待检测面板放在载台的承载面上，并且记录待检测面板的初始坐标。例如，该初始坐标可以为以待检测面板为基准建立的平面直角坐标系中的坐标，该平面直角系的坐标轴可以为前述实施例中的空间直角坐标系的x轴和y轴。
s2：驱动待检测面板沿第一方向匀速运动，使得光检测单元可以对待检测面板的全部区域进行检测。例如，第一方向为x轴负方向。
s3：对光检测单元的检测数据进行分析，判定待检测面板中是否存在不良区域。
s4：在待检测面板中存在不良区域的情况下，根据初始坐标以及检测数据进行分析以计算不良区域的尺寸以及在待检测面板中的位置。
对待检测面板中是否存在不良区域的判定以及对不良区域的尺寸和位置的确定方法可以参考前述实施例(关于检测装置的检测方法的实施例)中的相关说明，在此不做赘述。
s5：驱动图像获取单元移动至与待检测面板的不良区域相对的位置，以获取不良区域的图像。不良区域的图像可以上传至远端以供操作人员对不良区域的认定以及不良的类型进行进一步判断和分析。
本公开至少一个实施例提供一种检测装置及其检测方法、检测设备，并且可以具有以下至少一项有益效果：
(1)在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，光检测单元可以对待检测面板的光透过率的分布进行检测，据此可以检测待检测面板中是否出现不良，如此，检测装置可以不需要人的干预就能完成对待检测面板是否不良的自动化检测，提高检测效率，降低成本。
(2)在本公开至少一个实施例提供的检测装置中，可以对每个生产出的产品(例如显示面板)进行检测，提高出厂的产品的良率。
对于本公开，还有以下几点需要说明：
(1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
(2)为了清晰起见，在用于描述本公开的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。
(3)在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。