一种检测装置和检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测装置和检测方法。
【背景技术】
[0002]为使液晶材料在玻璃基板的表面能够预先形成规则性的排列和配向，需要在所述玻璃基板的表面预先形成配向膜。首先，将配向膜材料通过印刷方式设置在所述玻璃基板表面，再对所述配向膜材料进行配向处理，例如，光配向、电压配向或者摩擦配向，以使配向膜材料呈现配向状态，从而形成配向膜。然而，通过上述工艺形成的配向膜可能出现厚度不均匀的问题，从而影响显示面板的显示质量。
【发明内容】
[0003]为解决上述问题，本发明提供一种检测装置和检测方法，用于解决现有技术中形成的配向膜可能出现厚度不均匀，从而影响显示面板的显示质量的问题。
[0004]为此，本发明提供一种检测装置，包括光源模块、接收模块、图像生成模块和判断模块，所述图像生成模块分别与所述接收模块和判断模块连接；所述光源模块用于以预定的角度向薄膜发射光线；所述接收模块用于接收所述薄膜的上表面反射的第一反射光与所述薄膜的下表面反射的第二反射光形成的干涉光；所述图像生成模块用于根据所述干涉光形成干涉条纹图像；所述判断模块用于根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0005]可选的，还包括修正模块，所述修正模块分别与所述图像生成模块和所述判断模块连接；所述修正模块用于根据预定的灵敏度对所述干涉条纹图像进行修正，所述预定的灵敏度为所述薄膜的反射率变化相对于所述薄膜的厚度变化的比值；所述判断模块用于根据修正后的干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0006]可选的，还包括存储模块，所述存储模块用于存储所述预定的灵敏度的信息。
[0007]可选的，还包括对比度加强模块，所述对比度加强模块分别与所述图像生成模块和所述判断模块连接；所述对比度加强模块用于加强所述干涉条纹图像的对比度；所述判断模块用于根据对比度加强后的干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0008]可选的，还包括转化模块，所述转化模块分别与所述图像生成模块和所述判断模块连接；所述转化模块用于将所述干涉条纹图像转化为数字信号；所述判断模块用于将所述干涉条纹图像的数字信号与标准干涉条纹图像的数字信号进行比较，以判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0009]可选的，还包括滤波处理模块，所述滤波处理模块分别与所述接收模块和所述图像生成模块连接；所述滤波处理模块用于过滤预定的频率范围之外的干涉光；所述图像生成模块用于根据过滤后的干涉光形成干涉条纹图像。
[0010]本发明还提供一种利用检测装置进行的检测方法，所述检测装置包括光源模块、接收模块、图像生成模块和判断模块，所述图像生成模块分别与所述接收模块和判断模块连接；所述检测方法包括:所述光源模块以预定的角度向薄膜发射光线；所述接收模块接收所述薄膜的上表面反射的第一反射光与所述薄膜的下表面反射的第二反射光形成的干涉光；所述图像生成模块根据所述干涉光形成干涉条纹图像；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0011]可选的，所述检测装置还包括修正模块，所述修正模块分别与所述图像生成模块和所述判断模块连接；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀的步骤之前包括:所述修正模块根据预定的灵敏度对所述干涉条纹图像进行修正；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀的步骤包括:所述判断模块根据修正后的干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0012]可选的，所述检测装置还包括对比度加强模块，所述对比度加强模块分别与所述图像生成模块和所述判断模块连接；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀的步骤之前包括:所述对比度加强模块加强所述干涉条纹图像的对比度；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀的步骤包括:所述判断模块根据对比度加强后的干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0013]可选的，所述检测装置还包括转化模块，所述转化模块分别与所述图像生成模块和所述判断模块连接；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀的步骤之前包括:所述转化模块将所述干涉条纹图像转化为数字信号；所述判断模块根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀的步骤包括:所述判断模块将所述干涉条纹图像的数字信号与标准干涉条纹图像的数字信号进行比较，以判断所述薄膜的厚度是否均匀。
[0014]可选的，所述检测装置还包括滤波处理模块，所述滤波处理模块分别与所述接收模块和所述图像生成模块连接；所述图像生成模块根据所述干涉光形成干涉条纹图像的步骤之前包括:所述滤波处理模块过滤预定的频率范围之外的干涉光；所述图像生成模块根据所述干涉光形成干涉条纹图像的步骤包括:所述图像生成模块根据过滤后的干涉光形成干涉条纹图像。
[0015]本发明具有下述有益效果:
[0016]本发明提供的检测装置和检测方法中，所述检测装置包括光源模块、接收模块、图像生成模块和判断模块，所述光源模块用于以预定的角度向薄膜发射光线，所述接收模块用于接收所述薄膜的上表面反射的第一反射光与所述薄膜的下表面反射的第二反射光形成的干涉光，所述图像生成模块用于根据所述干涉光形成干涉条纹图像，所述判断模块用于根据所述干涉条纹图像判断所述薄膜的厚度是否均匀。所述检测装置能够对薄膜厚度的均匀性进行高精度检测，以确保薄膜厚度的均匀性，从而提高显示面板的显示质量。
【附图说明】
[0017]图1为本发明实施例一提供的一种检测装置的结构示意图；
[0018]图2为薄膜厚度均匀时形成的一种干涉条纹的示意图；
[0019]图3为薄膜厚度不均匀时形成的一种干涉条纹的示意图；
[0020]图4为薄膜厚度不均匀时形成的另一种干涉条纹的示意图；
[0021]图5为本发明实施例二提供的一种利用检测装置进行的检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0022]为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的检测装置和检测方法进行详细描述。
[0023]实施例一
[0024]图1为本发明实施例一提供的一种检测装置的结构示意图。如图1所示，所述检测装置包括光源模块101、接收模块102、图像生成模块103和判断模块104，所述图像生成模块103分别与所述接收模块102和判断模块104连接。所述光源模块101以预定的角度向薄膜105发射光线，所述接收模块102接收所述薄膜101的上表面反射的第一反射光与所述薄膜102的下表面反射的第二反射光形成的干涉光。由于所述薄膜102的上表面的第一反射光和下表面的第二反射光源自同一入射光，只是经历不同的路径而具有恒定的相位差，因此所述第一反射光和所述第二反射光源是相干光。上述干涉光经透镜聚焦后，由所述图像生成模块103形成干涉条纹图像。可选的，所述透镜为凸透镜106，所述图像生成模块103设置在所述凸透镜106的聚焦平面上。所述判断模块104根据所述干涉条纹图像可以判断所述薄膜的厚度是否均匀。所述检测装置能够对薄膜厚度的均匀性进行高精度检测，以确保薄膜厚度的均匀性，从而提高显示面板的显示质量。
[0025]本实施例中，光源模块101发出的入射光的波长和入射角度是确定的，同一厚度的薄膜对应于同一级别的条纹。因此，所述图像生成模块103形成的干涉条纹为等厚干涉条纹。图2为薄膜厚度均匀时形成的一种干涉条纹的示意图。如图2所示，当所述薄膜105的厚度均匀时，所述图像生成模块103形成的干涉条纹为平行等距直条纹。当所述薄膜105的厚度不均匀时，所述图像生成模块103形成的干涉条纹会发生相应的弯曲。根据干涉条纹的弯曲方向和弯曲度就可以判断所述薄膜105的偏差趋势和偏差大小。
[0026]优选的，所述检测装置还包括转化模块，所述转化模块分别与所述图像生成模块103和所述判断模块104连接。所述转化模块将所述干涉条纹图像转化为数字信号，所述判断模块将所述干涉条纹图像的数字信号与标准干涉条纹图像的数字信号进行比较，以判断所述薄膜的厚度是否均匀。图3为薄膜厚度不均匀时形成的一种干涉条纹的示意图。如图3所示，所述图像生成模块103形成的干涉条纹发生弯曲，而且弯曲方向向左，通过将图3中的干涉条纹图像的数字信号与图2中的