阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及其制作方法、控制方法、显示
目.0
【背景技术】
[0002]随着显示器制造技术的发展，液晶显示器技术发展迅速，己经取代了传统的显像管显示器而成为未来平板显示器的主流。在液晶显示器技术领域中，薄膜晶体管液晶显示器 TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)以其大尺寸、高度集成、功能强大、工艺灵活、低成本等优势而广泛应用于电视机、电脑等领域。
[0003]在液晶显示面板制作的过程中，需要对显示板面的透过率进行测试。现有技术中，一般是将用于连接数据驱动电路和阵列基板的柔性电路板撕掉，之后在暴露出的数据线接口处涂覆银胶，将各个数据线接口连接在一起，之后通过在数据线上施加相应的数据电压点亮各个像素，并使用色彩分析仪采集各个像素的发光信息，完成相应的测试。
[0004]上述的测试方法存在的问题在于，将柔性电路板撕掉会导致该阵列基板的报废，造成极大的浪费。
【发明内容】
[0005]本发明的一个目的在于克服上述问题。
[0006]第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括基底、形成在所述基底上的像素开关阵列和数据线图形，并具有多个数据信号输入端，还包括形成在所述基底上的测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
[0007]进一步的，所述测试/显示转换开关阵列包括测试开关阵列和显示开关阵列，所述转换控制输入端包括测试控制端和显示控制端；其中，
[0008]所述显示开关阵列中的每一个显示开关与一条数据线以及一个数据信号输入端相对应，并连接在对应的数据线与对应的数据信号输入端之间，控制端连接所述显示控制端;
[0009]所述测试开关阵列的每一个测试开关的第一端一对一连接一条数据线，第二端连接到所述测试信号输入端，控制端连接所述测试控制端；
[0010]所述第一控制信号适于开启所述显示开关阵列中的各个显示开关，并关断所述测试开关阵列的各个开关；
[0011]所述第二控制信号适于开启所述测试开关阵列中的各个测试开关，并关断所述显示开关阵列的各个开关。
[0012]进一步的，所述显示开关阵列中的各个显示开关的开启电平以及所述第一控制信号均为第一电平，所述测试开关阵列中的各个测试开关的开启电平以及所述第二控制信号均为与第一电平相反的第二电平；
[0013]所述测试控制端和显示控制端为同一输入端。
[0014]进一步的，所述测试/显示转换开关阵列中的各个开关与所述像素开关阵列中的各个开关的开启电平均为第一电平，所述第一控制信号包括输入到显示控制端的第一电平信号和输入到测试控制端的第二电平信号；所述第二控制信号包括输入到显示控制端的第二电平信号和输入到测试控制端的第一电平信号；所述第二电平信号与所述第一电平信号相反。
[0015]进一步的，所述测试/显示转换开关阵列形成在扇出区域。
[0016]第二方面，本发明还提供了一种用于对上述任一项所述的阵列基板的控制方法，其特征在于，包括:
[0017]在显示阶段，在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端；
[0018]在测试阶段，在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
[0019]进一步的，当所述测试/显示转换开关阵列包括测试开关阵列和显示开关阵列，所述转换控制输入端包括测试控制端和显示控制端时，所述在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，包括:
[0020]在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关开启的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关关断的控制信号；
[0021]所述在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端，包括:
[0022]在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关关断的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关开启的控制信号。
[0023]第三方面，本发明还提供了一种制作上述任一项所述的方法，包括:
[0024]在基底上形成像素开关阵列、数据线图形、数据信号输入端；并在所述基底上形成测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端；其中，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
[0025]进一步的，当所述测试/显示转换开关阵列中的各个开关与所述像素开关阵列中的各个开关的开启电平均为第一电平时，在形成所述像素开关阵列的同一工艺中形成测试/显示转换开关阵列。
[0026]第四方面，本发明还提供了一种显示装置，其特征在于，包括上述任一项所述的阵列基板。
[0027]本发明提供的阵列基板中，在数据信号输入端和数据线之间还设置有测试/显示转换开关阵列，并设置有测试信号输入端和转换控制输入端，该测试/显示转换开关阵列可以选择性的将数据线接入测试信号输入端或者数据信号输入端。这样在需要进行透过率曲线的测试时，仅需将数据线接入测试信号输入端即可，而无需将柔性电路板撕掉，避免了相应的资源浪费。
【附图说明】
[0028]图1为本发明一实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；
[0029]图2为本发明另一实施例提供的一种阵列基板的结构示意图。
【具体实施方式】
[0030]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他的实施例，都属于本发明保护的范围。
[0031]第一方面，本发明提供了一种阵列基板，该阵列基板包括:基底、形成在所述基底上的像素开关阵列和数据线图形，并具有多个数据信号输入端，还包括形成在所述基底上的测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
[0032]第二方面，本发明提供了一种阵列基板的控制方法，该方法包括:
[0033]在显示阶段，在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端；
[0034]在测试阶段，在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
[0035]本发明提供的阵列基板机及其驱动方法中，在数据信号输入端和数据线之间还设置有测试/显示转换开关阵列，并设置有测试信号输入端和转换控制输入端，该测试/显示转换开关阵列可以选择性的将数据线接入测试信号输入端或者数据信号输入端。这样在需要进行透过率曲线的测试时，仅需将数据线接入测试信号输入端即可，而无需将柔性电路板撕掉，避免了相应的资源浪费。
[0036]在具体实施时，上述的阵列基板的具体结构可以表现多种形式，具体的驱动方法也不尽相同。下面结合附图对其中一种阵列基板的结构及其驱动方法进行说明，参考图1，该阵列基板包括基底100 (图中为示出)、以及形成在基底100上的数据线图形400 (图中未示出标号)，在基底100上的显示区域形成有像素开关阵列(图中未示出)，在非显示区域的数据线扇出区域形成有测试开关阵列210和显示开关阵列220，并形成有测试信号输入端110、多个数据信号输出端120、测试控制端310和显示控制端320 ;其中，显示开关阵列220中的每一个显示开关221与一条数据线401以及一个数据信号输入端120相对应，并连接在相对应的数据线401与数据信号输入端120之间，各个显示开关221的控制端均连接显示控制端320 ;测试开关阵列210中的各个测试开关211也与一条数据线401相对应，每一个测试开关211的第一端连接相对应的数据线401，第二端连接测试信号输入端110，控制端连接测试控制端310。
[0037]参见图1，测试开关阵列210中的各个测试开关211和显示开关阵列220中的各个显示开关221可以为开启电平为高电平的开关，相应的像素开关阵列中的各个像素开关的开启电平也可以为高电平，这样做的好处是，可以在形成像素开关阵列的同一工艺中，形成测试开关阵列210和显示开关阵列220。从而降低制作的难度。
[0038]对图1中的阵列基板的控制过程可以包括:
[0039]在显示阶段，在显示控制端320施加高电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221导通，并在测试控制端310施加低电平，使测试开关阵列210中的各个测试开关211关断；此时，各个数据线401通过显示开关221连接到对应的数据信号输入端120，通过在