数据信号输入端120施加相应的数据信号可实现正常的显示。
[0040]在测试阶段，在显示控制端320施加低电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221关断，并在测试控制端310施加高电平，使测试开关阵列210中的各个测试开关211导通；此时，各个数据线401通过测试开关211连接到测试信号输入端110，在测试信号输入端110上施加测试信号可以实现相应的测试。
[0041]这样在进行测试时，直接在测试信号输入端110施加相应的测试电压并在测试控制端310施加控制信号使测试开关导通即可，而无需使数据信号输入端120暴露，也就无需将连接数据信号输入端120与数据驱动电路的柔性电路板撕掉，避免由此造成的阵列基板的报废。
[0042]图1中所示的阵列基板是包含一个测试信号输入端110的情况，此时可以在不报废阵列基板的情况下实现液晶透过率测试，或者其他对各列像素同时进行的测试。不难理解的是，在实际应用中，也可以设置多个测试信号输入端110，并使各个测试开关211 —对一连接各个测试信号输入端110，这样可以单独完成对其中的一列像素的测试。
[0043]不难理解的是，在图1中，测试开关阵列210和显示开关阵列220共同构成了测试/显示转换开关阵列，而测试控制端和显示控制端共同构成了转换控制输入端，施加在测试开关阵列210中的各个测试开关211的低电平和施加在显示开关阵列220中的各个测试开关221的高电平构成了第一控制信号，施加在测试开关阵列210中的各个测试开关211的高电平和施加在显示开关阵列220中的各个测试开关221的低电平构成了第二控制信号。
[0044]在图1中将测试/显示转换开关阵列设置在数据线扇出区域的好处是，能够使得测试/显示转换开关阵列距离数据信号输入端更近，同时避免影响发光显示，当然在实际应用中，将测试/显示转换开关阵列设置在其他区域也能够解决本发明所要解决的基本问题，相应的也应落入本发明的保护范围。
[0045]参见图2，为另一种可能的阵列基板的结构示意图，与图1中的阵列基板不同的是，不存在单独的测试控制端310和显示控制端320，而仅存在一个共同的控制端330，测试开关阵列210中的各个测试开关211的开启电平为高电平，显示开关阵列220中的各个显示开关221的开启电平为低电平，而测试开关阵列210中的各个测试开关211和显示开关阵列220中的各个显示开关221的控制端均连接到一个共同控制端330。
[0046]在对该阵列基板的控制方法可以包括:
[0047]在显示阶段，在共同控制端330上施加低电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221导通，使测试开关阵列210中的各个测试开关211关断；此时，各个数据线401通过显示开关221连接到对应的数据信号输入端120，通过在数据信号输入端120施加相应的数据信号可实现正常的显示。
[0048]在测试阶段，在共同控制端330上施加高电平，使显示开关阵列220中的各个显示开关221关断，并使测试开关阵列210中的各个测试开关211导通。
[0049]图2中，低电平构成第一控制信号，高电平构成第二控制信号，共同控制端330构成转换控制输入端。
[0050]图2所示的阵列基板中减少了控制端的数量和控制信号的数量，能够降低相应的控制难度。
[0051]不难理解的是，在实际应用中，在图1和图2中的各个开关的开启电平也可以替换为相反的电平，此时各个控制信号中涉及到的控制电平也应替换为相反的电平。相应的技术方案也能够解决本发明所要解决的技术问题，应落入本发明的保护范围。
[0052]第三方面，本发明还提供了一种阵列基板的制作方法，可用于制作上述任一项所述的阵列基板，该方法包括:
[0053]在基底上形成像素开关阵列、数据线图形、数据信号输入端；并在基底上的形成测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端；其中，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。
[0054]具体的，当上述的阵列基板为图1中所述的阵列基板时，该阵列基板的制作方法中，可以在形成所述像素开关阵列的同一工艺中形成测试/显示转换开关阵列。这样能够降低制作工艺的复杂程度。
[0055]第四方面，本发明还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述任一项所述的阵列基板。具体的，该显示装置可以为手机、电脑、电视机、平板电脑等任何具有显示功能的装置。
[0056]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但是，本发明的保护范围不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替代，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种阵列基板，包括基底、形成在所述基底上的像素开关阵列和数据线图形，并具有多个数据信号输入端，其特征在于，还包括形成在所述基底上的测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试/显示转换开关阵列包括测试开关阵列和显示开关阵列，所述转换控制输入端包括测试控制端和显示控制端；其中， 所述显示开关阵列中的每一个显示开关与一条数据线以及一个数据信号输入端相对应，并连接在对应的数据线与对应的数据信号输入端之间，控制端连接所述显示控制端； 所述测试开关阵列的每一个测试开关的第一端一对一连接一条数据线，第二端连接到所述测试信号输入端，控制端连接所述测试控制端； 所述第一控制信号适于开启所述显示开关阵列中的各个显示开关，并关断所述测试开关阵列的各个开关； 所述第二控制信号适于开启所述测试开关阵列中的各个测试开关，并关断所述显示开关阵列的各个开关。3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述显示开关阵列中的各个显示开关的开启电平以及所述第一控制信号均为第一电平，所述测试开关阵列中的各个测试开关的开启电平以及所述第二控制信号均为与第一电平相反的第二电平； 所述测试控制端和显示控制端为同一输入端。4.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试/显示转换开关阵列中的各个开关与所述像素开关阵列中的各个开关的开启电平均为第一电平，所述第一控制信号包括输入到显示控制端的第一电平信号和输入到测试控制端的第二电平信号；所述第二控制信号包括输入到显示控制端的第二电平信号和输入到测试控制端的第一电平信号；所述第二电平信号与所述第一电平信号相反。5.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试/显示转换开关阵列形成在扇出区域。6.一种对如权利要求1-5任一项所述的阵列基板的控制方法，其特征在于，包括: 在显示阶段，在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端； 在测试阶段，在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述阵列基板为如权利要求2所述的阵列基板，所述在转换控制输入端输入第一控制信号将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，包括: 在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关开启的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关关断的控制信号； 所述在转换控制输入端输入第二控制信号将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端，包括: 在所述显示控制端上输入能够使各个显示开关关断的控制信号，并在所述测试开关输入端输入能够使各个测试开关开启的控制信号。8.一种制作如权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，包括: 在基底上形成像素开关阵列、数据线图形、数据信号输入端；并在所述基底上形成测试/显示转换开关阵列、测试信号输入端和转换控制输入端；其中，所述测试/显示转换开关阵列分别与所述转换控制输入端、所述测试信号输入端、多个数据信号输入端以及所述数据线图形中的多条数据线相连，适于响应于所述转换控制输入端接入的第一控制信号，将所述多条数据线一对一接入到多个数据信号输入端，响应于所述转换控制输入端接入的第二控制信号，将所述多条数据线接入到所述测试信号输入端。9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述阵列基板为如权利要求4所述的阵列基板，在形成所述像素开关阵列的同一工艺中形成测试/显示转换开关阵列。10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的阵列基板。
【专利摘要】本发明提供了一种阵列基板及其制作方法、控制方法、显示装置，该阵列基板中，在数据信号输入端和数据线之间还设置有测试/显示转换开关阵列，并设置有测试信号输入端和转换控制输入端，该测试/显示转换开关阵列可以选择性的将数据线接入测试信号输入端或者数据信号输入端。这样在需要进行透过率曲线的测试时，仅需将数据线接入测试信号输入端即可，而无需将柔性电路板撕掉，避免了相应的资源浪费。
【IPC分类】G09G3/00, G02F1/1362, H01L23/544, G02F1/13
【公开号】CN104991358
【申请号】CN201510435618
【发明人】张杨
【申请人】合肥鑫晟光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司
【公开日】2015年10月21日
【申请日】2015年7月21日