一种视图合成校正方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及三维显示技术领域，具体而言，涉及一种视图合成校正方法及装置。
【背景技术】
[0002] 目前，在3D(Three-Dimensional，三维）模组的生产制造中的光栅贴合环节，光栅 与屏幕相对位置的不确定性，导致最佳观看位置偏移以及3D模组进行视图显示的质量差 等问题，限制了立体显示的应用。因此如何根据光栅贴合的偏移情况进行视图合成校正成 为急需解决的问题。
[0003] 当前现有技术并没有对3D模组进行视图合成校正，而是在生产3D模组的过程中 对光栅贴合进行校正。具体地，在生产3D模组时，在光栅及屏幕上分别设置对位标记，通 过数字成像设备实时监测将光栅上的对位标记的位置以及屏幕上的对位标记的位置，多次 计算这两个位置之间的偏移距离，根据计算的偏移距离反复校正光栅与屏幕之间的相对位 置，最终将光栅与屏幕对准，然后将对准后的光栅贴合在屏幕上。
[0004] 但是反复计算偏移距离，进行多次校正，实现起来非常复杂，且仍无法避免光栅贴 合误差，这样后续存在光栅贴合误差的3D模组进行视图显示时显示图像的质量很差。
【发明内容】
[0005] 有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种视图合成校正方法及装置，获取待 校正模组对应的位相补偿量，在后续待校正模组显示图像时根据该位相补偿量来对进行视 图合成校正，从而弥补光栅贴合不准确造成的误差，提高待校正模组显示图像的质量。
[0006] 本发明实施例提供了一种视图合成校正方法，所述方法包括：
[0007] 根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像素偏移量，获取测试图 样；
[0008] 将所述测试图样加载到标准模组和待校正模组上，当所述标准模组和所述待校正 模组满足预设条件时，获取所述标准模组对应的次像素偏移量及所述待校正模组对应的次 像素偏移量；
[0009] 计算所述标准模组对应的次像素偏移量与所述待校正模组对应的次像素偏移量 之间的差值，将所述差值确定为所述待校正模组对应的位相补偿量；
[0010] 根据所述位相补偿量，对所述待校正模组进行视图合成校正。
[0011] 优选地，所述根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像素偏移量， 获取测试图样，包括：
[0012] 根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像素偏移量，通过如下公式 (1)为测试图样中的每个次像素进行灰阶赋值，得到8位颜色深度的二进制黑白交替的测 试图样；
[0013]
[0014] 或者，根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像素偏移量，通过如 下公式（2)为测试图样中的每个次像素进行灰阶赋值，得到8位颜色深度的线性交织的红 绿测试图样；
[0015]
[0016] 其中，在公式（1)和（2)中，i为次像素所在的行的序号，j为次像素所在的列的序 号，k为次像素在第i行第j列的次像素序数，GUijik)为第i行第j列第k个次像素的颜色 灰阶，
alpha为预设的光栅倾角，S为次像素 偏移量，pitch为预设光栅节距与次像素宽度之间的比值。
[0017] 优选地，所述将所述测试图样加载到标准模组和待校正模组上，当所述标准模组 和所述待校正模组满足预设条件时，获取所述标准模组对应的次像素偏移量及所述待校正 模组对应的次像素偏移量，包括：
[0018] 将所述测试图样加载到标准模组上，通过摄像头拍摄所述标准模组经光栅分光后 投射到白幕上的图像；
[0019] 将所述测试图样加载到待校正模组上，连续改变所述待校正模组的次像素偏移 量，每次改变次像素偏移量时均通过摄像头拍摄所述待校正模组经光栅分光后投射到白幕 上的图像；
[0020] 将所述标准模组对应的图像分别与所述待校正模组对应的每个图像进行矩阵化 相关运算得到矩阵相关性；
[0021] 当得到的矩阵相关性达到预设阈值时，获取此时所述待校正模组对应的次像素偏 移量和所述标准模组对应的次像素偏移量。
[0022] 优选地，所述将所述测试图样加载到标准模组和待校正模组上，当所述标准模组 和所述待校正模组满足预设条件时，获取所述标准模组对应的次像素偏移量及所述待校正 模组对应的次像素偏移量，包括：
[0023] 在标准模组上加载所述测试图样并改变所述标准模组上加载的测试图样，通过照 度采样探头监测所述标准模组的预设区域内经光栅分光及经位相片滤光后的照度均值，当 所述标准模组对应的照度均值达到最大时获取所述标准模组对应的次像素偏移量；
[0024] 在待校正模组上加载所述测试图样并改变所述待校正模组上加载的测试图样，通 过照度采样探头监测所述待校正模组的预设区域内经光栅分光及经位相片滤光后的照度 均值，当所述待校正模组对应的照度均值达到最大时获取所述待校正模组对应的次像素偏 移量。
[0025] 优选地，通过照度采样探头监测所述标准模组或所述待校正模组的预设区域内经 光栅分光及经位相片滤光后的照度均值之前，还包括：
[0026] 通过一束激光穿过小孔光阑入射到所述标准模组或所述待校正模组上，移动所述 小孔光阑使反射光点射回到小孔，标记此时小孔位置，在平行于所述标准模组或所述待校 正模组的平面内旋转位相片，直到所述位相片上相邻反衬条纹与射到光栅上的衍射光伸展 方向相垂直，水平方向移动所述位相片，直至所述位相片上相邻明暗或异色条纹分界线通 过所述小孔位置，沿所述标准模组或所述待校正模组中轴方向移动所述位相片至所述位相 片与所述标准模组或所述待校正模组的出光面之间的距离为预设观察距离。
[0027] 本发明实施例提供了一种视图合成校正装置，所述装置包括：
[0028] 第一获取模块，用于根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像素偏 移量，获取测试图样；
[0029] 第二获取模块，用于将所述测试图样加载到标准模组和待校正模组上，当所述标 准模组和所述待校正模组满足预设条件时，获取所述标准模组对应的次像素偏移量及所述 待校正模组对应的次像素偏移量；
[0030] 计算模块，用于计算所述标准模组对应的次像素偏移量与所述待校正模组对应的 次像素偏移量之间的差值，将所述差值确定为所述待校正模组对应的位相补偿量；
[0031] 校正模块，用于根据所述位相补偿量，对所述待校正模组进行视图合成校正。
[0032] 优选地，所述第一获取模块包括：
[0033] 第一灰阶赋值单元，用于根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像 素偏移量，通过如下公式（1)为测试图样中的每个次像素进行灰阶赋值，得到8位颜色深度 的二进制黑白夺替的测试图样：
[0034]
[0035] 或者，
[0036] 第二灰阶赋值单元，用于根据预设的光栅倾角、预设光栅节距、次像素宽度和次像 素偏移量，通过如下公式（2)为测试图样中的每个次像素进行灰阶赋值，得到8位颜色深度 的线性交织的红绿测试图样；
[0037]
[0038] 其中，在公式（1)和（2)中，i为次像素所在的行的序号，j为次像素所在的列的序 号，k为次像素在第i行第j列的次像素序数，GUijik)为第i行第j列第k个次像素的颜色 灰阶：
alpha为预设的光栅倾角，S为次像素 偏移量，pitch为预设光栅节距与次像素宽度之间的比值。
[0039] 优选地，所述第二获取模块包括：
[0040] 第一拍摄单元，用于将所述测试图样加载到标准模组上，通过摄像头拍摄所述标 准模组经光栅分光后投射到白幕上的图像；
[0041] 第二拍摄单元，用于将所述测试图样加载到待校正模组上，连续改变所述待校正 模组的次像素偏移量，每次改变次像素偏移量时均通过摄像头拍摄所述待校正模组经光栅 分光后投射到白幕上的图像；
[0042] 矩阵化相关运算单元，用于将所述标准模组对应的图像分别与所述待校正模组对 应的每个图像进行矩阵化相关运算得到矩阵相关性；
[0043] 第一获取单元，用于当得到的矩阵相关性达到预设阈值时，获取此时所述待校正 模组对应的次像素偏移量和所述标准模组对应的次像素偏移量。
[0044] 优选地，所述第二获取模块包括：
[0045] 第二获取单元，用于在标准模组上加载所述测试图样并改变所述标准模组上加载 的测试图样，通过照度采样探头监测所述标准模组的预设区域内经光栅分光及经位相片滤 光后的照度均值，当所述标准模组对应的照度均值达到最大时获取所述标准模组对应的次 像素偏移量；
[0046] 第三获取单元，用于在待校正模组上加载所述测试图样并改变所述待校正模组上 加载的测试图样，通过照度采样探头监测所述待校正模组的预设区域内经光栅分光及经位 相片滤光后的照度均值，当所述待校正模组对应的照度均值达到最大时获取所述待校正模 组对应的次像素偏移量。
[0047] 优选地，所述第二获取模块还包括：
[0048] 设置位相片单元，用于通过一束激光穿过小孔光阑入射到所述标准模组或所述待 校正模组上，移动所述小孔光阑使反射光点射回到小孔，标记此时小孔位置，在平行于所述 标准模组或所述待校正模组的平面内旋转位相片，直到所述位相片上相邻反衬条纹与射到 光栅上的衍射光伸展方向相垂直，水平方向移动所述位相片，直至所述位相片上相邻明暗 或异色条纹分界线通过所述小孔位置，沿所述标准模组或所述待校正模组中轴方向移动所 述位相片