一种面板检测电路及液晶显示面板的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种检测电路技术领域，尤其涉及一种面板检测电路及液晶显示面板。
【背景技术】
[0002]液晶显示器(IXD)是最广泛使用的平板显示器之一，广泛地应用为笔记本电脑或是手机的显示器，且由于市场需求量大，其制程或面板结构的设计方面也有不断的研发改良，为了确保液晶显示器的显示质量，一般都要对液晶显示面板进行测试以尽早发现问题产品，从而减少后续制程的浪费。
[0003]目前，在液晶显示面板的检测中，通常在液晶显示面板的阵列基板上设置测试线来连接液晶显示面板的信号线，如图1所示，液晶显示面板具有红色子像素、绿色子像素及蓝色子像素，在液晶显示面板测试时，通过红色子像素测试线103、绿色子像素测试线102及蓝色子像素测试线101向液晶显示面板输入红色子像素测试信号、绿色子像素测试信号及蓝色子像素测试信号，在数据端，由蓝色子像素测试线101输入蓝色子像素测试信号至数据信号线，这时，由于数据信号线与绿色子像素测试线102和红色子像素测试线103有重叠区域，在工艺过程中这两个重叠区域104和105有可能出现短路现象，当任意一处出现短路现象时，蓝色子像素测试线101输入的蓝色子像素测试信号就会传到其它数据信号线上，从而不能区分面板显示区是否有异常问题；同理，由绿色子像素测试线102输入绿色子像素测试信号至数据信号线，这时，由于数据信号线与红色子像素测试线103有重叠区域，在工艺过程中这个重叠区域106有可能出现短路现象，绿色子像素测试线102输入的绿色子像素测试信号就会传到其他数据信号线上，从而不能区分面板显示区是否有异常问题。
[0004]当出现重叠区域短路现象时，使得整个面板测试无法进行，故需提供一种面板检测电路，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种面板检测电路，可以有效的解决现有技术中因重叠区域出现短路现象，使得整个面板测试无法进行的技术问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本发明提供的面板检测电路，包括:
[0007]多条数据信号线；
[0008]测试开关，其与所述数据信号线连接；
[0009]测试线，其与所述测试开关连接，包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线；以及，
[0010]控制线，其与所述测试开关连接，包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中，所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关，所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关，所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。
[0011 ]所述测试开关为薄膜晶体管。
[0012]所述测试开关具有源极、漏极及栅极，所述源极与所述测试线连接，所述漏极与所述数据信号线连接，所述栅极与所述控制线连接。
[0013]所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。
[0014]所述测试开关具有一最低启动电平值，所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
[0015]所述面板检测电路还包括驱动电路组件，设置于基板上，其中所述驱动电路组件电性连接所述数据信号线。
[0016]所述数据信号线具有金属端子，用于接收所述测试信号。
[0017]依据本发明的上述目的，提出一种液晶显示面板，包括:面板检测电路，包括:
[0018]多条数据信号线；
[0019]测试开关，其与所述数据信号线连接；
[0020]测试线，其与所述测试开关连接，包括:用于向所述测试开关输入红色子像素测试信号的第一测试线、用于向所述测试开关输入绿色子像素测试信号的第二测试线及用于向所述测试开关输入蓝色子像素测试信号的第三测试线；以及，
[0021 ]控制线，其与所述测试开关连接，包括:第一控制线、第二控制线及第三控制线;其中，所述第一控制线用于开启与所述第一测试线连接的测试开关，所述第二控制线用于开启与所述第二测试线连接的测试开关，所述第三控制线用于开启与所述第三测试线连接的测试开关。
[0022]所述测试线输入的测试信号具有一最低显示电平值。
[0023]所述测试开关具有一最低启动电平值，所述最低启动电平值小于所述最低显示电平值。
[0024]本发明所提供的面板检测电路通过在所述多条数据信号线上设置多个测试开关，并且用控制线控制所述测试开关，使得当在重叠区域出现短路现象时，整个面板测试仍能继续进行，并且检测后可不用通过激光来切断测试线，可以避免额外的激光切断步骤，再者，测试开关可以与像素的主动元件同时形成，而不需要额外的制程步骤。
【附图说明】
[0025]为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为现有的面板检测电路不意图；
[0027]图2为本发明面板检测电路实施例示意图。
【具体实施方式】
[0028]以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
[0029]下面结合附图详细本发明实施例的实现过程。
[0030]参见图2，为本发明面板检测电路实施例示意图。
[0031]本实施例的面板检测电路，包括:
[0032]多条数据信号线217;测试开关207，其与所述数据信号线217连接;测试线，其与所述测试开关207连接，包括:用于向所述测试开关207输入红色子像素测试信号的第一测试线203、用于向所述测试开关207输入绿色子像素测试信号的第二测试线202及用于向所述测试开关207输入蓝色子像素测试信号的第三测试线201;以及，控制线，其与所述测试开关207连接，包括:第一控制线206、第二控制线205及第三控制线204;其中，所述第一控制线206用于开启与所述第一测试线203连接的测试开关207，所述第二控制线205用于开启与所述第二测试线202连接的测试开关207，所述第三控制线204用于开启与所述第三测试线201连接的测试开关207。
[0033]本实施例中，数据信号线217具有外漏的输入端子208，用于接收输入的信号。输入端子208是设置于数据信号线217的一侧，并连接于测试开关207。
[0034]测试开关207连接在数据信号线217的输入端子208与测试线之间，并可在测试液晶显示面板时被开启或关闭，以允许或阻止测试信号由测试线传入数据信号线217。所述测试开关207为薄膜晶体管，此时，测试开关207具有源极、漏极及栅极，所述源极与所述测试线连接，所述漏极与所述数据信号线217连接，所述栅极与所述控制线连接。当然，在本实施例中，测试开关207与液晶显示面板的主动元件可同时形成于基板上，以减少制程步骤，SP在液晶显示面板的主动元件的制程中，可同时形成主动元件及测试开关于基板上。因此，可不需要额外的制程步骤来形成测试开关207。
[0035]测试线连接于测试开关207，用于输入测试信号至数据信号线217，外部的测试单元或测试系统可通过测试线来传送测试信号至数据信号线217。本实施例中，所述数据信号线217具有红色子像素信号线、绿色子像素信号线及蓝色子像素信号线，液晶显示面板数据端设有三条测试线，包括第一测试线203、第二测试线202及第三测试线201，所述第一测试线203用于向所述测试开关207输入红色子像素测试信号，所述第二测试线202用于向所述测试开关207输入绿色子像素测试信号，所述第三测试线201用于向所述测试开关207输入蓝色子像素测试信号。
[0036]控制线分别连接于测试开关207，用