一种探针的制作方法

文档序号:14954252发布日期:2018-07-17 23:14阅读:263来源:国知局

本实用新型涉及CNC加工探测技术技术领域,特别是涉及一种探针。



背景技术:

探针,是一种用于CNC(Computer numerical control,数控机床)加工探测的工具。探针安装在检测机台使用,在检测机台的带动下触碰工件的轮廓,根据探针反馈给检测机台的位移信号,检测机台计算出工件的轮廓参数,并与预先记录于检测机台内的理论参考值进行比对,得出实际值和理论值的偏差值。根据该偏差值可以区分合格品和不良品,并且该偏差值能够用于对工件的轮廓进行修正,以挽救不良品。

随着CNC行业的快速发展,手机外壳的中框与后盖连为一体,加工方式也由传统的正面加工转向倒扣加工,工艺流程更加简单。

本申请的实用新型人在长期的研发过程中,发现传统的探针(如圆柱形探针、鼓型探针)通常只能对工件的外围进行探测,对于外形打磨容易塌边的工件的内部没法进行检测,从而导致检测机台计算出的轮廓参数值与实际值存在较大误差,容易出现大小边的情况。



技术实现要素:

本实用新型提供一种探针,能够解决现有技术中加工探测外围时容易出现大小边的问题。

为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种探针,包括:

探针杆,包括第一端部及第二端部,其中,所述第一端部用于与检测机台连接;

探头组件,包括探头及连接杆,其中所述连接杆的一端与所述探针杆的所述第二端部连接,所述探头凸设于所述连接杆远离连接所述第二端部的一端,且所述探头的凸设方向与所述第二端部延伸至所述第一端部的方向相同,以用于探测工件的内外表面。

根据本实用新型一具体实施例,所述探头包括第一探测面,所述第一探测面的朝向方向与所述第二端部延伸至所述第一端部的方向相同,以对所述工件的内表面进行探测。

根据本实用新型一具体实施例,所述探头进一步包括连接面,所述连接面的一侧与所述第一探测面相连接,而相对的一侧与所述连接杆的第一表面连接。

根据本实用新型一具体实施例,所述第一探测面与所述连接面之间的夹角为45-55度。

根据本实用新型一具体实施例,所述探头包括第二探测面,所述第二探测面与所述探针杆的中心轴平行,以对所述工件的外围进行探测。

根据本实用新型一具体实施例,所述探头组件包括多个所述连接杆,多个所述连接杆间隔设置并与所述探针杆垂直设置。

根据本实用新型一具体实施例,多个所述连接杆的长度范围为50-80毫米。

根据本实用新型一具体实施例,所述探头组件还包括中心部,用于将探头组件与所述探针杆连接。

根据本实用新型一具体实施例,所述中心部开设有第一螺纹孔,所述探针杆的所述第二端部开设有第一螺纹,以使所述探针杆与所述中心部之间第一螺纹固定连接。

根据本实用新型一具体实施例,所述探头、所述连接杆以及所述中心部一体成型。

本实用新型的有益效果是:区别于现有技术的情况,本实用新型实施方式提供的探针包括:探针杆,包括第一端部及第二端部,其中第一端部用于与检测机台连接;探头组件,包括探头及连接杆,其中连接杆的一端与探针杆的第二端部连接,探头凸设于连接杆远离连接第二端部的一端,且探头的凸设方向与第二端部延伸至第一端部的方向相同,以用于探测工件的内外表面。通过将探头的凸设方向设置为与第二端部延伸至第一端部的方向相同,形成倒钩型,使得探针既能探测工件的内部,又能探测工件的外围,另外,对于外形打磨容易塌边的工件,能够有效进行调整,避免出现大小边的情况,使工件外围倒角更加均匀和美观,且能够提升工件的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:

图1是本实用新型提供的探针一实施方式的流程示意图;

图2是图1所示的探针的另一角度的立体示意图;

图3是图1所示的探针的分解示意图;

图4是利用图1所示的探针进行探测工件的内腔的示意图;

图5是利用图1所示的探针进行探测工件的外围的示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请结合参阅图1至图3,本实用新型实施方式提供一种探针100,该探针100用于探测工件200的内外表面,其中工件200可为但不限于为工件200的后盖。本实施方式中,该工件200以手机壳为例进行说明,手机壳包括后盖及中框,后盖及中框形成内腔。该探针100包括:探针杆10及探头组件,其中探针杆10包括第一端部11及第二端部12,其中第一端部11用于与检测机台(未图示)连接;第二端部12与探头组件固定连接。

探头组件包括探头31及连接杆33,其中连接杆33的一端与探针杆10的第二端部12连接,探头31凸设于连接杆33远离连接第二端部12的一端,且探头31的凸设方向与第二端部12延伸至第一端部11的方向相同,以用于探测工件200的内外表面。

可以理解,探头31凸设于连接杆33的端部,且凸设方向与第二端部12延伸至第一端部11的方向相同,进行探测时,就可以将工件200的后盖等工件200倒扣在探头31上以对工件200的后盖的内表面进行探测,以探测后盖各条边的尺寸;另外,还可以将工件200的中框的外表面与探头31直接接触,从而探测中框各条边的尺寸。

其中,探头31包括第一探测面311,第一探测面311的朝向方向与第二端部12延伸至第一端部的方向相同,以对工件200的内表面进行探测。

其中,探头31还包括连接面313,连接面313的一侧与第一探测面311相邻,而其相对的一侧与连接杆33的第一表面331相邻,其中第一表面331定义为连接杆33上与第一探测面311相同朝向的表面。

其中,第一探测面311与连接面313之间的夹角为45-55度,例如45度、50度或55度。

可以理解,后盖及中框的相接处或中框上有其它的元件,探头31伸入至工件200的内腔时,第一探测面311与连接面313之间形成一夹角,即连接面313为倾斜的,就可以形成一避让空间,使得探头31不会触碰到元件。

其中,第一探测面311与连接杆33的第一表面331平行设置,第一表面331与探针杆10垂直设置。

其中,探头31包括第二探测面315,第二探测面315与探针杆10的中心轴平行,以对工件200的中框的外表面进行探测。

第二探测面315与第一探测面311相邻且垂直。

其中,探头组件包括多个连接杆33,多个连接杆33间隔设置并与探针杆10垂直设置。

可选的,探头组件包括四个连接杆33,四个连接杆33间隔设置且相邻的两个连接杆33相互垂直。

其中,连接杆33的长度范围为50-80毫米,例如,50毫米、65毫米或80毫米。

可以理解,探针杆10与探头31之间通过连接杆33形成一避让空间,避免探针杆10碰到工件200。

其中,探头组件进一步包括中心部35,中心部35用于将探头31组件与探针杆10固定连接。可选的,中心部35与探针杆10的第二端部12的其中一个开设有第一螺纹孔,而另一个开设有第一螺纹,以使探针杆10与中心部35之间第一螺纹固定连接。

在本实用新型一实施例中,中心部35开设有第一螺纹孔351,探针杆10的第二端部12设有第一螺纹121,使得第二端部12设有第一螺纹121的区域旋入第一螺纹孔351中,从而实现探针杆10与中心部35之间第一螺纹121固定连接。

其中,多个连接杆33由中心部35向外延伸,中心部35开设有第一螺纹孔351,第二端部12设有第一螺纹121,以使探针杆10与探头组件第一螺纹121固定连接。

此外,探头31、连接杆33以及中心部35一体成型。

其中,探针杆10为圆柱体,第一端部11设有第二螺纹111及凸出柱113,检测机台开设有对应的连接孔(未图示)及锁紧件(未图示),第一端部设有第二螺纹111的区域旋入连接孔中,以将探针与检测机台固定连接。

其中,凸出柱113的一端连接第二螺纹111,而其另一端靠近第二端部12,凸出柱113上开设有穿孔115。

可以理解,当需要将探针与检测机台的连接更加稳固时,将锁紧件插入至穿孔115中,顺着第二螺纹111的方向继续旋转即可;当需要将探针从检测机台上卸下时,则将锁紧件插入至穿孔115中,以与第二螺纹111的旋转方向相反的方向旋转即可。

使用该探针100探测工件200的内腔时,包括如下步骤:

首先,将工件200固定在治具(未图示),并将探针100与检测机台连接,其中治具与工件200之间形成有通道,以供探头31进入至工件200的内腔;

接着,检测机台的XYZ轴移动以带动探针100移动使得探头31通过该通道进入至工件200的内腔,经过移动后,第一探测面311与工件200的后盖的内表面接触;

然后,探针100随着检测机台的移动围绕工件200的后盖的内表面以顺时针或逆时针移动,获取工件200的后盖的各条边(倒角边缘除外)的尺寸,并将每条边的尺寸与预设尺寸的理论值比较,得出误差值并记录在检测机台的系统变量表中;

最后,探头31随着检测机台的移动退出工件200的内腔。

使用该探针100探测工件200的中框的外表面时,包括如下步骤:

首先,将工件200固定在治具(未图示),并将探针100与检测机台连接;

接着,检测机台的XYZ轴移动以带动探针100移动,使得探头31的第二探测面315与中框的外表面接触;

最后,探针100随着检测机台的移动围绕工件200的中框的外表面以顺时针或逆时针移动,获取工件200的中框的各条边(倒角边缘除外)的尺寸,并将每条边的尺寸与预设长度的尺寸比较,得出误差值并记录在检测机台的系统变量表中。

区别于现有技术,本实用新型实施方式提供的探针100包括:探针杆10,包括第一端部11及第二端部12,其中第一端部11用于与检测机台连接;探头组件,包括探头31及连接杆33,其中连接杆33的一端与探针杆10的第二端部12连接,探头31凸设于连接杆33远离连接第二端部12的一端,且探头31的凸设方向与第二端部12延伸至第一端部11的方向相同,以用于探测工件200的内外表面。通过将探头31的凸设方向设置为与第二端部12延伸至第一端部11的方向相同,形成倒钩型,使得探针100既能探测工件200的内部,又能探测工件200的中框的外表面,另外,对于外形打磨容易塌边的工件200,能够有效进行调整,避免出现大小边的情况,使工件200外围倒角更加均匀和美观,且能够提升工件200的良率。

以上所述仅为本实用新型的实施方式,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

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