专利名称：工件输送装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及包括输送台的エ件输送装置，尤其涉及能够使エ件在输送台的エ件收纳孔内以稳定的姿势输送的エ件输送装置。
背景技术：
以往，作为エ件输送装置，公知有包括台座、自由旋转地配置在台座上且在外周部设有多个エ件收纳孔的输送台、和经由分离供给部与输送台连结的线性供料器的エ件输送装置。线性供料器的上面被供料器盖覆盖，分离供给部及位于分离供给部内的エ件收纳孔的上面被供给部盖覆盖，而且除了位于分离供给部内的エ件收纳孔以外的エ件收纳孔的上面被台盖覆盖。在这样的エ件输送装置中，从线性供料器送来的エ件经由分离供给部被供给到输送台的エ件收纳孔内。供料器盖的顶部高度与供给部盖的顶部高度为同一高度，与エ件的厚度相比足够高。此时，若使台盖的顶部高度低于供料器盖的顶部高度及供给部盖的顶部高度，则エ件在分离供给部被以倾斜姿势收纳于エ件收纳孔的情况下，通过输送台的旋转，エ件从供给部盖的下方向台盖的下方移行时，与该供给部盖和台盖的交接处抵接，会损伤エ件。另外，在提高台盖的顶部高度而使其与供料器盖的顶部高度及供给部盖的顶部高度相同的情况下，能够防止上述的エ件损伤，但是在后エ序中对エ件进行电測定等检查吋，出现检查速度降低的问题。专利文献1:日本特开2002-145445号公报
发明内容
本发明是鉴于以上情况而做出的，其目的在于提供一种不会损伤以倾斜姿势供给到输送台的エ件收纳孔内的エ件、且能够在エ件收纳孔内以稳定的姿势输送エ件的エ件输
送装置。本发明的エ件输送装置，其特征在于，包括台座，自由旋转地配置在台座上、在外周部设有多个エ件收纳孔的输送台，和经由分离供给部与输送台连结、将エ件供给到输送台的エ件收纳孔内的线性供料器，线性供料器的上面被供料器盖覆盖，分离供给部及位于分离供给部内的エ件收纳孔的上面被供给部盖覆盖，除了位于分离供给部内的エ件收纳孔以外的エ件收纳孔的上面被台盖覆盖，在台盖中的与供给部盖相邻的部分设有斜面(taper,斜度)部，并且斜面部的顶部高度自与供给部盖相邻的斜面起点朝向输送台的输送方向到斜面終点逐渐变低，斜面部的在斜面終点的顶部高度低于供料器盖及供给部盖的顶部高度。本发明的エ件输送装置，其特征在于，台盖的在斜面起点的顶部高度高于供料器盖及供给部盖的顶部高度。
本发明的エ件输送装置，其特征在于，供料器盖及供给部盖的顶部高度相互相同。本发明的エ件输送装置，其特征在于，台盖中的除了斜面部以外的部分的顶部高度与在斜面终点的顶部高度相同。本发明的エ件输送装置，其特征在于，エ件为长方体状，从位于线性供料器内的エ件的前侧面及后侧面中的至少一方突出有与エ件底面或エ件上面位于同一面的电极。如上所述，根据本发明，在台盖中的与供给部盖相邻的部分设置从斜面起点到斜面终点顶部高度变低的斜面部，因此在该斜面部，从线性供料器经由分离供给部向エ件收纳孔内输送以倾斜姿势供给的エ件时，能够容易且可靠地修正其姿势。
图1是应用了本发明的エ件输送装置的俯视图。图2是表示エ件的立体图。图3是图1所示的区域SI的放大图。图4是图3所示的区域S2的放大透视图。图5是图3的M方向透视图。图6(a)，(b)是表示エ件收纳孔的立体图。图1是图8的F-F’线剖面图。图8是图3所示的区域S3的放大图。图9是图8的L方向透视图。图10是从与图9同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图11是从与图9同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图12是从与图9同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图13是从与图9同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图14是从与图9同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图15是从与图7同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图16是从与图7同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图17是从与图7同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图18是从与图7同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图19是从与图7同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图20是从与图7同样的方向看到的本发明的エ件输送装置的动作说明图。图21是图1中的G-G’线剖面图。图22是图1中的H-H’线剖面图，是表示第I检查部的作用的图。图23是图1中的H-H’线剖面图，是表示第I检查部的作用的图。图24是从与图9同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图25是从与图9同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图26是从与图9同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图27是从与图9同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图28是从与图5同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图29是从与图5同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。
图30是从与图7同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图31是从与图7同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图32是从与图7同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图33是从与图7同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图34是从与图7同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图35是从与图7同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图36是从与图9同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图37是从与图9同样的方向看到的作为比较例的エ件输送装置的动作说明图。图38是作为比较例的エ件输送装置的放大俯视图。图39是图38所示的区域S3的放大图。图40是图39的L方向透视图。附图标记说明I 台座2输送台3エ件收纳孔5 台盖5b斜面部6线性供料器6x供料器盖6y供料器座7分离供给部7x供给部盖8第I检查部81第I检查部盖9第2检查部10排出部11真空通路Ila吸引孔12分离销l3a、l3bエ件检测部W エ件P斜面起点Q斜面终点
具体实施例方式以下，參照
本发明的实施方式。如图1 图23所示，エ件输送装置包括台座1、可自由旋转地配置在台座I上且在外周部设有多个エ件收纳孔3的输送台2、和经由分离供给部7与输送台2连结且将エ件W供给到输送台2的エ件收纳孔3内的线性供料器6。其中，线性供料器6的上面被供料器盖6x覆盖，分离供给部7及位于分离供给部7内的エ件收纳孔3的上面被供给部盖7x覆盖。而且，除了位于分离供给部7内的エ件收纳孔3以外的エ件收纳孔3的上面被台盖5覆盖。如图1所示，输送台2如上述那样借助未图示的驱动机构而旋转，在输送台2的外侦牝借助未图示的振动机构进行振动而将エ件成一列状态输送的线性供料器6朝向输送台2的外缘地水平设置。线性供料器6的終端部与エ件收纳孔3的开ロ部相対，在线性供料器6的終端部设有上述的分离供给部7，利用该分离供给部7将エ件逐个分离、向エ件收纳孔3供给。此外，在输送台2的外周部沿间歇旋转方向(箭头A)依次设有第I检查部8、第2检查部9、排出部10。如上所述，线性供料器6的上面被供料器盖6x覆盖，分离供给部7的上面被供给部盖7x覆盖，エ件收纳孔3的上面被台盖5覆盖。因此，不能从上面侧直接看到エ件W，但在图3中，对线性供料器6及エ件收纳孔3内的エ件W标记阴影线，作为透视图来表示。接着说明エ件W。图2表示エ件W的立体图。エ件W由发光二极管(LED)构成，具有在上面具有发光面Ws的长方体形状的主体Wx和从主体Wx向长度方向的前方及后方突出的引线端子Wa、Wb。例如エ件W位于线性供料器6内时，引线端子Wb自主体Wx的前侧面Wd突出，弓丨线端子Wb的底面与主体Wx的底面一致，引线端子Wa自主体Wx的后侧面Wc突出，引线端子Wa的底面与主体Wx的底面一致。引线端子Wa及Wb是电极，后述的探測器(Probe)Pa及Pb分别与引线端子Wa及Wb抵接，测定エ件W的电特性。作为市场上销售的LED的例子，有主体Wx的纵向X为3mm、横向Y为5mm、高度Z为1mm、引线端子Wa及Wb的突出部的长度j为0. 3mm、高度k为0. 25mm的LED。如图4所示，上述的エ件W，使发光面Ws朝上地在线性供料器6内沿箭头B的方向朝向长度方向输送。在图8中，在エ件W通过的部位标记阴影线。在线性供料器6内，线性供料器的地面(床面)6a在未图示的振动机构的作用下沿垂直方向振动，输送エ件W。位于线性供料器6的終端部的分离供给部7内的地面及エ件收纳孔3的地面都成为台座I的上面。如图7所示，线性供料器6的上面被供料器盖6x覆盖。此外，线性供料器6的地面6a成为供料器座6y的上面，该供料器座6y在未图示的振动机构的作用下，如箭头V那样沿垂直方向振动。而且如上所述，位于线性供料器6的終端部的分离供给部7的上面及エ件收纳孔3的上面被供给部盖7x覆盖。此外，分离供给部7的地面及エ件收纳孔3的地面都成为台座I的上面la，在分离供给部7，在台座I的エ件收纳孔3的紧挨着(最接近)部分设有沿垂直方向自由进退的分离销12。分离销12在未图示的驱动机构的作用下，沿箭头D及E的方向进退。在接近输送台2的中心侧的成为エ件收纳孔3的地面的台座I及上面的供给部盖7x设有エ件检测部13a 及 13b。エ件检测部13a朝向エ件收纳孔3内从未图示的光源发出光，エ件检测部13b检测该光。由此，检测在エ件收纳孔3内是否收纳有エ件W。此外，在分离供给部7，在输送台2的下面的台座I设有与未图示的真空源连通的真空通路11。真空通路11经由输送台2与设于エ件收纳孔3的壁面的吸引孔Ila连通，エ件收纳孔3内的エ件W在真空源的作用下被向箭头C的方向吸引保持。接着，图6 (a)、(b)表示エ件收纳孔3的立体图。图6 (a)是表示未收纳エ件W的状态的图，在エ件收纳孔3在分离供给部7停止着时，从吸引孔Ila向箭头C的方向进行真空吸引。图6 (b)是表示在分离供给部7收纳有エ件W的状态的图。エ件W被使其长度方向即引线端子Wb突出的方向朝向输送台2的中心方向地真空吸引。图5表示在供料器6内输送エ件W的样子。エ件W以引线端子Wa及Wb在下侧的方式呈一列地配置在线性供料器地面6a，借助供料器座6y的箭头V方向的振动而被向箭头B的方向输送。此时，由于箭头V方向的振动，エ件W从供料器座6y的上面6a向供料器盖6x的下面6b跳跃，因此从线性供料器的地面(供料器座6y的上面6a)到供料器盖6x的下面6b为止的供料器盖6x的顶部高度设定为比エ件的高度Z加上跳跃的最大高度而得的值稍大的值h。为了加快エ件W的输送速度，需要增大振动的振幅,若振动的振幅变大,则エ件跳跃的最大高度变大。因此，随着输送速度变快，供料器盖6x的顶部高度Ii1变高。作为一例，为了以每分钟900个的速度输送图2中高度Z = Imm的エ件W将其收纳于エ件收纳孔3，供料器盖6x的顶部高度Ii1为1. 4mm。在图7中，台座I不振动，但エ件W由于供料器座6y的振动而跳跃着被从线性供料器6移至分离供给部7。因此，供给部盖7x的下面7 位干与供料器盖6x的下面6b同一水平面上。另ー方面，输送台2的厚度即エ件收纳孔3的高度u是比图2中的エ件W的高度Z稍大的值。作为一例，收纳上述高度Z = Imm的エ件W的エ件收纳孔3的高度u是1. 1mm。在此，供给部盖7x覆盖输 送台2的一部分的上面2a，但由于需要极カ抑制作用于エ件收纳孔3内的エ件W的真空吸引的泄漏，供给部盖7x的下面7a2与输送台2的上面2a的间隙设定为极小。作为一例，上述的エ件收纳孔3的高度(输送台2的厚度)u =1.1mm吋，从台座I的上面Ia到供给部盖7x的下面7a2的顶部高度h2为1. 2mm。S卩，供给部盖7x的下面7&1与7a2之间有台阶差。如上所述，分离供给部7及位于分离供给部7内的エ件收纳孔3被供给部盖7x覆盖。此外，含有分离供给部7以外的エ件收纳孔3的输送台2的上面被台盖5覆盖，台盖5的下面5a位干与供给部盖7x的最低的下面7a2同一水平面上。即，从台座I的上面Ia到台盖5的下面5a的顶部高度为h2。在此，供料器盖6x的顶部高度如上述那样是指从供料器座6y的上面6a到供料器盖6x的下面6b的高度，供给部盖7x的顶部高度是指从台座I的上面Ia到供给部盖7x的下面7&1的高度，台盖5的顶部高度是指从台座I的上面Ia到台盖5的下面5a的高度。另外，如图9 图14所示，在台盖5中的与供给部盖7x相邻的部分设有在台盖5内面形成有斜面的斜面部5b。此时，台盖5的顶部高度在该斜面部5b处逐渐变低。S卩，台盖5的顶部高度在斜面部5b处自与供给部盖7x相邻的斜面起点P向输送台2的输送方向到斜面終点Q逐渐变低，台盖5的斜面終点Q处的顶部高度与斜面部5b以外的台盖5的顶部高度一致。此外，斜面部5b的斜面的形状如图9所示，在台盖5与供给部盖7x相邻的斜面起点P，台盖5的顶部高度即从台座I的上面Ia到斜面起点P的高度hp为供给部盖7x的顶部高度h以上，从斜面起点P沿着输送台2的旋转方向(箭头A)，台盖5的顶部高度逐渐变低，在斜面终点Q处，台盖5的高度如上述那样与台盖5的斜面部5b以外的部分的顶部
高度h2 —致。接着使用图15 图23说明这样结构构成的本实施方式的作用。在图15中，エ件Wl被收纳在停止于分离供给部7内的エ件收纳孔3，被来自真空通路11的箭头C方向的真空吸引而吸附。此时，エ件Wl的后续的エ件W2由于再后续的エ件W3在供料器座6y的箭头V方向的振动下被向箭头B的方向输送，因此被向箭头B的方向推压，但エ件W2在分离供给部7内被在エ件收纳孔3的紧挨着处突出的分离销12阻止而停止。此时，从エ件检测部13a向エ件收纳孔3内发出的光被エ件Wl遮挡，エ件检测部13b检测不到光，检测到在エ件收纳孔3内收纳有エ件W1。然后，该检测信息被发送至未图示的控制部，控制部使输送台2间歇旋转，输送エ件W。图16表示该样子。在图16中，输送台2的没有エ件收纳孔3的外周部到达在图15中エ件收纳孔3停止着的位置。若输送台2这样间歇旋转，如图17所示，空的エ件收纳孔3到达分离供给部7内而停止。于是，利用控制部的作用，分离销12向箭头D的方向移动而退出。然后，如图18所示，被分离销12阻止而停止的エ件W2在箭头C的真空吸引力的作用下向エ件收纳孔3沿箭头B的方向移动。与此同时，后续的エ件W3随着供料器座6y沿箭头V方向振动而使后续的エ件W4沿箭头B方向输送，被エ件W4推压、到达分离供给部7内。在图17及图18中，由エ件检测部13b检测到从エ件检测部13a向エ件收纳孔3内发出的光，因此エ件检测部13b检测到エ件收纳孔3内为空。然后，如图19所示，当エ件W2收纳到エ件收纳孔3内时，从エ件检测部13a向エ件收纳孔3内发出的光被エ件W2遮挡，因此エ件检测部13b检测到エ件收纳孔3内收纳有エ件W2。然后，该检测信息被发送至控制部，利用控制部的作用，分离销12向箭头E的方向移动而进入，如图20所示阻止エ件W3。在该时刻，エ件W2完全收纳于エ件收纳孔3内，与图15的状态相同。图21作为图1的G-G’线剖面图表示在图16的状态下エ件W被输送的样子。被输送台2的间歇旋转输送的エ件W上作用有随着旋转的离心力。此时如图21所示，エ件W被压靠于台盖5的内壁5x地输送，不会从エ件收纳孔3向外侧飞出。此外如上所述，从台座I的上面Ia到台盖5的下面5a的顶部高度是比输送台2的厚度u稍大的h2。图22及图23作为图1的H-H’线剖面图表示エ件W到达第I检查部8时的样子。如图22所示，第I检查部8具有覆盖输送台2的外侧及上部的第I检查部盖81。第I检查部盖81的内壁81x位于与图21所示的台盖5的内壁5x同一平面，第I检查部盖81的下面81a位于与图21所示的台盖5的下面5a同一水平面上。即，从台座I的上面Ia到第I检查部盖81的下面81a的顶部高度是比输送台2的厚度u稍大的h2。并且，如图21所示在输送台2的旋转中被压靠于台盖5的内壁5x地输送的エ件W，到达第I检查部8而输送台2停止时，如图22所示，成为与第I检查部盖81的内壁81x接触的状态。此时，在引线端子Wa及Wb正下方位置的台座I内，设有沿垂直方向自由进退的探测器Pa及Pb，借助未图示的控制部的作用，探測器Pa及Pb向引线端子Wa及Wb前迸。然后，如图23所示，探測器Pa及Pb在与引线端子Wa及Wb抵接的状态上推エ件W，在エ件W的上面与第I检查部盖81的下面81a抵接的状态停止。探測器Pa及Pb与未图示的測定器连接，測定了エ件W的电特性后，探測器Pa及Pb退出成为图22的状态。然后，借助控制部的作用，输送台2间歇旋转，エ件W被输送。エ件W到达图1所示的第2检查部9时，对于与第I检查部8不同的检查项目实施检查。检查项目可能是使用与第I检查部8同样的探測器的电特性检查，也可能是使用照相机等拍摄机构的外观检查。结束了第2检查部9的检查的エ件W到达排出部10，借助未图示的排出机构，被从エ件收纳孔3排出。接着，利用图9 图14详细说明从线性供料器6经由分离供给部7供给到输送台2的エ件收纳孔3内的エ件W的举动。エ件W2在图7中被向箭头C的方向真空吸引时，有时以后侧面Wc的上边I与供给部盖7x的下面7&1抵接的状态被收纳在エ件收纳孔3内(參照图35)。在这样的状态下，自图10的状态起，借助控制部的作用，输送台2开始向箭头A的方向间歇旋转，则成为图11的状态。在该状态下输送台2进ー步继续旋转，则如图12所示，エ件W2移动到台盖5的下方。此时，由于在台盖5设有斜面部5b，而且如上所述，与供给部盖7x相邻的部位即斜面部5b的斜面起点P的高度是供给部盖7x的下面7&1以上，因此エ件W2的后侧面Wc的上边I随着输送台2的旋转而从供给部盖7x的下面7 顺畅地移动上到斜面部5b，成为与斜面部5b抵接的状态。然后，借助斜面部5b的作用，エ件W2的后侧面Wc的上边I如图13那样，其高度逐渐变低，到达斜面部5的斜面終点Q。其后如图14那样，在没有斜面部5b的台盖5下方，エ件W2成为被水平收纳的状态，エ件W2的姿势得以修正。此时，在如图12所示エ件W2从供给部盖7x的下方移动到台盖5下方的状态，エ件W2从图7所示的吸引孔Ila离开，因此图7的箭头C方向的真空吸引 力作用到エ件W2的カ急剧減少。因此，对エ件W2的后侧面Wc的上边\向上方施加的力減少，エ件W2的后侧面Wc的上边\容易在斜面部5b的作用下高度变低。
接着，被输送进入到斜面部5b以外的具有低顶部高度h2的台盖5部分的下方的エ件W2保持该状态地到达图1的第I检查部8，如图22及图23所示，探測器Pa及Pb与引线端子Wa及Wb抵接地进行电特性的检查。此时，第I检查部盖81的顶部高度成为比供给部盖7x的顶部高度Ii1低的h2，因此，如后述那样，检查速度不会降低。根据本实施方式，在台盖5的斜面部5b，能够容易且可靠地修正在分离供给部7处被以倾斜姿势供给到エ件收纳孔3内的エ件W的姿势，而且在第I检查部8及第2检查部9能够迅速地进行对エ件W的检查。在以上的说明中，如第I检查部8、第2检查部9那样设置2个检查部，还设置了排出部10，但检查部的个数不限于2个。此外，也可以取代排出部10，设置在承载带(キャリァテープ)的凹部插入エ件的插入部，和/或根据检查结果将エ件的特性分类为几个等级，将エ件分类排出到与各等级对应的容器的分类排出部。接着，以下利用图24 图40说明本发明的比较例。在以下的比较例中，如图38 图40所示，除了位于分离供给部7内的エ件收纳孔3以外的エ件收纳孔3的上面被不具有斜面部的台盖50覆盖，此吋，台盖50与分离供给部7的供给部盖7x相邻地设置。如图15所示，エ件Wl被水平地收纳于エ件收纳孔3内时，如图24 图27所示，通过输送台2的间歇旋转，エ件收纳孔3内的エ件Wl被无问题地输送。即，在作为图15的箭头L方向透视图的图24中，エ件收纳孔3内收纳有エ件Wl，エ件检测部13a及13b检测出该状态。该检测信息被发送到控制部，控制部如图25所示那样使输送台2沿箭头A的方向间歇旋转来输送エ件W1。然后，如图26所示，在空的エ件收纳孔3到达分离供给部7，如图27所示那样输送台2停止，则借助控制部的作用，阻止エ件W2的分离销12向箭头D的方向退出，エ件W2在图15中箭头C所示的真空吸引的作用下，被收纳到エ件收纳孔3内(图17及图18)。在此，若利用振动沿长度方向在线性供料器6内输送在长度方向具有引线端子Wa及Wb的エ件W，则由于在振动时エ件W沿垂直方向跳跃，因此有时相邻的エ件W的引线端子Wa,Wb彼此重叠。图28及图29表示该例子。图28表示先行的エ件W的引线端子Wa重叠于后续的エ件W的引线端子Wb上的状态，图29表不后续的エ件W的引线端子Wb重置在先行的エ件W的引线端子Wa上的状态。对于以其中图28的状态到达分离供给部7的エ件W的动作，使用图30 图35说明。图30是与图15对应的图，表示由分离销12阻止而停止的エ件W2的引线端子W2a重叠于后续的エ件W3的引线端子的状态。在该状态下，如与图16对应的图31所示，输送台2间歇旋转，如与图17对应的图32所示，空的エ件收纳孔3到达分离供给部7内而停止。此时，借助控制部的作用，分离销12向箭头D的方向移动而退出。然后，如与图18对应的图33所示，被分离销12阻止而停止的エ件W2在箭头C的真空吸引力的作用下向エ件收纳孔3沿箭头B的方向移动。此时，在エ件W2的移动方向的前侧面Wd侧的引线端子W2b与台座I的上面Ia接触、后侧面Wc侧的引线端子W2a从台座I的上面Ia离开的状态下开始移动。然后，在重力的作用下，前侧面Wd侧的引线端子W2b与后侧面Wc侧的引线端子W2a交`替与台座I的上面Ia接触、エ件W2跳跃着被收纳于エ件收纳孔3内。S卩，从图33的状态，如图34所示，成为エ件W的后侧面Wc侧的引线端子W2a暂时接触台座I的上面la、前侧面Wd侧的引线端子W2b从台座I的上面Ia离开的状态。接着如图35所示，在エ件W的前侧面Wd侧的引线端子W2b再次接触台座I的上面la、后侧面Wc侧的引线端子W2a再次从台座I的上面Ia离开的状态下，エ件W2被收纳到エ件收纳孔3内。此时，对エ件收纳孔3的来自吸引孔Ila的真空吸引是从台座I的斜下方向箭头C的朝向进行的，因此エ件W2的前侧面Wd侧的引线端子W2b被向斜下方吸引，エ件W2的后侧面Wc的上边\被向上方施力。因此，エ件W2的姿势被固定为前侧面Wd侧的引线端子W2b与台座I的上面Ia接触、后侧面Wc的上边\与供给部盖7x的下面7&1抵接的异常姿势。图36表示该状态的从图35的箭头L方向看去的透视图。在图36中，エ件W2的后侧面Wc的上边I与供给部盖7x的下面7&1抵接。在该状态下输送台2开始间歇旋转时，成为图37的状态。在图37中，收纳有エ件W2的エ件收纳孔3被供给部盖7x覆盖，利用来自图35所示的真空通路11的真空吸引，エ件W2被向真空通路11侧吸引。因此，在エ件W2的姿势为图36的状态即エ件W2的后侧面Wc的上边I与供给部盖7x的下面7&1抵接的状态，输送台2向箭头A的方向间歇旋转。此时，沿着输送台2的旋转方向(图37的箭头A)与供给部盖7x相邻地设置台盖50,如上所述,与从台座I的上面Ia到供给部盖7x的下面Ta1的顶部高度Ii1相比,从台座I的上面Ia到台盖50的下面50a的顶部高度h2低。因此，在图37中，エ件收纳孔3内的エ件W2与供给部盖7x和台盖50的交界面即50x冲撞，エ件W2或エ件收纳孔3受损。为了防止该情况，考虑使台盖50的下面50a位干与供给部盖7x的下面7 同一平面上，使从台座I的上面Ia到台盖50的下面50a的顶部高度与从台座I的上面Ia到供给部盖7x的下面7ai的顶部高度h1相同。但是，此时，从台座I的上面Ia到台盖50的下面50a的顶部高度成为比h2高的h。同样，从台座I的上面Ia到图22及图23所示的第I检查部8的第I检查部盖81的下面81a的顶部高度也变化为比h2大的h。此时，在第I检查部8，探测器Pa及Pb向エ件W的引线端子Wa及Wb前进，使エ件W抵接于第I检查部盖81的下面81a来检查エ件W的电特性，接着，探测器Pa及Pb退出时，探測器Pa及Pb的前进及退出的所需时间变长(參照图22及图23)。S卩，检查速度降低，エ件W的每单位时间的检查个数減少。 作为一例，上述的图2中的エ件W的高度Z =1. Omm时，设顶部高度h2 = 1.2mm、顶部高度Ii1 =1. 4mm,则与顶部高度h2及Ii1对应的所需时间分别是5ms及8ms。这样，由于顶部高度从h2变大到Ii1，所需时间增加3ms，这个原因导致エ件W的每分钟检查个数减少例如40个。这意味着即使如上所述以每分钟900个的速度输送高度Z =1. Omm的エ件W，每分钟检查个数也会减少40个。近年来，要求エ件W的输送及检查的高速化，这样的检查个数的減少作为性能降低，成为问题。对此，根据本发明，在台盖5的斜面部5b，能够容易且可靠地修正从分离供给部7向エ件收纳孔3内供给的エ件W的姿势。而且，台盖5中的斜面部5b以外的部分的顶部高度h2比供料器盖6x及供给部盖7x的顶部高度Ii1低，因此到第I检查部盖81的下面81a为止的顶部高度h2变低。因此，能够缩短在第I检查部8探測器Pa、Pb的前进及退出的所需时间，不会出现エ件W的检查速度降低。
权利要求
1.一种工件输送装置，其特征在于，包括 台座， 自由旋转地配置在台座上、在外周部设有多个工件收纳孔的输送台，和经由分离供给部与输送台连结、将工件供给到输送台的工件收纳孔内的线性供料器，线性供料器的上面被供料器盖覆盖，分离供给部及位于分离供给部内的工件收纳孔的上面被供给部盖覆盖，除了位于分离供给部内的工件收纳孔以外的工件收纳孔的上面被台盖覆盖， 在台盖中的与供给部盖相邻的部分设有斜面部，并且斜面部的顶部高度自与供给部盖相邻的斜面起点朝向输送台的输送方向到斜面终点逐渐变低，斜面部的在斜面终点的顶部高度低于供料器盖及供给部盖的顶部高度。
2.根据权利要求1所述的工件输送装置，其特征在于，台盖的在斜面起点的顶部高度高于供料器盖及供给部盖的顶部高度。
3.根据权利要求1所述的工件输送装置，其特征在于，供料器盖及供给部盖的顶部高度相互相同。
4.根据权利要求1所述的工件输送装置，其特征在于，台盖中的除了斜面部以外的部分的顶部高度与在斜面终点的顶部高度相同。
5.根据权利要求1所述的工件输送装置，其特征在于，工件为长方体状，从位于线性供料器内的工件的前侧面及后侧面中的至少一方突出有与工件底面或工件上面位于同一面的电极。
全文摘要
本发明提供工件输送装置，容易修正从线性供料器(6)经由分离供给部(7)供给到工件收纳孔(3)内的工件(W)的姿势地输送该工件(W)。工件输送装置包括台座(1)、自由旋转地配置在台座(1)上的输送台(2)、和向输送台(2)的工件收纳孔(3)内供给工件(W)的线性供料器(6)，在线性供料器(6)与输送台(2)之间设有分离供给部(7)。线性供料器(6)及分离供给部(7)的上面分别被供料器盖(6x)及供给部盖(7x)覆盖。除了位于分离供给部(7)内的工件收纳孔(3)以外的工件收纳孔(3)的上面被台盖(5)覆盖。在台盖(5)中的与供给部盖(7x)相邻的部分设有顶部高度逐渐变低的斜面部(5b)。
文档编号B65G47/52GK103029963SQ201110304630
公开日2013年4月10日 申请日期2011年10月10日 优先权日2011年10月10日
发明者西田真幸 申请人:东京威尔斯股份有限公司