一种精密分级筛选电子晶粒的装置的制作方法

本发明涉及一种电子仪器，具体是一种精密分级筛选电子晶粒的装置。

背景技术：

电子仪器是指检测、分析、测试电子产品性能、质量、安全的装置。大体可以概括为电子测量仪器、电子分析仪器和应用仪器三大块，有光学电子仪器、电子元件测量仪器、动态分析仪器等分类。

电子晶粒其主要功能是:把电能转化为光能，芯片的主要材料为单晶硅。半导体晶片由两部分组成，一部分是p型半导体，在它里面空穴占主导地位，另一端是n型半导体，在这边主要是电子。但这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个p-n结；当电流通过导线作用于这个晶片的时候，电子就会被推向p区，在p区里电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量，这就是led发光的原理。而光的波长也就是光的颜色，是由形成p-n结的材料决定的。

现有电子元件技术对于电子筛选主要采用震动过滤筛选或者aoi检测筛选，震动过滤筛选无法精确的区分晶粒的大小，同时易造成晶粒的损伤，aoi检测时采用摄像放大技术，对晶粒的大小进行判断，虽然精确度高，但是效率低下，成本高昂。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种精密分级筛选电子晶粒的装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种精密分级筛选电子晶粒的装置，包括底座，所述的底座上安装有机架，所述的机架上设有粗筛装置和精筛装置，所述的粗筛装置的顶端安装有入料斗，入料斗的底端安装有降温管，所述降温管的左右两侧均设有冷却器，所述的入料斗的底端设有筛选腔，所述的入料斗的出料口处连接有除杂斗，除杂斗的底端连接有细导管，所述的细导管伸入筛选腔中，所述的筛选腔的左侧安装有吹分机，所述的筛选腔的右侧安装有静电集料袋，所述的吹分机的吹风口与静电集料袋的入料口相对应，所述的筛选腔的下方设有集料斗，所述的集料斗与筛选腔之间设有过滤网，所述的集料斗的底端设有输料管，所述的精筛装置位于粗筛装置的左下侧位置，所述的精筛装置上设有若干道传动装置，所述的输料管与最右侧的传动装置的输料端相对应，所述的传动装置上均设有传送带，相邻的传动装置之间均设有精筛器，所述的精筛器中设有一对筛板，所述的筛板左右两侧各有一个，左右两侧的筛板的底端均连接有连接杆，所述的连接杆一端均安装在筛板上，连接杆的一端均连接有齿条，所述的齿条的内平面均设有锁合齿，所述的左右两侧的齿条之间均设有齿轮，所述的左右两侧的齿条均通过锁合齿相嵌合，所述的齿轮的底端安装有转轴，所述的转轴的底端安装有千分尺，所述的左右两侧的筛板之间均存在间隙，所述的筛板的底端均设有下料斗，下料斗的底端均设有软管，所述的软管的底端均连接有静电集料盒。

作为本发明进一步的方案：所述的筛板与传送带位于同一水平面上。

作为本发明进一步的方案：所述的筛板与传送带之间无缝连接。

作为本发明进一步的方案：所述的软管的内壁设有静电滑层。

作为本发明进一步的方案：所述的最左侧的传动装置的末端设有导料斜板。

作为本发明进一步的方案：所述的传动装置的倾斜角度要求最小不低于10°，最大不超过15°。

作为本发明再进一步的方案：所述的输料管的直径小于两个电子晶体的直径总和。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：对于不同工艺大小的电子晶粒进行区分，使用传统的滤网筛选的方式将粗工艺制作的电子晶粒筛选出，再使用千分尺调节传动齿轮，进而调节精筛器的精度，对于精工艺制作的电子晶粒根据尺寸的大小进行分级筛选，同时整个装置能有效的避免震动、摩擦、静电对电子晶粒造成的损伤。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明中筛板与传送带的连接示意图。

图3为本发明中精筛器的结构示意图。

图中：1-底座、2-机架、3-粗筛装置、4-精筛装置、5-入料斗、6-降温管、7-冷却器、8-除杂斗、9-细导管、10-筛选腔、11-吹分机、12-静电集料袋、13-过滤网、14-集料斗、15-输料管、16-传动装置、17-传送带、18-精筛器、19-筛板、20-间隙、21-下料斗、22-软管、23-静电集料盒、24-导料斜板、25-连接杆、26-齿条、27-锁合齿、28-齿轮、29-转轴、30-千分尺。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1～3，本发明实施例中，一种精密分级筛选电子晶粒的装置，包括底座1，所述的底座1上安装有机架2，所述的机架2上设有粗筛装置3和精筛装置4，所述的粗筛装置3的顶端安装有入料斗5，入料斗5的底端安装有降温管6，所述降温管6的左右两侧均设有冷却器7，所述的入料斗5的底端设有筛选腔10，所述的入料斗5的出料口处连接有除杂斗8，除杂斗8的底端连接有细导管9，所述的细导管9伸入筛选腔10中，所述的筛选腔10的左侧安装有吹分机11，所述的筛选腔10的右侧安装有静电集料袋12，所述的吹分机11的吹风口与静电集料袋12的入料口相对应，所述的筛选腔10的下方设有集料斗14，所述的集料斗14与筛选腔10之间设有过滤网13，所述的集料斗14的底端设有输料管15，所述的精筛装置4位于粗筛装置3的左下侧位置，所述的精筛装置4上设有若干道传动装置16，所述的输料管15与最右侧的传动装置16(第一级传动装置)的输料端相对应，所述的传动装置16上均设有传送带17，相邻的传动装置16之间均设有精筛器18，所述的精筛器18中设有一对筛板19，所述的筛板19左右两侧各有一个，左右两侧的筛板19的底端均连接有连接杆25，所述的连接杆25一端均安装在筛板19上，连接杆25的一端均连接有齿条26，所述的齿条26的内平面均设有锁合齿27，所述的左右两侧的齿条26之间均设有齿轮28，所述的左右两侧的齿条26均通过锁合齿27相嵌合，所述的齿轮28的底端安装有转轴29，所述的转轴29的底端安装有千分尺30，所述的左右两侧的筛板19之间均存在间隙20，所述的筛板19的底端均设有下料斗21，下料斗21的底端均设有软管22，所述的软管22的底端均连接有静电集料盒23。

本发明的工作原理是：将工艺制作完毕的电子晶粒使用传输结构从入料斗5内，输送至降温管6内，降温管6的左右两侧均设有冷却器7，对经过注塑等热工艺的电子晶粒进行冷却作用，冷却完毕后，电子晶粒再从降温管6进入除杂斗8，除杂斗8的底端连接有细导管9，对电子晶粒作除杂筛选，排除工艺屑、静电皮等杂物，电子晶粒通过细导管9进入筛选腔10，筛选腔10的底端设有过滤网13，过滤网13对电子晶粒初级筛选，将粗工艺制作的尺寸较大的电子晶粒进行拦截，让精细工艺制作的尺寸较小的电子晶粒穿过过滤网13下落至集料斗14中，筛选腔10的左侧安装有吹分机11，所述的筛选腔10的右侧安装有静电集料袋12，吹分机11将未通过初级筛选的电子晶粒吹入静电集料袋12中收集，静电集料袋12设有静电线，有效的防止摩擦静电造成电子晶粒的损坏，穿过过滤网13的电子晶粒从集料斗14的底端逐个落入输料管15中，输料管15的直径小于两个电子晶体的直径总和，确保电子晶粒呈单个通过，以保证后续分级精密筛选的准确性，电子晶粒由输料管15滑落至传动装置16，受重力以及传动装置16的作用向左侧运输，相邻的传动装置16之间均设有精筛器18，用于对电子晶粒分级进行精密筛选，精筛器18的底端设有千分尺30，千分尺30与连接有转轴29，作业人员手工调节或者通过电控程序调节千分尺30的转动尺寸，从而通过转轴29的传动调节齿轮28旋转，左右两侧的齿条26均通过锁合齿27相嵌合，进而控制齿条的运动长度，从而精密调节筛板19之间隙20的大小，前一级的精筛器18的间隙20宽度均小于前一级的精筛器18的间隙20宽度，小于精筛器18的间隙20宽度的电子晶粒会从间隙20处落下进入相应的下料斗21中，大于间隙20的电子晶粒受惯性影响会运动至下一级的传动装置16中，电子晶粒从下料斗21中通过软管22进入静电集料盒23中，软管23的内壁设有静电滑层，防止刮擦磨损电子晶粒，静电集料盒23中设有静电保护垫，避免有效的防止摩擦静电造成电子晶粒的损坏。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。