专利名称：工件检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种工件检测装置。
背景技术：
工件在制造过程中都要经过检测流程进对工件是否合格进行检测，而工件的复杂形状及 对尺寸的高精度的要求往往使得工件在普通的检测装置中的定位变得十分困难， 一般的检测 装置需要一些卡扣等定位装置对工件进行定位，然而上述定位方式往往使得工件检测过程中 由于定位装置的作用而发生不可预测的变形，使得工件在检测的过程中产生不良，从而对工 件的质量产生影响，进而影响工件后续的加工使用。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可防止工件变形的工件检测装置。
一种工件检测装置，其包括一个底座、 一个滑块、 一个手柄、多个定位磁体、多个检测 探针以及一个测量块。所述滑块可滑动的设置在所述底座上，所述手柄固设在所述滑块上。 所述多个定位磁体分别设置在所述底座上用以吸附待检测工件，所述多个检测探针分别设置 在所述滑块及所述底座上，所述测量块固设在所述滑块上。
相较于现有技术，本发明采用定位磁体通过磁力固定待检测工件，从而防止待检测工件 检测时变形。
图l是本发明工件检测装置较佳实施方式的立体分解示意图2是图1中工件检测装置的组装示意图3是图2中工件检测装置的使用状态图。
具体实施例方式
请参阅图1及图2，本发明较佳实施方式提供的工件检测装置100，其包括一个底座110、 一个滑块120、 一个手柄130、多个定位磁体140、多个检测探针150以及一个测量块160。所 述滑块120可滑动的设置在所述底座110上，所述手柄130固设在所述滑块120上，所述多个定 位磁体140分别设置在所述底座110上用以吸附待检测工件，所述多个检测探针150分别设置 在所述滑块120及所述底座110上，所述测量块160设置在所述滑块120上。
所述底座110为一个方形的承载体，该底座110包括一个作为检测基准面的上表面112、
4平行于所述上表面l 12的下表面l 13以及两组相互垂直且分别位于所述上表面l 12及下表面 113之间的两个端面114及两个侧面115。在该底座110的上表面112上开设有一个方形且贯穿 该底座110的两个端面114的沉槽116。在所述沉槽116的槽底116a上开设有一个宽度小于所述 沉槽116宽度的条状开孔118，该开孔118贯穿所述底座110的下表面113。在所述底座110的沉 槽116两侧的上表面112的一端开设有贯穿所述底座110的侧面115以及端面114的两个开槽117 。在所述底座110上与所述开槽117相对的另一端沉槽116两侧的上表面112上分别开设有两个 凹槽119，所述凹槽119用以容置所述定位磁体140。所述部分检测探针150分别垂直设置在所 述底座110的上表面112上以及所述开槽117的底部用以穿过待检测工件上的穿孔(图未标)。
所述滑块120用以设置在所述底座110的沉槽116中，并沿所述沉槽116滑动。该滑块120 包括一个第一表面122、与该第一表面122相对的第二表面124以及位于第一、二表面122、 124之间的两组相互垂直的端壁126及侧壁128。在所述滑块120的上表面122上开设有贯穿所 述侧壁128的凹室123，该凹室123—侧形成一个凸条125，在该凸条125的内侧壁125a上并排 开设有两个贯穿所述内侧壁125a及邻近端壁126的穿孔125b，所述穿孔125b内设置有两个检测 探针150用以对工件进行检测。在所述凹室123与所述凸条125相对的侧壁123a上形成有多级 台阶127。
所述手柄130为一杆状物，其一端固设在所述滑块120与所述凸条125相对的另一端的第 一表面122上。用以在外力的作用下带动所述滑块120沿着所述底座110的沉槽116滑动。
所述定位磁体140为两个可收容于所述底座110的凹槽119内的磁铁用以吸附待检测工件 ，所述定位磁体140的高度等于或者略小于所述凹槽119的深度，当所述定位磁体140设置在 所述凹槽l 19内时该定位磁体140的上表面与所述底座110的上表面112平齐或者略低于所述底 座110的上表面112。
所述检测探针150为设置在所述底座110及滑块120上的多个可具有不同高度及不同直径 的柱状体，其用以在检测待检测工件时穿过待检测工件上的需要检测的通孔，以确定待检测 工件是否合格。
所述测量块160用以通过卡合方式对待检测工件进行检测，其包括一个基体162，该基体 162包括一个顶面164、 一个平行于所述顶面164的底面166以及两个位于所述顶面164及底面 166之间且相互平行的外壁168。沿着所述基体162的顶面164及底面166从所述基体162的一侧 外壁168上分别延伸出两个相互平行间隔的卡板163，其中，与所述基体162的底面166相连接 的卡板163延伸的长度大于所述与基体162的顶面164相连接的卡板163的长度。所述测量块 160通过其基体162的底面166设置在所述滑块120与所述第一表面122邻近的台阶127上。可以理解，为了防止所述滑块120从所述基座110的沉槽116中滑落，可以在所述滑块 120的第二表面124对应所述底座110的开孔118的位置处上设置一个限位块170，用以限制该 滑块l 20在底座110的沉槽l 16中的滑动行程。
请参阅图3，为本发明工件检测装置100的使用状态图， 一个可导磁的待检测工件200放 置在所述工件检测装置100上，所述待检测工件200的一侧抵靠在所述工件检测装置100的底 座110的上表面112上，并由所述磁体140吸附使所述待检测工件200可靠的定位在所述底座 IIO上。设置在所述检测底座110上的检测探针150穿过所述待检测工件200上的多个待检测孔 中用以确认待检测工件200上的通孔是否合格。通过所述手柄130拨动所述滑动120沿着所述 底座110的沉槽116向所述待检测工件200移动，所述设置在滑块120的凸条125上的检测探针 150穿入所述待检测工件200中部的通孔，用以检测其是否合格，设置在所述滑块120上的测 量块160的两个卡板163分别卡设在所述待检测工件200的端部上下两侧，用以检测待检测工 件200端部的厚度尺寸是否合格。
本发明中，采用定位磁体通过磁力固定待检测工件，从而防止待检测工件采用其他的卡 扣等定位结构时可能产生的待检测工件变形，此外，采用一个可以滑动的滑块带动一个测量 块的方式对待检测工件进行测量其检测速度快，精度高，同时所述测量块可根据不同的待检 测工件进行更换从而极大的提高了工件检测装置的适用性。
可以理解，所述滑块120上的多层台阶127的交接处可采用圆弧形曲面过渡，从而使得具 有相应的曲面形状的待检测工件200的可抵靠在所述曲面上，从而提高待检测工件200的检测 精度。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，只要其不偏离本发明的技术效 果，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
权利要求
1.一种工件检测装置，其包括一个底座、一个滑块、一个手柄、多个定位磁体、多个检测探针以及一个测量块，所述滑块可滑动的设置在所述底座上，所述手柄固设在所述滑块上，所述多个定位磁体分别设置在所述底座上用以吸附待检测工件，所述多个检测探针分别设置在所述滑块及所述底座上，所述测量块固设在所述滑块上。
2 如权利要求l所述的工件检测装置，其特征在于所述底座包括一 个作为检测基准面的上表面、平行于所述上表面的下表面以及两组相互垂直且分别位于所述 上表面及下表面之间的两个端面及两个侧面，在该底座的上表面上开设有一个方形且贯穿该 底座的两个端面的沉槽，在所述底座上一端的沉槽两侧的上表面上分别开设有两个四槽，所 述滑块可滑动的设置在所述沉槽内，所述定位磁体分别设置在所述两个凹槽内。
3 如权利要求2所述的工件检测装置，其特征在于在所述底座的沉 槽两侧的上表面的另一端开设有贯穿所述底座的侧面以及端面的两个开槽，所述部分检测探 针分别垂直设置在所述底座的上表面上以及所述开槽的底部。
4 如权利要求2所述的工件检测装置，其特征在于所述滑块包括一 个第一表面、与该第一表面相对的第二表面以及位于第一、二表面之间的两组相互垂直的端 壁及侧壁，在所述滑块的上表面上开设有贯穿所述侧壁的凹室，该凹室一侧形成一个凸条， 在该凸条的内侧壁上并排开设有两个贯穿该凸条的内侧壁及邻近端壁的穿孔，所述穿孔内设 置有两个所述检测探针用以对工件进行检测。
5 如权利要求4所述的工件检测装置，其特征在于所述测量块包括 一个基体，该基体包括一个顶面、 一个平行于所述顶面的底面以及两个位于所述顶面及底面 之间且相互平行的外壁，沿着所述基体的顶面及底面从所述基体的一侧外壁上分别延伸出两 个相互平行间隔的卡板，该测量块通过其底面设置在所述滑块的上表面。
6 如权利要求5所述的工件检测装置，其特征在于在所述滑块的凹 室与所述凸条相对的侧壁上形成有多级台阶，所述测量块通过其基体的底面设置在所述滑块 与所述第一表面邻近的台阶上。
7.如权利要求6所述的工件检测装置，其特征在于与所述基体的底面相连接的卡板延伸的长度大于所述与基体的顶面相连接的卡板的长度。
8.如权利要求2至6任一项所述的工件检测装置，其特征在于，在所 述沉槽的槽底上开设有一个宽度小于所述沉槽的条状开孔，该开孔贯穿所述底座的下表面， 该工件检测装置还包括一个限位块，该限位块设置在所述滑块的第二表面对应所述底座的开 孔的位置处，用以限制该滑块在底座的沉槽中的滑动行程。
9.如权利要求8所述的工件检测装置，其特征在于，所述定位磁体的 高度等于或者略小于所述凹槽的深度，当所述定位磁体设置在所述凹槽内时该定位磁体的上 表面与所述底座的上表面平齐或者略低于所述底座的上表面。
10.如权利要求6所述的工件检测装置，其特征在于，所述滑块上的 多层台阶的交接处采用圆弧形曲面过渡连接。
全文摘要
本发明提供一种工件检测装置，其包括一个底座、一个滑块、一个手柄、多个定位磁体、多个检测探针以及一个测量块。所述滑块可滑动的设置在所述底座上，所述手柄固设在所述滑块上。所述多个定位磁体分别设置在所述底座上用以吸附待检测工件，所述多个检测探针分别设置在所述滑块及所述底座上，所述测量块固设在所述滑块上。本发明采用定位磁体通过磁力固定待检测工件，从而防止待检测工件在检测时变形。
文档编号G01B21/00GK101598538SQ20081030196
公开日2009年12月9日 申请日期2008年6月4日 优先权日2008年6月4日
发明者威 刘 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司