专利名称：一种薄片型金属构件平整度测试方法
技术领域：
本发明涉及一种薄片型金属构件平整度测试方法，属金属构件平整度测试技术领域。
背景技术：
检测物体接近程度的接近传感器，可与继电器或其他执行元件组成接近开关，以实现设备的自动控制和操作人员的安全保护等，在生产过程和日常生活中都有广泛应用。在使用薄片型金属构件加工多联式产品时，即用薄片型金属构件为模板，反复加工生产后续产品，金属构件薄片经反复使用后会有凹凸弯曲浪形不平整现象出现，导致影响后续产品的质量。通常用较长的直尺、或用千分表来检测金属构件薄片的平整度，但手工操作效率比较低，不适合工业大规模生产的需要。利用接近传感器建立一种快速、有效的检测出薄片型金属构件平整度测试装置，对于提高产品合格率和生产效率有着积极的意义。
发明内容
本发明的目的是提供一种快速、有效的检测薄片型金属构件平整度的测试方法。为达到上述目的，采用的技术方案是一种薄片型金属构件平整度测试方法，其特征在于
(1)在测试平台上各测量点相应位置，布置与测试平台垂直同向嵌入式连接的接近传感器，并调试所述接近传感器的感应范围；
⑵所述接近传感器与对应的LED发光管、电源电连接； ⑶指示灯与所述各LED发光管依次连接，构成串联电路；
⑷接通电源，将待测平整度的薄片型金属构件平置压放在所述接近传感器上测试，指示灯亮显示平整度符合要求。所述接近传感器是电感式接近传感器。本发明的积极效果在于被测试的薄片型金属构件压放在测试平台上后，如测量点平整度在允许范围之内，则该点接近传感器根据预先设定的感应范围发出感应信号，与该接近传感器连接的LED发光管亮。相互串联的LED发光管全亮时指示灯亮，表示整个金属构件各测量点平整度都正常。只要有一个LED发光管不亮，表示相应的测量点平整度不合格，指示灯不亮。测试方法方便快捷效率高，测试装置结构简单部件少。
以下依照
和实施例，对本发明作进一步说明。图1为本发明测试装置结构示意图； 图2为图1的A向结构示意图3为接近传感器、LED发光管、指示灯连接电路示意图。图中，1 一测试平台；2 —接近传感器；3 - LED发光管；4 一指示灯。
具体实施例方式图1所示测试平台1四周设置12个平整度测量点，在相应位置布置12个与测试平台1垂直同向嵌入式安装连接的接近传感器2 (图2)，所述接近传感器2采用市售仅对金属构件敏感的电感式接近传感器。由图3可见，接近传感器2分别与对应的LED发光管 3、电源电连接，指示灯4与各LED发光管3依次串联连接，构成串联电路。最后接通电源，将待测平整度的薄片型金属构件平置压放在所述接近传感器上测试，要求被测试的金属构件外形尺寸略小于测试平台1表面外形尺寸。当接近传感器在设定的感应范围内感应到金属构件接近时，LED发光管3导通发光(图3)，因为指示灯4与各 LED发光管3依次串联连接，构成串联电路，所以与各测量点相对应的LED发光管3全部点亮后，指示灯亮表示平整度符合要求；只要有一个发光管不亮，表示该处平整度不合格，指示灯不亮。本测试方法的优点在于检测速度快、检测准确度高。对于提高后续产品的合格率和生产效率有着积极的意义。
权利要求
1.一种薄片型金属构件平整度测试方法，其特征在于(1)在测试平台上各测量点相应位置，布置与测试平台垂直同向嵌入式连接的接近传感器，并调试所述接近传感器的感应范围；⑵所述接近传感器与对应的LED发光管、电源电连接； ⑶指示灯与所述各LED发光管依次连接，构成串联电路；⑷接通电源，将待测平整度的薄片型金属构件平置压放在所述接近传感器上测试，指示灯亮显示平整度符合要求。
2.根据权利要求1所述一种薄片型金属构件平整度测试方法，其特征在于所述接近传感器是电感式接近传感器。
全文摘要
本发明涉及一种薄片型金属构件平整度的测试方法，属测试技术领域，其特征在于在测试平台上各测量点相应位置，布置接近传感器，并调试接近传感器的感应范围；接近传感器分别与对应的LED发光管、电源电连接，指示灯与各LED发光管依次连接，构成串联电路；接通电源，将待测平整度的金属构件平置压放在所述接近传感器上测试。本发明的积极效果在于被测试的薄片型金属构件压放在测试平台上后，如测量点平整度在允许范围之内，则该点接近传感器根据预先设定的感应范围发出感应信号，与该接近传感器连接的LED发光管亮。相互串联的LED发光管全亮时指示灯亮，显示整个金属构件各测量点平整度都正常。测试方法方便快捷效率高，测试装置结构简单部件少。
文档编号G01B7/34GK102252605SQ201110160088
公开日2011年11月23日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日
发明者上村真也, 卞方勇, 小泉泰秀, 赵志明, 陆静 申请人:上海京瓷电子有限公司