专利名称：一种x射线检测光学装置的制作方法
技术领域：
本实用新型提供一种光学检测系统，具体涉及一种X射线检测光学装置，利用X射线，通过可见光转换屏及反射镜搭建的光学成像系统，达到清晰成像的目的。
技术背景随着电子技术的飞速发展，封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型封装技术的不断涌现，对电子组装质量的要求也越来越高，于是对检查的方法和技术提出了更高的要求，为满足这一要求，新的检测技术不断出现，自动X射线检测技术就是这其中的典型代表，它不仅可对不可见焊点进行检测，如BGA (球栅阵列封装)等，还可对检测结果进行定性、定量分析，以便及早发现故障。AXI (Automatic X-ray Inspection)检测技术开始兴起，多用于电路板等的无损检测，当组装好的线路板沿导轨进入机器内部后，位于线路板上方的X射线发射管，其发射的X射线穿过线路板后被置于下方的探测器接收，由于焊点中含有可以大量吸收X射线的铅，因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的X射线相比，照射在焊点上的X射线被大量吸收，而呈黑点产生良好图像，使得对焊点的分析变得相当直观，故简单的图像分析算法便可自动且可靠地检验焊点缺陷，早期的X射线检测不能满足实时成像、实时检测的要求，而且成像系统所成的像不清晰，噪声较大等，给检测造成一定的难度。
发明内容为了克服上述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提出一种X射线检测光学装置，通过可见光转换屏4及平面反射镜5的作用，防止了 X射线对CCD图像传感器7的直接照射造成的噪声增大和缩短CCD图像传感器7寿命的影响，结构简单，能达到清晰成像的目的。为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是一种X射线检测光学装置，由X射线源1，可见光转换屏4，光阑3，平面反射镜5，凸透镜6和CXD图像传感器7组成，其特征在于，X射线源I，光阑3和可见光转换屏4顺次设置于平面反射镜5的正前方，平面反射镜5的下方顺次设置有凸透镜6和CCD图像传感器7;所述X射线源I和光阑3的中间设置有被测物体2 ；所述光阑3能去除装置中的杂散光；所述平面反射镜5的表面涂有高反射膜；由于设置有平面反射镜5，防止了 X射线对CXD图像传感器7的直接照射造成的噪声增大和缩短CCD图像传感器7寿命的影响，结构简单，能达到清晰成像的目的。
附图是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面对 本实用新型作进一步详细的描述。参照附图，一种X射线检测光学装置，由X射线源I，可见光转换屏4，光阑3，平面反射镜5，凸透镜6和CXD图像传感器7组成，其特征在于，X射线源1，光阑3和可见光转换屏4顺次设置于平面反射镜5的正前方，平面反射镜5的下方顺次设置有凸透镜6和CXD图像传感器7 ；所述X射线源I和光阑3的中间设置有被测物体2 ；所述光阑3能去除装置中的杂散光；所述平面反射镜5的表面涂有高反射膜；当X射线透过被测物体2，使用光阑3去除装置中的杂散光，当X射线经过可见光转换屏4时，利用可见光转换屏4的特点，可将X射线图像直接转换为可见光图像，之后用表面镀有高反射膜的平面反射镜5将转换的可见光进行转向，再使用表面高透膜的凸透镜6将转向后的光线进行会聚，使其到达CCD图像传感器7的接收端，从而由CCD图像传感器7采集可见光图像，并将光信号转换为电信号，而且这样的结构形式可以对视场大小进行调节，可以满足对较大测试试件的检测。
权利要求1.一种X射线检测光学装置，由X射线源(1)，可见光转换屏(4)，光阑(3)，平面反射镜(5)，凸透镜(6)和CXD图像传感器(7)组成，其特征在于，X射线源(I)，光阑(3)和可见光转换屏(4)顺次设置于平面反射镜(5)的正前方，平面反射镜(5)的下方顺次设置有凸透镜(6)和CCD图像传感器(7)。
2.根据权利要求I所述的一种X射线检测光学装置，其特征在于，所述X射线源(I)和光阑(3)的中间设置有被测物体(2)。
3.根据权利要求I所述的一种X射线检测光学装置，其特征在于，所述平面反射镜(5)的表面涂有1 反射月吴。
专利摘要一种X射线检测光学装置，由x射线源，可见光转换屏，光阑，平面反射镜，凸透镜和CCD图像传感器组成，x射线源，光阑和可见光转换屏顺次设置于平面反射镜的正前方，平面反射镜的下方顺次设置有凸透镜和CCD图像传感器，利用可见光转换屏将x射线图像直接转换为可见光图像，之后利用平面反射镜和透镜系统将可见光进行转向并会聚，而后由CCD采集图像，并将光信号转换为电信号。
文档编号G01N23/04GK202548072SQ20112045962
公开日2012年11月21日 申请日期2011年11月18日 优先权日2011年11月18日
发明者曹捷, 许婷 申请人:西安中科麦特电子技术设备有限公司