一种半导体生产中电子元件测试系统及方法
【专利摘要】本发明公开了一种半导体生产中电子元件测试系统及方法，其主要技术点为：测试机控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子元件加载对应的测试条件在第一工位完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。本发明对电子元件的极性和电性性能参数都进行了测试，功能全面，两个工位采用两个测试板，减少了测试板的应用，大大的降低产品的制造成本，且使编带机结构简单。
【专利说明】一种半导体生产中电子元件测试系统及方法
[0001]【技术领域】
本发明属于半导体生产【技术领域】，特别涉及一种半导体生产中电子元件测试系统及方法。
【背景技术】
[0002]电子元件检测通常需要检测极性及电性性能参数，以便在生产中排除不合格的产品提高质量。电子元件极性是指在电子元件在实装时需要按一定的方向进行实装，如果安装时方向不正确，则会发生烧毁电子元件、电路不通等现象。因此，半导体生产制造中需要对电子元件产品(例如二极管等)极性进行检测并标示。目前通常采用人工方式检测判断出产品的极性再标示，其效率低下容易出错。
[0003]为了提高极性检测效率，申请号为200510015523.4的中国发明专利公开了一种《自动编带机电子器件极性检测装置及检测方法》，其主要技术特点为:摆盘在圆周上均布设有若干个真空吸头，且对称分为两组，作用是实现器件由一个工位向下一个工位的转移。在摆盘的真空吸头下方，依次对称设有检测器件极性的检测工位、器件旋转工位、极性的二次检测工位和器件排弃工位，在器件从一个工位转移至下一个工位过程中实现对器件的极性检测、极性调整、极性二次检测和废弃件排弃，其提高了极性检测的工作效率。但是其功能单一、缺少对器件的电性性能参数检测工位，且其对称设置多个检测工位，每个工位要设置相应的检测装置，编带机结构复杂成本较高。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种结构简单、成本低、功能全面的半导体生产中电子元件测试系统及方法。
[0005]为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案是:
一种半导体生产中电子元件测试系统，包括安装于编带机摆盘吸头下方第一工位的极性电参测试板和安装于编带机摆盘吸头下方第二工位的第二电参测试板，所述极性电参测试板和第二电参测试板通过继电器开关与测试机连接，所述测试机与编带机控制台连接；其中所述编带机控制台用于在编带机正常工作状态时，发送开始测试信号给测试机，所述测试机根据编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子元件加载对应的测试条件在第一工位完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。
[0006]优选的，所述继电器开关采用高速固态继电器。
[0007]优选的，所述第一工位和第二工位之间还设有极性旋转工位，编带机控制台根据测试机发回的在第一工位测试得到的极性结果在该极性旋转工位控制编带机的旋转装置对极性相反的电子元件进行180°转向。
[0008]本发明还提供一种应用于上述的半导体生产中电子元件测试系统的测试方法，包括如下步骤: 1)编带机在正常工作状态时，编带机控制台发送开始测试信号给测试机；
2)测试机根据所述编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子兀件加载对应的测试条件在第一工位完成电子兀件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。
[0009]该方法中，所述继电器开关采用高速固态继电器。
[0010]进一步的，在所述第一工位和第二工位之间还设有极性旋转工位，编带机控制台根据测试机发回的在第一工位测试得到的极性结果在该极性旋转工位控制编带机的旋转装置对极性相反的电子元件进行180°转向。
[0011]与现有技术相比，本发明的有益效果:
本发明系统及方法采用两个检测工位，测试机根据编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子元件加载对应的测试条件在第一工位同时完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试，极性测试和电性性能参数都进行了测试，功能全面，两个工位采用两个测试板，相比现有技术中多个工位减少了测试板的应用，大大的降低产品的制造成本，且编带机结构简单。
[0012]【专利附图】
【附图说明】:
图1是本发明测试系统的电路框图。
[0013]图2是本发明测试系统中极性检测部分电路图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合【具体实施方式】对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本
【发明内容】
所实现的技术均属于本发明的范围。
[0015]如图1所示，本发明的半导体生产中电子元件测试系统，包括安装于编带机摆盘吸头下方第一工位的极性电参测试板和安装于编带机摆盘吸头下方第二工位的第二电参测试板，所述极性电参测试板和第二电参测试板通过继电器开关与测试机连接，所述测试机与编带机控制台连接。所述继电器开关采用103-1-A-12/602D高速固态继电器。编带机工作时，编带机的直线送料器将电子元件(例如二极管)移送到编带机摆盘处，摆盘的圆周边沿部分对称均匀分布若干真空吸头，真空吸头吸取元件，摆盘旋转将元件移送一个工位进行测试，测试完后吸头吸取元件并旋转到下一个工位再进行测试。本领域技术人员知晓编带机的具体结构及工作原理，这里不再详述。本发明系统中所述编带机控制台在编带机正常工作状态时，发送开始测试信号给测试机，所述测试机根据编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子元件加载对应的测试条件在第一工位完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试，测试完成后对废品由编带机的排弃装置丢掉。所述测试机可以是一台计算机或PLC控制台，用于为产品加载正确的测试条件(电子行业内使用者对各种产品的电性条件的约定，不同使用者加载的电性条件也可能不一样)，从而准确测出产品的电性参数并判断极性方向。所述极性电参测试板和第二电参测试板用于夹紧并连接电子元件，其上有用于测试的线路，便于与继电器开关连接，这些属于现有技术不再详述。所述继电器开关内部设有与产品数量对应的继电器。
[0016]所述第一工位和第二工位之间还设有极性旋转工位，编带机控制台根据测试机发回的在第一工位测试得到的极性结果在该极性旋转工位控制编带机的旋转装置对极性相反的电子元件进行180°转向。参看图2，图中所示为4只脚的电子产品，产品在第一工位时，编带机控制台发送测试信号，测试机控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板，对产品1、3脚加载电压，如果导通则为正向，测试机返回信号到编带机控制台，那么编带机的旋转装置不转向，如果不能导通则为反向，那么编带机的旋转装置将产品旋转一百八十度，这样就将产品排列成了统一方向。然后再将产品移送到第二工位测试。
[0017]本发明设置一组与产品相对应数量的继电器开关，通过自动加载的方式，测试机加载预设的程序打开对应的继电器开关，由测试机加载相应的测试条件对元器件的极性和电性性能参数进行测试，打印极性点。其是在原有的编带机和测试机基础上新增加的功能。采用两个检测工位，在第一工位同时完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试，极性测试和电性性能参数都进行了测试，功能全面，两个工位采用两个测试板，相比现有技术中多个工位减少了测试板的应用，大大的降低产品的制造成本，且编带机结构简单。
[0018]本发明另一实施方式还提供一种应用于上述的半导体生产中电子元件测试系统的测试方法，包括如下步骤:
I)编带机在正常工作状态时，编带机控制台发送开始测试信号给测试机。
[0019]2)测试机根据所述编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子兀件加载对应的测试条件在第一工位完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。
[0020]编带机工作时，编带机的直线送料器将电子元件(例如二极管)移送到编带机摆盘处，摆盘的圆周边沿部分对称均匀分布若干真空吸头，真空吸头吸取元件，摆盘旋转将元件移送一个工位进行测试，测试完后吸头吸取元件并旋转到下一个工位再进行测试。本领域技术人员知晓编带机的具体结构及工作原理，这里不再详述。本发明方法中所述继电器开关采用高速固态继电器。所述编带机控制台在编带机正常工作状态时，发送开始测试信号给测试机，所述测试机根据编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子兀件加载对应的测试条件在第一工位完成电子兀件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。所述测试机可以是一台计算机或PLC控制台，用于为产品加载正确的测试条件(电子行业内使用者对各种产品的电性条件的约定，不同使用者加载的电性条件也可能不一样)，从而准确测出产品的电性参数并判断极性方向。所述极性电参测试板和第二电参测试板用于夹紧连接电子元件，这些属于现有技术不再详述。
[0021]进一步的，在所述第一工位和第二工位之间还设有极性旋转工位，编带机控制台根据测试机发回的在第一工位测试得到的极性结果在该极性旋转工位控制编带机的旋转装置对极性相反的电子元件进行180°转向，具体参考上述测试系统部分的描述，这里不再详述。[0022]本发明采用自动控制，降低了人工操作而产生错误的风险，采用两个检测工位，在第一工位同时完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试，极性测试和电性性能参数都进行了测试，功能全面，两个工位采用两个测试板，相比现有技术中多个工位减少了测试板的应用，大大的降低产品的制造成本，且使编带机结构简单。
[0023]上面结合附图对本发明的【具体实施方式】进行了详细说明，但本发明并不限制于上述实施方式，在不脱离本申请的权利要求的精神和范围情况下，本领域的技术人员可以作出各种修改或改型。
【权利要求】
1.一种半导体生产中电子元件测试系统，其特征在于，包括安装于编带机摆盘吸头下方第一工位的极性电参测试板和安装于编带机摆盘吸头下方第二工位的第二电参测试板，所述极性电参测试板和第二电参测试板通过继电器开关与测试机连接，所述测试机与编带机控制台连接； 其中，所述编带机控制台用于在编带机正常工作状态时，发送开始测试信号给测试机，所述测试机根据编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子兀件加载对应的测试条件在第一工位完成电子兀件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。
2.根据权利要求1所述的半导体生产中电子元件测试系统，其特征在于，所述继电器开关采用高速固态继电器。
3.根据权利要求1或2所述的半导体生产中电子元件测试系统，其特征在于，所述第一工位和第二工位之间还设有极性旋转工位，编带机控制台根据测试机发回的在第一工位测试得到的极性结果在该极性旋转工位控制编带机的旋转装置对极性相反的电子元件进行180°转向。
4.一种应用于权利要求1所述的半导体生产中电子元件测试系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤: 1)编带机在正常工作状态时，编带机控制台发送开始测试信号给测试机； 2)测试机根据所述编带机控制台发来的测试信号控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子兀件加载对应的测试条件在第一工位完成电子兀件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。
5.根据权利要求4所述的半导体生产中电子元件测试方法，其特征在于，所述继电器开关采用高速固态继电器。
6.根据权利要求4或5所述的半导体生产中电子元件测试方法，其特征在于，在所述第一工位和第二工位之间还设有极性旋转工位，编带机控制台根据测试机发回的在第一工位测试得到的极性结果在该极性旋转工位控制编带机的旋转装置对极性相反的电子元件进行180°转向。
【文档编号】G01R31/00GK103645403SQ201310693327
【公开日】2014年3月19日 申请日期:2013年12月17日 优先权日:2013年12月17日
【发明者】胡波, 李智军, 樊增勇 申请人:成都先进功率半导体股份有限公司, 乐山无线电股份有限公司