用于测量研磨样片的透光率的装置制造方法
【专利摘要】一种用于测量研磨样片的透光率的装置,包括暗箱，光源发生器安装在暗箱内部的一侧，检测平台位于暗箱中部；在暗箱内部的另一侧设有与该光源发生器相对的测试端，在检测平台位于光源发生器方向的一侧设有钢板，所述钢板的中心设有直径为12毫米的圆孔。在测量研磨过的100毫米*100毫米镀膜玻璃样片时，镀膜玻璃样片研磨的宽度为10毫米，放入本实用新型提供的装置后使得光源经过钢板的12毫米的圆孔，能够准确的测量到研磨的位置，使得研磨试验测量的可见光透射比更加准确并易于操作，减少因测量位置偏移造成的测量结果误差，从而达到研磨试验实用、准确和易于操作的效果。
【专利说明】用于测量研磨样片的透光率的装置
【技术领域】
[0001 ] 本实用新型涉及一种用于测量研磨样片的透光率的装置。
【背景技术】
[0002]目前用于测量研磨样片的透光率的装置的检测测量口直径为40毫米，致使无法实现准确检测研磨样片的透光率。鉴于此，有必要提供一种简易实用、测量准确和操作简单的测量研磨样片的透光率的装置。
实用新型内容
[0003]为解决现有技术无法准确测量研磨样片的透光率的问题，本实用新型提供一种改进的用于测量研磨样片的透光率的装置。由如下技术方案实现:
[0004]一种用于测量研磨样片的透光率的装置，包括暗箱，光源发生器安装在暗箱内部的一侧，检测平台位于暗箱中部；在暗箱内部的另一侧设有与该光源发生器相对的测试端，在检测平台位于光源发生器方向的一侧设有钢板，所述钢板的中心设有直径为12毫米的圆孑L。
[0005]所述的用于测量研磨样片的透光率的装置，所述检测平台的测量口直径为40毫米。
[0006]所述的用于测量研磨样片的透光率的装置，所述钢板由弹簧夹固定在检测平台的一侧。
[0007]在测量研磨过的100毫米*100毫米镀膜玻璃样片时，镀膜玻璃样片研磨的宽度为10毫米，放入本实用新型提供的装置后使得光源经过钢板的12毫米的圆孔，能够准确的测量到研磨的位置，使得研磨试验测量的可见光透射比更加准确并易于操作，减少因测量位置偏移造成的测量结果误差，从而达到研磨试验实用、准确和易于操作的效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型的结构示意图。
[0009]附图标记说明:1光源发生器；2光束；3检测平台；4测试端；5钢板；6圆孔；7测
量口；8暗箱。
【具体实施方式】
[0010]如图1所示，本实用新型一种用于测量研磨样片的透光率的装置，包括暗箱8，光源发生器I安装在暗箱8内部的一侧，检测平台3位于中部；在暗箱8内部的另一侧设有与该光源发生器I相对的测试端4，在检测平台3位于光源发生器I方向的一侧设有钢板5，钢板5由弹簧夹固定在检测平台3的一侧。所述钢板5的中心设有直径为12毫米的圆孔
6。所述检测平台3的测量口 7直径为40毫米。
[0011]在测量研磨过的100毫米*100毫米镀膜玻璃样片时，镀膜玻璃样片研磨的宽度为10毫米，放入本实用新型提供的装置后使得光源经过钢板的12毫米的圆孔，能够准确的测量到研磨的位置，使得研磨试验测量的可见光透射比更加准确并易于操作，减少因测量位置偏移造成的测量结果误差，从而达到研磨试验实用、准确和易于操作的效果。
【权利要求】
1.一种用于测量研磨样片的透光率的装置，其特征在于:包括暗箱，光源发生器安装在暗箱内部的一侧，检测平台位于暗箱中部；在暗箱内部的另一侧设有与该光源发生器相对的测试端，在检测平台位于光源发生器方向的一侧设有钢板，所述钢板的中心设有直径为12毫米的圆孔。
2.根据权利要求1所述的用于测量研磨样片的透光率的装置，其特征在于:所述检测平台的测量口直径为40毫米。
3.根据权利要求1所述的用于测量研磨样片的透光率的装置，其特征在于:所述钢板由弹簧夹固定在检测平台的一侧。
【文档编号】G01N21/59GK203479706SQ201320599595
【公开日】2014年3月12日 申请日期:2013年9月26日 优先权日:2013年9月26日
【发明者】董清世, 张建强, 祝宏顺, 孙志夫 申请人:信义玻璃(天津)有限公司