测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路的制作方法
【专利摘要】测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路。目前，国内还没有针对高压开关测试仪校验装置时间参数进行校验的专用设备，一般采用多种仪器组合以手动方式校验，存在接线复杂，附加误差多，需专业人员进行操作，工作效率低等不足。本发明的组成包括：高压开关测试仪校验装置控制电路（1），所述的高压开关测试仪校验装置控制电路分别与电子计数器（2）、被测校验装置（3）连接。本发明用于测试高压开关测试仪校验装置时间参数。
【专利说明】测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路
[0001]
【技术领域】： 本发明涉及一种测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路。
[0002]
【背景技术】： 在工业控制及输变电系统中，各种高压开关、接触器、继电器等通断电控制器件被广泛 应用，高压开关的合闸时间、分闸时间、合闸同期性、分闸同期性及弹跳时间等时间参数，对 整个系统的稳定工作至关重要，如不引起足够认识，轻者可致电网波动，重者导致重大供电 事故。使用高压开关测试仪对高压开关的时间参数进行精确校验，对保障输变电系统的安 全、稳定运行有着重大意义。
[0003] 目前，国内还没有针对高压开关测试仪校验装置时间参数进行校验的专用设备， 一般采用多种仪器组合以手动方式校验，存在接线复杂，附加误差多，需专业人员进行操 作，工作效率低等不足。不能对高压开关测试仪校验装置时间参数进行准确校验。
[0004]
【发明内容】
： 本发明的目的是提供一种测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路。
[0005] 上述的目的通过以下的技术方案实现： 一种测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，其组成包括：高压开关测试仪校 验装置控制电路，所述的高压开关测试仪校验装置控制电路分别与电子计数器、被测校验 装置连接。
[0006] 所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所述的高压开关测试仪校 验装置控制电路包括电源输入电路，所述的电源输入电路与电阻R1、开关BUT1连接，所述 的开关BUT1与反相器U1A、电阻R2连接，所述的反相器UIA与反相器U1B连接，所述的电阻 R1、所述的反相器U1B通过开关SW1、开关SW2与D触发器U2连接，所述的D触发器U2通过 开关SW3与被测校验装置连接，所述的D触发器U2与计数门U3连接，所述的计数门U3分 别与方波发生器、电子计数器连接。
[0007] 所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所述的高压开关测试仪校 验装置控制电路包括方波发生器，所述的方波发生器采用l〇MH z有源温度补偿晶体振荡器。
[0008] 所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所述的电阻R1与所述的 反相器U1A之间安装有开关BUT1，所述的电阻R3与所述的被测校验装置之间安装有开关 BUT2,所述的R2与所述的被测校验装置之间安装有开关BUT3,所述的D触发器与所述的被 测校验装置之间安装有开关BUT4。
[0009] 有益效果： 1.本发明的高压开关测试仪校验装置控制电路为被测校验装置提供通、断电动作信 号，电子计数器测量输出的脉冲个数，将电子计数器测量到的脉冲个数换算成时间与被测 校验装置所显示的时间进行对比，从而实现对高压开关测试仪校验装置时间参数的校验。
[0010] 2.本发明进行校验装置通电动作校验时，将SW1置2, SW2置1，SW3置1，BUT3闭 合，BUTUBUT2处于开启状态，简化电路见图3 ; 在BUT1闭合前，U1B输出低电平，被测校验装置工作在"合闸时间参数校验模式"，端口 处于开启状态，U2的CLR引脚为高。BUT4作用为U2置零，使U2的Q输出为低； 在BUT1闭合后，U1B输出高电平，上升沿触发U2，使U2的Q输出高电平，同时触发校 验装置和计数门U3,使校验装置开始计时、电子计数器测量输出的脉冲个数。待定时时间 至IJ，校验装置端口合闸，CLR引脚为低，Q输出低电平，关闭计数门U3,把电子计数器的计时 与校验装置定时时间比较，得到合闸时间校验误差。
[0011] 3.本发明进行校验装置断电动作校验时，将SW1置1，SW2置2, SW3置2，BUT1、 BUT2闭合，BUT3处于开启状态，简化电路见图4 ; 在BUT1开启前，U1A输出低电平，被测校验装置工作在"分闸时间参数校验模式"，端口 处于闭合状态，U2的CLR引脚为低。BUT3作用为U2置零，使U2的Q输出为低； 在BUT1开启后，U1A输出高电平，上升沿触发U2,使U2的Q输出高电平，触发计数门 U3,使电子计数器测量输出的脉冲个数；输出低电平，触发校验装置，使校验装置开始计时。 待定时时间到，校验装置端口分闸，CLR引脚为低，Q输出低电平，关闭计数门U3,把电子计 数器的计时与校验装置定时时间比较，得到分闸时间校验误差。
[0012] 4.本发明的方波发生器采用10MHZ有源温度补偿晶体振荡器，可以确保高压开关 测试仪校验装置时间参数校验的准确度和稳定性。
[0013]
【专利附图】
【附图说明】： 附图1是本发明的结构示意图。
[0014] 附图2是本发明的控制电路原理图。
[0015] 附图3是本发明的合闸时间参数校验电路原理图。
[0016] 附图4是本发明的分闸时间参数校验电路原理图。
[0017]
【具体实施方式】： 实施例1 : 一种测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，其组成包括：高压开关测试仪校 验装置控制电路1，所述的高压开关测试仪校验装置控制电路分别与电子计数器2、被测校 验装置连接3。
[0018] 实施例2: 根据实施例1所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所述的高压开关 测试仪校验装置控制电路包括电源输入电路，所述的电源输入电路与电阻R1、开关BUT1连 接，所述的开关BUT1与反相器U1A、电阻R2连接，所述的反相器ΠΑ与反相器U1B连接，所 述的电阻R1、所述的反相器U1B通过开关SW1、开关SW2与D触发器U2连接，所述的D触发 器U2通过开关SW3与被测校验装置连接，所述的D触发器U2与计数门U3连接，所述的计 数门U3分别与方波发生器、电子计数器连接。
[0019] 实施例3: 根据实施例1或2所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所述的高压 开关测试仪校验装置控制电路包括方波发生器，所述的方波发生器采用l〇MHz有源温度补 偿晶体振荡器。
[0020] 实施例4 : 根据实施例1或2所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所述的电阻 R1与所述的反相器U1A之间安装有开关BUT1，所述的电阻R3与所述的被测校验装置之间 安装有开关BUT2,所述的R2与所述的被测校验装置之间安装有开关BUT3,所述的D触发器 与所述的被测校验装置之间安装有开关BUT4。
【权利要求】
1. 一种测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，其组成包括：高压开关测试仪 校验装置控制电路，其特征是：所述的高压开关测试仪校验装置控制电路分别与电子计数 器、被测校验装置连接。
2. 根据权利要求1所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，其特征是： 所述的高压开关测试仪校验装置控制电路包括电源输入电路，所述的电源输入电路与电阻 R1、开关BUT1连接，所述的开关BUT1与反相器U1A、电阻R2连接，所述的反相器ΠΑ与反 相器U1B连接，所述的电阻R1、所述的反相器U1B通过开关SW1、开关SW2与D触发器U2连 接，所述的D触发器U2通过开关SW3与被测校验装置连接，所述的D触发器U2与计数门U3 连接，所述的计数门U3分别与方波发生器、电子计数器连接。
3. 根据权利要求1或2所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，其特 征是：所述的高压开关测试仪校验装置控制电路包括方波发生器，所述的方波发生器采用 l〇MHz有源温度补偿晶体振荡器。
4. 根据权利要求1或2或3所述的测试高压开关测试仪校验装置时间参数的电路，所 述的电阻R1与所述的反相器U1A之间安装有开关BUT1，所述的电阻R3与所述的被测校验 装置之间安装有开关BUT2，所述的R2与所述的被测校验装置之间安装有开关BUT3，所述的 D触发器与所述的被测校验装置之间安装有开关BUT4。
【文档编号】G01R35/00GK104122523SQ201410369229
【公开日】2014年10月29日 申请日期:2014年7月30日 优先权日:2014年7月30日
【发明者】陈满生, 高瑞嵩 申请人:哈尔滨朗昇电气股份有限公司