技术特征：
技术总结
本发明目的在于提高谷粒品级判别装置的谷粒(G)的品级判别精度。该装置具备：光学部(3)，向谷粒(G)照射光，由受光传感器接受来自谷粒(G)的反射光和/或透过光，从而从谷粒(G)的表面侧、背面侧获得用于上述品级测定的信息；以及品级判别部(7)，基于上述信息来判别谷粒(G)的品级。通过由一个光学部(3)同时获得上述表面侧信息和背面侧信息，从而防止随着谷粒(G)的移动、姿势的变化的取得信息的偏差，将用于修正上述信息的基准板移出谷粒的移动路径而防止脏污或破损，从而防止上述信息的紊乱，而且设置特别的基准板供谷粒(G)的侧面信息用，来提高侧面信息的精度等，从而提高谷粒(G)的品级判别精度。
技术研发人员：石突裕树;江藤聪;土井贵广;竹内宏明
受保护的技术使用者：株式会社佐竹
技术研发日：2015.12.18
技术公布日：2017.10.13