利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的制作方法

文档序号:12303651阅读:138来源:国知局
利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的制作方法

本发明涉及一种利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,尤其涉及一种利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,为摄取检测对象即玻璃基板表面或角落的影像,玻璃基板移送方向的垂直线上布置多个检测用摄像机与同轴照明装置,并且在玻璃基板下方设置将同轴照明装置发射的光进行反射的反射板装置,一边慢慢移动玻璃基板,一边摄取玻璃基板表面或角落,从而检出玻璃基板表面或角落有无缺陷。



背景技术:

玻璃基板在用于显示所定视频等的显示器上使用,例如等离子显示面板(plasmadisplaypanel)、液晶显示器(liquidcrystaldisplay)、有机发光二极管(organiclightemittingdiode)等。

以前作为显示装置使用的屏幕大多采用14英寸至30英寸左右的大小。然而最近为了观赏宽屏幕画面,偏向40至50英寸以上的大屏幕。随之所采用玻璃基板大小也逐渐呈现大型化趋势。

玻璃基板是经过用原料成型玻璃基板的成型工序后,经过按所定规格切割的切割工序、将所定部位进行研磨的研磨工序,然后上市符合规格条件的产品。从玻璃基板成型到完成品上市,由于各种因素有可能引发玻璃基板上缺陷。

玻璃基板上有无裂缝(crack)成了检测对象。例如,若是构成显示面板的玻璃基板,要进行切割及倒棱工序、减薄工序、固化工序、腔体形成工序、像素及电路形成工序等很多工序,且在每一工序中都有可能在玻璃基板内部发生裂缝,发生裂缝的玻璃基板有可能影响显示面板的 画质,因此应作为不合格处理。不仅显示面板,其他用途的玻璃基板上裂缝,也大多作为玻璃基板质量不合格处理,从而需要使用检测玻璃基板裂缝的装置,也出现了多种多样的装置。



技术实现要素:

本发明的目的在于提供一种更为简便、精细检测玻璃基板表面有无裂缝等缺陷的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置。

为实现上述目的,根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,用于检测玻璃基板表面有无缺陷,其特征在于,其构成为:为检测上述玻璃基板10表面的缺陷而移送玻璃基板的移送装置;用于拍摄上述玻璃基板10表面的多个检测用摄像机20;将上述检测用摄像机20排一列进行支撑的摄像机支撑框;位于通过上述移送装置移送的玻璃基板10的上方,并在上述检测用摄像机20的镜头所指方向的下方相隔开设置的同轴照明装置30;在上述同轴照明装置30下方设置的视点35;以及位于通过上述移送装置移送的玻璃基板10的下方,并与上述检测用摄像机20与上述同轴照明30设在同一垂直线上,将上述同轴照明装置发射的光进行反射的反射板装置40,

特征在于,用上述多个检测用摄像机20拍摄的上述玻璃基板表面的影像是通过识别用电脑进行输出与处理的。

并且,根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,其特征在于,其构成为:将玻璃基板进行移送的移送装置15;为拍摄上述玻璃基板10的左右角落而在左右各设一个的检测用摄像机21;用于支撑上述检测用摄像机21的摄像机支撑框;

位于通过上述移送装置进行移送的玻璃基板10的左右角落上方,并设在与检测用摄像机20镜头所指方向相一致的下方的同轴照明装置31;

沿着用于移送上述玻璃基板10的移送装置15左右侧面按“l”字形设置,并将上述同轴照明装置31发射的光进行反射的反射板装置41,

特征在于,上述移送装置15的宽比上述玻璃基板10的宽小。

根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,无需暂停移送玻璃基板,即可连续检测玻璃基板表面与角落部分有无缺陷,因此可减少检测时间及检测方法上的损失并提高生产效率,而具备显著效果。

根据本发明,将检测对象玻璃基板表面及角落部分进行拍摄的拍摄影像与事先保存的正常玻璃基板的原本影像图案信息相比较,而检出有无裂缝等缺陷,从而工作者无需一一肉眼确认玻璃基本表面及角落部分有无缺陷,即可准确检出细微裂缝,而具备显著效果。

附图说明

图1是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的斜视图。

图2是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的正面观主视图。

图3是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的在上方俯视的平面图。

图4是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的斜视图。

图5是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的在上方俯视的平面图。

图6是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的正面观主视图。

附图标记

10:玻璃基板20:检测用摄像机

30:同轴照明装置40:反射板装置

100:控制装置120:识别用电脑

具体实施方式

下面参照附图详细说明本发明的优选实施例、优点及特征等。

图1是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的斜视图。

参照图1,根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,其构成为:为检测玻璃基板10表面的缺陷而移送玻璃基板的移送装置;用于拍摄玻璃基板10表面的多个检测用摄像机20;将检测用摄像机20排一列进行支撑的摄像机支撑框;位于通过移送装置移送的玻璃基板10的表面上方,并在检测用摄像机20仅下方即、面阵摄像机20的镜头所指方向相一致的下方,相隔一定距离设置的同轴照明装置30;在同轴照明装置30下方设置的视点35;以及位于通过移送装置移送的玻璃基板10的下方,并与检测用摄像机20与上述同轴照明30设在同一垂直线上,将同轴照明装置发射的光进行反射的反射板装置40。

并且,包括:用于感知玻璃基板10的进入及送出的传感器;感知玻璃基板10进入及送出信号,并根据所感知信号而调节检测用摄像机20拍摄时间的电路或电脑程序所包含的控制装置100;将通过检测用摄像机20拍摄的玻璃基板10表面缺陷进行识别的电路或程序所加载的识别用电脑120。

根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置中,作为检测玻璃基板10表面缺陷的对象玻璃基板10,优选使用大小比较大的大型玻璃基板。然而,玻璃基板10的移送方向的宽,并不限于特定宽,可随便变形。

根据本发明的同轴照明装置30,作为长度方向延伸的立方体形状的照明装置,具有在内部设有多个led且在内部所设led放射的光可均匀地朝外放射的结构,且沿着本发明检测用摄像机20镜头所指方向具备所定宽,并发挥通过较长延伸的透明的光排出部对玻璃基板10发射均匀的 照明的功能。

根据本发明的反射板装置40,设在移送的玻璃基板10下方,发挥将同轴照明装置30发射的光朝玻璃基板10方向反射,而提高通过检测用摄像机20检出玻璃基板10表面缺陷的效果的功能。

如图1的实施例所示,通过玻璃基板10移送装置而玻璃基板10移送,传感器感知玻璃基板10的进入,所感知信号传送到控制装置100,控制装置100将传感器所感知信号延迟而转变成摄像机触发信号而启动摄像机。

根据本发明的控制装置100,将摄像机启动触发信号传送到与同轴照明装置30所面向的上端的摄像机支撑框上所设检测用摄像机20,通过检测用摄像机20逐步拍摄玻璃基板10表面而检测有无缺陷。

根据本发明的传感器,优选为可感知如玻璃基板10一样反射率较低(透明度较高)的物体的光电传感器。

根据本发明的各个检测用摄像机20都用光缆相连,将所拍摄影像信号传送到识别用电脑120。

图2是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的正面观主视图。图3是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的在上方俯视的平面图。

利用根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置而检出玻璃基板10表面缺陷的工序,通过在识别用电脑120所设置的程序进行,检测玻璃基板10缺陷的程序,主要包括:通过检测用摄像机20拍摄玻璃基板10的步骤;将上述拍摄影像转变为数字编码的步骤;将上述数字编码与正常数据进行数学上比较运算的步骤;以及当上述数学上比较运算值超过使用者指定的许可范围时发出警告的步骤。

通过根据本发明的检测用摄像机20拍摄的影像,通过识别用电脑120同步转变为数字编码,从而能够判断玻璃基板10表面有无缺陷及破损等。

根据本发明,将检测对象玻璃基板10拍摄而输入的影像转变为数字 编码等数字,并将其与事先输入的正常的玻璃基板10数据同步进行数学上比较运算,并确认其差异而当其差异超过使用者指定许可范围以上时,判断玻璃基板10表面存在超过误差范围的缺陷问题,而警告工作者。

正常的玻璃基板数据是指表面没有缺陷的玻璃基板10经过根据本发明的利用同轴照明装置与反射板装置的玻璃基板检测装置时,通过根据本发明的检测用摄像机20拍摄的影像的数字编码转换值。

在根据本发明的识别用电脑120上,工作者可视觉上确认检测用摄像机20拍摄的玻璃基板10影像。

根据本发明的控制装置100,传感器感知玻璃基板10的进入及送出而控制检测用摄像机20及同轴照明装置30的运行,根据本发明的识别用电脑120,将检测用摄像机20拍摄的影像转变为数字编码或进行数学上运算等检测玻璃基板10表面有无缺陷的全部工作进行控制。

按如下顺序进行检测根据本发明的玻璃基板10表面有无缺陷的工作。

首先,玻璃基板10放在移送装置上而为检测玻璃基板表面有无缺陷而进行移送。在玻璃基板10进入的地方通过传感器感知玻璃基板10上端的进入,感知的信号传送到控制装置100,控制装置100则启动同轴照明装置30与同轴照明装置30上端的检测用摄像机20。

拍摄本发明玻璃基板10表面的一部分并传送到识别用电脑120,在识别用电脑120上转变为数字编码,并通过数学运算而确认所拍摄玻璃基板10表面一部分有无缺陷。

接着按相同方式通过玻璃基板10移送装置略微移动并停止,通过检测用摄像机20拍摄移动部分的玻璃基板10表面,拍摄的影像信号传送到识别用电脑120,并在识别用电脑120上转变为数字编码,并通过数学运算继续确认所拍摄玻璃基板10表面一部分有无缺陷。

根据本发明的检测用摄像机20与同轴照明装置30的启动时间,可通 过控制装置100而程序化为可参照玻璃基板10移送速度进行触发(trigger)。

下面,参照附图说明另一实施例即用于检测玻璃基板左右角落部分缺陷等的玻璃基板检测装置。

图4是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的斜视图。图5是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的在上方俯视的平面图。

参照图4及图5,根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,构成为:将玻璃基板进行移送的移送装置15;为拍摄玻璃基板10的左右角落而在左右各设一个的检测用摄像机21;用于支撑检测用摄像机21的摄像机支撑框;位于通过移送装置进行移送的玻璃基板10的左右角落上方,并设在与检测用摄像机20镜头所指方向相一致的下方即、与检测用摄像机21镜头所指方向相一致的下方,与镜头相隔一定间隔左右各设置的同轴照明装置31;沿着用于移送玻璃基板10的移送装置15左右侧面按“l”字形设置,并将同轴照明装置31发射的光进行反射的反射板装置41。

本发明移送装置15的宽比玻璃基板10的宽小,因此沿着移送装置15左右侧面设置的反射板装置41反射的光,便于照射玻璃基板10两侧的角落部分。

图6是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的正面观主视图。

参照图6,根据本发明另一实施例的检测用摄像机21镜头指向玻璃基板10左右角落,并与镜头相隔一定间隔在左右设置同轴照明装置31,并且移送装置15的宽比玻璃基板10的宽小,因此沿着移送装置15左右侧面设置的反射板装置41反射同轴照明装置31所发射的光到玻璃基板10两侧的角落部分。

随然用特定词汇记述了本发明的优选实施例,但这些记述只是为了进行说明,在不超出下述权利要求书的技术思想及范围的情况下可进行多种多样变更及改变。

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