1.一种用于集成电路检测的预处理装置，包括检测机架(10)，其特征在于：
还包括设置在所述检测机架(10)上的夹持机构(20)、检测机构(30)和翻转机构(40)；
所述夹持机构(20)包括相对设置的一对夹持板(21)、与所述夹持板固定连接的转动球(22)，所述夹持板(21)上成型有用于夹持集成电路板的夹持槽(211)，一对夹持板(21)上的夹持槽(211)相对设置，所述转动球(22)上成型有环槽(221)，检测机架(10)上成型有上下设置的插块(11)，所述插块插接在所述环槽(221)的上端和下端，环槽(221)的上端内壁和下端内壁上分别螺接有一对球头柱塞(222)，插块(11)的一端侧壁上成型有插接槽(111)，所述球头柱塞(222)的球头嵌套在对应的插接槽(111)内；
所述检测机构(30)包括发射器(31)和接收器(32)，所述发射器(31)和接收器(32)分别设置在与一对夹持板(21)相对应的检测机架(10)上，发射器(31)和接收器(32)位于夹持板(21)的上方；
所述翻转机构(40)包括固定在检测机架(10)上的弧形内齿圈导轨(41)、与所述弧形内齿圈导轨啮合的小齿轮(42)、驱动所述小齿轮转动的驱动电机(43)、与所述驱动电机固定连接的翻转架(44)和设置在所述翻转架一端的夹块(45)，所述弧形内齿圈导轨(41)横跨在夹持机构(20)的上方，夹块(45)上成型有用于夹持集成电路板的夹槽(451)，所述夹槽与夹持板(21)的夹持槽(211)相对应，所述驱动电机(43)与检测机构(30)的接收器(32)相连接。
2.根据权利要求1所述的用于集成电路检测的预处理装置，其特征在于：所述驱动电机(43)的输出轴与小齿轮(42)的中部一端固定连接，小齿轮(42)的中部另一端固定连接有转轴(46)，所述转轴的一端铰接在所述翻转架(44)上。
3.根据权利要求1所述的用于集成电路检测的预处理装置，其特征在于：所述夹持板(21)的一端成型有连接轴(23)，所述连接轴与转动球(22)固定连接。
4.根据权利要求1所述的用于集成电路检测的预处理装置，其特征在于：所述发射器(31)和接收器(32)分别固定在与一对夹持板(21)对应的上方的插块(11)上。
5.根据权利要求1或4所述的用于集成电路检测的预处理装置，其特征在于：所述发射器(31)为红外线发射器，所述接收器(32)为红外线接收器。
6.根据权利要求1所述的用于集成电路检测的预处理装置，其特征在于：所述夹持板(21)的夹持槽(211)和夹块(45)的夹槽(451)的高度相同且与集成电路板的厚度相等。
7.根据权利要求1所述的用于集成电路检测的预处理装置，其特征在于：所述一对夹持板(21)的夹持槽(211)之间的最短距离不大于集成电路板的宽度。