技术总结
本发明公开了一种用于集成电路检测的预处理装置，包括检测机架，还包括设置在检测机架上的夹持机构、检测机构和翻转机构；夹持机构包括相对设置的一对夹持板、与夹持板固定连接的转动球，夹持板上成型有夹持槽，转动球上成型有环槽，检测机架上成型有上下设置的插块，环槽的上端内壁和下端内壁上分别螺接有一对球头柱塞，插块的一端侧壁上成型有插接槽，球头柱塞的球头嵌套在对应的插接槽内；检测机构包括发射器和接收器；翻转机构包括固定在检测机架上的弧形内齿圈导轨、与弧形内齿圈导轨啮合的小齿轮、驱动小齿轮转动的驱动电机和夹块。本发明能在工业相机检测前对集成电路板进行预处理，从而保证集成电路板正面朝上。
技术研发人员：王文庆
受保护的技术使用者：王文庆
文档号码：201610708164
技术研发日：2016.08.23
技术公布日：2017.01.11