水分及挥发物分析器的制作方法

文档序号:12112097阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种挥发物含量分析仪器,其包括:

腔;

天平,所述天平的至少天平盘在所述腔中;

红外线源,所述红外线源被定位成将红外线射线引导到所述腔中;以及

透镜,所述透镜在所述红外线源和所述天平盘之间,用于更有效率地将红外线射线引导到所述天平盘上的样品。

2.根据权利要求1所述的仪器,其特征在于,所述透镜包括被定位在所述红外线源和所述天平盘之间的反射准直仪。

3.根据权利要求2所述的仪器,其特征在于,

所述仪器包括微波源,所述微波源产生频率与所述红外线源产生的红外线频率不同的微波射线并将该微波射线引导到所述腔中;并且

所述准直仪为金属开口,该金属开口具有阻止所述微波源产生的微波通过所述准直仪的开口离开所述腔的尺寸。

4.根据权利要求1所述的挥发物含量分析仪器,其特征在于,所述透镜具有阻止所述源产生的且被引导到所述腔的频率的微波离开所述腔的尺寸。

5.根据前述权利要求中任一项所述的仪器,其特征在于,所述仪器还包括红外线温度检测器,所述红外线温度检测器被定位成对所述天平盘上的样品测温。

6.根据权利要求5所述的仪器,其特征在于,所述仪器还包括处理器,所述处理器与所述红外线源、所述微波源和所述温度检测器通信,用于响应于所检测的温度使对样品施加的射线适度。

7.根据权利要求4所述的仪器,其特征在于,所述透镜为金属开口,该金属开口具有阻止所述微波源产生的微波通过所述透镜离开所述腔的尺寸。

8.根据权利要求4所述的仪器,其特征在于,所述透镜包括多个邻接的单元,该多个邻接的单元两端开口并且在所述腔的壁中定向成各所述单元的两开口端沿着从所述红外线源到所述天平盘的光路大致对齐;

所述单元的内壁具有足够镜面化以反射由所述红外线源产生的红外线频率的电磁射线的表面;并且

所述单元具有足够使由所述源产生的且传播到所述腔的微波频率衰减的长度与开口比率。

9.根据权利要求4所述的仪器,其特征在于,所述仪器还包括被定位成将来自所述源的红外线射线引导到所述透镜的红外线反射器。

10.一种干燥损失含量的测量方法,其包括:

使红外线射线朝向包含挥发物的样品准直;以及

同时向同一样品传播微波频率。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法还包括通过微波衰减器准直所述红外线射线,该微波衰减器被成比例地尺寸化以使同时传播的微波频率衰减。

12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法还包括测量由加热后的样品产生的红外线射线;以及

响应于所测量的加热后的样品的红外线射线来调整从由准直后的红外线射线、所传播的微波以及它们的组合所组成的组选择的因子。

13.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法还包括从由以下步骤组成的组中选择的至少一个步骤:

在准直步骤和微波传播步骤之前称重所述样品;

在准直步骤和微波传播步骤过程中称重所述样品;以及

当所述样品干燥时称重所述样品。

14.一种组合的红外线准直仪和微波衰减器,其包括:

多个邻接的单元,所述多个邻接的单元两端开口并且定向成各所述单元的两开口端实质彼此平行地大致对齐;

所述单元的内壁具有足够镜面化以反射红外线频率的电磁射线的表面;并且

所述单元具有足够使微波频率范围内的电磁射线衰减的长度与开口比率。

15.根据权利要求14所述的组合的红外线准直仪和微波衰减器,其特征在于,

所述单元由金属形成;

所述内壁的表面将反射波长在大约3微米和1毫米之间的红外线辐射;以及

所述单元将使波长在大约1毫米和1米之间的微波辐射衰减。

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