指纹辨识电子组件测试装置及其测试设备的制作方法

本发明是关于一种指纹辨识电子组件测试装置及其测试设备，尤指一种利用移动载台及缓冲模块改善测试效率的指纹辨识电子组件测试装置及其测试设备。

背景技术：

日常生活中充斥着各种电子产品，每一种电子产品均利用半导体组件来达到特定的功能，例如以发光二极管来照明，以温度传感器及压力传感器来测量外界环境变化等，而在半导体组件搭载于产品前，需要经过信赖性测试及功能性测试等来确保半导体组件的功能可以正常发挥。

在指纹辨识电子组件的功能测试方面，一般来说，具有指纹辨识功能的半导体组件在经过射出成形、切割及取放至料盘等半导体封装工艺后，才开始对单颗电子组件进行指纹辨识的功能测试。

在将单颗电子组件由料盘取出并置放到测试设备时，必须使用真空吸附设备来移载电子组件，电子组件在吸附及移载过程中，容易因为不适当的吸附力而飞出，造成电子组件损坏及良率下降，且由于现今电子产品追求轻薄短小的趋势，电子产品内的电子组件尺寸也随着缩小尺寸设计，小尺寸的单颗电子组件在吸附及移载过程中更容易飞出，且于测试设备中的定位也更加困难。

因此，为了解决上述问题，本发明人基于积极发明创作的精神，构思出一种指纹辨识电子组件测试装置及其测试设备，利用指压模块、测试基座及移动载台的结构设计，可使待测组件(deviceundertest)以基板(substrate)形式进行测试，达到提高指纹辨识电子组件测试效率的目的，几经研究实验终至完成本发明。

技术实现要素：

本发明的主要目的在于解决上述问题，提供一种指纹辨识电子组件测试装置及其测试设备，达到提高指纹辨识电子组件测试效率的目的。

为达成上述目的，本发明的指纹辨识电子组件测试装置包括有：一指压模块、一测试基座及一移动载台。指压模块可于垂直方向移动，包括有一驱动部、多个导电弹性压头及多个容置孔，驱动部可驱动多个导电弹性压头动作，多个导电弹性压头可对应多个容置孔，测试基座具有多个测试凸部，多个测试凸部可对应多个导电弹性压头，移动载台可设置于指压模块及测试基座之间，并于水平方向及垂直方向移动，包括有用以置放一待测组件集成，穿设移动载台且呈中空的多个容置槽，而多个容置槽可容置多个测试凸部。

本发明的指纹辨识电子组件测试装置还可包括一测试载板，测试基座可设置于测试载板上，通过测试载板连接一指纹辨识信号分析设备来测试电子组件的指纹辨识功能。

上述测试凸部穿设多个测试端子，且多个测试端子连接于测试载板，测试凸部的高度可与移动载台的检测区的高度相同，从而使待测组件集成能与多个测试端子精准对位。

上述移动载台还可包括有多个围绕待测组件集成设置的定位销，指压模块还包括多个容置多个定位销的定位孔，从而，多个定位销得以定位待测组件集成。

上述指压模块还可包括多个对应待测组件集成的真空吸附部，从而，指压模块可进行待测组件集成的取放作业。

上述指压模块还可包括一连接驱动部的推板，推板可连接一容设座，用以置放多个导电弹性压头，驱动部可为一气压缸并配合推板，提供多个导电弹性压头平均的压力，进行待测组件集成的压测作业。

本发明的指纹辨识电子组件测试设备包括有：一进料模块、一移载模块、一指纹辨识电子组件测试装置、一缓冲模块、一处理器(handler)及一出料模块。进料模块可进行待测组件集成的进料作业，移载模块可接收进料模块的待测组件集成并进行移载作业，指纹辨识电子组件测试装置可设置于一测试区，进行待测组件集成的取放作业及压测作业，包括有一指压模块、一测试基座及一移动载台，指压模块可于垂直方向移动，包括有一驱动部、多个导电弹性压头、多个容置孔及多个真空吸附部，驱动部可驱动多个导电弹性压头动作，多个导电弹性压头可对应多个容置孔，测试基座具有多个测试凸部，多个测试凸部可对应多个导电弹性压头，移动载台可设置于指压模块及测试基座之间，并于水平方向及垂直方向移动，包括有用以置放待测组件集成，穿设移动载台且呈中空的多个容置槽，多个容置槽可容置多个测试凸部，缓冲模块可于移载模块及测试区之间移动，处理器可于移载模块及缓冲模块之间移动并进行待测组件集成的取放作业，出料模块可接收移载模块的待测组件集成并进行出料作业。

本发明还可包括一对应待测组件集成的二维条形码读取器(2dcodereader)，用以分辨待测组件集成的编号。

上述移动载台还可包括有多个围绕待测组件集成设置的定位销，指压模块还可包括多个容置多个定位销的定位孔，从而，多个定位销得以定位待测组件集成。

上述指压模块还可包括一连接驱动部的推板，推板可连接一容设座，用以置放多个导电弹性压头，驱动部可为一气压缸并配合推板，提供多个导电弹性压头平均的压力，进行待测组件集成的压测作业。

上述指纹辨识电子组件测试装置还可包括一设置于测试区的测试载板，测试基座可设置于测试载板上，从而连接一指纹辨识信号分析设备来测试电子组件的指纹辨识功能。

上述测试凸部穿设多个测试端子，且多个测试端子连接于测试载板，测试凸部的高度可与移动载台的检测区的高度相同，从而使待测组件集成能与多个测试端子精准对位。

上述缓冲模块还可包括有两个置放待测组件集成的缓冲区，从而提升电子组件的测试效率。

以上概述与接下来的详细说明，均为示范性质，是为了进一步说明本发明的申请专利范围，为使本发明的上述目的、特性与优点能更浅显易懂，将在后续的说明与图示加以阐述。

附图说明

图1是本发明的指纹辨识电子组件测试装置的立体结构示意图。

图2是本发明的指纹辨识电子组件测试装置的另一视角的立体结构示意图。

图3a至图3e是本发明的指纹辨识电子组件测试装置的测试流程动作示意图。

图4a至图4c是本发明的指纹辨识电子组件测试装置的另一测试流程动作示意图。

图5是本发明的指纹辨识电子组件测试设备的构成示意图。

【符号说明】

10指纹辨识电子组件测试装置

101指压模块1010推板

1011驱动部1012导电弹性压头

1012a卡环1013容置孔

1014定位孔1014a第一定位孔

1014b第二定位孔1015真空吸附部

1016容设座

102测试基座1021测试凸部

1021a～1021c基座1022测试端子

103移动载台1031检测区

1032容置槽1032a～1032e贯孔

1033定位销

104测试载板

105待测组件集成

20进料模块30移载模块

40缓冲模块50处理器

60出料模块70指纹辨识信号分析设备

80二维条形码读取器

a1测试区a2，a3缓冲区

h1，h2高度

r1第一区r2第二区

r3第三区r4第四区

r5第五区

x，y，z方向轴

具体实施方式

参阅图1、图2及图3a至图3e，其分别为本发明的指纹辨识电子组件测试装置的立体结构示意图、另一视角的立体结构示意图及测试流程动作示意图。

本发明的指纹辨识电子组件测试装置10包括有：一指压模块101、一测试基座102、一移动载台103、一测试载板104及一待测组件集成105。

指压模块101于垂直方向移动，包括有推板1010、一驱动部1011、多个导电弹性压头1012、多个容置孔1013、多个定位孔1014及多个真空吸附部1015及一容设座1016，驱动部1011连接推板1010，而推板1010连接容设座1016，其容设座1016穿设多个导电弹性压头1012，多个导电弹性压头1012设有卡环1012a，多个导电弹性压头1012可固定于推板1010与容设座1016之间，从而指压模块101的驱动部1011可控制多个导电弹性压头1012的移动位置，多个导电弹性压头1012对应多个容置孔1013并可容置于多个容置孔1013之内，测试基座102具有多个测试凸部1021，多个测试凸部1021对应多个导电弹性压头1012，移动载台103设置于指压模块101及测试基座102之间，并于水平方向及垂直方向移动，包括有一检测区1031、多个容置槽1032及多个定位销1033，多个容置槽1032用以置放待测组件集成105，其穿设移动载台103且呈中空，多个容置槽1032容置多个测试凸部1021，其中测试凸部1021穿设多个测试端子1022连接于测试载板104上，多个定位销1033环设于待测组件集成105周围，且多个定位销1033在压测作业进行时，其定位销1033容置于多个定位孔1014的第一定位孔1014a或第二定位孔1014b内，而测试基座102设置于测试载板104上。

需要说明的是，此处的待测组件集成105为基板形式的片状(strip)型态，一般待测组件为切割并分离后的单颗电子组件，而待测组件集成105上的多个电子组件尚未进行切割分离作业，也就是说，待测组件集成105对应于指压模块101的表面上具有数组式(array)排列的多个电子组件，而待测组件集成105朝向移动载台103方向的表面上，则是具有对应多个电子组件的电气接点(图未示)。

在压测作业进行时，指压模块101可沿垂直方向的方向轴z进行移动，而移动载台103可沿水平方向的方向轴x，y及垂直方向的方向轴z进行移动，待测组件集成105置放于检测区1031，多个真空吸附部1015及二维条形码读取器对应检测区1031设置，而测试基座102及测试载板104为固定不动。

配合图3a至图3e依序说明指纹辨识电子组件测试装置10的测试流程动作方式，在此为方便说明，图3a至图3e的上下方向是指沿图1所示方向轴z的移动，左右方向是指沿图1所示方向轴x的移动。

如图3a所示，在待机状态时指压模块101、测试基座102及移动载台103为分离，待测组件集成105通过指压模块101的多个真空吸附部1015置放于检测区1031上，由于移动载台103具有多个定位销1033，片状型态的待测组件集成105可通过多个定位销1033容易地定位于预定进行测试的位置。

当压测作业进行时，如图3b所示，指压模块101朝下方移动，使指压模块101的底侧抵靠于待测组件集成105处，接下来，如图3c所示，指压模块101及移动载台103同时朝下方移动，使测试凸部1021容置于容置槽1032的贯孔1032a，1032c，1032e内，而测试凸部1021的高度h1，是与移动载台103的检测区1031的高度h2相同，致使移动载台103的容置槽1032设于测试凸部1021的高度位置一致，从而，移动载台103与测试凸部1021能形成一水平表面，置放待测组件集成105，使测试凸部1021上的多个测试端子1022精准地与待测组件集成105的电气接点连接，然后如图3d所示，利用气压缸动作的驱动部1011将多个导电弹性压头1012下压，并使多个导电弹性压头1012与对应贯孔1032a，1032c，1032e位置的待测组件集成105的感测部连接，此时，导电弹性压头1012、待测组件集成105及测试凸部1021成为电气连接状态，通过与测试凸部1021连接的测试载板104，将感测部的指纹辨识信号传递至一指纹辨识信号分析设备(图未示)，即可测得待测组件集成105上对应贯孔1032a，1032c，1032e位置处的多个电子组件的指纹辨识信号是否正常。

接下来，为了测试待测组件集成105上对应贯孔1032b，1032d位置处的多个电子组件，如图3e所示，指压模块101朝上方移动的同时，驱动部1011也将多个导电弹性压头1012收起，而移动载台103朝上方移动后，会再朝左方移动一预定距离，使位于贯孔1032b，1032d位置处的多个电子组件可与多个导电弹性压头1012及多个测试凸部1021对位，再进行如图3a至图3d的测试流程，以完成待测组件集成105上所有电子组件的指纹辨识信号测试，从而，本发明的指纹辨识电子组件测试装置10可以有效率地进行待测组件集成105的指纹辨识测试作业。

参阅图4a至图4c，其为本发明的指纹辨识电子组件测试装置的另一测试流程动作示意图，在此为方便说明，仅从俯视视角对待测组件集成105及测试凸部1021的相对位置进行说明，指压模块101及移动载台103的动作方式由上述图3a至图3e的说明可得知，因此不再赘述。

如图4a所示，待测组件集成105上的电子组件数量共90个，并形成第一区r1、第二区r2、第三区r3、第四区r4及第五区r5，且各区的电子组件数量为18个，测试凸部1021的基座1021a，1021b，1021c分别可一次对18个电子组件进行测试，在待机状态时待测组件集成105及基座1021a，1021b，1021c为分离，开始进行测试时，如图4b所示，通过移动载台103使第五区r5与基座1021a进行对位并测试，第五区r5的测试完成后，如图4c所示，再以移动载台103使第三区r3与基座1021a及第五区r5与基座1021b进行对位及测试，并重复上述对位方式进行测试，因此可知，通过图4a至图4c的测试流程可对第五区r5的电子组件进行交叉测试，通过基座1021a，1021b对第五区r5的重复测试，可以提高测试的信赖度。

由上述内容可知，通过指压模块101及移动载台103的设计，可对片状基板上的多个电子组件同时进行测试，导电弹性压头1012、容置孔1013、测试凸部1021及容置槽1032的数量也可对应电子组件的数量变化，以定位销1033对整片待测组件集成105进行定位，不会产生因电子组件尺寸过小而不易定位的问题，且进行测试时是对整片待测组件集成105进行真空吸附及取放，不会产生因电子组件尺寸过小而容易于吸附时飞出的问题，因而改善了测试效率。

参阅图5并配合图1及图3a，图5为本发明的指纹辨识电子组件测试设备的构成示意图，本发明的指纹辨识电子组件测试设备包括有：一指纹辨识电子组件测试装置10、一进料模块20、一移载模块30、一缓冲模块40、一处理器50、一出料模块60、一指纹辨识信号分析设备70及一二维条形码读取器80。

指纹辨识电子组件测试装置10设置于一测试区a1，进行待测组件集成105的取放作业及压测作业，包括有一指压模块101、一测试基座102、一移动载台103及一测试载板104，指压模块101于垂直方向移动，包括有一推板1010、一驱动部1011、多个导电弹性压头1012、多个容置孔1013、多个定位孔1014、多个真空吸附部1015及一容设座1016，驱动部1011连接推板1010，而推板1010连接容设座1016，其容设座1016穿设多个导电弹性压头1012，多个导电弹性压头1012设有卡环1012a，多个导电弹性压头1012可固定于推板1010与容设座1016之间，从而指压模块101的驱动部1011可控制多个导电弹性压头1012的移动位置，多个导电弹性压头1012对应多个容置孔1013，测试基座102设置测试载板104上并具有多个测试凸部1021，多个测试凸部1021对应多个导电弹性压头1012，移动载台103设置于指压模块101及测试基座102之间，并于水平方向及垂直方向移动，包括有一检测区1031、多个容置槽1032及多个定位销1033，多个真空吸附部1015及二维条形码读取器80对应检测区1031设置，多个容置槽1032用以置放待测组件集成105，其穿设移动载台103且呈中空，多个容置槽1032容置多个测试凸部1021，多个定位销1033环设于待测组件集成105周围，且多个定位销1033在压测作业进行时容置于多个定位孔1014的第一定位孔1014a或第二定位孔1014b内，测试载板104设置于测试区a1处，且测试基座102设置于测试载板104上。

进料模块20进行待测组件集成105的进料作业，移载模块30接收进料模块20的待测组件集成105并进行移载作业，缓冲模块40具有两个置放待测组件集成105的缓冲区a2，a3并于移载模块30及测试区a1之间移动，处理器50于移载模块30及缓冲模块40之间移动并进行待测组件集成105的取放作业，出料模块60接收移载模块30的待测组件集成105并进行出料作业，指纹辨识信号分析设备70分析指纹辨识电子组件测试装置10所测得的信号，从而，可提高待测组件集成105的测试速率。

详细而言，未测试的待测组件集成105由进料模块20输送到移载模块30，此时，缓冲模块40移动至靠近移载模块30处，并由处理器50将未测试的待测组件集成105取放至缓冲模块40的缓冲区a2，缓冲模块40移动至测试区a1处，并位于指压模块101及移动载板103之间，再以多个真空吸附部1015吸附缓冲区a2的未测试的待测组件集成105后，缓冲模块40移动至靠近移载模块30处，指纹辨识电子组件测试装置10即可进行如图3a至图3e或图4a至图4c所述的测试流程。

接下来，在测试流程进行的同时，处理器50将另一未测试的待测组件集成105由移载模块30取放至缓冲模块40的缓冲区a2，此时，指纹辨识电子组件测试装置10的测试流程已完成，指压模块101将完成测试的待测组件集成105吸附并上升，缓冲模块40移动至测试区a1处，并位于指压模块101及移动载板103之间，指压模块101将完成测试的待测组件集成105置放于缓冲区a3后，移动缓冲模块40使指压模块101可以吸附缓冲区a2的另一未测试的待测组件集成105，缓冲模块40再移动至靠近移载模块30处。

最后，指纹辨识电子组件测试装置10对另一未测试的待测组件集成105进行测试的同时，处理器50将缓冲区a3的完成测试的待测组件集成105置放于移载模块30后，将再一未测试的待测组件集成105由移载模块30取放至缓冲模块40的缓冲区a2，缓冲模块40移动至测试区a1处，并重复前述流程进行测试，完成测试的待测组件集成105则是从移载模块30输送到出料模块60，由出料模块60进行完成测试的待测组件集成105的出料作业。

由上述内容可知，本发明的指纹辨识电子组件测试设备可以在指纹辨识电子组件测试装置10进行测试的同时，通过缓冲模块40对未测试及完成测试的待测组件集成105进行移载，提升了指纹辨识电子组件的测试效率及测试产能。

上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请专利范围所述为准，而非仅限于上述实施例。