技术总结
本发明公开了一种介质材料测量件的校准方法、短路校准件、介质材料测量方法及装置，本发明中利用至少三个轴向长度不同的短路校准件分别与介质材料测量件连接，通过测量电路得到数据计算得到介质材料测量件的网络参数，再通过介质材料测量件与试验样品连接，通过测得的数据计算及查询数据库等方式得到试验样品的介电常数，介质材料测量装置可根据试验样品的尺寸，调整其与试验样品的连接方式，介质材料测量件的校准方法可校准介质材料测量件的网络参数，使介质材料测量装置在测量试验样品的介电常数时得到更准确的数值，同时介质材料测量装置可在不对试验样品进行破坏处理的情况下进行试验，适用性好。
技术研发人员：赖展军;王钦源
受保护的技术使用者：华南理工大学;京信通信系统（中国）有限公司;京信通信技术（广州）有限公司;京信通信系统（广州）有限公司;天津京信通信系统有限公司
文档号码：201611200873
技术研发日：2016.12.22
技术公布日：2017.03.15