技术总结
本实用新型属于集成电路芯片生产加工检测技术领域，公开了一种芯片自动检测装置，包括工作台、设置在所述工作台中间的机器人、控制模块，所述工作台的四周分别设置料仓和多个芯片检测盒，在所述料仓侧边通过相机支架设置视觉相机，所述料仓包括上料仓和下料仓，在所述料仓靠近所述机器人的一侧为上料工位，在所述上料工位的侧边设置废料盒。本实用新型实现了对芯片的检测的自动化，检测效率高，减少了人工干预带来的不利因素。
技术研发人员：任宁
受保护的技术使用者：上海恒浥智能科技股份有限公司
文档号码：201620014883
技术研发日：2016.01.08
技术公布日：2016.12.14