技术特征：
技术总结
为解决上述技术问题，本发明涉及一种测量设备领域，更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备，可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸，采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度，滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间，传感器滑动座与滑动块相连接，中间固定块与滑动块相连接，转动座与滑动块相连接，转动座与丝杠相连接，丝杠与轴承Ⅰ相连接，丝杠与螺母相连接，丝杠与轴承Ⅱ相连接；端盖与安装挡块Ⅰ相连接，定位板与滑动底座相连接，挡板与滑动块相连接，挡套Ⅰ与滑动块相连接，螺钉与测量底座相连接，顶丝与挡套Ⅱ相连接，齿轮与丝杠相连接，轴承挡环与安装挡块Ⅱ相连接，轴承Ⅰ位于丝杠与安装挡块Ⅱ之间。
技术研发人员：崔建勋
受保护的技术使用者：复朗施（北京）纳米科技有限公司
技术研发日：2017.05.11
技术公布日：2017.09.08