一种测量超细键合丝直径系统的制作方法

本实用新型涉及键合丝质量检测技术领域，尤其涉及一种测量超细键合丝直径系统。

背景技术：

目前的键合丝直径检测系统多样化，其中接触式测量主要是依靠人工测量方法，直接用测量仪器测量出电极丝直径的大小，然而人工测量方法实时性不好，费财耗力，实施起来也不方便，难以保证测量的精度，同时都存在线材被拉伸或线材卷曲或测量不准确的隐患。

技术实现要素：

本实用新型提供了一种测量超细键合丝直径系统，采用称量法计算线材直径，能够对超细键合丝进行直接测量，最细可测直径至13μm，同时通过恒微张力设定，进行自主放线，具有灵活、便利、成本低、易操作的优点，弥补现有计算的不足。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种测量超细键合丝直径系统，包括数显控制系统、截取台和计算机，还包括恒微张力装置、丝杠拉动装置、直线电位计和测量天平，所述的恒微张力装置包括第一辊轮、第二辊轮和线轴，所述的丝杠拉动装置包括移动螺母、电机和丝杠，所述的恒微张力装置设置在数显控制系统的一侧，丝杠拉动装置设置在截取台的内部，所述的移动螺母的上端与动线夹相连，下端与直线电位计相连，线轴上的线丝穿过恒微张力装置和截取台一端的静线夹后与动线夹相连接，静线夹和动线夹上分别设有一个切刀，截取后的线丝放在测量天平上进行测量，所述的测量天平设置在保护罩内。

作为本实用新型的一个优选的技术方案，所述的数显控制系统上设有触摸式控制屏，内部设有控制芯片。

作为本实用新型的一个优选的技术方案，所述的第一辊轮和第二辊轮分别通过可伸缩轴与数显控制系统中的张力传感装置相连。

作为本实用新型的一个优选的技术方案，所述的静线夹和动线夹内设有切刀的电动驱动装置。

作为本实用新型的一个优选的技术方案，所述的直线电位计为毫米级的位移测量装置，并与数显控制系统及电机的驱动系统相连接。

作为本实用新型的一个优选的技术方案，所述的测量天平为高精度测量天平，并通过数据线与计算机相连。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

采用称量法计算线材直径，能够对超细键合丝进行直接测量，最细可测直径至13μm，同时通过恒微张力设定，进行自主放线，具有灵活、便利、成本低、易操作的优点，弥补现有计算的不足。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例的结构示意图；

图2是本申请实施例的测量装置结构示意图。

图1-图2中：1、数显控制系统，2、第一辊轮，3、截取台，4、直线电位计，5、移动螺母，6、电机，7、丝杠，8、动线夹，9、线丝，10、切刀，11、静线夹，12、第二辊轮，13、线轴，14、保护罩，15、测量天平，16、计算机，17、数据线。

具体实施方式

本实用新型提供了一种测量超细键合丝直径系统，采用称量法计算线材直径，能够对超细键合丝进行直接测量，最细可测直径至13μm，同时通过恒微张力设定，进行自主放线，具有灵活、便利、成本低、易操作的优点，弥补现有计算的不足。

为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。

如图1-图2所示，本实施例所述的一种测量超细键合丝直径系统，包括数显控制系统1、截取台3和计算机16，还包括恒微张力装置、丝杠拉动装置、直线电位计4和测量天平15，所述的恒微张力装置包括第一辊轮2、第二辊轮12和线轴13，所述的丝杠拉动装置包括移动螺母5、电机6和丝杠7，所述的恒微张力装置设置在数显控制系统1的一侧，丝杠拉动装置设置在截取台3的内部，所述的移动螺母5的上端与动线夹8相连，下端与直线电位计4相连，线轴13上的线丝9穿过恒微张力装置和截取台3一端的静线夹11后与动线夹8相连接，静线夹11和动线夹8上分别设有一个切刀10，截取后的线丝9放在测量天平15上进行测量，所述的测量天平15设置在保护罩14内。

其中，在实际应用中，所述的数显控制系统1上设有触摸式控制屏，内部设有控制芯片，可以通过控制屏输入需要截取的长度，然后控制芯片发出指令，由电机6带动动线夹8进行移动，将线丝9拉出设定长度后进行截取。

其中，在实际应用中，所述的第一辊轮2和第二辊轮12分别通过可伸缩轴与数显控制系统1中的张力传感装置相连，在拉动的过程中由恒微张力装置对线丝9上的张力进行测量，并通过调节两个辊轮之间的角度来保持张力恒定，避免线丝9发生卷曲，对测量产生较大的误差。

其中，在实际应用中，所述的静线夹11和动线夹8内设有切刀10的电动驱动装置，当直线电位计4测量到位移量达到设定值后，控制系统控制切刀10动作，截取设定长度的线丝9。

其中，在实际应用中，所述的直线电位计4为毫米级的位移测量装置，并与数显控制系统1及电机6的驱动系统相连接，最细可测直径至13μm，具有灵活、便利、成本低、易操作的优点，弥补现有计算的不足。

其中，在实际应用中，所述的测量天平15为高精度测量天平，并通过数据线17与计算机16相连，由计算机16自动提取称量数值，采用称量法计算线丝9的直径。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。