一种基准电压通用测试装置的制作方法

本实用新型涉及测试装置技术领域，特别是指一种基准电压通用测试装置。

背景技术：

当前随着科学的发展，各种测试系统的功能越来越强大、全面。但是也给小部件的测试尤其是模块化的测试带来了问题，例如对于一个功能全面的测试系统，基于普遍性与通用性，测试系统的结构设置成可以与不同器件连接的方式，虽然使得不同器件均能实现不同的测试目的，但是每次测试不同器件时，均需要逐个管脚依次与测试系统连接，不仅费时费力，而且容易出现人工误差，导致测试的失误。因此在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下缺陷：对于器件的功能测试尤其是基准电压测试的效率和准确性不高。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种基准电压通用测试装置，在利用现有测试装置的基础上，提高器件基准电压的测试效率和准确性。

基于上述目的本实用新型提供的一种基准电压通用测试装置，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统：所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的器件通过器件管脚与测试插座连接；其中，所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的器件管脚匹配的接口；

所述待测试的器件通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成器件的基准电压测试。

可选的，所述测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组。

可选的，所述测试插座中设置有扳手结构和铜片；其中，所述扳手结构用于通过按压铜片进而控制器件管脚与测试插座的连接强度。

可选的，待测器件的接地端通过至少一个继电器与集成电路测试系统连接。

可选的，还包括转接插座；所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统连接。

可选的，所述测试插座中设置有与待测器件对应的凹槽结构，用于对待测器件进行定位和保护。

可选的，所述测试电路板中还设置有校验电路结构，用于接收同一待测器件的管脚信号并连接到集成电路测试系统的不同单元中，同时实现待测器件的测试和校验。

可选的，所述测试电路板和/或所述测试插座的接口设置为弹性锁紧结构，其中，所述弹性锁紧结构为在接口位置相应设置有弹性结构，用于使得插入接口中的管脚或者插头固定锁紧。

可选的，所述集成电路测试系统为AMIDA 3KS测试系统。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的基准电压通用测试装置通过在测试电路板上设计与集成电路测试系统配合的接口将集成电路测试系统的接口转化为在测试电路板上对应预定待测目标的标准接口，通过测试插座将不同型号大小的待测器件的连接转化为测试插座与测试电路板对应的插接式接口，使得针对于不同型号大小的待测器件的基准电压的测试能够通过测试电路板与测试插座的配合实现快速连接，进而提高待测器件的测试效率，尤其是进行批量测试时，只需要预先将测试电路板与集成电路测试系统连接，然后就可以根据需要将待测器件插入匹配的测试插座中，然后通过测试插座插接到测试电路板，实现与集成电路测试系统的连接。同时，基于所述测试电路板和测试插座将待测器件与集成电路测试系统的测试连接转化为标准的插口或者管脚的连接，避免了人工将管脚与集成电路测试系统的测试系统的连线连接，降低测试过程中的人工误差。因此，本申请所述的基准电压通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高器件基准电压的测试效率和准确性。

附图说明

图1为本实用新型提供的基准电压通用测试装置的一个实施例的结构示意图；

图2为本实用新型提供的测试电路板对应的电路框图；

图3为本实用新型提供的测试插座的一个实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

参照图1所示，为本实用新型提供的基准电压通用测试装置的一个实施例的结构示意图。基于现有的集成电路测试系统在考虑通用性的基础上缺乏针对某些器件的测试电路板或者测试结构，本申请提出一种改进的测试装置，能够在充分利用现有测试系统的基础上，实现器件基准电压的快速测试。具体的，所述基准电压通用测试装置，包括：测试插座1、测试电路板2以及集成电路测试系统3；其中，所述集成电路测试系统3属于原有测试系统，系统中包含器件基准电压测试的相关接口和功能。连接时，所述测试插座1通过所述测试电路板2与集成电路测试系统3连接，然后将待测试的器件通过器件管脚与测试插座1连接，进而实现待测试的器件与测试系统的连接。其中，所述测试电路板2的一侧设置有与集成电路测试系统3匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；也即，所述测试电路板2一方面根据已有集成电路测试系统3的接口位置、形式或结构等信息相应的设置有匹配的接口，使得将集成电路测试系统3中用于测试基准电压的相应接口转移到所述测试电路板2中。所述测试插座1的一端与所述测试电路板2连接，另一端设置有与待测试的器件管脚匹配的接口；其中，所述测试插座1中的接口使得待测试的器件能够快速稳定的插入到测试插座上，然后测试插座1又可以快速稳定的连接到测试电路板2中。使得待测试的器件通过测试插座1和测试电路板2与集成电路测试系统3中的相应测试接口实现快速稳定的连接，进而完成器件的基准电压测试。

由上述实施例可知，所述基准电压通用测试装置通过在测试电路板2上设计与集成电路测试系统3配合的接口将集成电路测试系统的接口转化为在测试电路板2上对应预定待测目标的标准接口，通过测试插座1将不同型号大小的待测器件的连接转化为测试插座1与测试电路板2对应的插接式接口，使得针对于不同型号大小的待测器件的基准电压的测试能够通过测试电路板2与测试插座1的配合实现快速连接，进而提高待测器件的测试效率，尤其是进行批量测试时，只需要预先将测试电路板2与集成电路测试系统3连接，然后就可以根据需要将待测器件插入匹配的测试插座1中，然后通过测试插座1插接到测试电路板2，实现待测器件与集成电路测试系统3的连接。同时，基于所述测试电路板2和测试插座1将待测器件与集成电路测试系统3的测试连接转化为标准的插口或者管脚的连接，避免了人工将管脚与集成电路测试系统3的测试系统的连线连接，降低测试过程中的人工误差。因此，本申请所述的基准电压通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高器件基准电压的测试效率和准确性。

在本申请一些可选的实施例中，所述测试电路板2中设置有多组与测试插座1匹配的接口组。也即，测试插座将集成电路测试系统3中用于测试基准电压的接口转化为多组接口组，这样一方面可以同时实现对多组待测器件的基准电压测试，另一方面，可以针对于不同的待测器件以及对应不同的测试插座，在测试电路板2上设置于不同测试插座匹配的接口组，使得同一个集成电路测试系统3以及测试电路板2能够实现对不同型号、大小器件的基准电压测试。

在本申请一些可选的实施例中，所述测试插座1中设置有扳手结构和铜片；其中，所述扳手结构用于通过按压铜片进而控制待测器件的管脚与测试插座的连接强度。也即在测试插座1对于与待测器件连接的位置设置有一个活动的铜片以及用于控制铜片的扳手结构，通过转动或者移动扳手结构能够将铜片压向待测器件，从而使得待测器件与测试插座1的连接更加稳定可靠。

参照图2所示，为本实用新型提供的测试电路板2对应的电路框图。也即，可以将测试电路板2与测试插座1看作标准可快速连接的接线，用于实现待测器件与集成电路测试系统的快速连接。原理在于将待测器件用于检测基准电压的接口相应的连接到集成电路测试系统中，由图可知，在某些实施例中，待测器件的接地端通过至少一个继电器与集成电路测试系统连接。其中，图中CH表示测试系统的各种通道或接口，当然还可以根据实际需要增加连接通道或者继电器等元件。

参照图1所示，在本申请一些可选的实施例中，装置中还包括转接插座4；所述测试电路板2通过所述转接插座4与集成电路测试系统3连接。这样，通过设计转接插座4，可以将测试电路板2设置为标准的通用测试板，而不需要考虑测试系统的结构、接口的差异，利用转接插座4与测试系统的接口进行匹配，这样，通过设置转接插口4，使得测试电路板2能够同时适用于不同的测试系统中，或者还可以通过使得转接插座4与集成电路测试系统3的固定连接，实现整个测试装置安装、测试以及拆卸的速度和效率。尤其是针对于批量测试以及利用不同测试系统的测试过程。

参照图3所示，为本实用新型提供的测试插座的一个实施例的结构示意图。所述测试插座1中设置有与待测器件对应的凹槽结构11，用于对待测器件进行定位和保护。所述凹槽结构11结构中设置有待测器件的器件管脚的插口12，用于使待测器件能够快速稳定的与测试插座1实现连接。这样还可以避免待测器件的器件管脚与测试插座1连接的错误，提高测试连接安装的稳定性和可靠性。

在本申请一些可选的实施例中，所述测试电路板2中还设置有校验电路结构，用于接收同一待测器件的管脚信号并连接到集成电路测试系统3的不同单元中，同时实现待测器件的测试和校验。也即，将同一个测试系统中的一组或者多组测试接口在测试电路板2中转化为不同的测试电路，部分作为测试电路另一部分作为校验电路，这样可以在进行器件基准电压测试的同时对测试结果进行校验，提高测试的准确性和可靠性。

在本申请一些可选的实施例中，所述测试电路板2和/或所述测试插座1的接口设置为弹性锁紧结构，其中，所述弹性锁紧结构为在接口位置相应设置有弹性结构，用于使得插入接口中的管脚或者插头固定锁紧。这样，在待测器件插入测试插座1中或者测试插座1插接到测试电路板2中时，弹性锁紧结构将会提供一个弹性压力，使得插口位置连接稳定可靠，提高测试连接的稳定性，减少测试误差。

优选的，弹性锁紧结构还可以设置为可控锁紧装置，也即在外部设置一个控制部件，用户可以控制弹性锁紧结构的锁紧或者放开，使得待测器件与测试插座或者测试插座与测试电路板的连接更为省力、便捷。

在本申请一些可选的实施例中，所述集成电路测试系统为AMIDA 3KS测试系统。

由上述实施例可知，本申请所述的基准电压通用测试装置将基准电压的参数测试所需资源集成到一块通用的测试板上，使得测试人员能够更方便的使用和测试，保证了基准电压测试的通用性和一致性。因此，本申请装置优化了复杂的设备资源，直接提供了电压基准类器件测试的所有必需资源，将资源简单直接地呈现在了程序开发者面前，对新手来说也更易上手操作。即保证了程序开发的一致性又提高了准确性。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本实用新型难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本实用新型难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本实用新型的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本实用新型的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本实用新型。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。

尽管已经结合了具体实施例对本实用新型进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态RAM(DRAM))可以使用所讨论的实施例。

本实用新型的实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。