一种改进的芯片测试夹具的制作方法

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种改进的芯片测试夹具。

背景技术：

在对芯片测试调试过程中，具体操作方式是在测试板卡上安装测试插座采用翻盖旋转式手动拧紧测试盖提供压力，保证芯片与测试插座的连接牢固性；对芯片量产测试时，实现机械手与测试无缝对接，具体做法是在测试板卡上安装量产测试插座，测试这插座连接对接板，通过对接板与测试插座相连，使芯片与测试插座连接后通过机械手上所连接的压板对被测芯片提高供压力与测试插座连接。

在对芯片量产生产后需要改为调试方式时，需要读测试版上的对接板和测试插座进行更换，操作较为复杂，影响对芯片量产调试效率，而且测试夹板对芯片与测试插座夹持牢固性不佳，影响对芯片测试效果。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种改进的芯片测试夹具，具备便于对芯片夹持固定在测试插座上，提高对芯片夹持牢固性，并便于根据对不同芯片批量测试更换对接板，提高对芯片测试调试效率的优点，解决了现有对芯片测试时夹持牢固性不高，以及对芯片批量调试更换对接板复杂，影响对芯片测试效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种改进的芯片测试夹具，包括测试底座、测试夹板和对接板，所述测试底座的端面上固定安装有测试插座，所述测试底座的端面上设置有定位柱，并对应定位柱的侧边开槽设置有卡位槽，所述对接板对应测试插座开设有通槽，所述对接板的底部端面对应定位柱开设有定位槽，并对应卡位槽固定设置有与对接板一体的卡位板，所述对接板通过定位槽和卡位板与测试底座端面的定位柱和卡位槽啮合安装，所述测试夹板通过转轴与测试底座的端面固定安装，所述测试夹板与转轴相对的端部固定安装有复位弹簧，所述测试底座对应复位弹簧的末端设置有固定槽，所述复位弹簧的末端固定安装在固定槽内部，所述复位弹簧复位后的长度与固定槽内深度一致。

优选的，所述测试底座对应转轴的安装处开设有安装槽，所述转轴的末端通过安装座与安装槽内部固定安装，所述安装座的末端通过复位弹簧二与安装槽内底部固定安装。在需要对芯板调试时，将对接板通过定位槽和卡位板与定位柱和卡位槽内部固定安装，测试夹板通过转轴对对接板上所连接的测试芯片固定，转轴安装端的安装座在安装槽内部受到测试夹板对对接板端面覆盖固定时的拉力从安装槽内部拉动上移，复位弹簧二辅助安装座在安装槽内部上移，对安装座上移出安装槽内部的位置限定，避免测试夹板对对接板端面的芯片夹持固定时呈上翘状影响对芯片的夹持效果。

优选的，所述转轴的外部通过扭簧与测试夹板的安装端固定连接。扭簧的扭力带动测试夹板通过转轴转动辅助复位弹簧对测试插座相连的芯片固定，提高测试夹板对测试插座上相连芯片的夹持的平衡性。

优选的，所述测试夹板与转轴相对端部的侧边固定操作把。对芯片与测试插座相连时，操作者通过操作把对测试夹板通过转轴呈上倾斜状打开测试夹板，将待测试的芯片与测试插座上固定相连后通过操作把对测试夹板辅助复位弹簧缓慢下移对芯板固定在测试底座上。

优选的，所述测试夹板与测试底座相对端面对应测试插座设置有硅胶结构的压板。测试夹板在度测试底座上待测试芯片与测试插座固定夹持时，压板与芯片的端面接触固定，通过压板提高芯片与测试插座连接牢固性的同时，硅胶结构的压板避免测试夹板对芯片夹持固定时造成损伤。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型对接板通过定位槽和卡位板与测试底座端面的定位柱和卡位槽固定安装，并在测试底座的上方通过转轴安装测试夹板，对芯片测试时，将测试夹板通过转轴倾斜，使用者将芯片的输出端与测试插座相连，松开对测试夹板的支撑，测试夹板通过复位弹簧的回缩弹力复位，并通过转轴转动对测试插座上相连的芯片与测试插座夹持固定，提高对芯片与测试插座相连的牢固性，需要对芯片批量性调试时，将测试夹板通过转轴倾斜，与芯片对应的对接板通过通槽与测试插座相连，通过对接板底部端面的定位槽和卡位板与测试底座端面的定位柱和卡位槽固定安装，待调试的芯片的输出端与对接板的输入端相连，松开对测试夹板的支撑，测试夹板通过复位弹簧的回缩弹力复位，并通过转轴转动对对接板上相连的芯片与测试插座夹持固定，提高对芯片批量调试的效率，以及对芯片调试时与对接板连接的稳定性。

2、本实用新型转轴通过安装座与安装槽内底部通过复位弹簧二固定安装，需要对芯板调试时，将对接板通过定位槽和卡位板与定位柱和卡位槽内部固定安装，测试夹板通过转轴对对接板上所连接的测试芯片固定，转轴安装端的安装座在安装槽内部受到测试夹板对对接板端面覆盖固定时的拉力从安装槽内部拉动上移，复位弹簧二辅助安装座在安装槽内部上移，对安装座上移出安装槽内部的位置限定，避免测试夹板对对接板端面的芯片夹持固定时呈上翘状影响对芯片的夹持效果。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型对接板安装结构示意图；

图3为本实用新型图1中A-A结构示意图。

图中：1测试底座；11测试插座；12定位柱；13卡位槽；2测试夹板；21转轴；211安装槽；212安装座；213复位弹簧二；214扭簧；22复位弹簧；221固定槽；23操作把；24压板；3对接板；31定位槽；32卡位板；33通槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，一种改进的芯片测试夹具，包括测试底座1、测试夹板2和对接板3，所述测试底座1的端面上固定安装有测试插座11，所述测试底座1的端面上设置有定位柱12，并对应定位柱12的侧边开槽设置有卡位槽13，所述对接板3对应测试插座11开设有通槽33，所述对接板3的底部端面对应定位柱12开设有定位槽31，并对应卡位槽13固定设置有与对接板3一体的卡位板32，所述对接板3通过定位槽31和卡位板32与测试底座1端面的定位柱12和卡位槽13啮合安装，所述测试夹板2通过转轴21与测试底座1的端面固定安装，所述测试夹板2与转轴21相对的端部固定安装有复位弹簧22，所述测试底座1对应复位弹簧22的末端设置有固定槽221，所述复位弹簧22的末端固定安装在固定槽221内部，所述复位弹簧22复位后的长度与固定槽221内深度一致。所述测试底座1对应转轴21的安装处开设有安装槽211，所述转轴21的末端通过安装座212与安装槽211内部固定安装，所述安装座212的末端通过复位弹簧二213与安装槽211内底部固定安装。在需要对芯板调试时，将对接板3通过定位槽31和卡位板32与定位柱12和卡位槽13内部固定安装，测试夹板2通过转轴21对对接板3上所连接的测试芯片固定，转轴21安装端的安装座212在安装槽211内部受到测试夹板2对对接板3端面覆盖固定时的拉力从安装槽211内部拉动上移，复位弹簧二213辅助安装座212在安装槽211内部上移，对安装座212上移出安装槽211内部的位置限定，避免测试夹板2对对接板3端面的芯片夹持固定时呈上翘状影响对芯片的夹持效果。所述转轴21的外部通过扭簧214与测试夹板2的安装端固定连接。扭簧214的扭力带动测试夹板2通过转轴21转动辅助复位弹簧22对测试插座11相连的芯片固定，提高测试夹板2对测试插座11上相连芯片的夹持的平衡性。所述测试夹板2与转轴21相对端部的侧边固定操作把23。对芯片与测试插座11相连时，操作者通过操作把23对测试夹板2通过转轴21呈上倾斜状打开测试夹板2，将待测试的芯片与测试插座11上固定相连后通过操作把23对测试夹板2辅助复位弹簧22缓慢下移对芯板固定在测试底座1上。所述测试夹板2与测试底座1相对端面对应测试插座11设置有硅胶结构的压板24。测试夹板2在度测试底座1上待测试芯片与测试插座11固定夹持时，压板24与芯片的端面接触固定，通过压板24提高芯片与测试插座11连接牢固性的同时，硅胶结构的压板24避免测试夹板2对芯片夹持固定时造成损伤。

使用时，对芯片测试时，操作者通过操作把23对测试夹板2通过转轴21呈上倾斜状打开测试夹板2，使用者将芯片的输出端与测试插座11相连，松开对测试夹板2的支撑，测试夹板2通过复位弹簧22的回缩弹力复位，并通过转轴21转动对测试插座11上相连的芯片与测试插座11夹持固定，提高对芯片与测试插座11相连的牢固性，需要对芯片批量性调试时，操作者通过操作把23对测试夹板2通过转轴21呈上倾斜状打开测试夹板2，与芯片对应的对接板3通过通槽33与测试插座11相连，通过对接板3底部端面的定位槽31和卡位板32与测试底座1端面的定位柱12和卡位槽13固定安装，待调试的芯片的输出端与对接板3的输入端相连，松开对测试夹板2的支撑，测试夹板3通过复位弹簧22的回缩弹力复位，测试夹板2通过转轴21对对接板3上所连接的测试芯片固定，转轴21安装端的安装座212在安装槽211内部受到测试夹板2对对接板3端面覆盖固定时的拉力从安装槽211内部拉动上移，通过转轴21转动对对接板3上相连的芯片与测试插座11夹持固定，扭簧214的扭力带动测试夹板2通过转轴21转动辅助复位弹簧22对测试插座11相连的芯片固定，提高对芯片批量调试的效率，以及对芯片调试时与对接板3连接的稳定性。

综上所述：该改进的芯片测试夹具，对接板3通过定位槽31和卡位板32与测试底座1端面的定位柱12和卡位槽13固定安装，并在测试底座1的上方通过转轴21安装测试夹板2，对芯片测试时，将测试夹板2通过转轴21倾斜，使用者将芯片的输出端与测试插座11相连，松开对测试夹板2的支撑，测试夹板2通过复位弹簧22的回缩弹力复位，并通过转轴21转动对测试插座11上相连的芯片与测试插座11夹持固定，提高对芯片与测试插座11相连的牢固性，需要对芯片批量性调试时，将测试夹板2通过转轴21倾斜，与芯片对应的对接板3通过通槽33与测试插座11相连，通过对接板3底部端面的定位槽31和卡位板32与测试底座1端面的定位柱12和卡位槽13固定安装，待调试的芯片的输出端与对接板3的输入端相连，松开对测试夹板2的支撑，测试夹板2通过复位弹簧22的回缩弹力复位，并通过转轴21转动对对接板3上相连的芯片与测试插座11夹持固定，解决了现有对芯片测试时夹持牢固性不高，以及对芯片批量调试更换对接板复杂，影响对芯片测试效率的问题。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。