1.一种兼容老化测试的方法，其特征在于：
低速测试未完成前，芯片使用低速接收模块的状态；
低速测试完成后，芯片设置为高速接收模块的状态。
2.如权利要求1所述的兼容老化测试的方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤s1：初始状态设置；
步骤s2：老化测试；
步骤s3：接收模块调节。
3.如权利要求2所述的兼容老化测试的方法，其特征在于：
所述步骤s1初始状态设置为在芯片的初始设计制造中将芯片设置为匹配老化测试的模式。
4.如权利要求3所述的兼容老化测试的方法，其特征在于：
所述步骤s1初始状态设置通过接收模块设置进行。
5.如权利要求3所述的兼容老化测试的方法，其特征在于：
所述匹配老化测试的模式是满足老化测试机台的测试要求。
6.如权利要求2所述的兼容老化测试的方法，其特征在于：
所述步骤s3接收模块调节为：对于通过老化测试后的芯片，对芯片中的接收模块进行设置，将其设置为高速状态。
7.依据权利要求1至6的一种兼容老化测试的芯片，其特征在于：
所述芯片包括可调节接收单元以及芯片内部单元；
所述可调节接收单元包括：
调节模块
和
接收模块；
调节模块用于控制接收模块处于不同频率的状态；
接收模块包括传输接口，用于接收信号；老化测试时接收老化测试机台的信号；正常工作时接收外部电路的信号。
8.如权利要求7所述的一种兼容老化测试的芯片，其特征在于：
所述调节模块由可修改的元件实现。
9.如权利要求7所述的一种兼容老化测试的芯片，其特征在于：
所述调节模块控制调节接收模块中的器件，可使接收模块工作在不同频率的状态下。
10.如权利要求7-9任一所述的一种兼容老化测试的芯片，其特征在于：所述芯片为高速芯片。