专利名称：轴承旋转精度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于轴承质量检测装置。
在本实用新型作出以前，已有的用于检测轴承质量的装置有轴承旋转精度仪，又叫轴承摆动仪，它由底座、固定轴承内圈的卡爪、两套表架、杠杆及圆形千分表组成。它最多只能测出GB307.2－84中五个国家新指标中的两个指标，测量其他指标需用其他不同结构的测量仪。同时，该精度仪只能测量球轴承而不能测量“7”类的圆锥轴承，不能适应ISO／TC4国际测量标准和GB307.2－84国家新标准的需要。并且该精度仪刚性差、测量精度低。
中国专利87213640号给出了一种轴承摆动测量仪。它由重锤、手柄、径摆测量装置、表套机构、活动卡爪机构、底座、导轨等组成。测量时，按动手柄，打开摆杆，装入被测轴承，对内圈基准面上加上重锤。将两测头分别置于内孔中部和内圈基准面，旋转内圈一周以上即可测量。该测量仪虽然符合ISO／TC4国际测量标准和GB307.2－84国家新标准的要求，降低了测量误差，提高了系统的刚性。但是，它只能测量内圈径向跳动(Kia)和内圈端面对滚道的跳动(Sia)这两个指标，不能测量国家标准中的另外三个指标，即外圈径向跳动(Kea)、外圈端面对滚道跳动(Sea)及内圈基准端面对内径的跳动(Sd)，故不能满足旋转精度指标测量的全面需要。
针对现有轴承旋转测量仪器的不足之处，本实用新型的目的是提供一种新型的轴承旋转精度测量仪，使之能同时测量轴承外圈径向跳动(Kea)、轴承外圈端面对滚道跳动(Sea)和轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)三个指标，既能符合ISO／TC4国际测量标准和GB307.2－84国家新标准的要求，又能保持较高测量精度和系统的刚性，完全满足旋转精度标准测量的需要。
本实用新型的目的是通过下述方案实现的。轴承旋转精度测量仪的测量机构同时包含了轴承外圈径向跳动(Kea)测量机构、轴承外圈端面对滚道的跳动(Sea)测量机构和轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构。其中，轴承外圈端面对滚道的跳动(Sea)测量机构的测头置于轴承外圈的基准面(上端面)上。轴承装卡机构由三个从内向外装卡支撑轴承内圈的卡爪组成。其中一个卡爪上装有自动弹性定位机构，另一个卡爪上装有与扭簧比较仪相连的轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构。它带有高精度导向机构、复位弹簧和可调升降测头。
图1为轴承旋转精度测量仪垂直剖面结构示意图。(1)底座，(2)Sd测量表套机构，(3)Sd0.001测微仪，(4)Kea测量升降表套机构，(5)Kea0.001测微仪，(6)轴承，(7)重锤，(8)测量Sea杠杆机构，(9)手柄，(10)Sea0.001测微仪，(11)自动弹性定位机构，(12)辅助测点，(13)测量Sd可调测头，(14)测量套，(15)复位弹簧，(16)高精度导向连杆，(17)卡爪机构，(18)测量Sea升降表套机构。
Sd－轴承内圈基准端面对内径的跳动；Kea－轴承外圈径向跳动；Sea－轴承外圈端面对滚道的跳动。
以下结合附图详述本实用新型的实施例及其使用方法轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构中，测量Sd可调测头(13)为倒L形结构，倒L结构的上部尖端为触头，该触头在辅助测点(12)上与轴承内圈内表面保持接触。测量Sd可调测头(13)的倒L结构的下端插入测量套(14)的中心圆洞中并可上下移动和定位。卡爪机构(17)的垂直剖面呈L形，其上端装卡支撑待测轴承，其下端借助于底座(1)上的倒T形长条孔和螺钉固定在底座上。在三个卡爪的一个中，装有Sd测量机构。在该卡爪(17)上端体内有一个与测量套(14)相套合的L形圆孔，测量套(14)套装在该L形圆孔的上部。测量套(14)上端插有测量Sd可调测头(13)，下端与高精度导向连杆(16)垂直连接。在卡爪机构(17)的L形圆孔下端直角转角处装有复位弹簧(15)，该复位弹簧(15)始终顶着高精度导向连杆(16)上与测量套(14)相连接的一端，以保持测量Sd可调测头(13)与待测轴承内圈的密切接触以及高精度导向连杆(16)与Sd0.001测微仪(3)的密切接触。高精度导向连杆(16)一端与测量套(14)垂直相连，另一端则与Sd0.001测微仪(3)的探头紧密接触。在另一个卡爪上端体内装有自动弹性定位机构(11)。它由弹簧、钢球和可调测力螺钉构成，弹簧的一端被可调测力螺钉压迫，另一端顶着钢球，钢球与轴承内圈内表面接触。这样，在该弹簧的作用下，卡爪机构(17)可以从内向外将待测轴承卡紧固定支撑，使其自动定位。
轴承外圈径向跳动(Kea)测量机构由Kea测量升降表套机构(4)Kea0.001测微仪(5)和测头组成，该测头置于待测轴承外圈外表面。
轴承外圈端面对滚道的跳动(Sea)测量机构由测量Sca杠杆机构(8)、手柄(9)、Sea0.001测微仪(10)、测量Sea升降表套机构(18)和测头组成。该测头置于待测轴承外圈基准面(上端面)上。
在本实施例中，所有装夹升降表套机构中的内孔内径均为φ28毫米。
检测轴承时，按动手柄(9)，打开测量Sea杠杆机构(8)，装入待测轴承(6)，调整Sd测量机构测头(13)，使其与待测轴承内圈内表面密切接触，转动待测轴承内圈一周以上，测微仪(3)上所反映的最大值与最小值之差即为轴承内圈基准端面对内径跳动(Sd)误差。在待测轴承外圈基准面(上端面)上施加一个与该轴承同轴的负荷－重锤(7)，调整Kea测量机构测头，使其与待测轴承外圈外表面中部接触。调整Sea测量机构测头，使其与待测轴承外圈基准面(上端面)接触。让重锤带动待测轴承外圈旋转一周以上，二个扭簧比较测微仪(5)、(10)上所反映的最大值与最小值之差即分别为待测轴承的外圈径向跳动(Kea)误差和外圈端面对滚道跳动(Sea)误差。
本实用新型由于同时含有Sd、Kea、Sea三种指标的测量机构，因而增加了仪器功能，满足了轴承旋转精度标准测量的需要。由于三指标的三个测头在待测轴承上的合理布局，克服了传统测量仪不能测量“7”类圆锥轴承的缺点，使其结构和原理符合ISO1132－80国际标准和GB307.2－84国家新标准的要求。由于卡爪由内向外装卡并在其中装有自动弹性定位机构，从而消除了由于轴承内圈制造公差引起的间隙松动，大大提高了测量精度和系统刚度，降低了测量误差。实践证明，三项测量精度均可达到≤±0.0015毫米，比原来的B014轴承专用测量仪提高了测量精度3.3倍。可广泛应用于圆锥轴承(“7”类)和球轴承(“0”类和“6”类)成品的旋转精度的质量检测。
权利要求1.轴承旋转精度测量仪，由重锤、轴承装卡机构、测量机构、扭簧比较仪表套机构和底座构成，其特征是它的测量机构同时包含了轴承外圈径向跳动(Kea)测量机构、轴承外圈端面对滚道的跳动(Sea)测量机构和轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构，轴承装卡机构由三个从内向外装卡支撑轴承内圈的卡爪组成，其中一个卡爪上装有自动弹性定位机构，另一个卡爪上装有与扭簧比较仪相连的轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构，轴承外圈端面对滚道的跳动(Sea)测量机构的测头置于轴承外圈基准面(上端面)上。
2.按照权利要求1的测量仪，其特征是所说的轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构中，可调测头与轴承内圈内表面接触，可调测头插于测量套的中心圆洞中并可上下移动和定位，复位弹簧顶着高精度导向连杆，导向连杆一端与测量套垂直相连，另一端与测微仪的探头紧密接触。
3.按照权利要求1的测量仪，其特征是所说的自动弹性定位机构由弹簧、钢球和可调测力螺钉构成，弹簧一端被可调测力螺钉压迫，另一端顶着钢球，钢球与轴承内圈内表面接触。
4.按照权利要求1、2的测量仪，其特征是所有装夹表套内孔内径均为φ28毫米。
专利摘要轴承旋转精度测量仪同时包含轴承外圈径向跳动(Kea)测量机构、轴承外圈端面对滚道跳动(Sea)测量机构和轴承内圈基准端面对内径的跳动(Sd)测量机构，卡爪由内向外工作，卡爪内装有自动弹性定位机构。Sea测量机构的测头位于轴承外圈基准面上。本测量仪可同时测定三个参数(Kea、Sea、Sd)，可测“圆锥”和“球”类轴承，均符合ISO1132-80国际标准和GB307.2-84国家新标准。系统刚度好，测量精度高，可达≤±0.0015毫米，比Bo14测量仪高3.3倍。
文档编号G01M13/00GK2076669SQ9021501
公开日1991年5月8日 申请日期1990年10月15日 优先权日1990年10月15日
发明者李明定 申请人:李明定