一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。
[0027]前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。
[0028]前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为O或整数，η为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
[0029]因此，借由上述技术方案，本发明至少具有下列优点:本发明提供了一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，借由转盘式的设计，使得各个测试工作站可以连续地连续对电子元件进行一连串不同项目的测试，减少或消除各个提供不同测试项目的测试工作站(或测试模块)的闲置时间(idle time)，而充分利用测试装置与系统的效能，进而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。
[0030]上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
【附图说明】
[0031]图1为传统多功能测试装置的示意图。
[0032]图2A至图2C分别为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置的俯视图、侧视图、以及局部不意图。
[0033]图3为本发明的另一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置的俯视图。
[0034]图4为本发明的另一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置中测试转盘的示意图。
[0035]图5A至图5G为本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置运作的流程图。
[0036]图6为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试系统的示意图。
[0037]【主要元件符号说明】
[0038]10:多功能测试装置
[0039]12:转盘
[0040]14:直线式测试单元
[0041]16:移载装置
[0042]IC:电子元件
[0043]tl、t2、t3、t4:测试工作站
[0044]100、10A:具有多个测试站的转盘式测试装置
[0045]102、10从:输送转盘
[0046]104、104A:元件承载单元
[0047]106、106’、106A、106’ A:电子元件转换区域
[0048]108,108>:拾取装置
[0049]200、200，、200A:测试转盘
[0050]202a、202b、202c、202d、202e:测试座
[0051]202，a、202，b、202，c、202，d、202，e:测试座
[0052]204:电子元件
[0053]206a、206b、206c、206d、206e:排线
[0054]300:自动测试设备(ATE)
[0055]ICl、IC2、IC3、IC4、IC5、IC6:电子元件
[0056]Tl、T2、T3、T4:测试模块
[0057]Tl，、T2，、T3，、T4，:测试模块
[0058]400:具有多个测试站的转盘式测试系统
[0059]500:进料装置
[0060]600:分料装置
【具体实施方式】
[0061]为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统其【具体实施方式】、结构、特征及其功效，详细说明如后。
[0062]本发明的一些实施例详细描述如下。然而，除了该详细描述外，本发明还可以广泛地在其他的实施例施行。亦即，本发明的范围不受已提出的实施例的限制，而以本发明提出的专利要求的保护范围为准。其次，当本发明的实施例图示中的各元件或步骤以单一元件或步骤描述说明时，不应以此作为有限定的认知，即如下的说明未特别强调数目上的限制时本发明的精神与应用范围可推及多数个元件或结构并存的结构与方法上。再者，在本说明书中，各元件的不同部分并没有完全依照尺寸绘图，某些尺度与其他相关尺度相比或有被夸张或是简化，以提供更清楚的描述以增进对本发明的理解。而本发明所沿用的现有技艺，在此仅做重点式的引用，以助本发明的阐述。
[0063]请同时参照图2A、图2B、以及图2C，图2A为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置100的俯视图，图2B为具有多个测试站的转盘式测试装置100的俯视图，而图2C则为具有多个测试站的转盘式测试装置100中测试转盘200的局部示意图。具有多个测试站的转盘式测试装置100包含输送转盘102与数个测试转盘200、200’，其中，每一个测试转盘200、200’都可以自由来回转动(例如可以自由地顺时针转动与逆时针转动)，并且每一个测试转盘200、200’周围皆设置有数个固定于具有多个测试站的转盘式测试装置100上而不随测试转盘200、200’转动的测试模块T1、T2、T3、T4。这些测试模块Tl、Τ2、Τ3、Τ4围绕着测试转盘200、200’，分别形成一个个为围绕着测试转盘200、200’而提供不同测试项目(例如感光测试、压力测试、温度测试、磁力测试、翻转测试等)的测试工作站。虽然，在本实施例中每一个测试转盘200、200 ’周围设置有四个测试模块T1、Τ2、Τ3、Τ4，但是并不以此为限，而是可以依照测试的需求、规划、与设计，而减少(例如2个、3个)或增加(例如5个或5个以上)。输送转盘102则用以将承载输入的电子元件例如(IC、MEMS元件等)，并将其分别传送至测试转盘200、200’上进行测试，以及用以将测试转盘200、200’上已完成所有测试的电子元件取回并输出。
[0064]输送转盘102上设置有多个元件承载单元104，用以承载电子元件，而带动电子元件跟随着输送转盘102转动，而达到传送电子元件的目的，即将由输入端输入的待测电子元件传送至测试转盘200、200’内进行一连串的测试，以及将已经完成测试的电子元件传送至输出端而输出。参照图2B,输送转盘102为悬挂或设置于测试转盘200、200’上方的转盘，即输送转盘102与测试转盘200、200’并不设置于同一平面上，而是设置于高于测试转盘200、200’的平面上，其上的元件承载单元104则为可以吸取电子元件并带动电子元件随着输送转盘102转动的真空吸嘴，这些真空吸嘴可以自由的上下移动而将所携带的电子元件送入测试转盘200、200’，以及已完成测试的电子元件由测试转盘200、200’中取出。输送转盘102上设置元件承载单元104数量，并不以图2A至图2B所示的实施例为限，而是可以依照测试的需求、规划、与设计减少或增加。
[0065]每一个测试转盘200、200’上设置有数个测试座，用以容置与承载电子元件，并带动电子元件随着测试转盘200、200’转动，而将电子元件移动至各个不同的测试模块(或测试工作站)Tl、T2、T3、T4中进行测试。每一个测试转盘200、200’上设置的测试座数量为n+1个，其中，η为每一个测试转盘200、200’周围设置的测试模块数量，以图2Α、图2Β、以及图2C所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100为例，每一个测试转盘200、200’周围设置有4个测试模块，因此，测试转盘200、200’上各设置有5个测试座，其中，测试转盘200上设置有测试座202a、202b、202c、202d、与202e，而测试转盘200’上设置有测试座202’ a、202’ b、202’ c、202’ d、与202’ e。每一个测试转盘200、200’在未转动之前以及转动之后，无论是逆时针转动或是顺时针转动，每一个测试转盘200、200’周边设置的每一个测试模块T1、T2、T3、T4都会分别对应一个测试座，而该测试座会位于对应的测试模块内或下方，例如测试座202b、202’ b对应测试模块Tl而位于其下方，测试座202c、202’ c对应测试模块T2而位于其下方、测试座202d、202’ d对应测试模块T3而位于其下方，测试座202e、202’ e对应测试模块T4而位于其下方(如图2A与图2B所示)，并且未与任何测试模块对应的测试座202a、202’a则与输送转盘102比邻(如图2A所示)，而分别与最接近的测试座202a与202’ a的元件承载单元104比邻，或位于其下方。
[0066]在具有多个测试站的转盘式测试装置100中，输送转盘102与每一个测试转盘200、200’相邻或重叠的区域为电子元件转换区域106、106’，而输送转盘102与测试转盘200、200’之间的电子元件传送都是在电子元件转换区域106、106’内进行。以图2A与图2B为例，输送转盘102上移动到电子元件转换区域106的元件承载单元104，为最接近测试转盘200的元件承载单元104，而与测试转盘200上未对应任何测试模块Tl、T2、T3、T4的测试座202a相邻(如图2A所示)或上下重叠(如图2B所示)。输送转盘102上移动到电子元件转换区域106’的元件承载单元104为最接近测试转盘200’的元件承载单元104，而与测试转盘200’上未对应任何测试模块Tl、T2、T3、T4的测试座202’ a