相邻(如图2A所示)或上下重叠。
[0067]参照图2C，其为具有多个测试站的转盘式测试装置100中的测试转盘200的放大图。测试转盘200上设置的测试座202a、202b、202c、202d、202e下方分别设置有排线206a、206b、206c、206d、206e，而分别借由这些排线206a、206b、206c、206d、206e与自动测试设备(ATE) 300连接。每一排线206a、206b、206c、206d、206e都固定连接特定的测试座，例如排线206a连接测试座202a、排线206b连接测试座202b、排线206c连接测试座202c、排线206d连接测试座202d、排线206e连接测试座202e，而随着测试转盘200转动，排线206a、206b、206c、206d、206e会随着其所连接的测试座202a、202b、202c、202d、202e转动，而保持连接不会断开与测试座202a、202b、202c、202d、202e的联系。自动测试设备(ATE) 300则经由这些排线206a、206b、206c、206d、206e而将测试信号与参数传送到各个测试座202a、202b、202c、202d、202e，而各个测试座 202a、202b、202c、202d、202e 分别借由排线 206a,206b,206c、206d、206e而将测试结果传送到自动测试设备(ATE) 300进行收集与处理。另外，在图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100中，测试转盘200’的测试座202，a、202，b、202，c、202，d、202，e下方同样设置有排线，分别与测试座202，a、202，b、202，c、202，d、202，e 连接，而做为各个测试座 202，a、202，b、202，c、202，d、202，e 与自动测试设备(ATE) 300之间的连接，其结构配置与设计与测试转盘200下方的排线206a、206b、206c、206d、206e相同，所以在此不再赘述。另外，可以在各个测试转盘200、200’下方设置保护架(图中未示)，用以保护各个测试座下的排线，避免排线纠缠或撕裂。
[0068]虽然图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100中的输送转盘102其上设置有数个真空吸头做为元件承载单元104，而可以借由这些元件承载单元104直接将输送转盘102上携带的电子元件直接转移到测试转盘200、200’上，并置放于其上的测试座中，以及直接测试转盘200、200’上测试座中已完成测试的电子元件取出而转移至输送转盘102，此外，也可以采取其他的方式与设计进行输送转盘102与测试转盘200、200’之间的电子元件取放与转移。参照图3，其为本发明的另一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置100A的俯视图，其中，具有多个测试站的转盘式测试装置100A与图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置具有相似的组成，都是由一个输送转盘与数个测试转盘所组成。两者之间的差异在于，具有多个测试站的转盘式测试装置100A中的输送转盘102A上的元件承载单元104A为元件容置槽或元件容置座,其仅能容置与承载电子元件而随着输送转盘102A转动，但是并无法对电子元件进行拾取与放置，因此，在具有多个测试站的转盘式测试装置100A中设置有数个拾取装置108、108’。每一个拾取装置108、108’对应测试转盘200、200’。其中，拾取装置108设置于输送转盘102A与测试转盘200之间。通过拾取装置108，可将由输送转盘102A上，移动至电子元件转换区域106A的元件承载单元104A中的待测电子元件204取出，并置放于测试转盘200上移动至电子元件转换区域106A的测试座202a中，或是将测试转盘200上移动至电子元件转换区域106A的测试座202a中已完成测试的电子元件取出，并置放于输送转盘102A上移动至电子元件转换区域106A的元件承载单元104A中的待测电子元件204中。拾取装置108’则设置于输送转盘102A与测试转盘200’之间，用以将输送转盘102A上移动至电子元件转换区域106’ A的元件承载单元104A中的待测电子元件204取出，并置放于测试转盘200’上移动至电子元件转换区域106’ A的测试座202a中，或是将测试转盘200’上移动至电子元件转换区域106’ A的测试座202a中已完成测试的电子元件取出，并置放于输送转盘102A上移动至电子元件转换区域106’A的元件承载单元104A中的待测电子元件204中。拾取装置108、108’可以为机械手臂或是可以自由地在输送转盘102A与测试转盘200、200’之间移动的真空吸头。
[0069]虽然在图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100以及图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A都具有两个测试转盘，但是并不以此为限，而是可以依照测试制作过程的需求或所需要的测试效能增加其数量。测试转盘的数量越多，则测试速度与产能越快，。另外，设置于每一个测试转盘200、200’周围的测试模块T1、T2、T3、Τ4可以为同一个测试领域但提供不同测试项目的测试模块，以图2Β为例，测试转盘200、200’周围的测试模块T1、T2、T3、T4皆用于感光测试，但是其分别提供不同的测试项目，例如测试模块Tl为玻璃遮蔽测试模块，用以提供在玻璃遮蔽下的感光测试、测试模块Τ2为光源测试模块，用以提供无遮蔽的感光测试、测试模块Τ3为特定色板测试模块，用以在特定色板遮蔽下的感光测试、测试模块Τ3为暗室测试模块，用以在暗室的感光测试。但是，设置于每一个测试转盘200、200’周围的测试模块Τ1、Τ2、Τ3、Τ4可以为不同测试领域的测试模块，例如压力测试、温度测试、磁力测试等。参照图4，其为本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置中的测试转盘的另一个实施例。图4所示的测试转盘200Α上同样设置有数个测试座202a、202b、202c、202d、202e，而测试转盘200A的周围则同样设置有数个测试模块11’、了2’、了3’、了4’。事实上，图4所示的测试转盘与图2A所示的测试转盘200、200’具有相同的配置与结构，但是其与图2A所示的测试转盘200、200’之间的差异在于，测试转盘200A周围设置的测试模块Tl’、T2’、T3’、T4’为不同测试领域的测试模块而提供不同领域的测试，例如测试模块Tl’为翻转测试模块，以对电子元件进行翻转测试、测试模块T2’为压力测试模块，用以对电子元件进行压力测试、测试模块T3’为温度测试模块，用以对电子元件进行温度测试、测试模块T4’为磁力测试模块，用以对电子元件进行磁力测试，但并不以此为限，而是可以视待测电子元件所需进行的测试领域与测试项目，而决定测试转盘周围设置的测试模块种类与数量。
[0070]接着，将对本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置的工作原理作做进一步说明，其以图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100为例，并以图5A至图5G所示的流程图进行说明。首先，图5A，在刚开始进行测试时，输入端(或进料端)会将待测电子元件置入输送转盘102上的元件承载单元104，而由元件承载单元104带着待测电子元件随着输送转盘102转动。然后，当带着待测电子元件ICl (即第一颗待测电子元件)的元件承载单元104随着输送转盘102转动，而将待测电子元件ICl分别移动至电子元件转换区域106与106’时，会将待测电子元件ICl同时由输送转盘102转移到测试转盘200与200’上，即同时将位于电子元件转换区域106的元件承载单元104中的待测电子元件ICl，转移至位于测试转盘200中位于电子元件转换区域106内的测试座202a，以及将位于电子元件转换区域106’的元件承载单元104中的待测电子元件IC1，转移至位于测试转盘200’中位于电子元件转换区域106’内的测试座202’a。由于在具有多个测试站的转盘式测试装置100中，输送转盘102上设置的元件承载单元104即为真空吸头，因此，电子元件转换区域106与106’内的元件承载单元104待测电子元件IC1，可以直接向下移动，而将待测电子元件ICl同时放置于电子元件转换区域106内的测试座202a以及电子元件转换区域106’内的测试座202’ a。反之，若是采取图3所示具有多个测试站的转盘式测试装置100A，则是借由拾取装置108与108’分别将电子元件转换区域106A与106’ A中元件承载单元104内的待测电子元件ICl取出，并同时放置于电子元件转换区域106A与106’A中的测试座202a与202’ a中。
[0071]接着，参照图5B，待测电子元件ICl被放置于测试转盘200的测试座202a以及测试转盘202’的测试座202’ a，之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202a与电子元件转换区域106’中的测试座202’a移动至测试模块Tl下方或测试模块Tl内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块Tl的测试座202b与202’ b会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202c与202’ c会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202d与202’ d会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202e与202’ e会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。
[0072]接着，测试转盘200的测试模块Tl会对测试座202a中的电子元件ICl进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块Tl也会对测试座202’a中的电子元件ICl