进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第二个待测电子元件IC2分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC2分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202e以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’ e中。
[0073]然后，参照图5C，在电子元件ICl完成测试模块Tl所提供的测试之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202e与电子元件转换区域106’中的测试座202’ e移动至测试模块Tl下方或测试模块Tl内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块Tl的测试座202a与202’a会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202b与202’ b会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202c与202’ c会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202d与202’ d会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。
[0074]接着，测试转盘200的测试模块Tl与T2会分别对测试座202e中的电子元件IC2与测试座202a中的电子元件ICl进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块Tl与T2会分别对测试座202’ e中的电子元件IC2与测试座202’ a中的电子元件ICl进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第三个待测电子元件IC3分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC3分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202d以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’ d中。
[0075]然后，参照图在电子元件ICl与IC2分别完成测试模块T2与Tl所提供的测试之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202d与电子元件转换区域106’中的测试座202’ d移动至测试模块Tl下方或测试模块Tl内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块Tl的测试座202e与202’ e会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202a与202’ a会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202b与202’b会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202c与202’ c会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。
[0076]接着，测试转盘200的测试模块Tl、T2、与T3会分别对测试座202d中的电子元件IC3、测试座202e中的电子元件IC2与测试座202a中的电子元件ICl进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块T1、T2、与Τ3会分别对测试座202’ d中的电子元件IC3、测试座202’ e中的电子元件IC2与测试座202’ a中的电子元件ICl进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第四个待测电子元件IC4分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC4分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202c以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’ c中。
[0077]然后，参照图5E，在电子元件IC1、IC2、与IC3分别完成测试模块T3、T2、与Tl所提供的测试之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202c与电子元件转换区域106’中的测试座202’ c移动至测试模块Tl下方或测试模块Tl内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块Tl的测试座202d与202’ d会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202e与202’ e会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202a与202’a会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202b与202’ b会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。
[0078]接着，测试转盘200的测试模块T1、T2、T3与T4会分别对测试座202c中的电子元件IC4、测试座202d中的电子元件IC3、测试座202e中的电子元件IC2与测试座202a中的电子元件ICl进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块Tl、T2、T3与T4会分别对测试座202’c中的电子元件IC4、测试座202’d中的电子元件IC3、测试座202’e中的电子元件IC2与测试座202’a中的电子元件ICl进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第五个待测电子元件IC5分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC5分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202b以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’ b中。
[0079]然后，参照图5F，在测电子元件IC1、IC2、与IC3分别完成测试模块T4、T3、T2与Tl所提供的测试之后，测试转盘200与200’会回转，而(同时)将测试模块T4内的测试座202a与202’a分别回转至电子元件转换区域106与106’中。此时随着测试转盘200与200’回转，原本位于电子元件转换区域106与106’中的测试座202b与202’ b会分别移动至测试模块Tl下方或测试模块Tl内，原本位于测试模块Tl的测试座202c与202’ c会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202d与202’ d会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202e与202’e会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202a与202’ a会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。此回转步骤是为了避免测试座下方的排线因随着测试转盘转动，而导致排线纠缠与扯断。
[0080]接着，测试转盘200的测试模块T1、T2、T3与T4会分别对测试座202b中的电子元件IC5、测试座202c中的电子元件IC4、测试座202d中的电子元件IC3与测试座202e中的电子元件IC2进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块Tl、T2、T3与T4会分别对测试座202’ b中的电子元件IC5、测试座202’ c中的电子元件IC4、测试座202’ d中的电子元件IC3与测试座202’ e中的电子元件IC2进行测试。于此同时，输送转盘102上位于电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，则会分别将已经完成所有测试模块(Tl、T2、T3、T4)所提供的测试项目的电子元件IC1，由测试座202a与202’ a中取出。
[0081]接着，参照图5G，输送转盘102转动，而将第六个待测电子元件IC6分别送入电子元件转换区域106与106’中，并带动已完成测试的电子元件ICl向输出端移动，然后，借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC6分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202a以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’ a中。然后，待测电子元件IC2、IC3、IC4与IC5分别完成测试模块T4、T3、T2与Tl所提供的测试之后，重复上述图5Β至图5G所示的步骤，对其他待测电子元件进行测试。要注意的是在重复上述步骤进行测试时，每一个测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块(例如测试模块T4)完成测试后，测试转盘会回转以避免测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为O或整数(例如1、2、3…)，η为每一个测试转盘200、200’周围设置的该测试模块的数量。以具有多个测试站的转盘式测试装置100为例，测试转盘200、200’周边设置有4个测试模块Τ1、Τ2、Τ3、Τ4，所以η=4，因此，在第4m+l个电子元件在测试模块T4完成测试之后，则测试转盘200、200’就需要回转一次。换言之，当第1、5、9、13、17…个电子元件在测试模块T4完成测试之后，测试转盘200、200’就会进行图5F所示的步骤而回转。
[0082]另外，图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A的工作原理与动作也是如同前述图5A至图5G所示的步骤，其差异仅在于输送转盘102A与测试转盘200、200’之间的电子元件取放是由拾取装置108、108’所执行的而已。由图5A至图5G所示的步骤可以得知，由于本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置100、100A借由测试转盘而将数个测试工作站形成一个循环性测试工作站系统，使得每一个测试工作站(或测试模块)在完成对一个电子元件的测试之后，将已完成该测试工作站测试的电子元件传送至下一个测试工作站的时候，下一个待测电子元件会被连动而传送至该测试工作站进行测试。因此，使得每一个测试工作站得以连续地对待测电子元件进行测试，而不会如同传统的多功能测试装置(例如图1所示的多功能测试装置10) —样，需等待一个测试元件完成所有的测试工作站所提供的测试项目，才能对下一个电子元件进行测试，所以可以减少每一个工作站闲置(idle)的时间，甚至不会