一种电路板测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子测量领域，尤其涉及一种电路板测试系统。
【背景技术】
[0002]PXI (PCI extens1ns for instrumentat1n)是指面向仪器系统的PCI 扩展，是一种基于PC机的测量和自动化平台。CAN总线(Controller Area Network)是控制器局域网的简称，是国际上应用最为广泛的现场总线之一。GPIB总线(General-Purpose InterfaceBus)是指通用接口总线，大多数台式仪器都是通过GPIB线以及GPIB接口与PC机相连。
[0003]在组装每块PCB电路板的过程中都需要进行测试，以保证PCB电路能正常工作，如:电机驱动控制器就需要对其性能与功能进行大量测试，传统上会使用一些分离的测量仪器，由人工逐一的进行测量，读取指针数据，随后将采集的数据归纳分析，最终得出PCB电路板各项性能参数是否符合要求的结论。
[0004]对于上述的测量方法，不仅测量时需要多人配合测量，测量周期长，人工成本高，测量效率低，而且由于测量人员的水平或操作环境的限制，难免会出现错读、误读以及忘读数据的情况，测量精度较低，甚至对于个别PCB电路板的测量未能反映出PCB电路板的真实性能参数。
【发明内容】
[0005]为了克服现有技术的缺陷，本发明所要解决的技术问题在于提出一种电路板测试系统，能实现对PCB电路板的整体功能和性能的自动测试，且能够向测量人员提供测量报告，不仅测量周期短，而且测量结果精准。
[0006]为达此目的，本发明采用以下技术方案:
[0007]本发明提供的一种电路板测试系统，包括零槽控制器、PXI总线、PXI测试模块、测试接口以及被测电路板，所述零槽控制器用于所述测量试验台的控制、信号交互以及数据处理，PXI测试模块用于根据对被测电路板功能特性指标及参数进行测量，所述PXI总线用于所述零槽控制器与所述PXI测试模块之间的信号传输，所述测试接口用于安放所述被测电路板，且将所述被测电路板与所述PXI测试模块电导通，所述零槽控制器通过所述PXI总线控制所述PXI测试模块对固定在所述测试接口上的所述被测电路板进行故障诊断和性能测试。
[0008]本发明的进一步技术方案，所述PXI测试模块包括:
[0009]一个或者多个数字采集模块，用于采集所述被测电路板输出的检测信号。
[0010]数字激励响应卡，用于多路数字信号的测试与控制。
[0011]电压同步输出模块，用于向所述测试接口输出多路电压。
[0012]多用表模块，用于通过所述测试接口测量所述被测电路板的直流电压、直流电流、交流电压、交流电流或者电阻。
[0013]通信模块，用于所述测试接口与所述PXI总线之间的数据交互和通信。
[0014]一个或者多个矩阵开关模块，用于控制所述测试接口与所述PXI总线之间的信号流向和电流向。
[0015]一个或者多个数字采集模块、数字激励响应卡、电压同步输出模块、多用表模块、通信模块以及一个或者多个矩阵开关模块相互并联，一个或者多个数字采集模块、数字激励响应卡、电压同步输出模块、多用表模块、通信模块以及一个或者多个矩阵开关模块的一端均与所述PXI总线电性连接，另一端均与所述测试接口电性连接。
[0016]本发明的进一步技术方案，所述通信模块包括:
[0017]CAN总线模块，用于所述测试接口与所述PXI总线之间的分布式控制或者实时控制的串行通信。
[0018]1553B总线模块，用于所述测试接口与所述PXI总线之间的分布处理、集中控制以及实时响应的时分串行通信。
[0019]RS232串口模块，用于给所述测试接口提供多个独立的串行通道。
[0020]RS485串口模块，用于给所述测试接口提供多个独立的联网串行通道。
[0021]CAN总线模块、1553B总线模块、RS232串口模块以及RS485串口模块相互并联，CAN总线模块、1553B总线模块、RS232串口模块以及RS485串口模块的一端均与所述PXI总线电性连接，另一端均与所述测试接口电性连接。
[0022]本发明的进一步技术方案:所述PXI测试模块还包括边界扫描模块，所述边界扫面模块用于在调试状态下对所述零槽控制器的输入和输出进行相应观察和控制，其一端与所述PXI总线电性连接，其另一端与所述测试接口电性连接。
[0023]本发明的进一步技术方案，所述电路板测试系统还包括GPIB总线，所述GPIB总线与所述PXI总线电性连接。
[0024]本发明的进一步技术方案:所述GPIB总线与所述测试接口之间可选择性的连接程控电源、台式电源、任意波发生器、多个示波器、逻辑分析仪、电子负载、温度传感器以及仿真器中的一个或者多个。
[0025]本发明的进一步技术方案:所述测试接口包括夹具、与所述夹具相配套的适配器合
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[0026]本发明的进一步技术方案:所述适配器包括连接器、接收器、第一外箱、第二外箱以及夹具框架，所述连接器固定在所述夹具框架的内部，所述接收器固定在所述第二外箱的内部，所述夹具框架位于所述第一外箱和所述第二外箱之间，所述第一外箱与所述第二外箱固定连接。
[0027]本发明的进一步技术方案:所述夹具包括位于所述适配器盒外部的连接器插座和适配板、位于所述连接器插座一侧的延伸接口以及与所述适配器盒电性连接的探笔，所述适配板上设有用于固定所述被测电路板的插座。
[0028]本发明的进一步技术方案，所述电路板测试系统还包括:
[0029]测试数据交换平台，用于数据的交换。
[0030]测量程序开发平台，用于建立测试项目和测量步骤。
[0031 ] 测量程序执行平台，用于对所述被测电路板自动或者半自动测试。
[0032]故障咨询平台，用于发现被测电路板故障时，转入故障诊断模式。
[0033]系统管理平台，用于管理所述测试数据交换平台、所述测量程序开发平台、所述测量程序执行平台以及故障咨询平台。
[0034]本发明的有益效果为:
[0035]本发明提供的测量实验台，通过零槽控制器、PXI总线、PXI测试模块、测试接口构成一个综合测量系统，该系统具有测量开发、测量仿真、测量执行、故障诊断以及系统自检等功能，在测试接口固定被测电路板后，能够实现被测电路板整体功能和性能的自动测试，测量过程中无需人工干预，可以选择自动检测或者人机交互的方式对被测电路板进行测量。该综合测量提供集成的测试程序集开发环境，并具有执行系统级和插件板级的能力，满足对分机和模块的测试需求，且该综合测量系统还具有板级故障诊断功能。此外，该综合测量系统还预留了 GPIB接口和扩展空间，能够外接GPIB总线和其他模块，方便用户自行集成逻辑分析仪、台式示波器以及其它设备。
【附图说明】
[0036]图1是本发明【具体实施方式】提供的电路板测试系统的结构图；
[0037]图2是本发明【具体实施方式】提供的GPIB总线的连接关系图；
[0038]图3是本发明【具体实施方式】提供的测试平台的结构图；
[0039]图4是本发明【具体实施方式】提供的测试数据交换平台的结构图；
[0040]图5是本发明【具体实施方式】提供的测量程序开发平台的结构图；
[0041]图6是本发明【具体实施方式】提供的测量程序执行平台的结构图；
[0042]图7是本发明【具体实施方式】提供的适配器盒的结构图；
[0043]图8是本发明【具体实施方式】提供的夹具的结构图。
[0044]图中:
[0045]1、零槽控制器；2、PXI总线；4、测试接口 ；5、被测电路板；31、数字采集模块；32、数字激励响应卡；33、电压同步输出模块；34、多用表模块；36、矩阵开关模块；351、CAN总线模块；352、1553B总线模块；353、RS232串口模块；354、RS485串口模块；6、GPIB总线；61、程控电源；62、台式电源；63、任意波发生器；64、不波器；65、逻辑分析仪；66、电子负载；67、温度传感器；68、仿真器；71、连接器；72、接收器；73、第一外箱；74、第二外箱；75、夹具框架；81、连接器插座；82、延伸接口 ；83、适配板；84、插座；00()、测试数据交换平台；001、被测电路板物理布局图单元；002、被测电路板逻辑关系图单元；003、网表转换器单元；004、被测电路板实物图标识单元；100、测量程序开发平台；101、测试项目管理单元；102、故障树编辑器单元；103、接口适配器定义单元；104、虚拟仪表软面板单元；200、测量程序执行平台；201、测试执行管理单元；202、测试数据管理单元；300、故障咨询平台；400、系统管理平台；11、显不器；12、键盘；13、