00、测量程序执行平台200、故障咨询平台300以及系统管理平台400组成的测试集成环境，即测试平台，该测试集成环境为软件环境，指导电路板测试系统进行测试程序集开发、测试执行、故障诊断以及系统自检等功能。
[0071 ] 如图4所示，进一步的，由于整个测试集成环境涉及大量数据的输入与输出，故需要采用测试数据交换平台000，该平台用于数据的交换，包括被测电路板5实物图数据的交换、测试集成环境各单元之间的数据交换、符合EDIF200的网表数据格式的输入与输出数据的交换，测试集成环境与办公软件之间的数据交换，测试数据交换平台000包括被测电路板物理布局图单元001、被测电路板逻辑关系图单元002、网表转换器单元003以及被测电路板实物图标识单元004。
[0072]如图5所示，进一步的，测量程序开发平台100用于建立测试项目和测量步骤。测量程序开发平台100能以画图、填表格、选择、手工编程等方式辅助开发人员完成测试程序的开发，建立测试项目和测试步骤，实现测试代码的产生和测试库的编译。测量程序开发平台100包括测试项目管理单元101、故障树编辑器单元102、接口适配器定义单元103以及虚拟仪表软面板单元104。故测量程序开发平台100具体可完成测试项目文件的建立、测试步骤的描述、基于虚拟仪表软面板单元的测量代码的开发等。
[0073]如图6所示，进一步的，测量程序执行平台200用于对被测电路板5自动或者半自动测试，测量程序执行平台200包括测试执行管理单元201和测试数据管理单元202，实际测量过程中，测量程序执行平台200借助各个PXI测试模块或者仪器的驱动程序，按照测试人员设定的流程，辅助测试人员完成对被测电路板5自动/半自动测试。
[0074]故障咨询平台300用于发现被测电路板5故障时，转入故障诊断模式。具体的，故障咨询平台300能够利用故障树以交互方式辅助测试人员完成故障定位。该平台主要解决在测试执行过程中，发现被测电路板5故障时，转入故障诊断模式，并将故障定位到被测电路板5或某个模块的故障节点或故障器件。
[0075]系统管理平台400，用于管理测试数据交换平台000、测量程序开发平台100、测量程序执行平台200以及故障咨询平台300。
[0076]本发明是通过优选实施例进行描述的，本领域技术人员知悉，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以对这些特征和实施例进行各种改变或等效替换。本发明不受此处所公开的具体实施例的限制，其他落入本申请的权利要求内的实施例都属于本发明保护的范围。
【主权项】
1.一种电路板测试系统，其特征在于:包括零槽控制器(1)、PXI总线(2)、PXI测试模块、测试接口(4)以及被测电路板(5);所述零槽控制器(I)用于所述测量试验台的控制、信号交互以及数据处理，PXI测试模块用于根据对被测电路板(5)功能特性指标及参数进行测量，所述PXI总线(2)用于所述零槽控制器(I)与所述PXI测试模块之间的信号传输，所述测试接口(4)用于安放所述被测电路板(5)，且将所述被测电路板(5)与所述PXI测试模块电导通； 所述零槽控制器(I)通过所述PXI总线(2)控制所述PXI测试模块对固定在所述测试接口⑷上的所述被测电路板(5)进行故障诊断和性能测试。
2.根据权利要求1所述的电路板测试系统，其特征在于， 所述PXI测试模块包括: 一个或者多个数字采集模块(31)，用于采集所述被测电路板(5)输出的检测信号； 数字激励响应卡(32)，用于多路数字信号的测试与控制； 电压同步输出模块(33)，用于向所述测试接口(4)输出多路电压； 多用表模块(34)，用于通过所述测试接口(4)测量所述被测电路板(5)的直流电压、直流电流、交流电压、交流电流或者电阻； 通信模块，用于所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的数据交互和通信；一个或者多个矩阵开关模块(36)，用于控制所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的?目号流向和电流向； 一个或者多个数字采集模块(31)、数字激励响应卡(32)、电压同步输出模块(33)、多用表模块(34)、通信模块以及一个或者多个矩阵开关模块(36)相互并联，一个或者多个数字采集模块(31)、数字激励响应卡(32)、电压同步输出模块(33)、多用表模块(34)、通信模块以及一个或者多个矩阵开关模块(36)的一端均与所述PXI总线(2)电性连接，另一端均与所述测试接口(4)电性连接。
3.根据权利要求2所述的电路板测试系统，其特征在于， 所述通信模块包括: CAN总线模块(351)，用于所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的分布式控制或者实时控制的串行通信； 1553Β总线模块(352)，用于所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的分布处理、集中控制以及实时响应的时分串行通信； RS232串口模块(353)，用于给所述测试接口(4)提供多个独立的串行通道； RS485串口模块(354)，用于给所述测试接口(4)提供多个独立的联网串行通道； CAN总线模块(351)、1553Β总线模块(352)、RS232串口模块(353)以及RS485串口模块(354)相互并联，CAN总线模块(351)、1553B总线模块(352)、RS232串口模块(353)以及RS485串口模块(354)的一端均与所述PXI总线⑵电性连接，另一端均与所述测试接口(4)电性连接。
4.根据权利要求2所述的电路板测试系统，其特征在于， 所述PXI测试模块还包括边界扫描模块； 所述边界扫面模块用于在调试状态下对所述零槽控制器(I)的输入和输出进行相应观察和控制，其一端与所述PXI总线(2)电性连接，其另一端与所述测试接口(4)电性连 接。
5.根据权利要求1所述的电路板测试系统，其特征在于， 还包括GPIB总线(6)； 所述GPIB总线(6)与所述PXI总线(2)电性连接。
6.根据权利要求5所述的电路板测试系统，其特征在于， 所述GPIB总线(6)与所述测试接口(4)之间可选择性的连接程控电源(61)、台式电源(62)、任意波发生器(63)、多个示波器(64)、逻辑分析仪(65)、电子负载(66)、温度传感器(67)以及仿真器(68)中的一个或者多个。
7.根据权利要求1所述的电路板测试系统，其特征在于: 所述测试接口(4)包括夹具、与所述夹具相配套的适配器盒。
8.根据权利要求7所述的电路板测试系统，其特征在于: 所述适配器包括连接器(71)、接收器(72)、第一外箱(73)、第二外箱(74)以及夹具框架(75)； 所述连接器(71)固定在所述夹具框架(75)的内部，所述接收器(72)固定在所述第二外箱(74)的内部，所述夹具框架(75)位于所述第一外箱(73)和所述第二外箱(74)之间，所述第一外箱(73)与所述第二外箱(74)固定连接。
9.根据权利要求7所述的电路板测试系统，其特征在于: 所述夹具包括位于所述适配器盒外部的连接器插座(Si)和适配板(83)、位于所述连接器插座(81) —侧的延伸接口(82)以及与所述适配器盒电性连接的探笔(85); 所述适配板(83)上设有用于固定所述被测电路板(5)的插座(84)。
10.根据权利要求1所述的电路板测试系统，其特征在于，还包括: 测试数据交换平台(000)，用于数据的交换； 测量程序开发平台(100)，用于建立测试项目和测量步骤； 测量程序执行平台(200)，用于对所述被测电路板(5)自动或者半自动测试； 故障咨询平台(300)，用于发现被测电路板(5)故障时，转入故障诊断模式； 系统管理平台(400)，用于管理所述测试数据交换平台(000)、所述测量程序开发平台(100)、所述测量程序执行平台(200)以及故障咨询平台(300)。
【专利摘要】本发明公开了一种电路板测试系统，属于电子测量领域，其包括零槽控制器、PXI总线、PXI测试模块、测试接口以及被测电路板，所述零槽控制器用于所述测量试验台的控制、信号交互以及数据处理，PXI测试模块用于根据对被测电路板功能特性指标及参数进行测量，所述PXI总线用于所述零槽控制器与所述PXI测试模块之间的信号传输，所述测试接口用于安放所述被测电路板，所述零槽控制器通过所述PXI总线控制所述PXI测试模块对固定在所述测试接口上的所述被测电路板进行故障诊断和性能测试。本发明提供的电路板测试系统，能实现对PCB电路板的整体功能和性能的自动测试，且能够向测量人员提供测量报告，不仅测量周期短，而且测量结果精准。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN104614668
【申请号】CN201510089024
【发明人】贾淑绒, 俞光炜, 郑再平, 苑利维, 王一鹏, 姜丽婷
【申请人】北京精密机电控制设备研究所, 中国运载火箭技术研究院
【公开日】2015年5月13日
【申请日】2015年2月27日