印刷电路板质量检测装置及方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种检测装置及方法，特别是指一种印刷电路板质量检测装置及方 法。
【背景技术】
[0002] 目前，在电子设计过程中，通常都是直接利用厂家提供的印刷电路板上金属走线 的电阻率来计算电阻等各种参数。然而，很多制作样本电路板的厂家为了降低成本，会在金 属走线中参杂劣质的金属，而设计者并不知道。这样，该金属走线的电阻率就会发生改变， 由此测得的各种参数就不准确，对电子设计就会产生影响。因此，设计者在电子设计过程中 测量印刷电路板上金属走线的电阻率，以判断该印刷电路板的质量是非常重要的。
【发明内容】
[0003] 鉴于以上内容，有必要提供一种能够检测金属走线的电阻率的印刷电路板质量检 测装置及方法。
[0004] 一种印刷电路板质量检测装置，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率 P，所述印刷电路板质量检测装置包括有剪切模块、放大模块、长度测量模块及电阻测量模 块，所述剪切模块用以在所述金属走线的位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面，所 述放大模块用以将所述横截面放大，以测量所述横截面的高度和宽度，从而计算出所述横 截面的横截面积S，所述长度测量模块用以测量所述金属走线的长度L，所述电阻测量模块 用以测量所述金属走线的电阻值R，将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公式P =R*S/ L计算出所述金属走线的电阻率P。
[0005] -种印刷电路板质量检测方法，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率 P，包括以下步骤： 一剪切模块在所述金属走线的不同位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面， 一放大模块放大所述横截面，以测量所述横截面的高度和宽度，从而计算出所述横截 面的横截面积S， 一长度测量模块测量所述金属走线的长度L， 一电阻测量模块测量所述金属走线的电阻值R， 将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公式P =R*S/L计算出所述金属走线的电阻 率p。
[0006] 与现有技术相比，在上述印刷电路板质量检测装置及方法中，计算出金属走线的 横截面积S、长度L及电阻值R，再将各个值带入公式P =R*S/L，即可得出所述金属走线的电 阻率P。通过得到的电阻率P与制作印刷电路板的金属走线的合格电阻率相比就可以判 断所述印刷电路板是否是合格的。
【附图说明】
[0007] 图1是本发明印刷电路板质量检测装置的一较佳实施例的连接框图。
[0008] 图2是本发明印刷电路板质量检测方法的一较佳实施例的一流程图。
[0009] 图3是本发明印刷电路板质量检测方法的一测量金属走线的电阻值R的一流程 图。
[0010] 主要元件符号说明
【主权项】
1. 一种印刷电路板质量检测装置，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率p， 其特征在于：所述印刷电路板质量检测装置包括有剪切模块、放大模块、长度测量模块及电 阻测量模块，所述剪切模块用以在所述金属走线的位置制作切片，以露出所述金属走线的 横截面，所述放大模块用以将所述横截面放大，以测量所述横截面的高度和宽度，从而计算 出所述横截面的横截面积S，所述长度测量模块用以测量所述金属走线的长度L，所述电阻 测量模块用以测量所述金属走线的电阻值R，将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公 式P=R*S/L计算出所述金属走线的电阻率P。
2. 如权利要求1所述的印刷电路板质量检测装置，其特征在于：所述长度测量模块通 过测量所述印刷电路板的底片（gerber file)上对应的金属走线的长度来获得L值的大 小。
3. 如权利要求1所述的印刷电路板质量检测装置，其特征在于：所述电阻测量模块包 括一电流计，所述电流计的两个探针分别连接所述金属走线的两端，且用以向所述金属走 线输入一电流I。
4. 如权利要求3所述的印刷电路板质量检测装置，其特征在于：所述电阻测量模块还 包括一电压计，所述电压计的两个探针分别连接所述金属走线的两端，且用以测量所述金 属走线两端的电压U，每个探针具有一内阻R d，所述电阻值R通过公式R=U/I-2 Rd求得。
5. 如权利要求1所述的印刷电路板质量检测装置，其特征在于：所述放大模块为一显 微镜。
6. -种印刷电路板质量检测方法，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率P， 包括以下步骤： 一剪切模块在所述金属走线的位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面， 一放大模块放大所述横截面，以测量所述横截面的高度和宽度，从而计算出所述横截 面的横截面积S， 一长度测量模块测量所述金属走线的长度L， 一电阻测量模块测量所述金属走线的电阻值R， 将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公式P =R*S/L计算出所述金属走线的电阻 率P。
7. 如权利要求6所述的印刷电路板质量检测方法，其特征在于：所述电阻测量模块测 量所述金属走线的电阻值R包括以下步骤： 连接一电流计的两个探针至所述金属走线的两端，且向所述金属走线输入一电流I， 连接一电压计的两个探针至所述金属走线的两端，且测量出所述金属走线两端的电压 U, 通过公式R=U/I-2Rd求得所述电阻值R，所述Rd为每个探针的内阻。
8. 如权利要求7所述的印刷电路板质量检测方法，其特征在于：所述电流计为精密电 流计，所述电压计为精密电压计。
9. 如权利要求6所述的印刷电路板质量检测方法，其特征在于：所述长度测量模块通过 测量所述印刷电路板的底片（gerber file)上对应的金属走线的长度来获得L值的大小。
10. 如权利要求6所述的印刷电路板质量检测方法，其特征在于：所述放大模块为一显 微镜。
【专利摘要】一种印刷电路板质量检测装置，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率ρ，所述印刷电路板质量检测装置包括有剪切模块、放大模块、长度测量模块及电阻测量模块，所述剪切模块用以在所述金属走线的位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面，所述放大模块用以将所述横截面放大，以测量所述横截面的高度和宽度，从而计算出所述横截面的横截面积S，所述长度测量模块用以测量所述金属走线的长度L，所述电阻测量模块用以测量所述金属走线的电阻值R，将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公式ρ=R*S/L计算出所述金属走线的电阻率ρ。本发明还揭示了一种印刷电路板质量检测方法。
【IPC分类】G01R27-08
【公开号】CN104678178
【申请号】CN201310609896
【发明人】欧光峰
【申请人】鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2013年11月27日