薄片体检测装置的检查方法、薄片体检测装置和检查装置的制造方法_4

文档序号:9234331阅读:来源:国知局
的误差的主要原因有多种,但是在用于承载原稿的接触玻璃介于薄片体检测传感器41和原稿之间的结构的情况下,由于该接触玻璃10的制造误差等而产生的产品偏差是上述输出误差的主要原因之一。即,当由于接触玻璃10的产品偏差导致接触玻璃10的透射率或折射率不同时,即使对相同图像浓度的原稿在隔开相同距离的状态下进行检测动作时,薄片体检测传感器41的受光量也不同。其结果,输出产生误差。通常,假设接触玻璃10在产品之间具有相同的透射率、折射率而制成这样的薄片体检测传感器41,并不是考虑到起因于接触玻璃10的产品偏差而产生的透射率或折射率的偏差,来制成这样的薄片体检测传感器41。因此,每个薄片体检测传感器41的输出都产生偏差。
[0057]由于这样的输出误差,存在误检测原稿的可能性。即,在薄片体检测传感器41的输出比预定的阈值大时,判断存在原稿从而进行原稿检测的结构中,由于薄片体检测传感器41的输出因所述误差而比预定的阈值小,所以尽管实际上检测区域存在原稿,但是有可能误判断为不存在原稿。
[0058]在本实施方式的图像处理装置I中,通过由控制部9进行后面所述的处理,能够防止或者抑制薄片体检测传感器41的输出产生误差而导致所述原稿的误检测。
[0059]下面,对检查模式下的控制部9的处理进行说明。图6是检查模式下的控制部9的处理流程图。操作检查模式设定操作部49时,控制部9执行检查模式下的控制部9的处理。并且,在图6的流程图中,步骤S1、S2、……表示处理顺序(步骤)的编号。检查模式下的控制部9的处理是实现本发明的检查方法的处理。
[0060]如图6所示,当操作检查模式设定操作部49时,控制部9控制显示部29显示表示将第一基准薄片体放置到接触玻璃10上的指令的信息(步骤SI)。另外,控制部9进行用于检查的初始设定(步骤S2)。在该初始设定中,例如由第一控制部51使薄片体检测传感器41移动到所述起始点,或者由第二控制部52将薄片体检测传感器41的发光器45的发光量设定为预定的发光量范围的最小值。并且,控制部9在接收到由操作者输入的检查开始指令信号为止进行待机(步骤S3中为“否”)。
[0061]如果控制部9接收到所述检查开始指令信号(步骤S3中为“是”),则第二控制部52使发光器45以最小的发光量发光,薄片体检测处理部50根据由比较器44输出的信号,判断检测区域有无第一基准薄片体(步骤S4)。当判断结果是薄片体检测处理部50判断出所述检测区域不存在所述第一基准薄片体(步骤S5中为“否”),则第一控制部51使薄片体检测传感器41向上方移动所述移动间距(步骤S6),然后返回步骤S4的处理。
[0062]在步骤S5中,当薄片体检测处理部50判断所述检测区域存在所述第一基准薄片体时(步骤S5中为“是”),控制部9检测当前时刻的薄片体检测传感器41和所述第一基准薄片体的距离(第一检测距离),并存储到所述CPU的寄存器(未图示)(步骤S7)。步骤S7的处理包括本发明的第一步骤的处理。
[0063]在步骤S7的处理后,控制部9控制显示部29显示表示将所述第二基准薄片体放置到接触玻璃10上的指令的信息(步骤S8)。另外,控制部9进行所述初始设定(步骤S9)。并且,控制部9在接收到所述检查开始指令信号为止进行待机(步骤SlO中为“否”)。
[0064]如果控制部9接收到所述检查开始指令信号(步骤SlO中为“是”),则进行与步骤S4?S7同样的处理。即,第二控制部52使发光器45以最小的发光量发光,薄片体检测处理部50根据由比较器44输出的所述输出信号,判断检测区域有无所述第二基准薄片体(步骤Sll)。当判断结果是薄片体检测处理部50判断出检测区域不存在所述第二基准薄片体时(步骤S12中为“否”),第一控制部51使薄片体检测传感器41向上方移动所述移动间距(步骤S13),然后返回步骤Sll的处理。
[0065]在步骤S12中,当薄片体检测处理部50判断出所述检测区域存在所述第二基准薄片体时(步骤S12中为“是”),控制部9检测当前时刻的薄片体检测传感器41和所述第二基准薄片体的距离(第二检测距离),并存储到所述CPU的所述寄存器(步骤S14)。步骤S14的处理包括本发明的第一步骤的处理。
[0066]并且,判断部54判断存储于所述CPU的所述寄存器的所述第一检测距离和所述第二检测距离是否均为基准值(所述第一检测距离和所述第二检测距离的组合是否由检查表100规定)(步骤S15)。该步骤S15的处理相当于本发明的第二步骤的处理。当判断结果是判断部54判断出所述第一检测距离和所述第二检测距离中至少一方不是基准值时(步骤S15中为“否”),判断薄片体检测传感器41的输出为非适当(步骤S16)。第二控制部52接受该判断结果,将发光器45的发光量增大一级(步骤S17),然后,控制部9返回步骤SI的处理。该步骤S17的处理相当于本发明的第三步骤的处理。
[0067]如果判断部54判断出所述第一检测距离和所述第二检测距离都是基准值(步骤S15中为“是”),则判断薄片体检测传感器41的输出为适当(步骤S18)。第二控制部52接受该判断,将当前时刻的发光器45的发光量设定为原稿检测处理时的发光量,控制部9结束检查模式下的处理。
[0068]这样,在本实施方式中,边改变基准薄片体和薄片体检测传感器41的距离边由薄片体检测传感器41进行检测动作,检测该薄片体检测传感器41的输出成为所述阈值的距离。并且,判断该检测出的距离与预定的基准值是否一致。判断为不一致时,使薄片体检测传感器41的发光器45的发光量增大。直到薄片体检测传感器41的输出成为所述阈值的检测距离与所述基准值一致为止,重复进行这样的一系列处理。
[0069]由此,能够消除或降低薄片体检测传感器41的输出所产生的误差,使其输出适当化。其结果,能够可靠地检测原稿。
[0070]有时接触玻璃10上放置有图像浓度与检查中使用的基准薄片体差异较大的原稿。在此,检查中只用一种基准薄片体。此时,薄片体检测传感器41和所述原稿分离到由所述检查设定的所述基准薄片体的距离,并使发光器45以由检查设定的发光量发光时,有时从薄片体检测传感器41输出与所述阈值不同的信号。
[0071]对此,在本实施方式中,使用图像浓度不同的两种基准薄片体(所述第一基准薄片体和所述第二基准薄片体)进行检查。因此,与只用一种基准薄片体进行检查的情况相比,针对各种图像浓度的原稿也能够由薄片体检测传感器41输出适当的输出。其结果,能够可靠地检测各种图像浓度的原稿。但是,本发明也包括只使用一种基准薄片体进行检查的情况。只使用一种基准薄片体进行检查时,关于基准薄片体和薄片体检测传感器41的距离的基准值为一个,该基准值存储于存储部28。并且,除了省略图6所示的流程图的步骤S8?S14,以及当判断出检测区域存在所述基准薄片体时,在步骤S15中判断此时的所述基准薄片体和薄片体检测传感器41的检测距离是否与所述基准值一致以外,进行与上述实施方式相同的处理。
[0072]并且,使用三种以上的基准薄片体时,对各种图像浓度的原稿都能够进一步由薄片体检测传感器41输出适当的输出。其结果,能够更可靠地检测各种图像浓度的原稿。
[0073]在本实施方式中,对借助接触玻璃10检测原稿的薄片体检测传感器41进行所述检查。因此,除了薄片体检测传感器41自身老化导致的特性变化之外,即使接触玻璃10的产品偏差或产生脏污,也能够使薄片体检测传感器41的输出适当化。
[0074]以上对本发明的优选实施方式进行了说明,但是本发明不限定于所述内容,能够适用各种变形例。
[0075]不仅在产品出货后进行上述检查,也可以在图像处理装置I的制造阶段进行上述检查。由此,能够消除或者抑制薄片体检测单元32对原稿的检测精度在图像处理装置I之间产生偏差。
[0076]另外,在所述实施方式中,对将原稿作为检测对象的传感器进行检查。但是,传感器的检测对象不限定于原稿,也可以将印刷前或者印刷后的印刷用纸等所有薄片体作为检测对象。
[0077]另外,在所述实施方式中,将检测接触玻璃10上方有无原稿的薄片体检测传感器41作为检查对象。但是,检查对象不限定于该薄片体检测传感器41。例如由所述反射型光学传感器检测纸盘(未图示)中有无薄片体的情况,由所述反射型光学传感器检测
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