、存储模块146及通道切换模块148。传输接口 140可与测试控制模块130-1及测试控制模块130-2分别对应包括多个通道切换模块148。另外，传输接口 140可包括与第I集成电路IC测试模块122-1及第I集成电路IC测试模块122-2分别对应的多个转换模块144及存储模块146。
[0052]识別模块142识別从测试控制模块130接收的上位机系统2的上位机信号所包含的集成电路IC测试识別信息。转换模块144将从测试控制模块130接收的上位机系统2的上位机信号包含的扩展区域的模块分除去，即除去第2命令区域。存储模块146存储转换模块144除去的扩展区域。
[0053]传输接口 140在表示发送由测试控制模块130接收的上位机信号的集成电路IC测试的类别的集成电路IC测试识別信息表示第I集成电路IC测试模块122的情况下，从上位机信号除去扩展区域并发送到第I集成电路IC测试模块122。传输接口 140在集成电路IC测试识別信息显示第2集成电路IC测试模块124时，将上位机信号发送到第2集成电路IC测试模块124。具体而言，传输接口 140通过以下顺序，将对应于集成电路IC测试识別信息的上位机信号发送到第I集成电路IC测试模块122或第2集成电路IC测试模块124的任一个。
[0054]传输接口 140 —从测试控制模块130接收到上位机信号，传输接口 140将该上位机信号输入到识別模块142及通道切换模块148。识別模块142抽出所接收到的上位机信号内的集成电路IC测试识別信息，与预存的表示第I集成电路IC测试模块122的信息及表示第2集成电路IC测试模块124的信息进行比较。
[0055]识別模块142对应该比较结果控制通道切换模块148。例如，识別模块142在集成电路IC测试识別信息与表示第I集成电路IC测试模块122的信息一致时，对通道切换模块148输入第I逻辑值(例如2比特的逻辑值“01”)的信号。识別模块142在集成电路IC测试识別信息与表示第2集成电路IC测试模块124的信息一致时，对通道切换模块148输入第2逻辑值(例如2比特的逻辑值“10”)的信号。
[0056]通道切换模块148具有切换模块152、FIFO缓存器154、FIFO缓存器156、FIFO缓存器158、切换模块162、FIFO缓存器164、FIFO缓存器166及FIFO缓存器168。切换模块152对从测试控制模块130接收的上位机信号发送到第I集成电路IC测试模块122还是发送到第2集成电路IC测试模块124进行切换。切换模块162对从第I集成电路IC测试模块122接收的上位机信号及从第2集成电路IC测试模块124接收的上位机信号的某一个发送到测试控制模块130进行切换。
[0057]FIFO缓存器154暂时累积从测试控制模块130接收的上位机信号。FIFO缓存器154对应测试控制模块130输出上位机信号的定时累积相应的上位机信号。FIFO缓存器154对应从切换模块152输入的读出要求定时，读出暂时被累积的上位机信号。FIFO缓存器154例如具有大于上位机信号的最大度的容量。
[0058]例如，通道切换模块148对应于来自识別模块142的第I逻辑值或第2逻辑值的输入，开始读出在FIFO缓存器154中累积的上位机信号。通道切换模块148在输入了第I逻辑值的情况下，借助于FIFO缓存器158，将从FIFO缓存器154读出的上位机信号输入到转换模块144。通在从识別模块142输入了第2逻辑值的情况下，道切换模块148借助于FIFO缓存器156，将从FIFO缓存器154读出的上位机信号发送到第2集成电路IC测试模块 124。
[0059]作为一例，通道切换模块148在第2集成电路IC测试模块124_1及第2集成电路IC测试模块124-2同时发送相同的上位机信号。通道切换模块148也可选择第2集成电路IC测试模块124-1及第2集成电路IC测试模块124-2的任一个发送上位机信号。
[0060]通道切换模块148可以具有与第I集成电路IC测试模块122-1及第I集成电路IC测试模块122-2分别对应的多个FIFO缓存器158。另外，通道切换模块148也可以具有与第2集成电路IC测试模块124-1及第2集成电路IC测试模块124-2分别对应的多个FIFO缓存器156。
[0061]转换模块144 一从切换模块152接收到具有上位机系统2的上位机信号，即除去作为扩展区域的第2命令区域。转换模块144将除去的第2命令区域中包含的信息输入到存储模块146。转换模块144除去第2命令区域，将转换为上位机系统I的上位机信号发送到第I集成电路IC测试模块122。作为一例，转换模块144在第I集成电路IC测试模块122-1及第I集成电路IC测试模块122-2同时发送相同的上位机信号。转换模块144也可选择第I集成电路IC测试模块122-1及第I集成电路IC测试模块122-2的任一个发送上位机信号。
[0062]转换模块144，例如具有在将上位机系统2的上位机信号转换为上位机系统I的上位机信号时，暂时累积上位机系统2的上位机信号所包含的数据的存储器。转换模块144可通过从在该存储器暂时累积的数据依次读出除去第2命令区域的区域内的数据，生成上位机系统I的上位机信号。
[0063]传输接口 140在集成电路IC测试识別信息表示为发送到第I集成电路IC测试模块122及第2集成电路IC测试模块124的数据包的情况下，可在将上位机信号发送到第2集成电路IC测试模块124的同时，将具有从上位机信号除去了扩展区域模块分的上位机系统I的上位机信号发送到第I集成电路IC测试模块122。例如，识別模块142所识別的集成电路IC测试识別信息表示第I集成电路IC测试模块122及第2集成电路IC测试模块124时，识別模块142对切换模块152输入第3逻辑值(例如2比特的逻辑值“11”)。
[0064]切换模块152 —从识別模块142接收到第3逻辑值的输入，借助于FIFO缓存器158，将从FIFO缓存器154读出的上位机信号输入到转换模块144。并且，切换模块152借助于FIFO缓存器156，将从FIFO缓存器154读出的上位机信号发送到第2集成电路IC测试模块124。
[0065]在转换模块144中，传输接口 140通过在从第I集成电路IC测试模块122接收的上位机系统I的上位机信号附加存储模块146存储的第2命令区域，生成上位机系统2的上位机信号。传输接口 140将在转换模块144生成的上位机系统2的上位机信号发送到测试控制模块130。另外，传输接口 140将从第2集成电路IC测试模块124接收的上位机系统2的上位机信号不经转换模块144发送到测试控制模块130。
[0066]具体而言，转换模块144，在暂时存储器等的存储介质累积从第I集成电路IC测试模块122接收的上位机系统I的上位机信号。转换模块144在向第I集成电路IC测试模块122发送上位机信号时，从存储模块146中读出在存储模块146中存储的第2命令区域的数据。转换模块144还通过在暂时存储器等存储介质中累积的上位机系统I的上位机信号上附加从存储模块146中读出的第2命令区域的数据，生成上位机系统2的上位机信号。
[0067]转换模块144借助于FIFO缓存器166，将生成的上位机系统2的上位机信号输入到切换模块162。切换模块162从FIFO缓存器166 —接收到上位机信号，借助于FIFO缓存器164将该上位机信号发送到测试控制模块130。
[0068]第2集成电路IC测试模块124输出的第2构造的上位机信号，不经过转换模块144而被输入到FIFO缓存器168。切换模块162从FIFO缓存器168 —接收到上位机信号，就通过FIFO缓存器164将该上位机信号发送到测试控制模块130。
[0069]通道切换模块148可以具有对应第I集成电路IC测试模块122_1及第I集成电路IC测试模块122-2的多个FIFO缓存器166。另外，通道切换模块148可以具有对应第2集成电路IC测试模块124-1及第2集成电路IC测试模块124-2的多个FIFO缓存器168。
[0070]切换模块162，例如，对应表示FIFO缓存器166及FIFO缓存器168内的数据达到规定的量的信号，选择将FIFO缓存器166及FIFO缓存器168的某一个连接到FIFO缓存器164。具体而言，切换模块162，在从FIFO缓存器166及FIFO缓存器168的任一个接收了表示缓存器溢出的信号时，将从表示输出该缓存器溢出的信号的FIFO缓存器166或FIFO缓存器168输入的上位机信号输入到FIFO缓存器164。切换模块162对应识別模块142输出的信号的逻辑值，将切换FIFO缓存器166及FIFO缓存器168的某一个连接到FIFO缓存器164。
[0071]另外，切换模块162可与切换模块152的连接切换定时同步，切换连接。具体而言，如果切换模块152借助于转换模块144向第I集成电路IC测试模块122发送上位机信号，切换模块162就在响应该上位机信号并接收第I集成电路IC测试模块122发送的控制数据为止的时间内，为了通过转换模块144从第I集成电路IC测试模块122接收上位机信号可以进行切换。
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