一种测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电路板测试技术领域，尤其是涉及一种测试工装。
【背景技术】
[0002]目前，印刷电路板(PCBA)在制备过程中都会预留测试点，传统用于测试PCBA的测试工装中，每一个测试工装都具有与其测量的PCBA的测试点对应分布的探针，通过使探针与测试点连接来测试PCBA的功能，因此，每一个测试工装只能用于测试一款PCBA。
[0003]目前，PCBA产品设计的种类繁多，由于每一种类都需要对应的测试工装，因此目前的PCBA产品设计成本很高；另外，一旦一个项目结案，很多测试工装就会被搁置甚至报废，从而造成很大的成本浪费。
【发明内容】
[0004]本发明提供了一种测试工装，用以解决现有技术中每一种测试工装只能用于测试一款电路板、适用范围较小的问题。
[0005]为达到上述目的，本发明提供以下技术方案:
[0006]一种测试工装，包括:
[0007]测试平台；
[0008]与所述测试平台相对设置的电磁继电器平台；
[0009]位于所述电磁继电器平台和所述测试平台之间的多个探针组件，每一个所述探针组件包括电磁座、以及安装于所述电磁座背离所述电磁继电器平台一侧的探针；当所述电磁继电器平台通电时，每一个所述电磁座与所述电磁继电器平台通过电磁力吸合在一起。
[0010]上述测试工装中，探针组件通过电磁力的作用固定于电磁继电器平台，因此，通过控制电磁力可以使探针组件固定于电磁继电器平台或者与电磁继电器平台分开；具体地，当电磁继电器平台通电时可以产生电磁力，探针组件与电磁继电器平台由于电磁力的作用吸合在一起、从而可以使探针组件相对于电磁继电器平台固定，进而可以进行测试电路板；当电磁继电器平台断电时，电磁力消失，此时探针组件可以脱离电磁继电器平台并进行移动，进而可以重新分布探针的位置以使该测试工装可以用于测试其他电路板。
[0011]因此，上述测试工装可以用于测试多种电路板，适用范围很广。
[0012]优选地，每一个探针组件中，探针朝向所述测试平台的方向延伸，且所述探针可沿其延伸方向伸缩运动地安装于所述电磁座。
[0013]优选地，每一个探针组件的探针朝向所述测试平台的一端与所述测试平台之间的距离不完全相同。
[0014]优选地，每一个探针组件中，所述探针可拆卸地安装于所述电磁座。
[0015]优选地，每一个探针组件中，所述探针包括:安装于所述电磁座的伸缩杆；可拆卸地安装于所述伸缩杆的探头。
[0016]优选地，每一个所述探针的探头长度不同。
[0017]优选地，每一个探针组件中，电磁座设有延伸方向与所述探针的延伸方向相同的导向槽，所述探针的伸缩杆可沿所述导向槽伸缩运功地安装于所述电磁座。
[0018]优选地，每一个探针组件还包括安装于所述电磁座与所述伸缩杆之间的弹性件。
[0019]优选地，所述弹性件为弹簧，所述弹簧的一端与所述探针的伸缩杆相连、另一端与所述电磁座相连。
[0020]优选地，每一个探针组件中，所述电磁座还设有与所述探针的延伸方向垂直设置的档板，所述挡板设有与所述探针的伸缩杆间隙配合的通孔。
[0021]优选地，每一个探针组件中，所述探针的伸缩杆表面设有限位部，所述限位部位于所述挡板与所述电磁座之间、且与所述挡板相抵。
[0022]优选地，每一个探针组件中，探头距离所述探头朝向测试平台的一端的设定距离处设有定位部。
【附图说明】
[0023]图1为本发明实施例提供的测试工装的结构示意图；
[0024]图2为本发明实施例提供的电磁继电器平台与探针组件的结构示意图。
【具体实施方式】
[0025]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0026]请参考图1和图2。
[0027]如图1和图2所示，本发明实施例提供的一种测试工装，包括:
[0028]测试平台1 ;
[0029]与测试平台1相对设置的电磁继电器平台2 ;
[0030]位于电磁继电器平台2和测试平台1之间的多个探针组件3，每一个探针组件3包括电磁座4、以及安装于电磁座4背离电磁继电器平台2 —侧的探针5 ;当电磁继电器平台2通电时，每一个电磁座4与电磁继电器平台2通过电磁力吸合在一起。
[0031]上述测试工装中，探针组件3通过电磁力的作用固定于电磁继电器平台2，因此，通过控制电磁力可以使探针组件3固定于电磁继电器平台2或者与电磁继电器平台2分开；具体地，当电磁继电器平台2通电时可以产生电磁力，探针组件3与电磁继电器平台2通过电磁力的作用可以吸合在一起、从而可以使探针组件3相对于电磁继电器平台2固定，进而可以进行测试电路板10 ;当电磁继电器平台2断电时，电磁力消失，此时探针组件3可以脱离电磁继电器平台2并进行移动，进而可以重新分布探针5的位置以使该测试工装可以用于测试其他电路板10。
[0032]因此，上述测试工装可以用于测试多种电路板，适用范围很广。
[0033]如图1和图2所示，一种具体的实施例中，每一个探针组件3中，探针5朝向测试平台1的方向延伸，且探针5可沿其延伸方向伸缩运动地安装于电磁座4。
[0034]每一个探针5可沿其延伸方向伸缩运动地安装于电磁座4，可以避免探针5与电路板10的测试点连接不良；具体地，当多个探针组件3中探针5朝向测试平台1的一端(探测端50)距离待测电路板10的距离不完全一致时，在将电磁继电器平台2向下移动以使探针5的探测端50与电路板10的测试点接触的过程中，探测端50距离电路板10较近的探针5会首先与电路板10接触，此时，由于探针5可沿其延伸方向伸缩运动，因此，可以将电磁继电器平台2继续向下移动，直到探测端50距离电路板10最远的探针5也完全与电路板的测试点相接触；所以，本发明的测试工装可以解决探针5的探测端50高度不一致时某些探针5与电路板10接触不良的问题。
[0035]如图1和图2所示，在上述实施例的基础上，一种具体的实施例中，每一个探针组件3的探针5朝向测试平台1的一端(探测端50)与测试平台1之间的距离不完全相同。
[0036]目前所有的测试工装对于电路板10的各个测试点均为同时上电，但实际上大多数芯片对上电时序是有一定要求的，因此，同时上电可能会损坏电子元器件甚至导致整个电路板10无法正常工作。
[0037]本发明的测试工装在用于测试电路板10时，由于待测电路板10放置于测试平台1上，而每一个探针组件3中，探针5的探测端50与测试平台1之间的距离不完全相同，且探针5可沿其延伸方向收缩，因此，在将电磁继电器平台2向下移动以使每一个探针5分别与电路板10的测试点接触的过程中，多个探针5将按照长短顺序先后与电路板10的测试点相接触，即多个探针5可以实现对电路板10的各测试点按照一定时序进行上电，因此，本发明的测试工装可以满足电路板10对上电时序的要求。
[0038]如图1所示，在上述各实施例的基础上，一种具体的实施例中，每一个探针组件3中，探针5可拆卸地安装于电磁座4。