号为0，则选择第二第二复用选择器的数据输入端作为寄存器输入，而该数据输入端连接到了寄存器的输出，由此，前级寄存器的输出反馈到输入，取值保持不变，也就是锁存了时序测试模式下的结果。基于图6所示的例子，本领域技术人员还可以进行适当修改，以通过从寄存器输出到输入的回路来锁存测试结果。
[0046]由此，通过以上描述的步骤，构建了一种用于存储器时序测试的扫描链。该扫描链由于在输入边界寄存器上游布置特定数目的非边界寄存器，从而非常有利于测试向量的加载。
[0047]相应地，根据本发明第二方面的实施例，还提供了通过上述方法构建的扫描链。
[0048]在一个实施例中，构建的扫描链具有如下结构，也就是包括:输入边界寄存器，其是存储器的输入引脚所连接到的第一级寄存器；在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器，存在至少(N-1)个连续的非边界寄存器，其中N是所述输入边界寄存器所需的测试向量的数目；并且，所述输入边界寄存器以及所述(N-1)个非边界寄存器被设置为，在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。
[0049]具体地，如果所述输入边界寄存器是连接到存储器地址引脚的A类寄存器，那么所需要的测试向量的数目N被确定为4 ;如果所述输入边界寄存器是连接到存储器数据引脚的B类寄存器，那么所需要的测试向量的数目N被确定为3 ;如果所述输入边界寄存器是连接到存储器控制引脚的C类寄存器，那么所需要的测试向量的数目N被确定为4。
[0050]在一个实施例中，在所述扫描链中，所述N-1个非边界寄存器中的前N-2个的每一个的输出被连接到下一非边界寄存器所对应的复用选择器的扫描输入端，所述N-1个非边界寄存器中的最后一个的输出被连接到所述输入边界寄存器所对应的复用选择器的扫描输入端。图4示出以A类寄存器为例，示出了这样的连接结构。在图4中，由于A类寄存器需要的测试向量的数目N = 4，因此，在A类寄存器上游，布置了 3个非边界寄存器(X类寄存器)，这3个X类寄存器依次连续连接，其每一个都将其输出连接到下游寄存器所对应的复用选择器的扫描输入端。
[0051]在一个实施例中，为了实现寄存器的信号控制，对于扫描链中的输入边界寄存器和(N-1)个非边界寄存器中，直接利用指示存储器时序测试模式的信号来控制其分别对应的复用选择器。
[0052]在另一实施例中，对于上述各寄存器，添加有一或门，指示存储器时序测试模式的信号和原有扫描链的原有扫描使能信号两者被设置为该或门的输入，该或门的输出被设置为上述各寄存器对应的复用选择器的选择控制信号。可以理解，可以为上述各寄存器分别设置或门，也可以设置供上述寄存器的一部分或全部共用的或门。图5示出了这样的例子。
[0053]在一个实施例中，扫描链还包括输出边界寄存器，所述输出边界寄存器是存储器的输出引脚所连接到的第一级寄存器；并且所述输出边界寄存器被设置为锁存存储器时序测试模式下的结果。
[0054]在一个实施例中，如果存在输出到输出边界寄存器的另一寄存器，为了使得所述输出边界寄存器能够锁存测试结果，在输出到输出边界寄存器的寄存器的输出和输入之间形成有一回路，该回路通过附加的复用选择器和存储器时序测试模式信号进行控制。图6示出了这样的例子。
[0055]以上描述了所构建的扫描链。该扫描链由于在输入边界寄存器上游布置特定数目的非边界寄存器，从而非常有利于测试向量的加载，进而有利于存储器时序测试的进行。
[0056]根据本发明第三方面的实施例，还提供了利用以上所述的扫描链进行存储器时序测试的方法。
[0057]图7示出根据一个实施例利用扫描链进行存储器时序测试的方法的流程图。如前所述，所述扫描链包括输入边界寄存器，其是存储器的输入引脚所连接到的第一级寄存器；在所述扫描链中所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器，存在至少(N-1)个连续的非边界寄存器，其中N是所述输入边界寄存器所需的测试向量的数目；并且，所述输入边界寄存器以及所述(N-1)个非边界寄存器被设置为，在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。如图7所示，基于该扫描链的测试方法包括:步骤71，在存储器时序测试模式下，将N个所需的测试向量一次性地分别直接加载到所述输入边界寄存器和所述(N-1)个非边界寄存器；以及步骤73，在所述N个所需的测试向量依次通过存储器输入引脚之后，读取测试结果。
[0058]如上所述，在扫描链中，在输入边界寄存器上游存在至少(N-1)个连续的非边界寄存器，这为N个测试向量的直接加载提供了条件和基础。也就是说，上游的(N-1)个非边界寄存器加上输入边界寄存器这连续的N个寄存器正好可以用于加载所需要的N个测试向量。因此，在步骤73，可以首先通过将指示存储器时序测试模式的信号(上文所述的STM信号)设置为1，来将扫描链设置于存储器时序测试模式。在此模式下，就可以将N个所需的测试向量一次性地分别直接加载到上述(N-1)个非边界寄存器和输入边界寄存器。
[0059]图8示意性示出测试向量的加载。如前所述，B类寄存器所需的测试向量的数目N=3，因此，在图8的扫描链片段中，在B类寄存器上游布置有2个非边界寄存器(示出为X寄存器)。另外，如图8右侧所示，L表示测试向量在扫描链中的移入，或者加载。经过L，B类寄存器所需的三个测试向量被放入B类寄存器及其上游的两个X寄存器。在测试向量移入之后，通过事件(P_P，P)来将这三个测试向量发射到待测模块即存储器。其中P-P表示连续的两个短脉冲，P表示一个长脉冲。其中，第一个短脉冲将B类寄存器中的测试向量发射到存储器，将B类寄存器上游第一个X寄存器中的测试向量移位到B类寄存器，将B类寄存器上游第二个X寄存器中的测试向量移位到B类寄存器上游第一个X寄存器。第二个短脉冲和长脉冲的作用类似。这样就将三个测试向量都发射到存储器。图8中的弯曲箭头指示了测试向量的发射与脉冲之间的关系。在全部测试向量被发射之后，用另一个脉冲P将测试结果即存储器的输出读回到扫描链。U表示测试结果在扫描链中的移出，或者卸载。
[0060]可以理解，寄存器上设置有时钟控制信号，用于在各个寄存器之间实现同步。因此，随着时钟推移，上游寄存器加载的测试向量作为扫描输入依次传递给下游寄存器。因此，B类寄存器在通过直接加载获得测试向量之后，通过上游的传递，获得后续的测试向量。进而，B类寄存器将测试向量传递给存储器的数据引脚。对于A类寄存器和上游的3个X类寄存器，也可以进行类似的操作。
[0061]在以上过程中，所需的测试向量被一次性地直接加载到输入边界寄存器及其上游的非边界寄存器，这些测试向量进而可以直接到达存储器引脚，实现测试。这绕过了集成电路中的组合逻辑，摆脱了现有技术中对组合逻辑复杂度的依赖。更具体地，在现有技术中，测试路径往往涉及寄存器之间的、由组合逻辑构成的功能路径。因为要考虑这些功能路径对测试向量的影响，测试向量的产生和加载都依赖于这些功能路径的复杂度。在复杂的功能路径的情况下，往往一次只能产生和加载一个测试向量，在该测试向量通过目标元件之后，就进行卸载，之后重新产生并加载下一测试向量。而在图8所示的本发明实施例的情况下，多个测试向量可以同时被加载，并经由输入边界寄存器依次到达存储器输入引脚。这使得测试向量的产生和加载都大大简化，也使得测试向量的有效性得到提高。
[0062]在所需的N个测试向量依次通过存储器输入引脚之后，在步骤73，可以在存储器输出侧读取测试结果。
[0063]在一个实施例中，扫描链还包括输出边界寄存器，所述输出边界寄存器是存储器的输出引脚所连接到的第一级寄存器；并且所述输出边界寄存器被设置为锁存存储器时序测试模式下的结果。在此情况下，在步骤73中，通过所述输出边界寄存器，读取锁存的测试结果。
[0064]通过以上方法，存储器时序测试过程得到简化，效率得到提高。
[0065]基于同样的发明构思，在本发明第四方面的实施例中，提供一种构建扫描链用于存储器时序测试的装置。
[0066]图9示出根据一个实施例的构建扫描链的装置。如图9所示，该装置总体上示出为90，并包括:边界寄存器确定模块91，配置为确定存储器的输入边界寄存器，所述输入边界寄存器是存储器的输入引脚所连接到的第一级寄存器；向量数目确定模块92，配置为根据所述输入边界寄存器所连接到的存储器输入引脚的类型，确定所述输入边界寄存器所需的测试向量的数目N;扫描链布置模块93，配置为基于所述数目N，布置扫描链，使得在所述扫描链中，在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器，存在至少(N-1)个连续的非边界寄存器；以及控制设置模块94，配置为设置所述输入边界寄存器以及所述(N-1)个非边界寄存器的控制信号，使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。
[0067]在一个实施例中，所述向量数目确定模块92配置为:对于连接到存储器的地址引脚的输入边界寄存器，确定所需的测试向量的数目N为4 ;对于连接到存储器的数据引脚的输入边界寄存器，确定所需的测试向量的数目N为3 ;对于连接到存储器的控制引脚的输入边界寄存器，确定所需的测试向量的数目N为4。
[0068]在一个实施例中，所述扫描链布置模块93配置为:将所述N-1个非边界寄存器中的前N-2个的每一个的输出连接到下一非边界寄存器所对应的复用选择器的扫描输入端，并将所述N-1个非边界寄存器中的最后一个的输出连接到所述输入边界寄存器所对应的复用选择器的扫描输入端。
[0069]在一个实施例中，所述扫描链布置模块93还配置为:从所述输入边界寄存器开始，沿原有扫描