接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法

接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法
【专利摘要】本发明提供了一种接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法，接触测试装置，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，所述接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置；所述接触检测装置的检测端与所述探测装置的探测端平齐，当所述探测装置的探测端与所述待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。本发明提供的接触测试装置能够根据提示信号获知探测装置和待测区域是否接触良好，从而避免了因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
【专利说明】
接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法
技术领域
[0001]本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法。
【背景技术】
[0002]面板测试Celltest是产品在面板Cell工程完成后进行的检测，有着十分重要的意义。现有的检测方法是将信号通过夹具上的探针加载到glass上的测试Pad，进而传递信号，根据显示画面可判断出面板是否存在缺陷。然而，如果夹具上的探针跟测试pad接触不好，就无法准确判断面板是否有问题。例如，当采用现有的检测方法检测到面板有问题时，很有可能会是这样一种状况:面板本身没有问题，检测结果是由于探针和测试pad接触不良导致的。

【发明内容】

[0003]针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法，能够根据提示信号获知探测装置和待测区域是否接触良好，从而避免了因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
[0004]为解决上述技术问题，本发明提供以下技术方案:
[0005]第一方面，本发明提供了一种接触测试装置，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，所述接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置;所述接触检测装置的检测端与所述探测装置的探测端平齐，当所述探测装置的探测端与所述待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。
[0006]优选地，所述接触检测装置包括金属柱状结构。
[0007]优选地，所述接触检测装置包括金属检测罩，所述探测装置位于所述金属检测罩内且与所述金属检测罩绝缘。
[0008]优选地，所述探测装置位于所述金属检测罩的中心。
[0009]优选地，所述金属检测罩与所述待测区域接触的表面为圆形表面，所述圆形表面的面积等于所述待测区域内切圆的面积。
[0010]优选地，所述接触检测装置包括金属检测罩，所述探测装置位于所述金属检测罩外。
[0011]优选地，所述金属检测罩为金属柱形检测罩、金属圆台检测罩、金属锥形检测罩和金属棱锥检测罩中的任意一种。
[0012]优选地，所述信号提示装置包括信号提示灯。
[0013]优选地，所述接触测试装置还包括:第一检测线、第二检测线和第三检测线，所述探测装置的非探测端通过所述第一检测线与所述信号提示装置的一端相连，所述信号提示装置的另一端通过所述第二检测线与所述电源装置的一端相连，所述电源装置的另一端通过所述第三检测线与所述接触检测装置的非检测端相连。
[0014]第二方面，本发明还提供了一种液晶盒测试设备，包括待测试的液晶盒、设置在所述液晶盒上的待测区域、用于向所述液晶盒传输测试信号的探测装置和如上面所述的接触测试装置。
[0015]优选地，所述液晶盒上设置有多个待测区域，所述液晶盒测试设备还包括多个探测装置以及多个接触测试装置;其中，所述探测装置与所述待测区域一一对应，所述探测装置与所述待接触测试装置一一对应；
[0016]每个探测装置与对应的待测区域接触时，与该探测装置对应的待测区域以及与该探测装置对应的接触测试装置中的接触检测装置、信号提示装置以及电源装置会和该探测装置形成独立闭合回路，以使与该探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置发出接触成功的提示信号。
[0017]优选地，所述液晶盒测试设备还包括用于固定所述多个探测装置的载体。
[0018]优选地，所述液晶盒测试设备还包括信号转接板，所述信号转接板与所述探测装置相连，用于向所述探测装置传输测试信号。
[0019]优选地，所述液晶盒测试设备还包括:底座以及与所述底座相适配的卡接装置，所述待测试的液晶盒固定在所述底座上，所述卡接装置上承载有所述探测装置以及所述接触测试装置。
[0020]第三方面，本发明还提供了一种应用如上面所述的液晶盒测试设备的液晶盒测试方法，包括:
[0021 ]使探测装置与液晶盒上的待测区域接触；
[0022]若确定所述探测装置与液晶盒上的待测区域接触成功，则向所述探测装置传输预设测试信号，以对所述液晶盒进行测试。
[0023]优选地，在所述确定所述探测装置与液晶盒上的待测区域接触成功之前，所述方法还包括:
[0024]判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功。
[0025]优选地，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括:
[0026]若所述液晶盒上只有一个待测区域，则判断所述探测装置是否与所述待测区域接触成功；
[0027]若所述液晶盒上有多个待测区域，则判断与所述多个待测区域一一对应的探测装置是否均与对应的待测区域接触成功，当每个探测装置均与对应的待测区域接触成功时，确定所述探测装置与所述待测区域接触成功。
[0028]优选地，当所述液晶盒上只有一个待测区域时，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括:判断与所述探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置是否发出接触成功的提示信号，若是，则确定所述探测装置与所述待测区域接触成功；
[0029]当所述液晶盒上有多个待测区域时，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括:
[0030]判断与每个探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置是否均发出接触成功的提示信号，若是，则确定所述探测装置与所述待测区域接触成功。
[0031]由上述技术方案可知，本发明所述的接触测试装置，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置;其中，接触检测装置的检测端与探测装置的探测端平齐，当探测装置的探测端与待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。可见，当接触测试装置未发出接触成功的提示信号时，表示探测装置与所述待测区域接触不良，进而可以提醒相关人员采取一定的措施保证探测装置与待测区域的正常接触，然后再进行相关测试信号的传递以判断面板是否存在缺陷，这样可以避免由于探测装置与待测区域接触不良导致的误判情况的发生。由此可知，本实施例提供的接触测试装置能够根据提示信号获知探测装置(如探针)和待测区域(如液晶板上的cell test pad)是否接触良好，从而避免了因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
【附图说明】
[0032]为了更清楚地说明本实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1是实施例二提供的接触测试装置的结构示意图；
[0034]图2是实施例二提供的探测装置与待测区域接触良好以及接触不好时的示意图；
[0035]图3是实施例三提供的接触测试装置的一种结构示意图(探测装置位于金属检测罩内)；
[0036]图4是实施例三提供的探测装置与待测区域接触良好以及接触不好时的示意图；
[0037]图5是探测装置位于金属检测罩中心时两者之间的位置关系示意图；
[0038]图6是本发明其他实施例提供的接触测试装置的一种结构示意图(探测装置位于金属检测罩外)；
[0039]图7是实施例三提供的接触测试装置的另一种结构示意图(带有检测线)；
[0040]图8是实施例四提供的液晶盒测试设备的结构示意图；
[0041 ]图9是带有多个待测区域的液晶盒的示意图；
[0042]图10是实施例五提供的液晶盒测试设备的结构示意图；
[0043]图11是等效电路图；
[0044]图12是面板测试Celltest夹具的俯视图；
[0045]图13是实施例六提供的液晶盒测试方法的流程图；
[0046]图14是实施例六提供的液晶盒测试方法的另一种流程图；
[0047]其中，100表示探测装置;200表示待测区域；I表示采用金属柱状结构实现的接触检测装置；I’表示采用金属检测罩实现的接触检测装置；101表示探测装置100的探测端；102表示探测装置100的非探测端；11表示采用金属柱状结构实现的接触检测装置的检测端；11’表示采用金属检测罩实现的接触检测装置的检测端；12 ’表示采用金属检测罩实现的接触检测装置的非检测端;2表示电源装置;3表示信号提示装置;4表示第一检测线；5表示第二检测线;6表示第三检测线；7表示载体;8表示信号转接板;a表示对位螺钉;b表示下压把手。
【具体实施方式】
[0048]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0049]面板测试Celltest是产品在面板Cell工程完成后进行的检测，有着十分重要的意义。其检测方法是将信号通过夹具上的探针加载到面板上的测试Pad，进而传递信号，根据显示画面可判断出面板是否存在缺陷。现有开发的产品由于其设计特点一般采用制作方便快捷的cell test夹具对面板进行检测。夹具按照设计图纸提前制作，但是在实际运用过程中，由于制作误差或者工艺过程中出现一些问题，比如封框胶溢出等导致面板对位不准确，从而使夹具的探针跟测试Pad接触不好，导致画面显示跟预期存在差异，从而无法准确判断面板是否有问题。基于这一问题，本发明设计了一种接触测试装置，该接触测试装置能够自动检测cell test夹具与面板测试Pad接触是否良好，并能给出提示信号，这样就可以大大提高cell test的准确率。
[0050]下面将通过实施一至实施六具体介绍本发明提供的接触测试装置、液晶盒测试设备以及液晶盒测试方法。
[0051 ] 实施例一
[0052]本发明实施例一提供了一种接触测试装置，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，所述接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置;所述接触检测装置的检测端与所述探测装置的探测端平齐，当所述探测装置的探测端与所述待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。
[0053]本实施例所述的接触测试装置，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置;其中，接触检测装置的检测端与探测装置的探测端平齐，当探测装置的探测端与待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。可见，当接触测试装置未发出接触成功的提示信号时，表示探测装置与所述待测区域接触不良，进而可以提醒相关人员采取一定的措施保证探测装置与待测区域的正常接触，然后再进行相关测试信号的传递以判断面板是否存在缺陷，这样可以避免由于探测装置与待测区域接触不良导致的误判情况的发生。由此可知，本实施例提供的接触测试装置能够根据提示信号获知探测装置(如探针)和待测区域(如液晶板上的cell test pad)是否接触良好，从而避免了因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
[0054]实施例二
[0055]本发明实施例二中给出上述接触测试装置中的接触检测装置的一种具体实现结构，具体介绍如下。
[0056]在本实施例中，所述接触检测装置可以采用金属柱状结构实现。参见图1，图1中，100表示探测装置;200表示待测区域;I表示采用金属柱状结构实现的接触检测装置;2表示电源装置;3表示信号提示装置;101表示探测装置100的探测端，11表示接触检测装置I的检测端;
[0057]如图1所示，本实施例中接触检测装置I和探测装置100的结构类似，接触检测装置I可以采用金属柱状结构实现，例如金属探针、金属柱状笔等。实际应用中，探测装置100—般采用金属探针或金属棒实现。图1所示的探测装置100采用金属棒实现。
[0058]从图中可以看出，所述接触检测装置I的检测端11与所述探测装置100的探测端101平齐，当所述探测装置的探测端101与所述待测区域200接触时，所述探测装置100、所述接触检测装置1、所述待测区域200、所述信号提示装置3和所述电源装置2形成闭合回路，以使所述信号指示装置3发出接触成功的提示信号。
[0059]参见图1和2，当探测装置100的探测端101与待测区域200接触良好时，接触检测装置I，电源装置2、信号提示装置3、待测区域200和探测装置100组成的闭合回路处于通路状态，信号提示装置3发出接触成功的提示信号，表示探测装置100与待测区域200接触良好；若探测装置100的探测端101偏离待测区域200(参见图2)，这时接触检测装置I，电源装置2、信号提示装置3、待测区域200和探测装置100组成的回路处于断路的状态，信号提示装置3不会发出接触成功的提示信号，此时表明探测装置100与待测区域200接触不好，倘若此时通过探测装置100向待测区域200传输测试信号，则肯定会得出待测区域200有品质问题的测试结果。然而实际上，待测区域200很可能并没有问题，只是由于探测装置100与待测区域200接触不良。因此，在对待测区域200进行真正测试之前，可采用本实施例所述的接触测试装置进行接触测试，来确定探测装置100与待测区域200是否接触良好。当探测装置100与待测区域200接触不好时，应及时调整探测装置100，使探测装置100与待测区域200接触，并重新采用本实施例所述的接触测试装置进行接触测试，当确定探测装置100与待测区域200接触良好时，再通过探测装置100向待测区域200传输测试信号，对待测区域200进行品质测试，以避免因接触不好导致的误判情况。另外，本实施例所述的接触测试装置不但结构简单，造价成本低，而且较为实用，可以大大提高cell检测的准确率。
[0060]这里应该理解，在进行接触测试时，所述接触检测装置I的检测端11应始终与所述待测区域200保持接触，以保证当信号指示装置3未发出接触成功的提示信号时，可以直接确定是因探测装置100的探测端101未与待测区域200正常接触导致的。
[0061]但是在实际应用时，却常常无法保证所述接触检测装置I的检测端11始终与所述待测区域200接触(实施起来较为麻烦或无法实施)，鉴于此，本实施例提供的接触测试装置可能会存在以下问题:
[0062]a.当探测装置100与待测区域200接触良好时，而接触检测装置I与待测区域200接触不好，信号指示装置不会发出接触成功的提示信号，此时容易让相关人员误认为是因探测装置100没有与待测区域200接触良好引起的。
[0063]b.当接触检测装置I和探测装置100均未与待测区域200接触良好时，信号指示装置不会发出接触成功的提示信号，此时相关人员无法确定是该调整接触检测装置I还是调整探测装置100。
[0064]为了解决这一问题，本发明实施例三给出了上述接触检测装置的另一种具体实现结构。
[0065]实施例三
[0066]本发明实施例三中给出上述接触测试装置中的接触检测装置的另一种具体实现结构，具体介绍如下。
[0067]在实施例中，所述接触检测装置包括金属检测罩，所述探测装置位于所述金属检测罩内且与所述金属检测罩绝缘。参见图3，图3中，100表示探测装置;200表示待测区域;I’表示采用金属检测罩实现的接触检测装置;2表示电源装置;3表示信号提示装置；101表示探测装置100的探测端，11’表示接触检测装置I，的检测端；
[0068]如图3所示，本实施例中接触检测装置I采用金属检测罩实现，其中，金属检测罩的形状不限。例如可以为金属柱形检测罩、金属圆台检测罩、金属锥形检测罩和金属棱锥检测罩中的任意一种。图3所示的金属检测罩为金属圆台检测罩。实际应用中，探测装置100—般采用金属探针实现。
[0069]从图中可以看出，所述接触检测装置I’的检测端11’与所述探测装置100的探测端101平齐，探测装置位于所述接触检测装置I’(金属检测罩)内且与所述金属检测罩绝缘，当所述探测装置的探测端101与所述待测区域200接触时，所述金属检测罩的检测端11’也与所述待测区域200接触，所述探测装置100、所述接触检测装置I’、所述待测区域200、所述信号提示装置3和所述电源装置2形成闭合回路，以使所述信号指示装置3发出接触成功的提不信号。
[0070]参见图3和4，当探测装置100的探测端101与待测区域200接触良好时，接触检测装置I’，电源装置2、信号提示装置3、待测区域200和探测装置100组成的闭合回路处于通路状态，信号提示装置3发出接触成功的提示信号，表示探测装置100与待测区域200接触良好；若探测装置100的探测端101偏离待测区域200(参见图4)，这时接触检测装置I’，电源装置
2、信号提示装置3、待测区域200和探测装置100组成的回路处于断路的状态，信号提示装置3不会发出接触成功的提示信号，此时表明探测装置100与待测区域200接触不好，倘若此时通过探测装置100向待测区域200传输测试信号，则肯定会得出待测区域200有品质问题的测试结果。然而实际上，待测区域200很可能并没有问题，只是由于探测装置100与待测区域200接触不良。因此，在对待测区域200进行真正测试之前，可采用本实施例所述的接触测试装置进行接触测试，来确定探测装置100与待测区域200是否接触良好。当探测装置100与待测区域200接触不好时，应及时调整探测装置100，使探测装置100与待测区域200接触，并重新采用本实施例所述的接触测试装置进行接触测试，当确定探测装置100与待测区域200接触良好时，再通过探测装置100向待测区域200传输测试信号，对待测区域200进行品质测试，以避免因接触不好导致的误判情况。另外，本实施例所述的接触测试装置不但结构简单，造价成本低，而且较为实用，可以大大提高cell检测的准确率。
[0071 ]从本实施例可以看出，为了避免出现上述实施例二描述的问题，本实施例的接触检测装置采用金属检测罩实现，并使得探测装置位于所述金属检测罩内且与所述金属检测罩绝缘。因为这样可以保证金属检测罩与待测区域的接触，因而在进行接触测试时，假若信号提示装置未发出提示信号，则可以直接确定是探测装置与待测区域没有接触良好。
[0072]优选地，为了能够实现探测装置100与待测区域200更好的接触，所述探测装置100位于所述金属检测罩I’的中心。参见图5，图5示出了探测装置100位于所述金属检测罩I’的中心时的俯视图和剖面图。
[0073]优选地，为了避免因金属检测罩I’的面积过大或者是待测区域200的面积过大，导致接触检测失去意义，相应地，所述金属检测罩I’与所述待测区域200接触的表面为圆形表面，所述圆形表面的面积等于所述待测区域200内切圆的面积。对于面板cell来说，所述待测区域200为cell test pad，所述待测区域200的形状一般为圆形或多边形。
[0074]在本发明的其他实施例中，参见图6，所述接触检测装置包括金属检测罩，所述探测装置位于所述金属检测罩外。实际上，该种实现方式和上述实施例二的实现方式类似，只是采用了金属检测罩代替上述实施例二中的金属柱状结构。
[0075]参见图7，优选地，所述接触测试装置还包括:第一检测线4、第二检测线5和第三检测线6，所述探测装置100的非探测端102通过所述第一检测线4与所述信号提示装置3的一端相连，所述信号提示装置3的另一端通过所述第二检测线5与所述电源装置2的一端相连，所述电源装置2的另一端通过所述第三检测线6与所述接触检测装置I’的非检测端12’相连。
[0076]优选地，为了使得提示效果更好或更为直观，所述信号提示装置3可以采用信号提示灯实现，当然可以采用音乐盒、播放器等其他可以用于进行信号提示的装置实现。
[0077]从上面内容可知，本实施例在现有的探测装置基础之上增加了金属检测罩，其中，探测装置与金属检测罩不接触，且探测装置与金属检测罩的下端面平齐。本实施例利用探测装置、待测区域、信号提示装置、电源装置和金属检测罩组成了一个回路，当探测装置与待测区域接触时，所述检测罩、电源装置、信号提示装置和探测装置形成闭合回路，信号提示装置发出接触成功的提示信号。假设信号提示装置没有发出接触成功的提示信号，则表明探测装置与待测区域接触不好，从而可以根据信号提示装置发出的提示信号判断探测装置是否与待测区域正常接触，进而能够有效防止cell测试中的误判，并且能够精确知道是哪个探测装置没有接触好，从而准确判断画面出现的不良是否是面板本身的原因。本实施例提供的接触测试装置可以大大提高cell检测的准确率。
[0078]实施例四
[0079]本发明实施例四提供了一种液晶盒测试设备，该液晶盒测试设备包括:待测试的液晶盒、设置在所述液晶盒上的待测区域、用于向所述液晶盒传输测试信号的探测装置和如上述实施例一至实施例三任一实施例所述的接触测试装置。
[0080]图8示出了实施例四提供的液晶盒测试设备的结构示意图。参见图8，其中300表示待测试的液晶盒;200表示设置在所述待测试液晶盒300上的待测区域;100表示用于向所述待测试液晶盒300传输测试信号的探测装置;在图8所示的示例中，所述接触测试装置由金属检测罩I’、电源装置2、信号提示装置3、第一检测线4、第二检测线5和第三检测线6组成。其中，设置在待测试的液晶盒300上的待测区域200的大小一般为零点几毫米，其相对于待测试的液晶盒300来几乎不容易看到，本实施例的图8以及下面图9、图10均为了突出描述待测区域，因此将其画的较大，图8?图10所示并不代表待测试的液晶盒300和待测区域200的真实大小比例。
[0081]从图8可以看出，当所述探测装置100与所述待测区域200接触时，所述探测装置100待测区域200、金属检测罩I’、电源装置2、信号提示装置3、第一检测线4、第二检测线5和第三检测线6组成的接触测试装置形成闭合回路，以使信号提示装置3发出接触成功的提示信号。
[0082]本实施例提供的液晶盒测试设备，由于包含了上述实施例所述的接触测试装置，因此在对液晶盒进行cell测试之前，可以利用本实施例所述的液晶盒测试设备，预先判断探测装置(如探针)是否与液晶盒上的待测区域(如cell test pad)正常接触，当确定探针与cel I test pad没有正常接触时，应该及时调整探针的位置，使得探针与cel I test pad接触，然后再进行cell测试过程，以避免因探针与cell test pad接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
[0083]实施例五
[0084]本实施例五给出了当待测试液晶盒上有多个待测区域200时，上述液晶盒测试设备的具体结构。例如，如图9所示，待测试液晶盒面板左右下方共有6个待测区域200。所述待测区域200可采用cell test pad实现，cell test pad一般为Gate金属层。
[0085]在本实施例中，液晶盒上设置有多个待测区域，所述液晶盒测试设备还包括多个探测装置以及多个接触测试装置;其中，所述探测装置与所述待测区域一一对应，所述探测装置与所述待接触测试装置一一对应；
[0086]每个探测装置与对应的待测区域接触时，与该探测装置对应的待测区域以及与该探测装置对应的接触测试装置中的接触检测装置、信号提示装置以及电源装置会和该探测装置形成独立闭合回路，以使与该探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置发出接触成功的提示信号。
[0087]图10示出了实施例五提供的液晶盒测试设备的结构示意图。参见图10，300表示待测试的液晶盒;200表示设置在所述待测试液晶盒300上的待测区域；100表示用于向所述待测试液晶盒300传输测试信号的探测装置;在图10所示的例子中，所述接触测试装置由金属检测罩I’、电源装置2、信号提示装置3、第一检测线4、第二检测线5和第三检测线6组成。
[0088]从图10可以看出，每一个待测区域200对应一个探测装置100，相应地，每一个探测装置100应该对应一个接触测试装置，接触测试装置用于检测对应的探测装置100是否与对应的待测区域200接触。
[0089]在图10所示的结构中，每个探测装置100与对应的接触测试装置组成了独立的回路，即每个接触测试装置只用来测试相应的探测装置与对应待测区域的接触状态。图10中三个探测装置100以及三个对应的接触测试装置之间的等效电路图可见参见图11。优选地，各接触测试装置中的第二检测线5并联接入接触测试装置中的电源装置2的一端，各接触测试装置中第三检测线6并联接入电源装置2的另一端。
[0090]在本实施例中，信号提示装置3采用信号提示灯实现，接触检测装置采用金属检测罩实现，探测装置100采用探针实现，所述待测区域200采用cell test pad实现。其中，探针与金属检测罩不接触，且探针与金属检测罩的下端面平齐。当探针与cell test pad 200接触良好时，金属检测罩，电源装置2和信号提示灯、探针以及待测区域200组成的闭合回路处于通路状态，信号提示灯亮，提示接触良好;若某个探针偏离cell test pad的位置，这时金属检测罩，电源装置2和信号提示灯、探针以及cell test pad组成的回路处于断路的状态，信号提示灯不亮，表明该探针接触不好，从而能够有效的防止测试误差，并且能精确知道是哪个探针没有接触好，从而准确判断画面出现的不良是否是面板本身的原因。另外，本实施例所述的液晶盒测试设备不但结构简单，造价成本低，而且较为实用，可以大大提高cell检测的准确率。
[0091]为了使得探测装置能够稳定地与待测区域接触，优选地，参见图10，所述液晶盒测试设备还包括用于固定所述多个探测装置的载体7。从图10可以看出，多个探测装置100均固定在载体7上，这样可以保证探测装置100稳定地与待测区域200接触。
[0092]优选地，参见图10，所述液晶盒测试设备还包括信号转接板8，所述信号转接板8与所述探测装置100相连，用于向所述探测装置100传输测试信号。
[0093]优选地，为了能够很好地固定液晶盒以及探测装置和接触测试装置，所述液晶盒测试设备还包括:底座(图中未示出)以及与所述底座相适配的卡接装置(图中未示出)，所述待测试的液晶盒固定在所述底座上，所述卡接装置上承载有所述探测装置以及所述接触测试装置。
[0094]下面结合图12给出面板cell测试的详细过程。面板测试Celltest夹具的俯视图如图12所示。在进行测试时，面板cell通过测试平台上的六个对位螺钉a固定，信号经过夹具上的探针传递，通过下压把手b，探针与cell test pad接触，给面板输入测试信号，根据显示画面可判断出面板是否存在缺陷。本实施例在原有每个探针上增加一个金属检测罩，该金属检测罩不与探针接触，探针位于金属检测罩的中心。每个探针对应的金属检测罩分别连接一条第三检测线，这些第三检测线并联接入电源装置的负极。探针各连接一条第一检测线，这些第一检测线通过与一个小功率电源装置和一个信号提示灯串联之后连接到电源装置的正极，等效电路图如图11所示。通过这种设计，当探针与cell test pad接触良好时，金属检测罩，小功率电源装置和信号提示灯、探针以及cell test pad组成的回路处于通路状态，指示灯亮，提示接触良好;当只要有一个探针偏离cell test pad的位置，这时与该探针对应的金属检测罩，小功率电源装置、信号提示灯以及cell test pad组成的回路处于断路的状态，信号提示灯不亮，表明该探针接触不好，从而可以根据信号提示灯的状态判断探针是否与cell test pad正常接触，进而能够有效防止cell测试中的误判，并且能精确知道是哪个探针没有接触好，从而准确判断画面出现的不良是否是面板本身的原因。
[0095]从上面描述可知，本实施例在现有的探针基础之上增加了一个金属检测罩，探针与金属检测罩不接触，且探针与检测罩的下端面平齐。本实施例利用探针、信号提示灯、电源装置、金属检测罩以及待测区域(cell test pad)组成了一个回路，当探针与cell testpad接触时，金属检测罩、电源装置、信号提示灯、探针和cell test pad形成回路，信号提示灯被点亮。假设信号提示灯没有被点亮，则表明探针与cell test pad接触不好，从而可以根据信号提示灯的状态判断探针是否与cell test pad正常接触，进而能够有效防止cell测试中的误判，并且能够精确知道是哪个探测装置没有与cell test pad接触好，从而准确判断画面出现的不良是否是面板本身的原因。本实施例提供的接触测试装置可以大大提高面板cell检测的准确率。
[0096]实施例六
[0097]本实施例六提供了一种应用上述实施例所述的液晶盒测试设备的液晶盒测试方法，参见图13，该液晶盒测试方法具体包括如下步骤:
[0098]步骤101:使探测装置与液晶盒上的待测区域接触。
[0099]步骤102:若确定所述探测装置与液晶盒上的待测区域接触成功，则向所述探测装置传输预设测试信号，以对所述液晶盒进行测试。
[0100]本实施例所述的液晶盒测试方法，在对液晶盒进行正式测试之前，先确定探测装置是否与待测区域接触成功，若确定探测装置与待测区域接触成功，则向探测装置传输预设测试信号，以对所述液晶盒进行测试。相对于现有技术直接对液晶盒进行测试的方法，本实施例所述的测试方法可以避免因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
[0101]优选地，参见图14，在所述确定所述探测装置与所述待测区域接触成功之前，所述液晶盒测试方法还包括下述步骤102’:
[0102]步骤102’:判断所述探测装置是否与所述待测区域接触成功。
[0103]优选地，所述步骤102’判断所述探测装置是否与所述待测区域接触成功，包括:
[0104]若所述液晶盒上只有一个待测区域，则判断所述探测装置是否与所述待测区域接触成功；
[0105]若所述液晶盒上有多个待测区域，则判断与所述多个待测区域一一对应的探测装置是否均与对应的待测区域接触成功，当每个探测装置均与对应的待测区域接触成功时，确定所述探测装置与所述待测区域接触成功。
[0106]优选地，当所述液晶盒上只有一个待测区域时，所述判断所述探测装置是否与所述待测区域接触成功，包括:判断与所述探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置是否发出接触成功的提示信号，若是，则确定所述探测装置与所述待测区域接触成功；
[0107]当所述液晶盒上有多个待测区域时，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括:
[0108]判断与每个探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置是否均发出接触成功的提示信号，若是，则确定所述探测装置与所述待测区域接触成功。
[0109]可见，本实施例所述的液晶盒测试方法，在对液晶盒进行测试之前，可以先判断探测装置是否与待测区域接触成功，当液晶盒中有多个待测区域时，需要判断每个探测装置是否与对应的待测区域接触成功，只有当每个探测装置均与对应的待测区域接触成功时，才对液晶盒进行测试，以避免因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。
[0110]以上实施例仅用于说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
【主权项】
1.一种接触测试装置，其特征在于，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，所述接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置;所述接触检测装置的检测端与所述探测装置的探测端平齐，当所述探测装置的探测端与所述待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。2.根据权利要求1所述的接触测试装置，其特征在于，所述接触检测装置包括金属柱状结构。3.根据权利要求1所述的接触测试装置，其特征在于，所述接触检测装置包括金属检测罩，所述探测装置位于所述金属检测罩内且与所述金属检测罩绝缘。4.根据权利要求3所述的接触测试装置，其特征在于，所述探测装置位于所述金属检测罩的中心。5.根据权利要求4所述的接触测试装置，其特征在于，所述金属检测罩与所述待测区域接触的表面为圆形表面，所述圆形表面的面积等于所述待测区域内切圆的面积。6.根据权利要求1所述的接触测试装置，其特征在于，所述接触检测装置包括金属检测罩，所述探测装置位于所述金属检测罩外。7.根据权利要求3?6任一项中所述的接触测试装置，其特征在于，所述金属检测罩为金属柱形检测罩、金属圆台检测罩、金属锥形检测罩和金属棱锥检测罩中的任意一种。8.根据权利要求1所述的接触测试装置，其特征在于，所述信号提示装置包括信号提示灯。9.根据权利要求1所述的接触测试装置，其特征在于，所述接触测试装置还包括:第一检测线、第二检测线和第三检测线，所述探测装置的非探测端通过所述第一检测线与所述信号提示装置的一端相连，所述信号提示装置的另一端通过所述第二检测线与所述电源装置的一端相连，所述电源装置的另一端通过所述第三检测线与所述接触检测装置的非检测端相连。10.—种液晶盒测试设备，其特征在于，包括待测试的液晶盒、设置在所述液晶盒上的待测区域、用于向所述液晶盒传输测试信号的探测装置和如权利要求1?9中任一项所述的接触测试装置。11.根据权利要求10所述的液晶盒测试设备，其特征在于，所述液晶盒上设置有多个待测区域，所述液晶盒测试设备还包括多个探测装置以及多个接触测试装置;其中，所述探测装置与所述待测区域一一对应，所述探测装置与所述待接触测试装置一一对应； 每个探测装置与对应的待测区域接触时，与该探测装置对应的待测区域以及与该探测装置对应的接触测试装置中的接触检测装置、信号提示装置以及电源装置会和该探测装置形成独立闭合回路，以使与该探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置发出接触成功的提示信号。12.根据权利要求10所述的液晶盒测试设备，其特征在于，所述液晶盒测试设备还包括用于固定所述多个探测装置的载体。13.根据权利要求10所述的液晶盒测试设备，其特征在于，所述液晶盒测试设备还包括信号转接板，所述信号转接板与所述探测装置相连，用于向所述探测装置传输测试信号。14.根据权利要求10?13中任一项所述的液晶盒测试设备，其特征在于，所述液晶盒测试设备还包括:底座以及与所述底座相适配的卡接装置，所述待测试的液晶盒固定在所述底座上，所述卡接装置上承载有所述探测装置以及所述接触测试装置。15.—种应用如权利要求10?14中任一项所述的液晶盒测试设备的液晶盒测试方法，其特征在于，包括: 使探测装置与液晶盒上的待测区域接触； 若确定所述探测装置与液晶盒上的待测区域接触成功，则向所述探测装置传输预设测试信号，以对所述液晶盒进行测试。16.根据权利要求15所述的液晶盒测试方法，其特征在于，在所述确定所述探测装置与液晶盒上的待测区域接触成功之前，所述方法还包括: 判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功。17.根据权利要求16所述的液晶盒测试方法，其特征在于，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括: 若所述液晶盒上只有一个待测区域，则判断所述探测装置是否与所述待测区域接触成功； 若所述液晶盒上有多个待测区域，则判断与所述多个待测区域一一对应的探测装置是否均与对应的待测区域接触成功，当每个探测装置均与对应的待测区域接触成功时，确定所述探测装置与所述待测区域接触成功。18.根据权利要求17所述的液晶盒测试方法，其特征在于，当所述液晶盒上只有一个待测区域时，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括:判断与所述探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置是否发出接触成功的提示信号，若是，则确定所述探测装置与所述待测区域接触成功； 当所述液晶盒上有多个待测区域时，所述判断所述探测装置是否与液晶盒上的待测区域接触成功，包括: 判断与每个探测装置对应的接触测试装置中的信号提示装置是否均发出接触成功的提示信号，若是，则确定所述探测装置与所述待测区域接触成功。
【文档编号】G02F1/13GK105823958SQ201610145052
【公开日】2016年8月3日
【申请日】2016年3月14日
【发明人】魏燕, 徐智强
【申请人】京东方科技集团股份有限公司