一种用于光栅表面缺陷检测的led光源的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及机器视觉领域，尤其涉及一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源。
【背景技术】
[0002]在机器视觉系统中，光源起着关键性的作用，不仅可以提高目标图像的亮度，而且还能增强前景目标与背景图像的对比度，直接影响到图像的质量，进而影响到系统的性能。在针对光栅表面缺陷检测的系统中，选择或设计一款合理的光源是获取高质量图像的必要条件，同时也利于降低检测难度、增加检测速度、提高系统稳定性和可靠性等。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于，提出一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，来提高获取图像的质量，提尚检测效率，提尚系统稳定性和可靠性。
[0004]为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，所述的光源基座外包裹有围片，所述的光源基座侧壁的半圆周内设有灯珠导套安装孔，所述的灯珠导套安装孔内嵌有灯珠导套，所述的灯珠导套与灯珠滑套相衔接，所述的灯珠滑固定有LED灯珠。
[0005]所述的光源基座顶面与光源盖板连接，所述的光源盖板开有光路通道和夹具安装通孔，所述的光源盖板外嵌有磨砂玻璃。
[0006]所述的光源基座外安装有开关电源，所述的开关电源点连接所述的LED灯珠。
[0007]本实用新型的有益效果
[0008]本实用新型的有益效果在于一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，本光源通过组合设计，采用多个LED灯珠在光源基座内空间圆周排列，形成了良好的散热通道。LED灯珠发出的光经过光路通道，以透射的方式投射到待检光栅下表面，形成透射光源。光路通道的长宽不仅能满足不同规格光栅检测的通光要求，还满足不同规格光栅在不同放大倍数下所需视场大小的要求。灯珠滑套在灯珠导套中的相对滑动，可实现灯珠位置的改变，以形成不同的光源分布。光通过磨砂玻璃改变入射光线分布以获取亮度均匀的入射光源，进而获取高质量的采集图像，降低了后续图像处理的难度。本LED光源有效的适用于常见缺陷，如铬点、星点、划痕和断线的检测，有效的获取高质量图像，同时也利于降低检测难度、增加检测速度、提尚系统稳定性和可靠性等。
【附图说明】
[0009]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0010]图1是本实用新型的光源结构主视图。
[0011]图2是本实用新型的光源结构俯视图。
[0012]图3是本实用新型的光源整体示意图。
[0013]图中序号分别表示:1.光源基座，2.光源盖板，3.LED灯珠，4.灯珠滑套，5.灯珠导套，6.磨砂玻璃，7.围片，8.夹具安装通孔，9.灯珠导套安装孔，10.光路通道，11.开关电源。
【具体实施方式】
[0014]一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，其特征是所述光栅表面缺陷检测LED光源包括光源基座1、光源盖板2、LED灯珠3、灯珠滑套4、灯珠导套5、磨砂玻璃6、围片7、开关电源11。所述的光源基座I外形为扁平的筒形结构，顶面与光源盖板2连接，且在光源基座I侧壁的半圆周内，设有灯珠导套安装孔9。所述的光源盖板2开有光路通道10和夹具安装通孔8。所述的LED灯珠3与灯珠滑套4连为一体，内嵌入灯珠导套5，与灯珠导套5可产生相对径向滑动，在光源基座I内空间圆周排列。所述的磨砂玻璃6嵌于光源盖板2上。所述的围片7包裹在光源基座I外。
[0015]本实用新型的一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，在使用此光源时，打开开关电源11，LED灯珠3发出的光经过光路通道10，以透射的方式投射到待检光栅下表面，形成透射光源。灯珠滑套4在灯珠导套5中的相对径向滑动，可实现灯珠位置的改变，以形成不同强度的光源分布。光透过磨砂玻璃6形成亮度均匀的入射光源，达到最终获取高质量图像的效果。
【主权项】
1.一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，其特征在于:所述的光源基座(I)外包裹有围片(7)，所述的光源基座(I)侧壁的半圆周内设有灯珠导套安装孔(9)，所述的灯珠导套安装孔(9)内嵌有灯珠导套(5)，所述的灯珠导套(5)与灯珠滑套(4)相衔接，所述的灯珠滑套(4)固定有LED灯珠(3)。
2.根据权利要求1所述的一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，其特征在于:所述的光源基座(I)顶面与光源盖板(2 )连接，所述的光源盖板(2 )开有光路通道(10 )和夹具安装通孔(8 )，所述的光源盖板(2 )外嵌有磨砂玻璃(6 )。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源，其特征在于:所述的光源基座(I)外安装有开关电源(11 )，所述的开关电源(11)点连接所述的LED灯珠⑶。
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源。其特征在于包括光源基座、光源盖板、LED灯珠（5个）、灯珠滑套（5个）、灯珠导套（5个）、磨砂玻璃、围片、开关电源。本光源通过组合设计，采用多个LED灯珠在光源基座内空间圆周排列，构成整个光源系统的照明主体。本LED光源为透射光源，有效得适用于常见光栅表面缺陷，如铬点、星点、划痕和断线的检测，可获取高质量的图像，同时也利于降低检测难度、增加检测速度、提高系统稳定性和可靠性等。
【IPC分类】G01N21-88, G01N21-01
【公开号】CN204462031
【申请号】CN201420743309
【发明人】王义文, 屈冠彤, 付鹏强, 廖益龙, 刘献礼, 林长友, 梅恒, 刘勇刚
【申请人】哈尔滨理工大学
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2014年12月3日