基于位电平错误计数的错误抑制的选择性激活的制作方法

专利名称：基于位电平错误计数的错误抑制的选择性激活的制作方法
技术领域：
本公开涉及数据处理领域，并且尤其涉及数据处理装置中的
错误抑制领域。
背景技术：
由于集成电路制造技术中的改进继续提供较小尺寸和较低 工作电压的微处理器和其它的数据处理装置，所以这些设备的制造者 和使用者变得越来越关注软错误的现象。当a粒子和高能中子撞击集 成电路并且改变电路节点上存储的电荷时就会出现软错误。如果电荷 改变足够大，则结点上的电压会从表示一个逻辑状态的电平改变为表 示不同逻辑状态的电平，在这种情况下，存储在该结点上的信息被破 坏。通常，软错误率("SER")随着电路尺寸的减小而增大，这是因 为当电路密度增大时，撞击粒子击中电压结点的可能性会增大。同样 地，当工作电压减小时，表示不同的逻辑状态的电压电平之间的差也 减小，所以需要更少的能量来改变电路节点上的逻辑状态，因此出现 更多的软错误。 阻滞引起软错误的粒子是非常困难的，因此，数据处理装置 常常包括用于检测以及间或纠正软错误的技术。这些错误抑制技术包 括使用纠错码("ECC")，清理高速缓存，以及以锁步(lockstep)的 方式运行处理器。然而，错误抑制技术的使用会降低性能并且增大功 耗。此外，使用错误抑制的必要性或合意性会根据使用设备的时间和 地点而改变，这是因为诸如海拔、磁场强度和方向、太阳活动之类的 环境因素会影响SER。因此，人们希望可以有选择性地激活错误抑制。


通过示例来描述本发明，并且本发明不受限于附图。图1示出了处理器中的本发明的实施例；图2示出了根据本发明实施例的多核处理器；图3示出了根据本发明实施例的系统；图4示出了本发明的、基于位电平(bit level)错误计数来
有选择地激活错误抑制的方法的实施例。
具体实施例方式以下描述基于位电平错误计数来有选择地激活错误抑制的
实施例。在下面的描述中，可以阐述诸如部件和系统配置之类的许多 的具体细节，以便更彻底地理解本发明。然而，应该知道，对于本领 域技术人员来讲，可以在不使用这些具体细节的情况下实践本发明。 另外，没有详细地描述一些公知的结构、电路、技术等等，以避免不 必要地使本发明不清楚。由于导致软错误的粒子通量的随机特性，对SER的合理评 估会需要相对较大的面积用于错误检测。本发明会是可取的，因为它 提供了使用诸如高速缓冲存储器和扫描单元之类的、已经占有许多处 理器和其它设备的晶模(die)尺寸的重要部分的结构用于错误检测。 因此，可以在不需要会显著增加晶模尺寸及由此造成的成本的、额外 的错误检测结构的情况下来实现本发明。 图1示出了处理器100中的本发明的实施例。处理器100可 以是各种不同类型的处理器中的任何一种，例如英特尔公司的 Pentium⑧处理器系列的处理器，Itanium 处理器系列的处理器或其 它处理器系列的处理器，或者来自另一个公司的处理器。本发明还可 以体现为除了处理器以外的装置，例如存储设备。处理器100包括存 储器阵列110、存储器错误计数单元120和存储器错误抑制单元130。
存储器阵列110可以是任意数量的行和任意数量的列的任 意类型的存储单元(例如静态随机存取存储单元)，所述存储单元可 以用于诸如高速缓冲存储器之类的任何功能。存储器阵列110包括错
误检测电路111，以使用诸如奇偶校验或者ECC之类的任何已知的技 术来检测存储器阵列110中的位电平错误。许多处理器和其它的设备 设计包括用于高速缓存或其它存储器阵列的相对较大的面积，并且这 些阵列中的许多已经包括奇偶校验或者ECC。因此，晶模的主要面 积可以低成本用于根据本发明的错误检测。 存储器错误计数单元120包括阵列错误计数器121、阵列读 取计数器122和阵列计数控制模块123。阵列错误计数器121可以是 同步的或异步的、并且具有计数输入端、计数输出端和重置的任何已 知的计数器电路。阵列错误计数器121的计数输入端耦合到错误检测 电路111以接收指示在读取存储器阵列110时检测到位电平错误的信 号，从而使得阵列错误计数器121的计数输出端指示在读取存储器阵 列IIO时检测到的位电平错误的总数，这是因为阵列错误计数器121 已经被重置。 阵列读取计数器122也可以是同步的或异步的、并且具有计 数输入端、计数输出端和重置的任何己知的计数器电路。阵列读取计 数器122的输入端耦合到存储器阵列110以接收指示正在读取存储器 阵列110的信号，从而使得阵列读取计数器122的计数输出指示已经 读取存储器阵列110的总次数，这是因为阵列读取计数器122已经被 重置。 在该实施例中，无论何时由阵列读取计数器122计数的存储 器阵列110的读取次数达到某一限度(例如每1,000次读取)，阵列 错误计数器121和阵列读取计数器122将都被重置。该阵列读取限度 值可以是固定的或可编程的'。可以基于存储器阵列iio的尺寸、位数 和面积，合理地精确测定SER所需的读取的预期数量以及任何其它 的因素来选择适当的阵列读取限度值。在特定的时间(例如按秒计量 的时间)过去之后，阵列错误计数器121和阵列读取计数器122也被 重置，因此即使存储器阵列110是相对不活跃的，也可以检测到SER 中的改变。在其它的实施例中，也可以或替代性地根据任何其它的事
^i^或信号重置计数器。在此实施例中，阵列错误计数器121的输出端耦合到阵列计 数控制模块123，以使得无论何时阵列错误计数器121和阵列读取计 数器122被重置，阵列计数控制模块123都接收该次达到阵列读取限 度值时的位电平错误的数量。在其它的实施例中，可以将位电平错误 的数量持续提供给阵列计数控制模块123，或者可以基于任何其它的 事件或信号而将位电平错误的数量发送到阵列计数控制模块123。
阵列计数控制模块123还包括阵列错误阈值寄存器124，其 可以被编程以保存阵列错误阈值。在其它的实施例中，阵列错误阈值 可以是固定的。如果位电平错误的数量超过了阵列错误阈值，则将激 活或增强错误抑制。可以基于与合意的SER阈值相对应的每次达到 阵列读取限度值时的位电平错误的数量来选择适当的阵列错误阈值。 其它的实施例可以包括根据计数器121和122的输出来计算SER的 逻辑。可以使用诸如比较器电路之类的任何已知的方法来判断位电平 错误的数量是否超过了阵列错误阈值。 阵列计数控制模块123向存储器错误抑制单元130指示位电 平错误的数量是否超过了阵列错误阈值。所述指示可以基于信号("高 SER"信号)的状态或转变，或任何其它的已知的方法。如果阵列计 数控制模块123指示阵列错误阈值已经被超出，则存储器错误抑制单 元130通过多种已知方法中的任意一种或多种来激活或增强错误抑 制。例如，存储器错误抑制单元130可以激活存储器阵列110的清理， 或者可以增大周期性清理存储器阵列110的频率。
如图2所示，还可以使用用于错误检测的时序逻辑代替存储 器阵列来实现本发明。图2示出了根据本发明实施例的多核处理器 200。通常，多核处理器是包括多于一个执行内核的单个集成电路。 执行内核包括用于执行指令的逻辑。除执行内核之外，多核处理器可 以包括本发明范围内的专用或共享资源的任何组合。专用资源可以是 专用于单个内核的资源，例如专用的一级高速缓存，或者可以是专用 于多个内核的任何子集的资源。共享资源可以是由所有内核共享的资 源，例如共享的二级高速缓存或者共享的外部总线单元(该外部总线 单元支持多核处理器和另一个部件之间的接口)，或者可以是由多个 内核的任何子集共享的资源。 多核处理器200包括执行内核201和执行内核202。执行内 核201包括扫描链210、时序错误计数单元220以及时序错误抑制单 元230。扫描链210可以是串联布置(例如菊花链或移位寄存器布 置)的任何数量的扫描单元。扫描单元是时序元件，例如锁存器或触 发器，其被添加到许多集成电路上以提供用于测试和调试时序逻辑的 冗余状态信息。所述扫描单元被布置为链，其可以用来顺序地将数据 移出设备，或者通过顺序地将数据传输进入设备来将设备设置为已知 状态。 一般地，在设备离开工厂之前禁用扫描单元。
许多处理器设计包括扫描单元，并且许多具有"全扫描"能 i，其意味着对于处理器的所有时序状态存在扫描单元。因此，处理 器晶模的主要面积(其也许大致与处理器的时序电路的面积相同)可 以低成本用于根据本发明的错误检测。为了进一步增强检错能力，可 以改变现有的扫描单元设计，以增大它们的对软错误的灵敏度。这些 设计修改，例如增加或者减少电容以及增加通道长度，可以在不妨碍 正常扫描操作功能的情况下进行，并且可以按照以下方式来进行，即， 对于正常扫描操作可以禁用它们，并且对于软错误检测可以启用它 们。因此，还可以或替代性地将包含在处理器或其它设备上的用于测 试和调试的扫描单元配置为用于软错误检测。 可以通过持续地将己知的数据值移入扫描链210的输入端 并且观察输出端来执行错误检测。将由到达扫描链210的输出端的不 同值来指示错误。例如，扫描链210的输入可以被设置为二进制零。 到达扫描链210的输出端的每个二进制一指示一个位电平错误。在 n-阱(n-well)进程中，观察到从零到一、而不是一到零的转变是合 意的，其中，零到一的转变可以由a粒子和中子粒子撞击所引起，但 是一到零的转变只能由中子所引起。 时序错误计数单元220包括时序错误计数器221和时序计数 控制模块223。时序错误计数器221可以是同步的或异步的、并且具 有计数输入端、计数输出端和重置的任何己知的计数器电路。时序错 误计数器221的计数输入端耦合到扫描链210的输出端，以使得时序错误计数器221的计数输出指示由扫描链210检测到的位电平错误的 总数，这是因为时序错误计数器221已经被重置。在该实施例中，在 扫描链210的每一个全位移(flill shift) (g卩，在输入端注入的值到达 输出端所需要的时钟周期的数量)之后重置时序错误计数器221。在其 它的实施例中，也可以或可替代地基于任何其它的事件或信号来重置 计数器。在该实施例中，时序错误计数器221的输出端耦合到时序计 数控制模块223，以使得无论何时时序错误计数器221被重置，时序 计数控制模块223都接收该次全扫描的位电平错误的数量。在其它的 实施例中，可以将位电平错误的数量持续提供给时序计数控制模块 223，或者可以基于任何其它的事件或信号而将位电平错误的数量发 送到时序计数控制模块223。时序计数控制模块223还包括时序错误阈值寄存器224,其 可以被编程来保存时序错误阈值。在其它的实施例中，阵列错误阈值 可以是固定的。如果位电平错误的数量超过了时序错误阈值，贝鹏激 活或增强错误抑制。可以基于扫描链210中的扫描单元的数量来选择 适当的时序错误阈值。其它的实施例可以包括对部分或全扫描数量进 行计数的扫描计数器，以及根据错误计数器和扫描计数器的输出来计 算SER的逻辑。可以使用诸如比较器电路之类的任何已知的方法来 判断位电平错误的数量是否超过了时序错误阈值。 时序计数控制模块223向时序错误抑制单元230指示位电平 错误的数量是否超过了时序错误阈值。所述指示可以基于高SER信 号的状态或转变、或任何其它的已知方法。如果时序计数控制模块 223指示时序错误阈值已经被超出，则时序错误抑制单元230通过多 种已知方法中的任意一种或多种来激活或增强错误抑制。例如，时序 错误抑制单元230可以激活执行内核202以与执行内核201锁步的方
式运行。 本发明还可以体现为使用存储器阵列、扫描链，或任何其它 结构的任意组合的装置，所述其它的结构具有其中检测到位电平错误 的状态元件。例如，处理器可以包括两个或更多个存储器阵列，其中
每个具有其自己对应的错误计数和抑制单元，或者两个或更多个执行 内核，其中每个有其自己对应的扫描链以及错误计数和抑制单元。每 一个错误计数单元可以包括一个或多个阈值寄存器，以使阈值得到校 准，所述校准考虑到了诸如进程和结构脆弱性之类的因素。阈值寄存 器可以是可编程的，以允许阈值的调整。 在一些实施例中，单个错误计数单元可以包括多个用于不同 的源或错误类型的计数器，并且/或者来自多个错误计数单元的高 SER信号可以一同被处理以确定是否激活何种类型以及何种级别的 错误抑制。在一个这样的实施例中，高SER信号可以与OR'd—起。 例如，如果阵列错误阈值和时序错误阈值之一或两者都已被超出，则 可以激活错误抑制。在另一个这样的实施例中，可以基于来自超过一 个计数器的错误计数的组合来判断是否已经超出错误阈值。计数可以 被直接加到一起，或者一个计数可以比另一个权重更大，这是因为一 种类型的错误或错误源需要更可靠地关注。在本发明的范围内，其它 形式的处理错误计数和/或高SER信号也是可能的，例如提供一个特 定的高SER信号以否定或覆盖另一个特定的高SER信号。 在这些实施例中的任何一个或任何其它的实施例中，根据高 SER信号的源和/或处理可以激活或增强各个级别或类型的错误抑 制。例如，在具有用于高速缓存和时序逻辑的错误检测的实施例中， 仅来自高速缓存的高SER信号可以激活高速缓存清理，仅来自时序 逻辑的高SER信号可以激活锁步，来自这两者的高SER信号都可以 激活工作电压的增大。此外，实施例可以包括用于单个错误计数单元的多个错误阈 值，因此，可以根据SER的检测大小来选择错误抑制的类型或级别。 在一个这样的实施例中，多级错误抑制是可用的，例如，不同的高 SER信号可以用来指示基于哪一错误阈值已经被超出来选择哪一级 错误抑制。这些级可以通过单一技术的不同级别来区分，例如高速缓 存清理的变化频率，或者可以通过使用多种不同的技术来区分，例如 在一级中进行高速缓存清理并且在另一级中增加工作电压。在一个或 多个级中， 一个或多个错误抑制技术可以是不活跃的或者处于关闭状
态。在其它级中的每一个中，相同的错误抑制状态可以是开启的，或 者在单个或多个级别之一上是激活的。 本发明的实施例可以包括以上所述的任何组合。实施例可以 包括多个错误计数器，其中每个具有多个错误阈值，并且基于高SER 信号的处理来选择多级错误抑制。可以执行处理以给予特定类型的错 误或者特定的错误源更大的权重。例如，如果来自大容量存储器的高 SER信号被断言，或者来自两个较小存储器阵列的高SER信号均被 断言，则可以进入特定级别的错误抑制。作为另一个例子，如果来自 扫描链的高SER信号被断言，则可以进入特定级别的错误抑制，以 及如果来自存储器阵列的高SER信号被断言，则可以进入甚至更高 级或级别的错误抑制，这是因为存储器阵列表示比扫描链更大的晶模 面积部分。 在一些实施例中，高SER信号的定时、计数器输出以及其 它的信号并不重要，因为目标可以是检测高SER的持续周期，而不 是短的尖峰。因此，信号可以是通过管线的或者延迟的，并且可以从 不同的单元在不同的时间到达。另外，高SER信号中的滞后现象可 能是合意的，并且/或者在激活、增强、解除激活或减小错误抑制之 前可以执行多次重复的错误检测，以避免错误抑制模式之间的系统颠 图3示出了根据本发明实施例的系统300。系统300包括处 理器310、系统控制器320、持久存储器330和系统存储器340。处 理器310可以是如上所述的任何处理器，包括功能单元311和错误计 数控制单元312。功能单元311包括存储器阵列、时序逻辑或者具有 其中检测到位电平错误的状态元件的任何其它的结构。错误计数控制 单元312对功能单元311中的位电平错误的数量进行计数并且指示功 能单元311中的位电平错误的数量是否超过了错误阈值。在该实施例 中，如果功能单元311中的位电平错误的数量超过了错误阈值，则错 误计数控制单元312断言高SER信号313。 系统控制器320可以是任何耦合到处理器310以接收高SER 信号313的芯片组部件或者其它的部件。在该实施例中，如果高SER
信号313被断言，则系统控制器320激活或者增强错误抑制。例如， 系统控制器320可以包括或者耦合到电压控制器，所述电压控制器将 提高系统、处理器或者其它的电压电平以抑制软错误。
系统控制器320还可以包括或者耦合到持久存储器330，用 于存储高SER信号313的状态，或者用于保留有关检测到的SER的 信息。持久存储器330可以是任何能够在系统300或者处理器310处 于关闭或其它非活动状态时保留信息的存储器。例如，持久存储器 330可以是闪速存储器或非易失性存储器，或电池支援随机存取存储 器。因此，如果系统300由于软错误或其它原因崩溃，当重新启动时 系统控制器320可以读取持久存储器330，以确定最近检测的SER是 否为高，并且如果是这样的话，则重新启动系统300，同时激活错误 抑制。 系统存储器340可以是任何类型的存储器，例如静态或动态 随机存取存储器、磁盘存储器或光盘存储器。系统存储器340可以用 来存储将由处理器320执行的指令以及将在处理器320上操作的数 据，或者任何形式的任何信息，例如操作系统软件、应用软件或用户 数据。 处理器310、系统控制器320、持久存储器330以及系统存 储器340可以使用总线或直接或点对点的连接的任意组合、通过任何 其他的部件以任何布置互相耦合。系统300还可以包括图3中未显示 的任何总线(例如外围总线)或部件(例如输入/输出设备)。
图4示出了本发明的、基于位电平错误计数来有选择地激活 错误抑制的方法的实施例。在图4的实施例中，错误抑制可以是两种 模式(高或低)中的一种。高模式可以是开启模式并且低模式可以是 关闭模式，或者错误抑制可以在两个模式中为开启，但是在高模式中 比在低模式中工作在更高级别或频率下。图4的实施例中的错误抑制 可以包括任何已知的方法。例如，高模式可以包括高速缓存清理，以 锁步方式运行两个或更多个处理器内核，或者在两个工作电压中的较 高电压下运行设备或者设备的一部分。低模式可以包括较低频率的高 速缓存清理或者不包括高速缓存清理，单独运行单个处理器内核或者
不以锁步方式运行两个或更多个处理器内核，或者在两个工作电压中 的较低电压下运行设备。在框410中，将重复限度编程进入重复限度寄存器，用于处 理器或其它设备中的功能块。所述功能块包括存储器阵列、时序逻辑 或任何其它的具有状态元件的结构。重复限度可以基于功能块中的状 态元件的数量，功能块的尺寸、面积、配置、结构或功能，用于制造 设备的工艺技术，设备的预期用途或使用设备的环境，或任何其它的 因素。在框411中，将错误阈值编程进入功能块的错误阈值寄存 器。错误阈值可以基于与重复限度相同的因素，以及诸如重复限度本 身和预期SER之类的附加因素。在框420中，当功能块在使用中时，对事件重复的数量进行
计数。事件可以是在误码率计算中作为分母而计数的任何事件。例如，
事件可以是到存储器阵列的读取访问，或者对扫描链的全扫描。可以
使用任何类型的计数器来对重复的数量进行计数。在框421，当功能块在使用中时，对状态元件中的位电平错
误的数量进行计数。可以使用任何己知的技术来检测位电平错误，例
如用于存储器阵列的奇偶校验或者将已知值注入扫描链的输入端并
且观察时序逻辑的输出端。可以使用任何类型的计数器来对位电平错
误的数量进行计数。在框430中，判断在框420中计数的重复数量是否已经达到 重复限度。可以根据任何已知的方法进行判断，例如将其基于重复计 数器输出的特定位，或者将重复计数器输出与重复限度寄存器的内容 进行比较。当重复数量达到重复限度时，方法继续到框431。然后， 方法继续框420。在框431，判断在框421中计数的错误数量是否超过了错误 阈值。可以根据任何已知的方法进行判断，例如将错误计数器输出与 错误阈值寄存器的内容进行比较。如果计数的错误数量超过阈值，则 方法继续到框440。如果未超过，则方法继续到框441。
在框440和441中，判断错误抑制是在高模式还是在低模式。 如果在低模式，则方法从框440继续到框450，或从框441继续到框 460。如果在高模式，则方法从框440继续到框451,或从框441继 续到框460。在框4S0，激活错误抑制或者从低模式增强到高模式。在框 451 ，解除激活错误抑制或者从高模式减弱到低模式。从框450和451 ， 方法继续到框460。在框460，重复和错误计数被重置。从框460, 方法返回到框420。 在本发明的范围内，可以不同的次序执行图4所示的方法， 可以省略所示出的步骤，添加额外的步骤或者利用重新排序、省略或 附加步骤的组合。例如，在一个实施例中，可以省略框410以及对重 复计数的所有引用，其中，基于通过扫描链的单独的全位移来将错误 计数与阈值进行比较。作为另一个例子，在一个实施例中，可以省略 判断错误抑制是在高模式还是在低模式中，其中，在停留在高模式的 实现与从低模式进入高模式的实现之间没有差别。此外，本发明可以 体现在其中可以基于来自多于一个功能单元的多于一个的错误计数 来判断是否激活错误抑制的方法中；或者可以体现在包括多于两个错 误抑制模式的方法中。 根据本发明的实施例设计的处理器100、处理器200或任何 其它的部件或部件的部分可以在从创建到仿真到制造的各种阶段中 进行设计。表示设计的数据可以多种方式表示设计。首先，由于在仿 真中有用，硬件可以使用硬件描述语言或其它功能描述语言来表示。 可附加或可替代地，在设计过程的某些阶段上，可以产生具有逻辑和 /或晶体管门的电路级模型。此外，大多数设计，在某一阶段，到达 一级别，其中可以利用表示各个设备的物理布置的数据来对它们建 模。在使用传统的半导体制造技术的情况中，表示器件布置模型的数 据可以是为用于产生集成电路的掩模指定不同的掩膜层上各个特征 是否存在的数据。 在所述设计的任何表示中，数据可以机器可读介质的任何形 式存储。调制的或其它方式生成的用于传输这种信息的光波或电波、 存储器、磁或光存储介质(例如盘片)可以是机器可读介质。任何这
些介质中都可以"携带"或"指示"设计、或者在本发明的实施例中 使用的其它信息，例如错误恢复例程中的指令。当指示或者携带信息 的电载波被传送以执行电信号的复制、缓冲或者重传输时，制成新的 副本。因此，通信提供者或者网络提供者的动作可以是制造对象(例 如载波)副本的动作，从而体现本发明的技术。 以上公开了基于位电平错误计数来有选择性的激活错误抑 制。尽管已经描述了特定实施例，并且显示在附图中，但是应该理解 这种实施例对于本发明的范围仅仅是说明性的而非限制性的，本发明 不限于这里所显示和描述的具体的结构和布置，因为当本领域技术人 员研究本公开后，可以对其进行修改。例如，增强错误抑制可以包括 从关闭模式到开启模式增强错误抑制，以及当错误计数超过错误阈值 时增强错误抑制可以包括当错误计数等于或者超过错误阈值时增强 错误抑制。 在该技术领域，发展很快并且难以预见未来的进步，因此可 以在不脱离本公开的原理或者所附权利要求的范围的情况下，利用这 些技术进步来便于显而易见地在布置以及细节上对所公开的实施例 进行修改。
权利要求
1、一种装置，包括多个状态元件；错误计数器，用于对所述多个状态元件中的位电平错误的数量进行计数；以及激活逻辑，用于在所述位电平错误的数量超过阈值时增强错误抑制。
2、 根据权利要求1所述的装置，其中，所述激活逻辑从关闭模 式转换到开启模式以增强错误抑制。
3、 根据权利要求1所述的装置，还包括-可编程寄存器，用于存储所述阈值。
4、 根据权利要求1所述的装置，其中，所述多个状态元件包括 存储单元阵列。
5、 根据权利要求4所述的装置，还包括访问计数器，用于对到所述存储单元阵列的访问进行计数。
6、 根据权利要求5所述的装置，其中，基于到所述存储单元阵 列的访问次数来重置所述错误计数器。
7、 根据权利要求6所述的装置，其中，还基于时间来重置所述 错误计数器。
8、 根据权利要求4所述的装置，还包括-错误检测逻辑，用于检测所述存储单元阵列中的位电平错误。
9、 根据权利要求6所述的装置，其中，所述错误检测逻辑包括奇偶校验逻辑。
10、 根据权利要求4所述的装置，其中，所述激活逻辑增强所述 存储单元阵列的清理。
11、 根据权利要求1所述的装置，其中，所述多个状态元件包括 多个扫描单元。
12、 根据权利要求11所述的装置，其中，配置所述多个扫描单 元以用于软错误检测。
13、 根据权利要求11所述的装置，其中，将所述多个扫描单元 布置在扫描链中。
14、 根据权利要求13所述的装置，其中，基于通过所述扫描链 的全位移来重置所述错误计数器。
15、 一种装置，包括多个执行内核，其中，所述多个执行内核中的第一个包括多个状 态元件；错误计数器，用于对所述多个状态元件中的位电平错误的数量进 行计数；以及激活逻辑，用于在所述位电平错误的数量超过阈值时激活所述多 个执行内核中的第一个和第二个执行内核的锁步。
16、 一种方法，包括对多个状态元件中的位电平错误的数量进行计数；以及 在所述位电平错误的数量超过阈值时增强错误抑制。
17、 根据权利要求16所述的方法，其中，增强错误抑制包括从 关闭模式转换到开启模式以增强错误抑制。
18、 根据权利要求16所述的方法，还包括将所述阈值存储在可 编程寄存器中。
19、 根据权利要求16所述的方法，其中，所述多个状态元件包 括存储单元阵列，所述方法还包括对到所述存储单元阵列的访问次数进行计数；以及 基于到所述存储单元阵列的访问次数来重置对所述位电平错误 的数量的计数。
20、 根据权利要求19所述的方法，其中，增强错误抑制包括增 强所述存储单元阵列的清理。
21、 根据权利要求16所述的方法，其中，所述多个状态元件包 括扫描单元链，所述方法还包括在通过所述扫描单元链的全位移之后 重置对所述位电平错误的数量的计数。
22、 一种系统，包括 处理器，包括多个状态元件；错误计数器，用于对所述多个状态元件中的位电平错误的数 量进行计数；以及控制逻辑，用于指示所述位电平错误的数量是否超过阈值；以及系统控制器，用于在所述控制逻辑指示所述位电平错误的数量超 过所述阈值时增强错误抑制。
23、 根据权利要求22所述的系统，其中，所述激活逻辑从关闭模式转换到开启模式以增强错误抑制。
24、根据权利要求22所述的系统，还包括持久存储器，用于存 储所述位电平错误的数量是否超过所述阈值的指示。
25、 一种系统，包括 动态随机存取存储器； 处理器，包括.-多个状态元件；错误计数器，用于对所述多个状态元件中的位电平错误的数 量进行计数；以及控制逻辑，用于指示所述位电平错误的数量是否超过阈值；以及激活逻辑，用于在所述控制逻辑指示所述位电平错误的数量超过 所述阈值时增强错误抑制。
全文摘要
本文公开了基于位电平错误计数来选择性地激活错误抑制的装置和方法的实施例。在一个实施例中，一种装置包括多个状态元件、错误计数器以及激活逻辑。所述错误计数器用于对状态元件中的位电平错误的数量进行计数。所述激活逻辑在所述位电平错误的数量超过阈值时增强错误抑制。
文档编号G06F11/10GK101198935SQ200680020953
公开日2008年6月11日 申请日期2006年6月13日 优先权日2005年6月13日
发明者A·比斯瓦斯, S·慕克吉, S·拉世基 申请人:英特尔公司