专利名称：用于鉴别光学记录介质的装置和用于鉴别光学记录介质的方法
技术领域：
本发明涉及用于鉴别光学记录介质的装置，以及用于鉴别光学记录介质的方法，更具体地，涉及可以可靠地鉴别光学记录介质种类的用于鉴别光学记录介质的装置和用于鉴别光学记录介质的方法。
背景技术：
光学记录介质诸如CD、DVD等被广泛地用作记录数字数据的记录介质，并且近来活跃地开发了能够再生记录在不同光学记录介质，诸如CD、DVD等上的数据，或是在不同光学记录介质上记录数据和从其上再生数据的兼容驱动器。
特别是，近来活跃地开发了具有大的数据记录容量和非常高的数据传输速度的下一代光学记录介质，并且可以预期光学记录介质的种类将会进一步增加。
在这种兼容驱动器中，必须鉴别放置在其中的光学记录介质的种类，但是因为不同种类的光学记录介质的形状是标准的，因此不可能根据其形状鉴别放置在其中的光学记录介质的种类。
因此，兼容驱动器被通常构造成通过向被放置在其中的光学记录介质实际投射激光束并且判断是否可以再生标准信号来鉴别放置在其中的光学记录介质的种类。
例如，能够再生记录在CD和DVD两者中的数据的兼容驱动器被构造成当通过进行焦距搜索，测量光的入射面和记录层(反射面)之间的距离，并且判断出光入射面和记录层(反射面)之间的距离大约为1.1mm时，选择用于CD的具有780nm波长的激光束，并且当判断出测量光入射面和记录层(反射面)之间的距离大约为0.6mm，选择用于DVD的具有650nm波长的激光束。
然而，在通过以这种方式进行焦距搜索来鉴别光学记录介质种类的情况下，需要长的时间用于鉴别光学记录介质的种类，并且在光学记录介质被放置在驱动器中的时刻和可以实际地将数据记录在光学记录介质上或从光学记录介质再生数据的时刻之间，需要一个长的时期。
因此，日本专利申请公开号10-143986提出了一种用于通过以下鉴别光学记录介质的方法在驱动器的托架上提供电极，并且在该电极上施加交流信号，由此鉴别放置在托架上的光学记录介质种类。
然而，在日本专利申请公开号10-143986中公开的方法中，如下面所述，当被鉴别的光学记录介质在其圆周方向上有波动等时，鉴别的准确度被降低了。
图14是示出了日本专利申请公开号10-143986中所使用的具有用于检测的电极的托架的横截面示意图。
如图14所示，托架1包括放置部分1a，具有120mm直径的光学记录介质被放置在其上；以及用于检测光学记录介质种类的电极2、3。
此外，在放置部分1a的外部圆周部分上提供有肩部4，从而当光学记录介质被放置在托架1上时，光学记录介质被支撑在肩部4上。因此，当光学记录介质被放置在托架1上时，防止光学记录介质的记录表面(在具有120mm直径的光学记录介质的情况下是数据被记录在其中的区域，该区域相应于光入射面的区域，并且具有50mm的内部直径和117mm的外部直径)直接与托架1接触，从而防止光学记录介质的记录表面被损坏。
图15是一个立体示意图，示出了在其圆周方向上形成有周期性波动的光学记录介质。图16(a)是沿着图15中的线C-C取的横截面示意图，并且图16(b)是沿着图15中的线D-D取的横截面示意图。
如图15中所示，光学记录介质20在其圆周方向上形成有4个凸起部分29a和4个凹入部分29b，并且在图15和图16中，凸起部分29a和凹入部分29b被夸大了。
在光学记录介质20以这种方式在其圆周方向上形成有周期性波动的情况下，光学记录介质20在一个横截面(沿着图15中线C-C的横截面)上向一个方向翘起，在另一个横截面(沿着图15中线D-D的横截面)上在另一个方向上翘起。结果，在光学记录介质20被放置在图14中示出的托架1上时，取决于光学记录介质20是如何被放置在托架1上的，用于检测的电极2、3和导电层(诸如被包括在光学记录介质20中的反射层)之间的距离发生了极大的改变。
图17是横截面示意图，它示出了光学记录介质20被放置在托架1上的状态，其中图17(a)示出了这样的情况，连接电极2、3的线基本上与图15中的线C-C相一致，并且图17(b)示出了这样的情况，其中连接电极2、3的线基本上与图15中的线D-D相一致。由图17(a)中的虚线指示相应于凹入部分29b的横截面，由图17(b)中的虚线指示相应于凸起部分29a的横截面。
如图17(a)所示，在电极2、3被定位以便面对着放置在托架1上的光学记录介质20的凸起部分29a的情况下，与光学记录介质没有翘起，并且没有波动的情况相比，提供在托架1上用于检测的电极2、3和导体层(诸如被包括在光学记录介质中的反射层)之间的距离变长了，并且在另一方面，如图17(b)所示，在电极2、3被定位，以便面对着放置在托架1上的光学记录介质20的凹入部分29b的情况下，与光学记录介质没有翘起，并且没有波动的情况相比，提供在托架1上用于检测的电极2、3和导体层(诸如被包括在光学记录介质中的反射层)之间的距离变长了，但是要比图17(a)中示出的情况短。因此，当在电极2、3中的一个电极上施加交流信号时，依据光学记录介质20被如何放置在托架1上，从电极2、3中的另一个上获得的信号电平发生改变，从而难以准确鉴别光学记录介质20的种类。
虽然在鉴别具有不同焦距距离的CD、DVD或其它光学记录介质的情况下问题不是这么严重，但是在鉴别具有相同焦距距离的光学记录介质的情况下，问题就变得非常严重。
在鉴别光入射平面与导电层(诸如反射层)之间的距离差别很小的光学记录介质的情况下，例如，要鉴别数据被记录在一个面的一个层中的DVD和数据被记录在一个面的两个层中的DVD的情况下，光学记录介质圆周方向上的波动引起的检测信号的改变极大地影响了鉴别结果。
特别值得注意，现在正在开发下一代种类的光学记录介质，它被这样构造，以便被使用具有等于或小于0.7的数字光圈的物镜，以具有等于或短于450nm波长的激光束，通过被相对基底布置的光传输层照射。因此，可以预期，实际使用中将会出现仅仅是厚度和光传输层略微不同的多种下一代种类的光学记录介质。在使用日本专利申请公开号10-143986公开的方法鉴别这些下一代种类的光学记录介质的情况下，形成在光学记录介质圆周方向上的波动引起的检测信号的改变极大地影响了鉴别结果。
发明内容
因此本发明的一个目的是提供一种用于鉴别光学记录介质的装置和一种用于鉴别光学记录介质的方法，它们可以可靠地鉴别光学记录介质的种类。
本发明的另一个目的是提供一种用于鉴别光学记录介质的装置和一种用于鉴别光学记录介质的方法，即使在被鉴别的光学记录介质在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，所述的装置和方法也可以可靠地鉴别光学记录介质的种类。
本发明的再一个目的是提供一种用于鉴别光学记录介质的装置和一种用于鉴别光学记录介质的方法，所述的光学记录介质被构造为被以来自基底对面一侧的激光束照射，所述的装置和方法可以可靠地鉴别光学记录介质的种类。
通过一种用于鉴别光学记录介质的装置，可以实现本发明上述的目的，所述的光学记录介质至少包括第一介电层、第二介电层和形成在第一介电层和第二介电层之间的导电层，用于鉴别光学记录介质的装置包括绕着光学记录介质被放置在其上的托架的中心以基本上等于或大于180度的角度布置的电极，和用于将用于检测的信号施加到电极上从而鉴别光学记录介质的种类的装置。
根据本发明，由于绕着光学记录介质被放置在其上的托架的中心以基本上等于或大于180度的角度布置用于鉴别光学记录介质的种类的电极，即使在光学记录介质在圆周方向上形成有周期性波动的情况下，也可以准确地鉴别光学记录介质的种类。
在本发明的一个优选方面中，所述电极包括第一电极，用于检测的信号被施加在其上；和第二电极，当用于检测的信号被施加到第一电极上时，取决于光学记录介质种类的信号出现在第二电极上。
在本发明的一个优选方面，第一和第二电极被彼此间隔开地布置，并且至少形成环绕着托架中心的基本为环形部分的一部分。
在本发明的再一个优选方面，第一和第二电极被布置成在被放置在托架上的光学记录介质的圆周方向上彼此间隔开，并且绕着托架的中心以基本上180度延伸。
在本发明的另一个优选方面，第一和第二电极在被布置成在被放置在托架上的光学记录介质的径向方向上彼此间隔开，并且绕着托架的中心以基本上等于或大于180度的角度延伸。
在本发明的再一个优选方面，第一电极和第二电极被布置成在被放置在托架上的光学记录介质的径向方向上彼此间隔开，并且绕着托架的中心以基本上为360度延伸。
通过一种用于鉴别光学记录介质的方法，可以实现本发明上述的目的，所述的光学记录介质至少包括第一介电层、第二介电层和形成在第一介电层和第二介电层之间的导电层，用于鉴别光学记录介质的方法包括在绕着光学记录介质被放置在其上的托架的中心以等于或大于180度的角度布置的电极上施加用于检测的信号从而鉴别光学记录介质的种类的步骤。
根据本发明，因为通过在绕着光学记录介质被放置在其上的托架的中心以基本上等于或大于180度的角度布置的电极上施加用于检测的信号鉴别光学记录介质的种类，所以即使在光学记录介质在圆周方向上形成有周期性波动的情况下，也可以准确地鉴别光学记录介质的种类。
图1是示出了本发明的优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置的方框图。
图2是一个平面示意图，示出了可以被容纳在驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内引入有本发明的优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
图3是一个平面示意图，示出了当光学记录介质被放置在图2示出的托架上时，光学记录介质和第一电极和第二电极间的位置关系。
图4是一组示出了各种光学记录介质种类的横截面示意图，其中图4(a)是示出了CD种类的光学记录介质的横截面示意图，图4(b)是示出了DVD种类的光学记录介质的横截面示意图，并且图4(c)是示出了下一代种类的光学记录介质的横截面示意图。
图5是示出了在第一电极和第二电极之间形成的电路的示意图。
图6是一个平面示意图，示出了可以被容纳到驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的另一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
图7是一个平面示意图，示出了当光学记录介质被放置在图6示出的托架上时光学记录介质和第一电极和第二电极间的位置关系。
图8是一个平面示意图，示出了可以被容纳到驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的再一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
图9是一个平面示意图，示出了当光学记录介质被放置在图8示出的托架上时，光学记录介质和第一电极和第二电极间的位置关系。
图10是一个平面示意图，示出了可以被容纳到驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的再一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
图11是一个平面示意图，示出了当光学记录介质被放置在图8示出的托架上时，光学记录介质和第一电极和第二电极间的位置关系。
图12是一个平面示意图，示出了可以被容纳到驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的再一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置，并且在其上安装有主轴电动机。
图13是一个横截面示意图，示出了光学记录介质被放置在托架上的状态，其中图13(a)示出了在圆周方向上没有周期性波动的光学记录介质被放置在托架上的情况，并且图13(b)和(c)示出了在圆周方向上形成有周期性波动的光学记录介质被放置在托架上的情况。
图14是一个横截面示意图，示出了用于鉴别光学记录介质的传统装置中使用的具有用于检测的电极的托架。
图15是一个立体示意图，示出了在圆周方向上具有周期性波动的光学记录介质。
图16(a)是沿着图15中的C-C线得到的横截面示意图，并且图16(b)是沿着图15中的D-D线得到的横截面示意图。
图17是一个横截面示意图，示出了光学记录介质被放置在托架上的状态，其中图17(a)示出了连接用于检测的电极的线与图15中的线C-C一致的情况，并且图17(b)示出了连接用于检测的电极的线与图15中的线D-D一致的情况。
具体实施例方式
现在将参考
本发明的优选实施例。
如图1所示，本发明的优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置包括第一电极11和第二电极12，用于在第一电极11上施加交流信号的交流信号产生电路13，用于检测出现在第二电极12上的交流信号B的电平的检测电路14，用于控制交流信号产生电路13和检测电路14的操作的控制电路15，并且在控制电路15中提供了一个表15a。
用于鉴别光学记录介质的装置10适合于被安装在用于在光学记录介质上记录数据和从光学记录介质上再生数据的数据记录和再生装置上，或是用于从光学记录介质上再生数据的数据再生装置上(此后统称为“驱动器”)。
图2是一个平面示意图，示出了可以被容纳在驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内引入本发明的优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
如图2所示，可以被容纳在驱动器的主体40内，并且可以从驱动器的主体40内排出的托架41包括光学记录介质放置部分41a，光学记录介质可以被放置在其上；以及形成在光学记录介质放置部分41a的中心部分、并且适于当托架41被容纳在驱动器的主体40中时允许主轴电动机驱动光学记录介质的开口41b。
光学记录介质放置部分41a的外部圆周部分上提供有肩部44，从而当光学记录介质被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，它被肩部44支撑着。因此，当光学记录介质被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，光学记录介质的记录表面不会与托架1产生直接接触，从而防止光学记录介质的记录表面被损坏。
如图2中所示，在肩部44的附近，第一电极11和第二电极12环形地形成在光学记录介质放置部分41a上。第一电极11和第二电极12中的每一个基本上形成一个半环部分，并且在第一电极11和第二电极12之间形成间隙42和43。
图3是一个平面示意图，示出了当光学记录介质20被放置在图14示出的托架41上时，光学记录介质和第一电极11和第二电极12间的位置关系。
如图3所示，当光学记录介质20被放置在托架41上时，环状地形成在托架41的表面上的第一电极11和第二电极12被定位在光学记录介质20的记录表面30的外部圆周之内，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸。
图4是一组示出了各种光学记录介质种类的横截面示意图，其中图4(a)是示出了CD种类的光学记录介质的横截面示意图，图4(b)是示出了DVD种类的光学记录介质的横截面示意图，并且图4(c)是示出了下一代种类的光学记录介质的横截面示意图。
如图4(a)中所示，CD种类的光学记录介质20a包括基底21a、形成在基底21a上的记录层22a、形成在记录层22a之上的反射层23a、形成在反射层23a之上的保护层24a、以及以一个孔形成在其上的中心部分25a。在这样构造的CD种类光学记录介质20a中，具有波长λ为780nm的激光束L20a从基底21a的一侧投射到其上，从而在其上记录数据和再生其上记录的数据。
基底21a用于确保光学记录介质20a所需的机械强度，并且在其中形成激光束L20a的光路。
在光学记录介质20a被构造为一次性写光学记录介质(CD-R)或数据可重写种类的光学记录介质(CD-RW)的情况下，在基底21a的表面上形成槽和/或槽脊。当记录数据或当再生数据时，所述槽和/或槽脊用作激光束L20a的引导轨迹。
基底21a具有大约1.1mm的厚度，并且通常以聚碳酸酯树酯形成。
在光学记录介质20a被构造为一次性写光学记录介质(CD-R)或可重写数据种类的光学记录介质(CD-RW)的情况下，形成有记录层22a。
在光学记录介质20a被构造为一次性写光学记录介质(CD-R)的情况下，以有机染料形成记录层22a，并且在光学记录介质20a被构造为可数据重写种类的光学记录介质(CD-RW)的情况下，通过相改变薄膜和夹在相改变薄膜中间的介电薄膜构造记录层22a。
在一次性写光学记录介质中，通过转变包含在记录层22a内的有机染料的预定区域，在记录层22a中记录数据。在另一方面，在数据可重写种类的光学记录介质中，通过在晶体状态和非晶体状态之间改变包含在记录层22a内的相改变薄膜的相，在记录层22a中记录数据。
在光学记录介质20a被构造为ROM种类的光学记录介质(CD-ROM)的情况下，不形成记录层22a，并且在制作光学记录介质20a时，数据被通过预先制作的凹陷(未示出)形成在基底21a的表面上。
反射层23a用于反射通过基底21a进入的激光束L20a，以便将其从基底21a发射出去，并且被形成为具有10到300nm的厚度。
反射层23a是以诸如铝、银等金属形成的，以便有效地反射激光束L20a。
在本说明书中，具有导电性的反射层23a有时被称为“导电层”。在光学记录介质20a被构造为数据可重写种类的光学记录介质(CD-RW)的情况下，因为包括在记录层22a中的相改变薄膜的材料通常具有导电性，所以记录层22a属于“导电层”的范畴。
保护层24a用于物理地和化学地保护记录层22a。保护层24a是以紫外线固化树酯等形成的，并且具有大约为100μm的厚度。
在这样构造的CD种类的光学记录介质20a中，激光束L20a进入时穿过的基底21a的表面和用作导电层的反射层23a或记录层22a之间的距离被确定为大约是1.1mm。
在另一方面，如图4(b)所示，DVD种类的光学记录介质20b包括第一基底21b、形成在第一基底21b上的记录层22b、形成在记录层22b上的反射层23b、以及形成在反射层23b上的粘附层28b、形成于粘附层28b上的第二基底26b、和以孔形成在其上的中心部分25b。在这种构造的DVD种类的光学记录介质20b中，具有波长λ为650nm的激光束L20b从第一基底21b的一侧投射到其上，从而在其上记录数据和再生其上记录的数据。
第一基底21b用于确保光学记录介质20b所需的机械强度，并且在其中形成激光束L20b的光路。
在光学记录介质20b被构造为一次性写光学记录介质(DVD-R)或可重写数据种类的光学记录介质(DVD-RW)的情况下，在第一基底21b的表面上形成槽和/或槽脊。当记录数据或当再生数据时，所述槽和/或槽脊用作激光束L20b的引导轨迹。
第二基底26b相应于CD种类的光学记录介质20a中的保护层24a。
第一基底21b和第二基底26b中的每一个具有1.1mm的厚度，并且通常以聚碳酸酯树酯形成。
在光学记录介质20b被构造为一次性写光学记录介质(DVD-R)或数据可重写种类的光学记录介质(DVD-RW)的情况下，形成有记录层22b。
在光学记录介质20b被构造为一次性写光学记录介质(DVD-R)的情况下，以有机染料形成记录层22b，并且在光学记录介质20b被构造为数据可重写种类的光学记录介质(DVD-RW)的情况下，通过相改变薄膜和夹在相改变薄膜中间的介电薄膜构造记录层22b。
在光学记录介质20b被构造为ROM种类的光学记录介质(DVD-ROM)的情况下，不形成记录层22b，并且在制作光学记录介质20b时，数据被通过预先制作的凹陷(未示出)形成在第一基底21b的表面上。
反射层23b用于反射通过第一基底21b进入的激光束L20b，以便将其从第一基底21b发射出去，并且被形成为具有10到300nm的厚度。
反射层23b是以诸如铝、银等金属形成的，以便有效地反射激光束L20b。
在这样构造的DVD种类的光学记录介质20b中，激光束L20a进入时穿过的第一基底21b的表面和用作导电层的反射层23b或记录层22b之间的距离被确定为大约是0.6mm。
此外，如图4(c)所示，下一代种类的光学记录介质20c包括基底21c、形成在基底21c上的反射层23c、形成在反射层23c上的记录层22c、以及形成在记录层22c上的光传输层27c、和以孔形成在其上的中心部分25c。在这种构造的下一代种类的光学记录介质20c中，具有波长λ为400nm的激光束L20c从位于基底21c的相对侧的光传输层27c的一侧投射到其上，从而在其上记录数据和再生其上记录的数据。
基底21c用于确保光学记录介质20c所需的机械强度，在光学记录介质20c被构造为一次性写光学记录介质或数据可重写种类的光学记录介质的情况下，在基底21c的表面上形成槽和/或槽脊。
与CD种类的光学记录介质20a和DVD种类的光学记录介质20b不同，在下一代种类的光学记录介质20c中，在基底21c中不形成激光束L20c的光路。
基底21c具有1.1mm的厚度，并且通常以聚碳酸酯树酯形成。
反射层23c用于反射通过光传输层27c进入的激光束L20c，以便将其从光传输层27c发射出去，并且被形成为具有10到300nm的厚度。
反射层23c是以诸如铝、银等金属形成的，以便有效地反射激光束L20c。
在光学记录介质20c被构造为一次性写光学记录介质或数据可重写种类的光学记录介质的情况下，形成有记录层22c。
在光学记录介质20c被构造为ROM种类的光学记录介质的情况下，不形成记录层22c，并且在制作光学记录介质20c时，数据被通过预先制作的凹陷(未示出)形成在基底21c的表面上。
光传输层27c是这样的层，在其中形成有激光束L20c的光路。
虽然光传输层27c的厚度取决于下一代光学记录介质20c的种类，但是光传输层27c被形成为具有大约10到300μm的厚度。
虽然优选用于形成光传输层27c的材料取决于下一代光学记录介质20c的种类，通常使用介电材料，诸如紫外线固化树酯、聚碳酸酯、聚烯烃等。
由于下一代光学记录介质的上述方式的配置，在下一代种类的光学记录介质20c被构造为ROM种类的光学记录介质或一次性写光学记录介质的情况下，激光束L20c进入时穿过的光传输层27c的表面和被用作导电层的反射层23c之间的距离被确定为大约是10到300μm。在另一方面，在下一代种类的光学记录介质20c被构造为数据可重写光学记录介质的情况下，激光束L20c进入时穿过的光传输层27c的表面和记录层22c之间的距离被确定为稍微短于光传输层27c的表面和反射层23c之间的距离，记录层22c是与传输层27c最为接近的导电层。
图1到图3中示出的用于鉴别光学记录介质的装置10以如下所述的方式在具有不同结构的光学记录介质间鉴别光学记录介质20的种类。
首先驱动器的托架41被从驱动器的主体40内排出，并且用户将光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上。
结果，在第一电极11和第二电极12之间形成了图5中示出的电路。
在图5中，C1是由第一电极11、反射层23或记录层22和出现在第一电极11和反射层23或记录层22之间的介电材料构成的电容元件，C2是由第二电极12、反射层23或记录层22和出现在第二电极12和反射层23或记录层22之间的介电材料构成的电容元件。此处，C1＝C2。
因此，电容元件C1和C2的值取决于出现在第一电极11和第二电极12和反射层23或记录层22之间的介电材料的厚度。在放置在托架41上的光学记录介质20是CD种类的光学记录介质20a的情况下，它们等于Ca，并且在放置在托架41上的光学记录介质20是DVD种类的光学记录介质20b的情况下，它们等于Cb，其中Cb大于Ca。在另一方面，在放置在托架41上的光学记录介质20是下一代种类的光学记录介质20c的情况下，它们等于Cc，其中Cc大于Cb。
然后，在光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，在控制电路15的控制下，在第一电极11上施加由交流产生电路13产生的交流信号A。
结果，因为交流信号A被通过图5中示出的电路传输到第二电极12，出现在第二电极12上的交流信号B依据电容元件C1和C2的值而改变。
由检测电路14检测出现在第二电极12上的交流信号B，并且控制电路15基于由检测电路14检测到的交流信号B，鉴别放置在托架41上的光学记录介质20的种类。
更具体地，在交流信号B的电平等于当电容元件C1和C2等于Ca时所得到的电平时，控制电路15鉴别出放置在托架41上的光学记录介质20是CD种类的光学记录介质20a，并且在交流信号B的电平等于当电容元件C1和C2等于Cb时所得到的电平时，控制电路15鉴别出放置在托架41上的光学记录介质20是DVD种类的光学记录介质20b。在另一方面，在交流信号B的电平等于当电容元件C1和C2等于Cc时所得到的电平时，控制电路15鉴别出放置在托架41上的光学记录介质20是下一代种类的光学记录介质20c。
在这个实施例中，因为当光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，第一电极11和第二电极12被环形地形成在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且位于光学记录介质20的记录表面30的外部圆周内，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸，即使在被鉴别的光学记录介质20在圆周方向上翘起并且形成周期性的波动的情况下，对于相同种类的光学记录介质20，电容元件C1和C2基本上相同，而与光学记录介质20是如何被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上无关。
因此，如果为每一种种类的光学记录介质20预先获得了将获得的交流信号B的电平的范围，并且以表15a存储在控制电路15中，可以通过在控制电路15中参考表15a，鉴别光学记录介质20的种类。
当对光学记录介质20的种类的鉴别已经完成后，由主轴电动机(未示出)旋转光学记录介质20，并且选择相应于这种被鉴别出的光学记录介质20的种类的激光元件和光学系统，从而发射出激光束。
然后，实现与传统的数据记录和再生装置(驱动器)中相类似的初始化设置操作等，并且数据被记录在光学记录介质20内，或从光学记录介质20再生数据。
因此，如果根据这个实施例的用于鉴别光学记录介质的装置10被安装在数据记录和再生装置(驱动器)上，能够在向光学记录介质投射激光束之前立刻鉴别出放置在数据记录和再生装置内的光学记录介质20的种类。
根据这个实施例，当光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，因为第一电极11和第二电极12被环形地形成在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且位于光学记录介质20的记录表面30的外部圆周内，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸，即使在被鉴别的光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，对于相同种类的光学记录介质20，电容元件C1和C2基本上相同，而与光学记录介质20是如何被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上无关。因此，即使在光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，也可以准确地鉴别出光学记录介质20的种类。
图6是一个平面示意图，示出了可以被容纳在驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的另一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
如图6所示，可以被容纳在驱动器的主体40内，并且可以从驱动器的主体40内排出的托架41包括光学记录介质放置部分41a，可以将光学记录介质放置在其上；形成在光学记录介质放置部分41a的中心部分、并且适于在托架41被容纳在驱动器的主体40内时允许主轴电动机驱动光学记录介质的开口41b。
如图6所示，在这个实施例中，在开口41b附近，第一电极11和第二电极12被环形地形成在光学记录介质放置部分41a上。第一电极11和第二电极12中的每一个基本上形成一个半环部分，并且在第一电极11和第二电极12之间形成有间隙42和43。
图7是一个平面示意图，示出了当光学记录介质20被放置在图6示出的托架41上时，光学记录介质20和第一电极11和第二电极间12的位置关系。
如图7所示，当光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，环形地形成在托架41表面上的第一电极11和第二电极12，位于光学记录介质20的记录表面30的外部圆周内，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸。
在根据这个实施例的用于鉴别光学记录介质的装置中，与图2中示出的用于鉴别光学记录介质的装置相类似，将被鉴别的光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且形成图5中示出的电路，从而鉴别光学记录介质20的种类。
在这个实施例中，因为第一电极11和第二电极12被环形地形成在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且当光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，位于光学记录介质20的记录表面30的外部圆周内，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸，即使在被鉴别的光学记录介质20翘起并在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，对于相同种类的光学记录介质20，电容元件C1和C2基本上相同，而与光学记录介质20是如何被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上无关。因此，即使在光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，可以准确地鉴别出光学记录介质20的种类。
图8是一个平面示意图，示出了可以被容纳在驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的再一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
如图8所示，可以被容纳在驱动器的主体40内，并且可以从驱动器的主体40内排出的托架41包括光学记录介质放置部分41a，可以将光学记录介质放置在其上、形成在光学记录介质放置部分41a的中心部分，并且适用于在托架41被容纳在驱动器的主体40内时，允许主轴电动机驱动光学记录介质的开口41b。
如图8所示，第一电极11和第二电极12被环形地形成在基本上托架41的整个光学记录介质放置部分41a上。第一电极11和第二电极12中的每一个基本上形成一个半环部分，并且在第一电极11和第二电极12之间形成有间隙42和43。
图9是一个平面示意图，示出了当光学记录介质20被放置在图8示出的托架41上时，光学记录介质20和第一电极11和第二电极12间的位置关系。
如图9所示，当光学记录介质20被放置在托架41上时，环形地形成在托架41表面上的第一电极11和第二电极12被这样定位，以便基本上面对着光学记录介质20的记录表面30的整个表面。
在根据本发明的用于鉴别光学记录介质的装置中，与图2中示出的用于鉴别光学记录介质的装置相类似，将被鉴别的光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且形成图5中示出的电路，从而鉴别光学记录介质20的种类。
在这个实施例中，因为第一电极11和第二电极12被环形地形成在托架41的光学记录介质放置部分41a的基本上整个表面上，并且被这样定位，以便当光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上时，面对着光学记录介质20的记录表面30的基本上整个表面，即使在被鉴别的光学记录介质20翘起并在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，对于相同种类的光学记录介质20，电容元件C1和C2基本上相同，而与光学记录介质20是如何被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上无关。因此，即使在光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，可以准确地鉴别出光学记录介质20的种类。
此外，第一电极11和第二电极12的区域越大，即使在光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，越可以准确地鉴别出光学记录介质20的种类。在这个实施例中，因为第一电极11和第二电极12被形成为覆盖了光学记录介质20的记录表面30的基本上整个表面，所以能够准确地鉴别光学记录介质20的种类。
图10是一个平面示意图，示出了可以被容纳在驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的再一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置。
如图10所示，可以被容纳在驱动器的主体40内，并且可以从驱动器的主体40内排出的托架41包括光学记录介质放置部分41a，可以将光学记录介质放置在其上、形成在光学记录介质放置部分41a的中心部分，并且适用于在托架41被容纳在驱动器的主体40内时，允许主轴电动机驱动光学记录介质的开口41b。
如图10所示，在这个实施例中，在开口41b附近，第一电极11被环形地形成在光学记录介质放置部分41a上，并且在肩部44附近，第二电极12被环形地形成在光学记录介质放置部分41a上。
图11是一个平面示意图，示出了当光学记录介质20被放置在图8示出的托架41上时，光学记录介质20和第一电极11和第二电极12间的位置关系。
如图11所示，当光学记录介质20被放置在托架41上时，环形地形成在托架41的表面上的第一电极11被定位于光学记录介质20的记录表面30的内圆周的外部，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的内圆周延伸，并且环形地形成在托架41的表面上的第二电极12被定位于光学记录介质20的记录表面30的外圆周的内部，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外圆周延伸。
在根据本发明的用于鉴别光学记录介质的装置中，与图2中示出的用于鉴别光学记录介质的装置相类似，将被鉴别的光学记录介质20被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且形成图5中示出的电路，从而鉴别光学记录介质20的种类。
在这个实施例中，在开口41b附近，第一电极11被环形地形成在托架41的光学记录介质放置部分41a上，并且在肩部44的附近，第二电极12被环形地形成在托架41的光学记录介质放置部分41a上，从而当光学记录介质20被放置在托架41上时，环形地形成在托架41的表面上的第一电极11位于光学记录介质20的记录表面30的内圆周的外部，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的内圆周延伸，并且环形地形成在托架41的表面上的第二电极12位于光学记录介质20的记录表面30的外圆周的内部，并且沿着光学记录介质20的记录表面30的外圆周延伸。因此，即使在被鉴别的光学记录介质20翘起并在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，对于相同种类的光学记录介质20，电容元件C1和C2基本上相同，而与光学记录介质20是如何被放置在托架41的光学记录介质放置部分41a上无关。因此，即使在光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，可以准确地鉴别出光学记录介质20的种类。
图12是一个平面示意图，示出了可以被容纳在驱动器的主体内，并且可以从驱动器的主体内排出的托架，驱动器的主体内结合有本发明的再一个优选实施例的用于鉴别光学记录介质的装置，并且在其上安装有主轴电动机。
如图12所示，在这个实施例中，以这种方式构造托架45，用户使得主轴电动机46直接驱动光学记录介质20。以托架45的方式构造的托架被广泛地用于笔记本种类的个人计算机。
如图12所示，用于发射激光束的光学系统47被容纳在托架45内，并且托架45带有一个光学系统可移动区域48，从而当数据被记录在由主轴电动机46驱动的光学记录介质20内时，或当从光学记录介质20中再生数据时，光学系统47可以在光学记录介质20的径向方向上移动。
如图13所示，在这个实施例中，沿着托架45的光学记录介质放置部分45a的外部圆周环形地形成第一电极11和第二电极12。第一电极11和第二电极12中的每一个基本上形成一个半环部分，并且在第一电极11和第二电极12之间形成有光学系统可移动区域48和间隙49。
在这个实施例中，当光学记录介质20被放置在托架45上时，环形地形成在托架45的表面上的第一电极11和第二电极12被定位为沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸。
在这个实施例中，第一电极11和第二电极12被沿着托架45的光学记录介质放置部分45a的外部圆周环形地布置，并且当光学记录介质20被放置在托架45上时，环形地形成在托架45表面上的第一电极11和第二电极12被定位为沿着光学记录介质20的记录表面30的外部圆周延伸。因此，即使在被鉴别的光学记录介质20翘起并在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，对于相同种类的光学记录介质20，电容元件C1和C2基本上相同，而与光学记录介质20是如何被放置在托架45的光学记录介质放置部分45a上无关。因此，即使在光学记录介质20在圆周方向上形成有周期性的波动的情况下，可以准确地鉴别出光学记录介质20的种类。
图13是一个横截面示意图，示出了光学记录介质被放置在托架上的状态，其中图13(a)示出了在圆周方向上没有周期性的波动的光学记录介质被放置在托架上的情况，并且图13(b)和(c)示出了在其圆周方向上形成有周期性的波动的光学记录介质被放置在托架上的情况。
如图13(a)中所示，当在圆周方向上没有周期性的波动的光学记录介质被放置在托架41上时，第一电极11和第二电极12以及光学记录介质20的表面之间的距离D1都是常量。
相反，当在圆周方向上形成有周期性的波动的光学记录介质20被放置在托架41上时，依据在光学记录介质20的圆周方向上的位置，第一电极1和第二电极12以及光学记录介质20的表面之间的距离在最小距离D2和最大距离D3之间变化，并且在光学记录介质20的圆周方向上的周期性波动变大时，最大距离D3和最小距离D2之间的差ΔD也变大。
因此，优选的是，将距离D1的值设置为与肩部44的高度相等，并且确定当以标准允许的最大波动形成每种光学记录介质时，相对于最小距离D2、最大距离D3、以及最大距离D3和最小距离D2之间的差ΔD，第一电极11和第二电极12的区域和位置，从而即使以标准允许的最大波动形成每种光学记录介质的情况下，也能够准确地鉴别光学记录介质20的种类。
因此，已经示出并参照特定实施例描述了本发明。然而，应当注意，本发明并不限于所描述的配置的细节，而是在不脱离所附权利要求的范围的情况下，可以进行改变和修改。
例如，在图10所示的实施例中，虽然在开口41b的附近，第一电极11被环状地形成在光学记录介质放置部分41a上，并且在肩部44的附近，第二电极12被环状地形成在光学记录介质放置部分41a上，但是也可能在开口41b的附近，将第二电极12环状地形成在光学记录介质放置部分41a上，并且在肩部44的附近，将第一电极11环状地形成在光学记录介质放置部分41a上。
还有，在图21所示的实施例中，虽然在光学记录介质的径向上，第一电极11和第二电极12被彼此分离地布置，并且绕着托架41中心基本上以360度延伸，但是绕着托架41中心，基本上以360度布置第一电极11和第二电极12并不是绝对必须的，并且对于第一电极11和第二电极12来说，绕着托架41的中心，以基本上180度布置就已经足够了。最好是，绕着托架41的中心，以等于或大于基本上270度的角度布置第一电极11和第二电极12。
还有，在图12所示的实施例中，虽然沿着托架45的光学记录介质放置部分45a的外圆周环状地形成第一电极11和第二电极12，但是也可能在托架45的光学记录介质放置部分45a的内圆周的附近并且沿着该内圆周环状地形成第一电极11和第二电极12，或者在托架45的光学记录介质放置部分45a的基本上整个表面上形成第一电极11和第二电极12。还有，可能在托架41上对应于光学记录介质20的记录表面30的内圆周的附近的位置处提供第一电极11和第二电极12，或者在托架41上对应于光学记录介质20的记录表面30的外圆周的附近的位置处形成第二电极12和第一电极11。在第一电极11和第二电极12被提供在广泛地用于笔记本型个人计算机之类的托架45上的情况下，如果用于布置第一电极11和第二电极12所需的空间受到限制，则最好在托架45的光学记录介质放置部分45a的内圆周附近，并且沿着该内圆周提供第一电极11和第二电极12。
而且，在图2、6和8所示的实施例中，虽然绕着托架41的中心，以基本上180度形成第一电极11和第二电极12，但是绕着托架41的中心，以基本上180度形成第一电极11和第二电极12并不是绝对必须的，并且可以在相对于通过托架41的中心的直线的对称位置上形成第一电极11和第二电极12，从而以等于或大于90度的角度形成它们中的每一个。
还有，在以上所述实施例中，虽然第一电极11和第二电极12中的每一个被环状地形成在托架41、45上，但是并不是绝对必须准确地以环状形成第一电极11和第二电极12中的每一个，并且对于第一电极11和第二电极12中的每一个而言，基本上环状地形成它们中的每一个已经足够。
还有，在以上所述实施例中，虽然通过利用第一电极11和第二电极12，并且在第一电极11上施加交流信号A时，检测出现在第二电极12上的交流信号B，鉴别光学记录介质20的种类，但是也可能通过利用平面线圈状的电极，并且检测通过在平面线圈状电极上施加电流所产生的涡流，鉴别光学记录介质20的种类。
按照本发明，能够提供一种用于鉴别光学记录介质的装置，以及一种用于鉴别光学记录介质的方法，它们能够可靠地鉴别光学记录介质的种类。
还有，按照本发明，能够提供一种用于鉴别光学记录介质的装置，以及一种用于鉴别光学记录介质的方法，即使是在将被鉴别的光学记录介质在其圆周方向上形成有周期性波动的情况下，也能够可靠地鉴别光学记录介质的种类。
还有，按照本发明，能够提供一种用于鉴别光学记录介质的装置，以及一种用于鉴别光学记录介质的方法，该介质被构造成采用来自与衬底相对的一侧的激光束进行照射，该用于鉴别光学记录介质的装置和用于鉴别光学记录介质的方法能够可靠地鉴别光学记录介质的种类。
权利要求
1.一种用于鉴别光学记录介质的装置，该光学记录介质至少包括第一介电层、第二介电层和形成在第一介电层和第二介电层之间的导电层，用于鉴别光学记录介质的装置包括绕着光学记录介质被放置在其上的托架的中心以等于或大于基本上180度的角度布置的电极，以及用于将用于检测的信号施加到电极上借以鉴别光学记录介质的种类的装置。
2.按照权利要求1的用于鉴别光学记录介质的装置，其中所述电极包括第一电极，用于检测的信号被施加在其上；和第二电极，当用于检测的信号被施加到第一电极上时，取决于光学记录介质种类的信号出现在第二电极上。
3.按照权利要求2的用于鉴别光学记录介质的装置，其中第一和第二电极被布置成彼此间隔开，并且至少形成围绕着托架中心的基本为环形部分的一部分。
4.按照权利要求3的用于鉴别光学记录介质的装置，其中第一电极和第二电极被布置成在要被放置在托架上的光学记录介质的圆周方向上彼此间隔开，并且绕着托架的中心以基本上为180度延伸。
5.按照权利要求3的用于鉴别光学记录介质的装置，其中第一电极和第二电极被布置成在要被放置在托架上的光学记录介质的径向方向上彼此间隔开，并且绕着托架的中心以等于或大于基本上180度的角度延伸。
6.按照权利要求5的用于鉴别光学记录介质的装置，其中第一电极和第二电极被布置成在被放置在托架上的光学记录介质的径向方向上彼此间隔开，并且绕着托架的中心以基本上360度延伸。
7.一种用于鉴别光学记录介质的方法，所述的光学记录介质至少包括第一介电层、第二介电层和形成在第一介电层和第二介电层之间的导电层，用于鉴别光学记录介质的方法包括在绕着光学记录介质被放置在其上的托架的中心以等于或大于180度的角度布置的电极上施加用于检测的信号从而鉴别光学记录介质的种类的步骤。
全文摘要
一种用于即使在要被鉴别的光学记录介质的圆周方向上形成有周期性的波动的情况下也可以准确地鉴别光学记录介质种类的装置。用于鉴别光学记录介质的装置包括第一电极(11)、第二电极(12)、用于在第一电极(11)上施加AC信号A的AC信号产生电路(13)、用于检测出现在第二电极(12)上的AC信号B的电平的电路(14)和用于控制AC信号产生电路(13)和检测电路(14)的操作的电路(15)。
文档编号G11B19/12GK1659628SQ0381315
公开日2005年8月24日 申请日期2003年4月25日 优先权日2002年4月25日
发明者高杉康史, 福永和男, 细渕利一, 浪冈高资, 涩谷义一, 平田秀树, 须泽和树 申请人:Tdk株式会社