信息记录再生装置的制作方法

专利名称：信息记录再生装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及通过在光盘上照射激光记录和/或再生信息的信息记录再生装置，特别是适合应用于对DVD(Digital Versatile Disc)等开合光盘记录再生信息的光盘装置。
背景技术：
在现有的光盘装置中，用以激光作为跟踪磁道的机构，装有聚焦控制机构和跟踪控制机构。另外，在DVD驱动装置等、对于高密度光盘进行记录再生信息的光盘装置中，装有所谓的倾斜控制机构，以使激光的光轴控制成与光盘垂直的方向。
关于该倾斜控制，例如，在日本公开的专利2001-23213号公报中，记载有应用聚焦控制信号进行倾斜控制的光盘装置。即，将当前记录再生位置的聚焦控制信号出入倾斜控制电路，根据该聚焦控制信号控制倾斜修正机构，由此，与因光盘旋转引起的倾斜量同步消除倾斜造成的影响。据此，对于具有盘面膜糊的光盘，可以进行稳定的记录再生。
上述专利文献1所示的倾斜控制机构适合用于根据驱动装置内温度变化等动态改变盘面膜糊状态的情况。但是，在DVD等开合光盘中，即使驱动装置内温度变化，盘面膜糊的状态也几乎不变，因此，上述专利文献1所示的动态倾斜控制不一定必需。
而且，当在记录再生时搜索记录再生位置的情况下，如逐一根据反射光束的状态等进行倾斜检测，则从搜索后到开始记录再生所需的时间变长。在光盘装置领域，谋求记录再生动作的高速化，根据这一点，即使在搜索动作时的倾斜控制中也要求进一步高速化。

发明内容
在此，本发明以一面抑制无谓的倾斜控制动作，一面谋求倾斜控制的更高速化为目的。
为了达到该目的。本发明通过在光盘上照射激光来记录和/或再生信息的信息记录再生装置中，具有基准值数据存储机构，其预先存储对应使聚焦重合到基准光盘上的所定半径位置时的聚焦偏置电压的基准值数据；采样值数据取得机构，其在记录再生动作开始之前，首先检测使聚焦重合到作为记录/再生对象的目标光盘上的所定半径位置时的聚焦偏置电压，对应上述半径位置取得对应检测出的聚焦偏置电压的采样值；位置信息取得机构，其取得上述目标光盘的上的记录再生位置的位置信息；伺服信号生成机构，其根据由存储于上述基准值数据存储机构的基准值数据与由上述采样值数据取得机构取得的采样值数据的差分值、和由上述位置信息取得机构取得的位置信息，生成在该记录再生位置的倾斜伺服信号的倾斜；以及倾斜调整机构，其对应由倾斜伺服信号生成机构生成的倾斜伺服信号调整对应光盘面的激光的倾斜。
在该发明中，上述采样值数据取得机构可以具有如下构成对应多个半径位置取得采样值数据；上述倾斜伺服信号生成机构根据从上述目标光盘上的半径位置取得的采样值数据和上述基准值数据的差分值，取得对应该半径位置的倾斜量的值，根据取得的值，生成该记录再生位置的倾斜伺服信号。
而且此时，上述倾斜伺服信号生成机构可以具有如下构成将从上述目标光盘上的半径位置中上述记录再生位置看、对应正前或正后位置的倾斜量的值作为对应该记录再生位置的倾斜量的值，生成该记录再生位置的倾斜伺服信号。
另外，上述倾斜伺服信号生成机构可以具有如下构成在上述目标光盘上的半径位置中根据对应插入上述记录再生位置的2个半径位置的倾斜量的值，将对应该记录再生位置的倾斜量的值进行线性近似，并求取对应该记录再生位置的倾斜量的值，根据对应求得的倾斜量值生成倾斜伺服信号。
另外，在本发明中，在上述采样值数据取得机构中设定的半径位置可以按照对应于在上述基准值数据存储机构中设定的半径位置来设定。此时，上述倾斜伺服信号生成机构可以具有如下构成根据上述采样值数据和与之对应的上述基准值数据的差分值，取得对应该半径位置的倾斜量的值。
另外，在本发明中，搜索上述目标光盘上的记录再生位置时，上述倾斜伺服信号生成机构可以具有如下构成将搜索开始的目标位置作为上述记录再生位置生成倾斜伺服信号。
另外，在本发明中，所谓“对应倾斜量的值”，是指除倾斜量之外，广泛包含倾斜伺服信号等、对应倾斜量变化的值。
根据本发明，为了从有关记录再生位置的信息，在该位置上预测、生成准确的伺服信号，在记录再生中无需实测倾斜量，因此，可以谋求简化倾斜控制并快速化。
特别是，如上所述，如果对应搜索开头的目标位置生成倾斜伺服信号，可以预测搜索后的记录再生位置的倾斜量，因此，可以显著加速搜索时的倾斜控制。例如，在搜索过程中如果预测、设定搜索后的记录再生位置的倾斜量，则搜索后可以快速地转移到记录再生动作。
如参照以下的附图，以及读以下所示的实施例的说明，则会进一步完全明白本发明的上述以及其他目的和新特征。


图1表示本实施方式涉及的光盘装置的构成。
图2表示本实施方式涉及的对象物透镜调节器的构成。
图3表示本实施方式涉及的对象物透镜调节器的构成。
图4表示本实施方式涉及的拾音器传输机构的构成。
图5是说明实施例1涉及的倾斜量Ti求取方法图。
图6是说明实施例1涉及的倾斜量Ti的近似例的图。
图7是实施例1涉及的倾斜控制的处理流程图。
图8是实施例1涉及的倾斜控制的处理流程图。
图9是实施例1涉及的倾斜控制的处理流程图的变更例。
图10是实施例1涉及的倾斜控制的处理流程图的变更例。
图11是说明实施例2涉及的倾斜量Ti的近似例的图。
图12是实施例2涉及的倾斜控制的处理流程图。
图13是实施例2涉及的倾斜控制的处理流程图的变更例。
图14是说明实施例3涉及的倾斜量Ti求取方法图。
图15是实施例3涉及的倾斜控制的处理流程图。
具体实施例方式
以下，对于本发明的实施方式参照附图进行说明。但以下的实施方式归根到底是本发明的一例，不限定本发明的范围。
而在本实施方式中，作为记录/再生对象的光盘(目标光盘)而使用DVD+RW(以下称为光盘100)。该光盘100从内周开始依次被区域分割为导入区域、数据区域、导出区域。而且，在光盘100中，从内周到外周形成螺旋状的纹道，对应该纹道数据的进行记录。
在此，纹道径向蛇行(摆动wobble)，通过该摆动保持地址信息。即被称为ADIP(Address in pre-groove)的相位调制区间以一定周期插入到单调蛇行区间中，射线束扫描该相位调制区间时，根据该反射光强度变化读取、再生纹道上的地址信息。而在导入区域的ADIP中，对应该光盘的各种控制数据通过相位调制被记录。
在图1中表示实施方式涉及的光盘装置的构成。
如图所示，光盘装置包括ECC编码器101、调制电路102、激光驱动电路103、激光功率调整电路104、光拾器105、信号放大电路106、解调电路107、ECC译码器108、伺服电路109、ADIP再生电路110、控制器111。
ECC编码器101将纠错码附加于输入的记录数据，输出到调制电路102。调制电路102对输入的记录数据实施所定的调制，进一步生成记录信号并输出到激光驱动电路103。激光驱动电路103将对应记录时从调制电路102得到的记录信号的驱动信号输出到半导体激光器105a，将用于在再生时发射单一强度激光的驱动信号输出到半导体激光器105a。在此，激光功率由激光功率调整电路104设定为调整、设定的激光功率。
激光功率调整电路104，在根据试写时检测到的再生RF信号状态将激光功率调整、设定为最佳值。在此，激光功率的调整处理采用众所周知的γ法进行。该光盘的γ值包含于上述导出区域的ADIP中。
光拾器105具备半导体激光器105a及光检测器105b，通过将激光集束到纹道上，进行对于光盘的数据写入/读出。而该光拾器105除此之外还具有用于调整对应纹道的激光照射状态的对象物透镜调节器(后述)；和用于将从半导体激光器105a射出的激光导向对象物透镜、且将由光盘100的反射光导向光检测器105b的光学系统等。
信号放大电路106将从光检测器105b接收的信号通过放大及运算处理生成各种信号，将其输出到对应的电路。解调电路107，将从信号放大电路106输入的再生信号RF信号解调并生成再生数据，输出到ECC译码器108。ECC译码器108，对从解调电路107输入的再生数据实施纠错，输出到后续电路。
伺服电路109，根据从信号放大电路106输入的聚焦误差信号及跟踪误差信号生成聚焦伺服信号及跟踪伺服信号，输出到光拾器105的对象物透镜调节器。而且，根据从信号放大电路106输入的摆动信号生成电动机伺服信号，输出到光盘驱动电动机。而且，根据由控制器111供给的倾斜误差信号生成倾斜伺服信号，输出到光拾器105的对象物透镜调节器。
而伺服电路109还兼有以下构成驱动控制拾音器进给机构(未图示)，并将光拾器105向光盘径向进给控制。控制器111控制伺服电路109，并搜索光拾器105的扫描位置，将记录再生位置选址在光盘上的所定位置。
ADIP再生电路110，根据从信号放大电路106输入的摆动信号再生地址数据及各种控制数据，输出到控制器111。控制器111根据存储在内置存储器、并预先设定的程序控制各部。而关于控制器111的倾斜伺服时的控制动作，将接着详述。
在图2及图3中表示对象物透镜调节器的构成。
如图3所示，线圈组件由透镜支架202、聚焦线圈203、4个跟踪线圈204、4个倾斜线圈205而构成。另外，在图中，标在各线圈的实线尖头表示各线圈的绕向。
聚焦线圈203使其内周框比透镜支架202的外周稍大，并以与透镜支架202的外周同样的形状缠绕后，由树脂固封。之后，从上方嵌入透镜支架202，并用粘结剂固定。
跟踪线圈204使其内周框比在透镜支架202外周形成的突出部的外周稍大，并以与突出部的外周同样的形状缠绕后，由树脂固封。之后，从上方嵌入透镜支架202，并用粘结剂固定。
倾斜线圈205其内周框以与在透镜支架202的背面侧形成的一对爪部对接的尺寸缠绕后，由树脂固封。之后，从下方嵌入于爪部，并用粘结剂固定。
图2表示对象物透镜调节器的概况立体图。
如上所述，安装有各种线圈的透镜支架202，如图所示，各线圈被插在磁铁209和架210间的磁间隙，在设置在基座206的支持体207上由金属丝208悬架。
另外，金属丝208电连接于各自对应的线圈，通过这些金属丝供给线圈伺服信号。通过变更流过各线圈的偏压值，可以改变聚焦方向、跟踪方向、倾斜方向的对象物透镜201的变位量，而且，通过将流过各线圈的伺服信号的方向反向，可以将对象物透镜201的驱动方向适宜反向。
在图4中表示将光拾器105向光盘径向引导支撑的支撑机构的主要构成。而图4是从上侧看支撑机构时的图。
光拾器105由一对支撑轴301向转盘302的径向以可以移动的机构支撑。在此，光拾器105的对象物透镜201被配置成当在转盘302上安装了光盘100时，伴随着光拾器105的移动，激光在光盘100的径向扫描。
而支撑轴301被配置成通过调整正切倾斜调整螺栓303和径向倾斜调整螺栓304，使其一端在上下方向能够变位。光盘装置在其组装时，通过调整正切倾斜调整螺栓303和径向倾斜调整螺栓304，可以机械地调整光拾器105的倾斜状态。
该调整是通过将具有例如玻璃基板等高精度基板的标准光盘(光盘尺寸与光盘100相同)安装于转盘302上，通过将聚焦伺服和跟踪伺服置于接通状态、将倾斜伺服置于断开状态，其再生信号达到最好，通过调整正切倾斜调整螺栓303和径向倾斜调整螺栓304来进行。具体是，通过调整使再生标准光盘时的再生RF信号变为最大，或使再生信号的波动成为最小。
进行该机械调整后，光拾器105被送至标准光盘上的所定半径位置，在该位置施加聚焦伺服。此时，倾斜伺服被置于断开(跟踪伺服可以是接通/断开的任何位置)。于是，聚焦接通状态的聚焦伺服信号的偏压值从伺服电路109被输出到控制器111，作为基准偏压值被存储在内置存储器。
根据该基准偏压值，执行针对光盘100(目标光盘)的倾斜控制。以下，依次说明将该倾斜控制具体化的各种实施例。
〖实施例1〗在图5中表示本实施例的倾斜控制动作的概要。
在本实施例中，在装配时，仅从上述标准光盘上的一个半径位置取得基准偏压值V0并存储到控制器111。在此，基准偏压值V0的取得位置，例如设定在位于光盘100的半径位置中、从光盘最内周到最外周的区域的接近中央位置。而且，基准偏压值V0是，通过在该地点依次采样光盘1周份的聚焦信号的偏压值、并将其进行平均化处理求得。
在本实施例中，如果光盘100(目标光盘)装入于光盘装置中，则在记录/再生动作之前，光拾器105选址(访问)在预先确定的6个半径位置P1～P6，在各个半径位置，取得聚焦伺服信号的偏压值vs1～vs6。即，在半径位置P1～P6实施聚焦伺服时的聚焦伺服信号的偏压值被从伺服电路109输出到控制器111。控制器111，与上述基准偏压值V0同样，通过依次采样光盘1周的聚焦信号的偏压值、并将其进行平均化处理，取得对应各个半径位置P1～P6的聚焦偏压值vs1～vs6。而且，将取得的聚焦偏压值vs1～vs6对应各个半径位置P1～P6，存储到采样值存储器中。
之后，控制器111根据基准偏压值V0和聚焦偏压值vs1～vs6为，计算出在各个半径位置P1～P6的该光盘100的倾角θ1～θ6。即求取基准偏压值V0和聚焦偏压值vs1～vs6的偏置差Δvs1～Δvs6(Δvsn＝Vsn-V0)，将求得的偏置差Δvs1～Δvs6换算为对应标准光盘的光盘面的该光盘100的光盘面变位量Δd1～Δd6。此时，Δdn具有对应Δvsn的正负极性。而且，根据从光盘最内周位置到各半径位置P1～P6间的距离r1～r6和上述变位量Δd1～Δd6，求取在各半径位置P1～P6的该光盘100的倾角θ1～θ6。
在此，倾角θn是例如通过运算θn＝tan-1{(Δdn+1-Δdn)/(rn+1-rn)}求得的。或者，也可以通过运算θn＝tan-1(Δdn/rn)求得。任何情况下，倾斜角θn都具有对应于Δdn的正负极性。
如上所述，光拾器105对于平面精度高的标准光盘进行机械调整，因此，求得的倾角θ1～θ6与各半径位置P1～P6的激光倾斜量基本匹配。控制器100根据求得的倾角θ1～θ6，检测各半径位置P1～P6的倾斜量Ti1～Ti6。而且，根据检测的倾斜量Ti1～Ti6，将对应光盘100的整个区域的倾斜量Ti近似，在记录/再生时，将对应该近似值Ti的倾斜误差信号输出到伺服电路109。
而上述半径位置P1～P6，例如，半径位置P1和半径位置P6分别位于光盘100的最内周位置和最外周位置，半径位置P2～P5设定在位于大致平均分割半径位置P1和半径位置P6之间的位置。除此之外，也可以按照越靠近外周间隔越密地设定半径位置P2～P5。据此，即使对于在外周部容易产生的大面积模糊，也可以较高精度近似倾斜量Ti。
在图6中表示记录/再生位置的倾斜量Ti的近似例。
如图所示，在本近似例中，记录/再生位置位于上述半径位置P1～P6中相临的两个半径位置之间时，将位于这之前的上述半径位置P1～P5的倾斜量Ti设定为该记录再生倾斜量。此时，上述半径位置P1～P5倾斜量Ti根据例如上述所示的算式θn＝tan-1{(Δdn+1-Δdn)/(rn+1-rn)}求得。
而代替位于记录/再生位置之前的半径位置P1～P5，也可以将位于记录/再生位置之后的半径位置P2～P6的倾斜量Ti作为该记录/再生位置的倾斜量设定。此时，半径位置P2～P6的倾斜量Ti例如根据算式θn＝tan-1{(Δdn-Δdn-1)/(rn-rn-1)}求得。
在图7中表示本实施例的倾斜控制的处理流程。而本处理流程是应用上述图6所示的倾斜量的近似方法的情况。
如果光盘被装入光盘装置，则控制器111使光拾器105选址在上述半径位置P1～P6，由伺服电路109取得各半径位置的聚焦偏压值vs1～vs6，将其对应半径位置存储于内置存储器(S101)。接着，根据装配时存储在内置存储器的基准偏压值V0、和在S101取得的聚焦偏压值vs1～vs6进行上述运算，计算出各半径位置P1～P6的倾斜量Ti1～Ti5(S102)。而且，将计算出的倾斜量Ti1～Ti5对应各自的半径位置P1～P5进行存储(S103)。
另外，在上述S102的计算如上所述，也可以是在中间计算出偏置差Δvs1～Δvs6、光盘面的变位量Δd1～Δd6、倾斜角θ1～θ5，同时在最终求取倾斜量Ti1～Ti5，但将省略该中间计算的计算算法设定在控制器111，根据该算法，由在S101取得的聚焦偏压值vs1～vs6直接求取倾斜量Ti1～Ti5。
但是，在半径位置P1～P6的倾斜量Ti1～Ti5被存储在控制器111后，如输入记录/再生指令(S104)，则控制器111在其记录/再生动作中(S106否)，根据在S103存储的倾斜量Ti1～Ti5，生成倾斜误差信号，输出到伺服电路109(S105)。而且，一旦记录/再生结束(S106是)，如果光盘不被弹出(S107否)，则返回S104，一直待机到下一次记录/再生动作开始，如果光盘被弹出(S107是)，则消除存储于内置存储器的聚焦偏压值vs1～vs6和倾斜量Ti1～Ti5(S108)，并结束对于该光盘的倾斜控制。
在图8中表示上述S105的倾斜控制的处理流程。
记录/再生动作的实施中，控制器111检测在记录/再生位置是否发生搜索(S201)，如果没有发生，则根据来自ADIP再生电路110的地址数据为检测对应现记录/再生位置的半径位置(S202)。而且，上述半径位置P1～P6内，检测从现记录/再生位置看正前位置的半径位置Pk(S203)，将作为对应该半径位置Pk的倾斜量被存储在内置存储器的倾斜量Tik，作为现记录/再生位置的倾斜量设定(S204)。而且，根据设定的倾斜量Tik生成倾斜误差信号，将其供给伺服电路109(S205)。于是，执行现记录/再生位置的倾斜控制。
另一方面，在记录/再生动作中，一旦检测出在记录/再生位置发生搜索(S201是)，则控制器111根据搜索目标地址检测对应搜索后的记录/再生位置的半径位置(S206)。而且，在上述半径位置P1～P6内，检测从该搜索后的半径位置看正前位置的半径位置Pk(S203)，将作为对应该半径位置Pk的倾斜量被存储在内置存储器的倾斜量Tik，作为检索后的记录/再生位置的倾斜量设定(S204)。而且，根据设定的倾斜量Tik生成倾斜误差信号，将其供给伺服电路109(S205)。于是，执行搜索后的记录/再生位置的倾斜控制。
在该处理流程中，在记录/再生之前取得的半径位置P1～P5的倾斜量Ti1～Ti5中，将与记录/再生位置相邻的半径位置的倾斜量设定为现记录/再生位置的倾斜量，因此可以省略现记录/再生位置的倾斜量的实测，从而可以简化、加速现记录/再生位置的倾斜量控制。
特别是在记录/再生位置发生搜索时，根据搜索目标地址，可以预测搜索后的记录/再生位置的倾斜量，故可以显著加速搜索发生时的倾斜控制。例如，如果预测在搜索期间搜索后的记录/再生位置的倾斜量，则搜索后可以迅速转移到记录/再生动作。
另外，在上述内容中，从现记录/再生位置或搜索后的记录/再生位置看将正前位置的半径位置P1～P5的倾斜量，设定为这些记录/再生位置的倾斜量，而如以上所述，也可以将位于记录/再生位置之后的半径位置P2～P6的倾斜量Ti作为该记录/再生位置的倾斜量来设定。此时，半径位置P2～P6的倾斜量Ti，例如由算式θn＝tan-1{(Δdn-Δdn-1)/(rn-rn-1)}求得。
再者，在上述内容中，预先算出半径位置P1～P5的倾斜量Ti1～Ti5并存储到内置存储器中，但只将半径位置P1～P6的聚焦偏压值vs1～vs6存储于内置寄存器，倾斜量Ti1～Ti5在记录/再生动作中，也可以根据对应的聚焦偏压值和基准偏压值，每次都计算。
在图9及图10中表示该情况的处理流程。
图9的处理流程对应上述图7的处理流程，与图7的处理流程相对比，省略了计算、存储倾斜量Ti1～Ti5的处理S102及S103。即在图9的处理流程中，在S101，只取得半径位置P1～P6的偏压值vs1～vs6，并存储到内置存储器中。
再者，图10的处理流程对应上述图8的处理流程，与图8的处理流程相对比，追加了计算记录/再生位置的倾斜量处理S210。即在图10的处理流程中，在检测从该记录/再生位置看正前的半径位置Pk后(S203)，根据存储于内置存储器的基准偏压值V0和对应的聚焦偏压值计算该半径位置的Pk的倾斜量Tik(S210)。此时，倾斜量Tik根据上式θn＝tan-1{(Δdn+1-Δdn)/(rn+1-rn)}求得。而且，计算出的倾斜量Tik设定为该记录/再生位置的倾斜量(S204)，执行倾斜控制(S205)。
〖实施例2〗上述实施例1是将位于记录/再生位置之前(或之后)的半径位置P1～P6的倾斜量Ti设定为该记录/再生位置的倾斜量，而本实施例如图11所示，根据位于记录/再生位置之前和之后的半径位置P1～P6的倾斜量Ti、Ti+1，线性近似并设定该记录/再生位置的倾斜量。
在图12中表示记录/再生时的倾斜控制的处理流程。
同图的处理流程对应图8的处理流程，与图8的处理流程相比，追加了根据位于记录/再生位置之前和之后的半径位置P1～P6的倾斜量Ti、Ti+1，线性近似并设定该记录/再生位置的倾斜量的处理S301～S303。即在图12的处理流程中，检测出从该记录/再生位置看之前和之后的半径位置Pk、Pk+1后(步骤S301)，根据存储于内置存储器的该半径位置Pk、Pk+1的Tik、Tik+1，线性近似并计算出该记录/再生位置的倾斜量(S302)。而且，将计算出的倾斜量设定为该记录/再生位置的倾斜量(S303)，并执行倾斜控制(S205)。
根据本实施例，通过线性近似计算倾斜量，与上述实施例1相比尽管处理更复杂，但与如上述实施例1所示的阶段性设定倾斜量的情况相比，可以提高倾斜量的设定精度。
而且，即使在本实施例中，与上述实施例1的变更例相同，只将半径位置P1～P6的聚焦偏压值vs1～vs6存储到内置存储器，倾斜量Ti1～Ti6也可以根据对应的聚焦偏压值和基准偏压值在记录/再生动作中，每次都计算。即如图13所示，在S301之后追加S310，根据半径位置Pk～Pk+1的聚焦偏压值vsk～vsk+1和基准偏压值V0，计算该半径位置Pk～Pk+1的倾斜量Tik、Tik+1。而且，根据计算出的倾斜量Tik、Tik+1线性近似记录/再生位置的倾斜量(S302)。
在本实施方式中，根据位于记录/再生位置之前和之后位置的半径P1～P6的倾斜量Ti、Ti+1，记录/再生位置的倾斜量被线性近似，所以如根据算式θn＝tan-1{(Δdn+1-Δdn)/(rn+1-rn)}求得倾斜量Tin，则不能求得半径位置P6的倾斜量Ti6，当记录/再生位置在半径P5和P6之间时，不能根据线性近似求得该记录/再生位置的倾斜量Ti。这一点，在根据上式θn＝tan-1{(Δdn-1-Δdn)/(rn-1-rn)}求倾斜量Tin的情况下也相同。
因此，本实施例的倾斜量Tin的计算例如也可以根据上述所示的算式θn＝tan-1(Δdn/rn)进行。由此，可以对于所有半径位置P1～P6求取倾斜量Ti1～Ti6，因此即使在最外周近旁(P5～P6区间)，也可以将倾斜量Tin进行线性近似。
〖实施例3〗上述实施例1、2是从标准光盘只取得一个基准偏压值V0存储到内置存储器中的，本实施例如图14所示，从大致对应于半径位置P1～P6的位置取得并存储基准偏压值V1～V6，根据相互对应的基准偏压值Vn和聚焦偏压值Vsn求取各半径位置P1～P5的倾斜量Ti1～Ti5。
在图15中表示本实施例的处理流程。同图的处理流程对应上述图7的处理流程，故如与图7的处理流程对比，则计算斜量Ti1～Ti5的处理S102变更为S110。即在图15的处理流程中，在S110根据基准偏压值V1、V2和聚焦偏压值vs1、vs2，根据上式θn＝tan-1{(Δdn-1-Δdn)/(rn-1-rn)}计算半径位置P1的倾斜量Ti1。同样，根据基准偏压值V1～V6和聚焦偏压值vs2～vs6，计算半径位置P2～P5的倾斜量Ti2～Ti6。而且，将计算出的倾斜量Ti1～Ti5与半径位置P1～P5对应存储到内置存储器(S103)。
而本实施例，只有倾斜量Ti1～Ti5的计算处理与上述实施例1、2不同，其他处理步骤与上述实施例1、2所示的处理流程同样进行。即当在记录/再生动作之前将倾斜量Ti1～Ti5存储到内置存储器的情况下，在记录/再生动作时，直接执行图8～图12的处理流程，而且，当在记录/再生动作时依次计算倾斜量Ti1～Ti5的情况下(图10、图13)，根据相互对应的基准偏压值Vn和聚焦偏压值Vnn进行倾斜量Ti1～Ti5的计算处理。
在本实施例中，在大致对应的半径位置，取得基准偏压值Vn和聚焦偏压值Vsn，以此为依据计算各半径位置P1～P5的倾斜量Ti1～Ti5，因此，与根据如上述实施例1、2所示的一个偏压值V0计算5的倾斜量Ti1～Ti5的情况相比，可以提高各半径位置的倾斜量的计算精度。
即组装时的机械调整，如上所述，为使再生信号的状态最好，边调整调整罗栓边进行倾斜调整，故由此难以完全消除倾斜，由于该机械调整上的误差，本来应设定的基准偏压值在所有的半径位置并不相同，往往对应各半径位置少有不同。在这种情况下，如根据如上述实施例1、2的一个偏压值V0计算出倾斜量Tin，则根据半径位置不同，有时偏压值V0对于现有设定的偏压值发生很大偏离，因此，有可能存在计算出的倾斜量Tin大大偏离实际倾斜量。
对此，如本实施例，在大致对应的半径位置，取得基准偏压值Vn和聚焦偏压值Vsn，如以此为依据计算各半径位置Pn的倾斜量Tin，则即使计算产生如上所述的机械调整误差，也可以通过用一个基准偏压值V0，可以使基准偏压值Vn靠近现有的偏压值，因此，可以抑制计算出的倾斜量Tin过大偏离实际倾斜量。因此，根据本实施例，与根据如上述实施例1、2的一个偏压值V0计算出倾斜量Tin的情况相比，可以进一步提高各半径位置的倾斜量计算精度。
以上说明了本发明涉及的实施方式，但本发明并不限于上述实施方式，当然可以进行其他各种变更。本发明的实施方式在本发明所示的技术思想范围内，可以适当进行各种变更。
权利要求
1.一种在光盘上照射激光来记录和/或再生信息的信息记录再生装置，其特征在于，具有基准值数据存储机构，其预先存储对应使聚焦重合到基准光盘上的所定半径位置时的聚焦偏置电压的基准值数据；采样值数据取得机构，其在记录再生动作开始之前，检测使聚焦重合到作为记录再生对象的目标光盘上的所定半径位置时的聚焦偏置电压，对应上述半径位置取得对应检测出的聚焦偏置电压的采样值数据；位置信息取得机构，其取得上述目标光盘的上的记录再生位置的位置信息；倾斜伺服信号生成机构，其根据由存储于上述基准值数据存储机构的基准数据与由上述采样值数据取得机构取得的采样值数据的差分值、和由上述位置信息取得机构取得的位置信息，生成在该记录再生位置的倾斜伺服信号；和倾斜调整机构，其对应由倾斜伺服信号生成机构生成的倾斜伺服信号，调整对应光盘面的激光倾斜。
2.根据在权利要求1的信息记录再生装置，其中，上述采样值数据取得机构，相应多个半径位置取得采样值数据；上述倾斜伺服信号生成机构，根据从上述目标光盘上的半径位置取得的采样值数据和上述基准值数据的差量值，取得对应该半径位置的倾斜量的值，根据取得的值，生成该记录再生位置的倾斜伺服信号。
3.根据权利要求2的信息记录再生装置，其中，上述倾斜伺服信号生成机构，将从上述目标光盘上的半径位置中从上述记录再生位置看、对应正前或正后位置的倾斜量的值作为对应该记录再生位置的倾斜量的值，生成该记录再生位置的倾斜伺服信号。
4.根据权利要求2的信息记录再生装置，其中，上述倾斜伺服信号生成机构，在上述目标光盘上的半径位置中根据对应插入上述记录再生位置的2个半径位置的倾斜量的值，将对应该记录再生位置的倾斜量的值进行线性近似，并求取对应记录再生位置的倾斜量的值，以取得的值为依据生成倾斜伺服信号。
5.根据权利要求1、2、3或4的信息记录再生装置，其中，在上述采样值数据取得机构中设定的半径位置可以按照对应于在上述基准值数据存储机构中设定的半径位置来设定；上述倾斜伺服信号生成机构，根据上述采样值数据和与之对应的上述基准值数据的差值，取得对应该半径位置的倾斜量的值。
6.根据权利要求1、2、3或4的信息记录再生装置，其中，搜索上述目标光盘上的记录再生位置时，上述倾斜伺服信号生成机构将搜索开始的目标位置作为上述记录再生位置生成倾斜伺服信号。
全文摘要
本发明以抑制无谓的倾斜控制动作，同时谋求倾斜控制的更高速化为目的。应用平面精度高的标准光盘，取得、存储多个半径位置P1～P6的聚焦偏置电压值(基准偏置电压V1～V6)。在记录再生之前，取得半径位置P1～P6的聚焦偏置电压值(Fo偏压值vs1～vs6)，根据各半径位置的基准偏压值与Fo偏压值的差分值，取得各半径位置的倾斜量T1～T6。在记录再生时，检测从该记录再生位置看正前位置的半径位置Pn。而且，将半径位置Pn的倾斜量Tn作为该记录再生位置的倾斜量执行倾斜控制。
文档编号G11B7/08GK1655254SQ20051000675
公开日2005年8月17日 申请日期2005年2月4日 优先权日2004年2月12日
发明者铃木誉久, 鹫见聪, 浜口俊英, 中尾贤治, 间宫升, 户田秀治, 后藤智弘 申请人:三洋电机株式会社