一种提升EEPROM编程精度的振荡器电路及其方法与流程

本发明涉及高精度振荡器电路，具体涉及一种提升EEPROM编程精度的振荡器电路及其方法。

背景技术：

EEPROM（Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory），或写作E2PROM，全称电子抹除式可复写只读存储器，是一种可以通过电子方式多次复写的半导体存储设备，可以在电脑上或专用设备上擦除已有信息，重新编程。相比EPROM，EEPROM不需要用紫外线照射，也不需取下，就可以用特定的电压，来抹除芯片上的信息，以便写入新的数据。

EEPROM的擦除不需要借助于其它设备，它是以电子信号来修改其内容的，而且是以Byte为最小修改单位，不必将资料全部洗掉才能写入，彻底摆脱了EPROM Eraser和编程器的束缚。EEPROM在写入数据时，仍要利用一定的编程电压，此时，只需用厂商提供的专用刷新程序就可以轻而易举地改写内容，所以，它属于双电压芯片。

MOS管的工作原理(以N沟道增强型MOS场效应管)它是利用VGS来控制“感应电荷”的多少，以改变由这些“感应电荷”形成的导电沟道的状况，然后达到控制漏极电流的目的。在制造管子时，通过工艺使绝缘层中出现大量正离子，故在交界面的另一侧能感应出较多的负电荷，这些负电荷把高渗杂质的N区接通，形成了导电沟道，即使在VGS=0时也有较大的漏极电流ID。当栅极电压改变时，沟道内被感应的电荷量也改变，导电沟道的宽窄也随之而变，因而漏极电流ID随着栅极电压的变化而变化。

现有的用于EEPROM存储器编程使用的振荡器电路，由于精度低，受工艺影响大，给编程时间的计时带来较大误差，如图1所示，这种的电路结构缺点是：

1，精度低，受工艺影响大，只有加大时间，才能保证EEPROM存储器编程和擦除的可靠性，进而导致EEPROM编程时间慢和不一致。

2，数据可靠性低。

为了解决背景技术所存在的问题，本发明的目的是提供一种提升EEPROM存储器编程精度的振荡器电路及其方法，本发明采用以下技术方案：

一种提升EEPROM编程精度的振荡器电路，包括：

RC振荡器、EEPROM存储器，其特征在于，还包括：寄存器以及MOS管开关阵列；

所述寄存器中存储用于控制MOS管开关阵列的矩阵数据；

所述MOS管开关阵列通过控制开关控制RC振荡器的电阻；

所述RC振荡器通过改变电阻大小控制输出频率；

所述存储器中存入能正常写入存储器时的频率所对应的MOS管开关阵列数据，存入的地方为存储器内存储区域划出的一部分作为修正专用区域；

在读取模式时，读取存储器中存入的数据，直接输出适于写入的振荡器频率。

一种提升EEPROM编程使用的振荡器精度的方法，其特征在于，还包括：寄存器和MOS管开关阵列；

包括如下步骤：

S101，在存储器的存储区域划出一部分作为修正专用区域；

S102，判断存储器是否处于测试模式，是，则执行S103，否则执行S108；

S103，向寄存器中输入MOS管开关阵列的矩阵数据，并控制MOS管开关阵列的开关；

S104，根据MOS管开关阵列的开关调整RC振荡器的电阻；

S105，输出RC振荡器的输出频率；

S106，判断EEPROM存储器是否可以正常写入数据，是，则执行S107，否则执行S103；

S107，将寄存器中的MOS管开关阵列数据存储到修正专用区域中；

S108，根据EEPROM存储器中修正专用区域的MOS管开关阵列数据控制MOS管开关阵列的开关；

S109，通过控制MOS管开关阵列电阻变化控制RC振荡器输出的用于EEPROM存储器正常编程的频率。

进一步地，所述S104通过MOS管开关阵列调整RC振荡器的电阻为：通过控制MOS管开关阵列来控制MOS管电阻，然后通过控制MOS管的电阻值变化控制RC振荡器的电阻值变化。

进一步地，所述测试模式下先用粗略扫描数据的方式控制MOS管开关阵列，判断数据的大体范围。

进一步地，所述测试模式下在前期测试基础上，在小范围内用精确扫描数据的方式控制MOS管开关阵列，得到精确的数据值。

进一步地，所述在EEPROM存储器中划分出来修正专用区域的面积大小可以忽略不计。

鉴于以上电路和EEPROM存储器进入深亚微米工艺时，逻辑电路和存储单元面积很小的特点，本发明有以下特点：

1、电路所占芯片面积小，成本低。

2、寄存器可以反复扫描，且可以修正位数比较高，所以修正精度高。

附图说明

图1为本发明电路的步骤流程图。

图2为背景技术的结构示意图。

图3为本发明的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图及具体实施方式对本发明做进一步描述。

下面结合附图3对本发明的实施例进行说明：

目前EEPROM存储器进入深亚微米时代，EEPROM集成和工艺复杂性读越来越高，特别是一些高性能新型EEPROM存储器，对编程所使用的振荡器的要求也越来越高。

本发明充分利用EEPROM存储器数据在芯片掉电时可以保存足够长时间的特点，在EEPROM存储区专门划分出一小部分（面积小到可以忽略不计）作为修正专用区。如图2所示，芯片测试模式时，先用普通寄存器来控制MOS管开关阵列，再由MOS管开关阵列调整RC振荡器的电阻。当RC振荡器的电阻调整时，RC振荡器输出的用于EEPROM存储器编程使用的频率跟着调整。当得到RC振荡器符合要求的输出的频率值时，EEPROM可以正常编程。把这时的寄存器数据存储在EEPROM修正专用区域。当电路不在测试模式，而是在正常模式时，MOS管开管阵列由EEPROM修正专用区域的数据控制，进而在正常模式时，得到RC振荡器输出符合EEPROM存储器编程使用要求的RC振荡器频率值。

下面结合附图2对本发明的实施例进行说明：

1、芯片测试模式下，先用粗略扫描数据的方式，用普通寄存器来控制MOS管开关阵列，同时测量RC振荡器输出的频率，判断数据大体范围。

2、芯片测试模式下，在前期测试基础上，在小范围内，用精确扫描数据的方式，用普通寄存器来控制MOS管开关阵列，同时记下RC振荡器输出的符合EEPROM存储器编程使用要求的精准频率值时，普通寄存器的数据值。

把RC振荡器输出的符合EEPROM存储器编程使用要求的精准频率值时对应的寄存器的数据值，写入EEPROM修正专用区域。